「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a determination method of a test object, capable of measuring simply and accurately the concentration of the test object in a test sample having a coexisting interfering material.例文帳に追加

妨害物質が共存する被検試料中の被検物質の濃度を簡便、かつ正確に測定することができる被検物質の定量方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test terminal and a test method capable of easily testing a circuit or operation of a protection relay device.例文帳に追加

保護継電装置の回路や動作の試験を容易に実施できる試験端子と試験方法を提供すること。 - 特許庁

CHARACTERISTIC TEST METHOD OF MOTOR INCLUDING UNBALANCED ROTOR例文帳に追加

アンバランス回転子を有する電動機の特性検査方法 - 特許庁

As a result, the number of input terminals for scan test and the number of output terminals for scan test can be inhibited.例文帳に追加

この結果、スキャンテスト用入力端子数およびスキャンテスト用出力端子数を抑えることができる。 - 特許庁

To solve the problem, wherein it is difficult to appropriately test the hardness of a film, because of deformation such as curling of a test piece, when performing pencil scratch test on a functional film material.例文帳に追加

機能性フィルム材料の鉛筆引掻き試験を行う際、試験片のカールなどの変形のため、適切に膜の硬度を試験出来ないという問題を解決すること。 - 特許庁

This method has a process of performing one or more test cycles of an LBIST system in a device during the test.例文帳に追加

この方法は、テスト中のデバイス内のＬＢＩＳＴシステムの１つ以上のテストサイクルを行う工程を具備する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND METHOD OF PERFORMING DATA REDUCTION TEST例文帳に追加

半導体記憶装置、およびデータ縮約テスト方法 - 特許庁

To provide a test quality evaluation device of a semiconductor integrated circuit for achieving improvement of test quality.例文帳に追加

テスト品質の向上を図ることが可能な半導体集積回路のテスト品質評価装置を提供する。 - 特許庁

The indentation test of the indenter 14 is performed with respect to the test piece S to calculate the Young's modulus of the test piece S on the basis of the indentation quantity and elastic recovery in the maximum load.例文帳に追加

試験片Ｓに対して前記圧子14の押込み試験を行ってその最大荷重における押込み量と弾性回復量に基づいてヤング率を算出する。 - 特許庁

To improve the throughput of test time for a test sample, and prevent the number of input trigger signals from being increased.例文帳に追加

被試験物の試験時間のスループットを向上させ、かつ、トリガー信号の入力数の増加を防ぐこと。 - 特許庁

PROBE CARD, AND TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

プローブカードおよび半導体集積回路装置テストシステム - 特許庁

Your browser opens with a test value of your variables. 例文帳に追加

ブラウザが開き、独自の変数のテスト値が表示されます。 - NetBeans

The test printing of the newest firmware program is performed (S9).例文帳に追加

最新のファームウェアプログラムのテスト印刷を行う（Ｓ９）。 - 特許庁

The density sensor 5 detects the toner density of the test pattern image.例文帳に追加

濃度センサ５は、テストパターン像のトナー濃度を検知する。 - 特許庁

TEST QUALITY EVALUATION DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST QUALITY EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト品質評価装置、および半導体集積回路のテスト品質評価方法 - 特許庁

3. Methods for keeping records concerning the management of test samples 例文帳に追加

三　試験品の管理に関する記録の作成要領 - 日本法令外国語訳データベースシステム

TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF CURRENT MEASURING CIRCUIT例文帳に追加

電流計測回路の試験装置および試験方法 - 特許庁

CREEP TEST METHOD, MANUFACTURING METHOD OF SPECIMEN, AND FIXTURE例文帳に追加

クリープ試験方法、試験体の製造方法、及び固定具 - 特許庁

METHOD FOR SCREENING ANOREXIGENIC EFFECT OF TEST MATERIAL例文帳に追加

被検物質の食欲抑制効果をスクリーニングする方法 - 特許庁

The test signal generating apparatus includes a signal processing circuit for outputting a test video signal wherein a moving picture is inserted to part of regions of a still picture.例文帳に追加

本発明は、静止画の一部領域に動画を嵌め込んで試験用映像信号を出力する。 - 特許庁

The propagation stopping performance to the long brittle fracture having a fracture propagation length of ≥1 m is evaluated using a test piece having a width of ≥2 m with a test piece length or a distance between the tips of a tab plate in a test apparatus on which the test piece is placed, of 2.8 times or more of the test piece width.例文帳に追加

試験片幅２ｍ以上の試験片を用いて、き裂伝播長１ｍ以上の長大脆性き裂に対する伝播停止性能を、試験片長さもしくは試験片を取り付ける試験装置のタブ板先端間距離を試験片幅の２．８倍以上として評価する。 - 特許庁

TIRE RUNNING TEST APPARATUS AND METHOD FOR TESTING RUNNING OF TIRE例文帳に追加

タイヤ走行試験装置及びタイヤ走行試験方法 - 特許庁

DATA DRIVER OF DISPLAY DEVICE, TEST METHOD THEREOF AND PROBE CARD例文帳に追加

表示装置のデータドライバ、そのテスト方法及びプローブカード - 特許庁

PERFORMANCE TEST METHOD OF SOLID POLYMER FUEL CELL例文帳に追加

固体高分子型燃料電池セルの性能検査方法 - 特許庁

DETECTOR AND METHOD FOR DETECTING PRESENCE OF TEST GAS例文帳に追加

テスト気体の存在を検出する装置および方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF BLOCK RAW MATERIAL FOR ULTRASONIC DEFECT DETECTION TEST例文帳に追加

超音波深傷試験用ブロック素材の製造方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR WATER PRESSURE TEST OF TIRE例文帳に追加

タイヤ水圧試験装置およびタイヤ水圧試験方法 - 特許庁

To provide an array tester capable of enhancing the test accuracy.例文帳に追加

検査精度を向上できるアレイテスタを提供する。 - 特許庁

To accurately measure current consumption of a device under test.例文帳に追加

被試験デバイスの消費電流を精度良く測定する。 - 特許庁

To conduct a selection test of a test of a very-multiple-terminal LSI by an LSI tester which has a small number of terminals without incorporating a circuit dedicated to the test in the tested LSI.例文帳に追加

超多端子ＬＳＩのテストの選別テストを、被テストＬＳＩにテスト専用の回路を内蔵させることなく端子数が少ないＬＳＩテスタにより可能とする。 - 特許庁

MIXED SIGNAL LSI TESTER AND METHOD OF GENERATING TEST PATTERN例文帳に追加

ミックスドシグナルＬＳＩテスタおよびテストパターン生成方法 - 特許庁

To accurately predict the test result of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のテスト結果をより精度良く予測する。 - 特許庁

JUDGMENT AND TEST METHOD FOR REPLACEMENT PROCESSING TIME OF STORAGE DEVICE例文帳に追加

記憶装置の交代処理時間判定試験方法 - 特許庁

To totally evaluate the quality of large scale integration(LSI) test data.例文帳に追加

ＬＳＩテストデータの品質を統括的に評価する。 - 特許庁

To provide an alarm with test function convenient for users, capable of arbitrarily setting the time of a periodic test.例文帳に追加

定期試験の時刻を任意に設定でき、ユーザの使い勝手が良い、試験機能付きの警報器を提供する。 - 特許庁

ELECTRIC TEST SYSTEM FOR TESTING CHANNEL OF COMMUNICATION SYSTEM例文帳に追加

通信システムのチャネルをテストするための電気テストシステム - 特許庁

The disk access system, the length of test data and the data pattern are set as parameters at the time of performing the operation test.例文帳に追加

動作テストを行う際のパラメータとして、ディスクアクセス方式、テストデータ長及びデータパターンを設定させる。 - 特許庁

PROPERTY CLARIFICATION OF BALANCING DEVICE INCLUDING TEST SYSTEM CALIBRATION例文帳に追加

テスト・システム校正を含む平衡デバイスの特性解明 - 特許庁

COMPONENT FOR TESTING DEVICE OF ELECTRONIC COMPONENT, AND TEST METHOD例文帳に追加

電子部品の試験装置用部品及び試験方法 - 特許庁

When a user selects the displayed load test to apply for participation in the test, the test management server 3 receives the participation application in the order of receipt until the number of participants reaches the upper limit of a range of the number of participants necessary for the load test, and registers the users in a test registrant management database 38.例文帳に追加

表示されている負荷テストをユーザが選択して参加申し込みをすると、テスト管理サーバ３は、当該負荷テストに必要な参加者数レンジの範囲の上限に至るまで、先着順に参加申込を受け付けて、テスト登録者管理データベース３８に登録する。 - 特許庁

MEASURING METHOD FOR RESIDUAL STRESS OF FILM AND TEST PIECE例文帳に追加

皮膜の残留応力測定方法及び試験片 - 特許庁

Because this gas analysis test apparatus employs the small pipe, diffusion of the test gas between the upstream side and the downstream side less easily occurs, and the fluctuation of the composition of the test gas can also be suppressed.例文帳に追加

この装置は、細管を採用しているため試験用ガスの上流側と下流側との拡散も起こりくく、試験用ガスの成分割合の変動も抑えられる。 - 特許庁

Since the standard test specifications can be repeatedly used for creation of test specifications for the ECU software for various kinds of machines, efficiency of test specification creation can be improved.例文帳に追加

この標準検査仕様は、各機種のＥＣＵソフトウエアの検査仕様を作成する際に繰り返し利用できるので、検査仕様作成の効率化を図ることができる。 - 特許庁

DRIVE CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE AND TEST CONTROL METHOD例文帳に追加

表示装置の駆動回路及びそのテスト制御方法 - 特許庁

DISK UNIT, ITS TEST METHOD, AND MANUFACTURING METHOD OF THE UNIT例文帳に追加

ディスク装置、そのテスト方法、及びその製造方法 - 特許庁