「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(40ページ目) - Weblio英語例文検索

The personal computer acts like an entry section that enters test items of the mobile telephone system and a control section that executes the test to automatically take care of the test items and to record the test result.例文帳に追加

パーソナルコンピュータの役割は、携帯電話システムの試験項目を入力する入力部と試験を実施する制御部によって自動的に試験項目を消化し、試験結果を記録する。 - 特許庁

To precisely and quickly select a test route, a test vehicle, and a stuff who performs a test having capabilities suitable for desired specifications for a vehicle test of a truster, and to submit estimated specifications in an extremely short period of time.例文帳に追加

委託者の車両試験の希望仕様に適した能力を有する試験路、試験車両および試験員を正確かつ迅速に選出して見積仕様を極めて短期間に提出可能とする。 - 特許庁

The test result by the subscriber test unit 7 is displayed on the maintenance terminal 4 as a test result of the xDSL subscriber circuit 9 resulting that the exchange A side realizes the test of the xDSL subscriber.例文帳に追加

試験装置７の試験結果は保守端末４上でｘＤＳＬ加入者回路９の試験結果として表示され、交換機Ａ側からのｘＤＳＬ加入者試験を実現できる。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit has a plurality of first pads for which an internal test circuit conducts an electric test and a plurality of second pads for which an external test device conducts an electric test.例文帳に追加

半導体集積回路は、内部試験回路により電気的試験が行われる複数の第１パッドと、外部の試験装置により電気的試験が行われる複数の第２パッドとを有する。 - 特許庁

A contour extracting part 22 obtains the test contour of a test pattern formed on the test object 14 from the binary image and writes the test contour in the sample contour storing part 28 of a sample data storing means 26.例文帳に追加

輪郭抽出部２２は、２値画像から検査対象１４に形成されている検査パターンの検査輪郭線を求めてサンプルデータ記憶手段２６のサンプル輪郭線記憶部２８に書き込む。 - 特許庁

To provide a test tube holder that can support a plurality of test tubes vertically and invertedly, can support a plurality of test tubes invertedly, when the test tubes are washed and dried, and is easy to handle.例文帳に追加

複数の試験管の直立、倒立支持が可能であり、試験管の洗浄、乾燥時において、複数の試験管を倒立して支持できること、取り扱いが容易である試験管ホルダーを提供すること。 - 特許庁

To provide a test tube plug remover capable of quickly and exactly removing a plug from a test tube even if test tubes have different sizes or a different kind of the plug is put in the test tube.例文帳に追加

試験管サイズが異なっていても試験管に異なる種類の栓が装着されていても、その栓を迅速且つ的確に当該試験管から取外すことのできる試験管栓取外し装置を提供。 - 特許庁

The vacuum chamber 1 installs the theodolite 2 measuring changes of the alignment of the test piece 4 by a thermal vacuum test in an outer wall, when the thermal vacuum test is carried out to the test piece 4 arranged inside.例文帳に追加

内部に配設された供試体４に対して熱真空試験を行う際に、熱真空試験による供試体４のアライメントの変化を測定するセオドライト２を、外壁に組み込んだ真空チャンバ１。 - 特許庁

To shorten time of a test for quality discrimination of pixels of a TFT array.例文帳に追加

ＴＦＴアレイの画素の良否試験時間を短縮することができる - 特許庁

Therefore, execution of restoration processing of the data and a stop of a test are not needed.例文帳に追加

よって、データの復元処理の実行、及び試験の停止が不要になる。 - 特許庁

A network test system or a user may select optional ways for grouping flows of test traffic into streams, and for modifying these streams before and during transmission of the test traffic upon a request of network test.例文帳に追加

ネットワークテストシステム又はユーザは、ストリームにテストトラフィックのフローをグループ化するための、ネットワークテストの要求によって、テストトラフィックの伝送の前又は間にこれらのストリームを修正するための任意の方法を選択し得る。 - 特許庁

Consequently, test of a multi-system portable terminal, system automatic identification of the portable terminal, connection test between terminals of different systems, test under interference with other system, self-diagnosis and remote test can be carried out.例文帳に追加

これによって、マルチシステム携帯端末の試験、携帯端末のシステム自動識別、異なるシステムの端末間における接続試験、他のシステムの干渉下における試験、自己診断およびリモート試験が可能となる。 - 特許庁

To improve the efficiency and accuracy of a test by preventing the interruption or a delay of the test and the abnormal determination of a test result even if a signal not directly involved in the test is transmitted and received to/from a device to be tested.例文帳に追加

被試験装置との間で試験には直接関与しない信号が送受信されても、試験の中断や遅延、試験結果の異常判定が発生しないようにして、試験の効率と精度の向上を図る。 - 特許庁

In the test time shortening processing, the time shortening device 22 performs the processing of interchanging the execution sequence of test items of the test program 50 so that an average execution time on conforming items may become in ascending order on the basis of both test execution time set in advance corresponding to each test described in the test program 50 and the probability of occurrence of defective units.例文帳に追加

この試験時間短縮処理は、時間短縮装置２２が、試験プログラム５０に記述されている各試験に対応する、予め設定された試験実行時間と、不良品発生確率とに基づいて、良品に対する平均実行時間を昇順となるように試験プログラム５０の試験項目の実行順序を入れ替える処理である。 - 特許庁

To provide an endurance test apparatus for a golf club head to automatically carry out an endurance test with requiring by an observer to always stays at a test site for visual examination and without stop of the test device, provide a method for the endurance test for the golf club head, and provide an endurance test program for the golf club head.例文帳に追加

常時観察者が付いて目視観察することがなく、さらに装置を停止することなく自動的に耐久試験を行うゴルフクラブヘッド耐久試験装置、ゴルフクラブヘッド耐久試験方法およびゴルフクラブヘッド耐久試験プログラムを提供する。 - 特許庁

When test output data 6 and hash values 7 are returned from the server 3 for testing, the test output data 6 are compared with the contents of test output specifications, which are described in test specifications 1d, by a test result determination means 1c to determine whether the test is acceptable.例文帳に追加

テスト用サーバ３からテスト出力データ６とハッシュ値７とが返されると、テスト結果判定手段１ｃにより、テスト出力データ６と、テスト仕様書１ｄに記述されているテスト仕様出力内容とが比較され、テストの合否が判定される。 - 特許庁

A program control part 11 operates the test target program 1 of the test case registered in the test case storage 18, and its output result is stored in a test result storage 19.例文帳に追加

プログラム制御部１１は、テストケース記憶装置１８に登録されたテストケースを元に被テスト対象プログラム１を操作し、その出力結果をテスト結果記憶装置１９に格納する。 - 特許庁

To provide a computer system test device facilitating later cause analysis, in a test wherein a plurality of test programs are sequentially executed on a test target program.例文帳に追加

試験対象プログラムに対して複数の試験プログラムを順次実行するような試験において、後の原因解析を容易とする計算機システム試験装置を得ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a pumping test method and a pumping test device capable of performing a pumping test at relatively inexpensive test cost, and highly accurately determining a hydraulic constant.例文帳に追加

高い精度で水理定数を求めることができると共に、比較的安価な試験コストで揚水試験を行なうことができる揚水試験方法と揚水試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a form allowing a test piece to be efficiently manufactured when manufacturing the test piece for cement body strength test and allowing the test piece of a prescribed shape to be surely manufactured.例文帳に追加

セメント体強度試験用供試体を作製する際に、供試体を効率良く作製することができると共に、確実に所定形状の供試体を作製することができる。 - 特許庁

Consequently, as a test time can be shortened and a test can be performed by an inexpensive test system having no fail memory, a test cost of a non- volatile semiconductor memory can be reduced.例文帳に追加

この結果、テスト時間が短縮でき、また、フェイルメモリを持たない安価なテストシステムでテストを行うことが可能となるため、不揮発性半導体メモリのテストコストを削減できる。 - 特許庁

To provide a test circuit and a test method for executing a plurality of different tests as one continuous test in a burn-in test.例文帳に追加

バーンインテストにおいて複数の異なるテストを１つの連続したテストとして実施することが可能なテスト回路及びテスト方法を提供することを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a horn antenna used for transmitting radio wave for test in an EMC test, the horn antenna being capable of appropriately, easily and inexpensively irradiating an object for test with the radio wave for test.例文帳に追加

ＥＭＣ試験で，試験用電波を送信するのに用いられるホーンアンテナを，簡単且つ安価に試験対象物に対して試験用電波を適正に照射できるようにする。 - 特許庁

To provide an observing method of test allowing an attester present in a place distant from a test field to observe a test on the spot without going to the test field.例文帳に追加

試験現場から離れた場所に居る立会者が試験現場に出向くことなく、その場に居ながら試験の立会いを行うことが可能な試験の立会い方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern generation method, a test pattern generation system, and a test pattern generation device capable of efficiently generating a test pattern which is used for testing a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のテストに用いるテストパターンを効率よく生成可能としたテストパターンの生成方法及びテストパターンの生成システム並びにテストパターン生成装置を提供する。 - 特許庁

The flag of the test result is stored so as to be confirmed, and when test failure is confirmed, the other test is stopped so that any wasted time due to the test can be eliminated.例文帳に追加

テスト結果のフラグを格納して確認できるようにし、不良であることを確認したときには他方のテストを中止することで、テストにおける無駄な時間を解消する。 - 特許庁

The extra test objective cell extraction part 315 extracts extra test objective cell, turns the finish flag of the extra test objective path including extracted extra test objective cell from "0" to "1".例文帳に追加

テスト対象外セル抽出部３１５はテスト対象外セルを抽出し、抽出されたテスト対象外セルを含むテスト対象外パスの終了フラグを「０」から「１」に変更する。 - 特許庁

When a user selects the displayed load test to apply for participation in the test, the test management server 3 registers an ID of the user applying for the participation in a test registrant management database 38.例文帳に追加

表示されている負荷テストをユーザが選択して参加申し込みをすると、テスト管理サーバ３は、参加申込をユーザのＩＤをテスト登録者管理データベース３８に登録する。 - 特許庁

To reduce test time when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND flash memory, and furthermore extremely reduce the test time through parallel processing of a plurality of chips.例文帳に追加

NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁

To reduce work and effort for recording work of leak test data of objects to be measured and improve work accuracy of leak test and reliability of test data.例文帳に追加

被測定物の漏洩試験データの記録作業等に要する手間や労力の軽減を図れるようにすると共に、漏洩試験の作業精度及び試験データの信頼性を向上させる。 - 特許庁

The test handler has a method of opening an insert which is arranged at the other part of area, by moving a test tray after opening the insert which is arranged at one part of area of the test tray.例文帳に追加

テストトレイの一部面積に配列されたインサートを開放した後、テストトレイを移動させて他の一部面積に配列されたインサートを開放する方式を有するテストハンドラーを提供する。 - 特許庁

To provide the test circuit of a semiconductor device capable of dispensing with a specific test terminal or a specific circuit and a manufacturing method for setting the mode of the test circuit of a mounted function core.例文帳に追加

搭載された機能コアのテスト回路のモード設定のために特別なテスト端子、もしくは特殊な回路や製造方法を必要としない半導体装置のテスト回路を提供する。 - 特許庁

This method includes a step in which the recorder/player extends the additional extra space of a test disk by using the test disk having test reference information and test information is generated from the test disk, and a step in which reference information predicted with the test reference information is compared with the test information and verification results about the test information are provided.例文帳に追加

テスト基準情報を有するテストディスクを用いて記録及び再生装置でテストディスクの追加余裕空間を拡張し、テストディスクからテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

Next, the read test of an adjacent track 113b of the inner peripheral side is carried out.例文帳に追加

次に、内周側隣接トラック１１３ｂのリード・テストを行う。 - 特許庁

DETERMINATION METHOD FOR CENTER OF LAMP OF VEHICLE UNDER TEST, AND HEADLIGHT TESTER例文帳に追加

被試験車両のランプの中心決定方法及びヘッドライトテスタ - 特許庁

METHOD OF TEST OF CLOCK GENERATION CIRCUIT IN ELECTRONIC DEVICE, AND ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加

電子装置のクロック発生回路の検査方法及び電子装置 - 特許庁

PSEUDO-FECES AND METHOD OF CONTROLLING ACCURACY OF FECES HEMOCCULT TEST USING THE SAME例文帳に追加

擬似便およびそれを用いる便潜血試験の精度管理方法 - 特許庁

(a) Basic methods of handling, maintenance, and test of airframe structure 例文帳に追加

イ　機体構造の取扱い、整備方法及び検査方法の基礎 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The weight of the wheel or axle of the test vehicle is already known.例文帳に追加

試験車両は、車輪または車軸の重量が既知である。 - 特許庁

This achieves facilitation of the test of the BIST circuit itself.例文帳に追加

このことが、ＢＩＳＴ回路自身のテストの容易化を達成する。 - 特許庁

MEASUREMENT OF VALVE TRAIN ABRASION OF DIESEL ENGINE IN ABRASION TEST例文帳に追加

摩耗試験におけるディーゼルエンジンのバルブ・トレーン摩耗の測定方法 - 特許庁

Ca2+ ELUTION AMOUNT TEST METHOD OF SLUG, AND EVALUATION METHOD OF SLUG例文帳に追加

スラグのＣａ２＋溶出量試験方法及びスラグの評価方法 - 特許庁

(2) Name and address of test facilities, etc. receiving certification of compliance例文帳に追加

２ 適合確認を受けた試験施設等の名称及び住所 - 厚生労働省

We test a new weapon of my own design which is capable of catastrophic destruction例文帳に追加

俺が設計した、新しい武器を試す、 悲惨な損傷も可能 - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

In order to gain the wing mark all of the test phases of the pilot course例文帳に追加

ウイングマークを取るのには 各操縦課程の段階試験の全て - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書