「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(42ページ目) - Weblio英語例文検索

The contents of the test are set to the unit of the disk objective for the test, and the setting of access timing with respect to the plural disks is also allowed.例文帳に追加

テスト内容は、テスト対象のディスク単位に設定し、また、複数のディスクに対するアクセスタイミングも設定可能である。 - 特許庁

To provide a nozzle function check mechanism of an ink jet printer performing inspection of a missing dot in a test pattern printed on the surface of a test medium.例文帳に追加

テストメディア表面にプリントされたテストパターンのドット抜けを検査するインクジェットプリンタのノズル機能チェック機構を提供する。 - 特許庁

To provide a test piece measuring apparatus capable of improving positioning accuracy of test pieces and reducing the dispersion of measured values.例文帳に追加

試験片の位置決め精度を向上させ、測定値の分散を低減することのできる試験片測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a short-circuited pixel of an organic EL panel capable of easily and simply test the short-circuited pixel.例文帳に追加

短絡画素を簡単かつ容易に検査することができる有機ＥＬ表示パネルの短絡画素検査方法を提供する。 - 特許庁

The abnormalities in the test images are detected based on comparison of the pixel value data of the test images and those of the reference images.例文帳に追加

この試験画像の画素値データと、参照画像の画素データとの比較に基づいて、試験画像内の異常が検出される。 - 特許庁

To improve efficiency of a functional test of a logic mixed memory integrated circuit or the like incorporating plural DRAM macro-cells and to improve accuracy of the test.例文帳に追加

複数のＤＲＡＭマクロセルを搭載する論理混載メモリ集積回路等の機能試験を効率化し、その試験精度を高める。 - 特許庁

To detect contamination in a tank for putting a sample therein, of an environmental test device performing an accelerated test of a sample of a semiconductor device and the like.例文帳に追加

半導体装置等の試料の加速試験を行う環境試験装置の、試料を入れる槽内の汚染を検知する。 - 特許庁

To shorten time of a load test without need of a large scale facility in the load test of a large power generator with large capacity.例文帳に追加

大容量の大型発電機の負荷試験において、大規模な施設を必要とせず、負荷試験の時間を短縮する。 - 特許庁

When the designated operation mode is an independent test mode for performing mutually different tests independently by each of the plurality of test modules, the central processing unit controls the plurality of test modules in parallel by switching the plurality of test processes relative to each test module and executing it.例文帳に追加

一方、指定された動作モードが、複数の試験モジュールの各々により互いに異なる試験を独立して行わせる独立試験モードである場合には、複数の試験用プロセスを試験モジュール毎に切り替えて実行することにより複数の試験モジュールを並行して制御する。 - 特許庁

A test order setting part 62 provided in the tester 36 calculates a failure rate for each test item based on a plurality of tested results obtained by testing a plurality of solid-state imaging devices, and rearranges a test order of each test item in order of a high failure rate to reset the test pattern.例文帳に追加

テスタ３６に設けられた検査順序設定部６２は、複数の固体撮像素子を検査することによって得られた複数の検査結果を基に、検査項目毎の不良率を算出して、この不良率の高い順に各検査項目の検査順序を並べ替え、テストパターンを再設定する。 - 特許庁

Since a test of the ADC 4 is performed within the ADC test circuit and a test result is output from the comparator 5 as a 1-bit Flag signal, none of conversion output signals of the ADC 4 is required to be output to the outside of the ADC test circuit for the ADC test.例文帳に追加

ＡＤＣテスト回路内でＡＤＣ４のテストを行って、テスト結果を比較部５から１ビットのＦｌａｇ信号として出力するため、ＡＤＣテストを目的として、ＡＤＣ４の変換出力信号をすべてＡＤＣテスト回路の外部に出力しなくて済む。 - 特許庁

A test method has plural test flows corresponding to an estimated result of a process in a post-process test after assembly of a semiconductor memory, and a test flow is selected in accordance with an estimated result of a process measured by an estimation pattern at the time of a post-process test.例文帳に追加

検査方法は、半導体記憶装置の組立後の後工程検査において、プロセスの出来ばえ評価結果に対応する複数の検査フローを有し、後工程検査時に評価パターンにて測定したプロセスの出来映え評価結果に応じて検査フローを選択している。 - 特許庁

A measuring instrument 100 obtains the test result of the three-point bending test to a test piece and an elastic modulus estimating part 130 calculates the elastic modulus of the test piece on the basis of the inclination of a curve showing the relation between load and displacement contained in the test result.例文帳に追加

本実施例にかかる計測装置１００は、試験片に対する３点曲げ試験の試験結果を取得し、弾性率推定部１３０が試験結果に含まれる荷重と変位との関係を示す曲線の傾きに基づいて試験片の弾性率を算出する。 - 特許庁

To provide a test data filing system and a test data filing program capable of managing a test time as information varied by a subject, test contents, and a tester for practically managing test times in an ophthalmology hospital, which frequently uses a test apparatus, and using the test time served according to the subject and the tester as data resources of usability determination and test scheduling of the test apparatus inside the hospital.例文帳に追加

検査時間を被検者、検査内容及び検者によって変動する情報として管理することで、検査装置を多用する眼科病院において各検査時間の管理をより実用的に行うことができ、被検者及び検者に応じて実用化された検査時間を病院内の検査装置の利用効率の判断や検査スケジューリングのデータ資源として用いることができる検査データファイリングシステム及び検査データファイリングプログラムを提供する。 - 特許庁

An image processor 21 is provided with a test item registering means for testing an image processor 20, an update means of firmware, a test execution means and a print test execution means for selecting and executing test items registered in the test item registering means and a report preparation means for preparing a report by analyzing the test result after ending the test.例文帳に追加

情報処理装置２１は画像処理装置２０をテストするためのテスト項目登録手段と、ファームウェアのアップデート手段と、テスト項目に登録したテスト項目を選択し実行するテスト実行手段と印刷テスト実行手段と、テスト終了後、テスト結果を解析してレポートを作成するレポート作成手段を備える。 - 特許庁

To shorten a test time in a rewriting durability test of a nonvolatile semiconductor memory apparatus.例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置の書き換え耐久試験において、試験時間の短縮を課題とする。 - 特許庁

When the received lamp control command is a test command, the control of contents instructed by the test command is executed.例文帳に追加

受信したランプ制御コマンドがテストコマンドであれば、テストコマンドで指示された内容の制御を実行する。 - 特許庁

To suppress the damage of a thermostatic tank when an inner-pressure test for loading a test piece with high-pressure oil is performed.例文帳に追加

供試体に高圧油を負荷する内圧試験を行った際の恒温槽の被害を抑える。 - 特許庁

To provide a dicing substrate for test capable of improving test accuracy and connection reliability.例文帳に追加

試験精度及び接続信頼性の向上を図ることが可能な試験用個片基板を提供する。 - 特許庁

A color-classified test pattern is printed in a test printing region of a recording paper 16 using each printing head 12.例文帳に追加

記録紙１６上のテスト印字領域に色別のテストパターンが各印字ヘッド１２により印字される。 - 特許庁

When a data node corresponding to the key exists in the map and is correlated with the test number, the test number of the data node is assigned to the result of the sub-test (106), and in different cases, a new test number is assigned to the result of the sub-test (108), and the new test number is correlated with the data node linked in the map.例文帳に追加

キーに対応するデータノードがマップ内に存在し、テスト番号と関連付けられている場合、このデータノードのテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０６）、そうでない場合は、新しいテスト番号がサブテストの結果に割り当てられ（１０８）、新しいテスト番号が、マップ内でリンクされたデータノードに関連付けられる。 - 特許庁

To provide a burn-in test system capable of transferring a test signal at a high speed.例文帳に追加

本発明の課題は、高速なテスト信号の転送が可能となるバーンインテストシステムを提供することである。 - 特許庁

In a test pattern measuring process (ST12), the size of a test pattern transferred onto a wafer is measured.例文帳に追加

テストパターン測定工程ＳＴ１２において、ウェハ上に転写されたテストパターンの寸法を測定する。 - 特許庁

SYSTEM FOR PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION, CENTRAL DEVICE, METHOD OF PROVIDING ANIMAL TEST INFORMATION AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

動物検査情報提供システム、中央装置、動物検査情報提供方法及びコンピュータプログラム - 特許庁

To accurately make a product test in connecting a scan path to a plurality of flip-flops to make a product test.例文帳に追加

複数のフリップフロップにスキャンパスを接続して製品テストを行う場合、製品テストを正確に行う。 - 特許庁

The unit test is executed in a host environment 320 for a further perfect and accurate test of a program unit.例文帳に追加

ユニットテストは、プログラムユニットのより完全で正確なテストのためにホスト環境３２０において実行する。 - 特許庁

START FILE CREATING DEVICE, CONTROLLER, CONNECTION TEST SYSTEM FOR MONITORING SYSTEM, AND CONNECTION TEST METHOD OF MONITORING SYSTEM例文帳に追加

起動ファイル作成装置、コントローラ、監視システムの接続試験システム及び監視システムの接続試験方法 - 特許庁

To realize an IC test system for high-density mounting of a test head, and having satisfactory signals quality.例文帳に追加

テストヘッドの高実装化が図られ、信号品質が良いＩＣテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

To set arbitrary operation mode information to a plurality of CR during a test and to reduce a test cost.例文帳に追加

試験時に複数のＣＲに任意の動作モード情報を設定するとともに試験コストを削減する。 - 特許庁

To provide a test circuit, an integrated circuit and a testing method capable of easily preparing a test pattern.例文帳に追加

テストパターン作成の容易化等を実現できるテスト回路、集積回路、テスト方法を提供すること。 - 特許庁

The CPU 10 sequentially selects test data from combination test data of a start-up screen in accordance with a predetermined rule.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、スタート画面の組合せテストデータから所定ルールに従って順次テストデータを選択する。 - 特許庁

The image forming means forms a test image in a recording medium on the basis of test image data.例文帳に追加

前記画像形成手段は、テスト画像データに基づき、記録媒体に対してテスト画像を形成する。 - 特許庁

The test signal supply portion supplies a test signal to each of multichannel speakers including a center speaker S_c.例文帳に追加

テスト信号供給部は、センタースピーカＳ_ｃを含むマルチチャンネルスピーカのそれぞれにテスト信号を供給する。 - 特許庁

To provide a communication operation test equipment that can efficiently test a communication operation with respect to the front end of an electronic device.例文帳に追加

電子機器のフロントエンドに対する通信動作の試験を効率よく行うことを可能とする。 - 特許庁

To cut down an operation amount conventionally needed for carrying out a test, thereby increasing the efficiency of a communication network test.例文帳に追加

従来の試験実施に必要であった稼動量を削減し、通信ネットワーク試験を効率化する。 - 特許庁

In addition, since descriptions of the coupling codes are unified, test man-hour for a coupling test or the like is also reduced.例文帳に追加

また、結合コードの記述が統一されるため、結合テストなどのテスト工数も図ることができる。 - 特許庁

The universal type line test device 1 is provided with test circuits that conduct an insulation resistance test and a static capacitance test between a couple of core wires and between each core wire and ground, and a cross-contact test between each core wire and other wire without the need for changing the connection between a couple of core wires of a test object line and a ground wire.例文帳に追加

ユニバーサル型回線試験器１は、試験対象回線の一対の心線及び接地線との接続を替えること無しに、一対の心線間や、各心線と対地間の絶縁抵抗試験、静電容量試験、各心線に対する他の回線の混触試験をするための試験回路を備えることである。 - 特許庁

TEST METHOD AND TEST DRUG OF SYSTEMIC LUPUS ERYTHEMATOSUS PHOSPHATIDYL SERINE SPECIFIC PHOSPHOLIPASE A1 MEASUREMENT例文帳に追加

ホスファチジルセリン特異的ホスホリパーゼＡ１測定による全身性エリテマトーデスの検査方法および検査薬 - 特許庁

In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.例文帳に追加

この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁

To improve the test comprehensiveness of a random instruction combination test in a memory sharing type multiprocessor system.例文帳に追加

メモリ共有型マルチプロセッサシステムにおけるランダム命令組合せ試験の試験網羅性を向上させる。 - 特許庁

Test cases are registered in association with the combination of the request and the specified test condition item.例文帳に追加

そして、リクエストおよび指定されたテスト条件項目の組み合わせと関連付けてテストケースを登録する。 - 特許庁

To test the performance of an electronic component such as a battery mounted on a test substrate, while applying a pressure to the electronic component.例文帳に追加

試験基板の上に載置した電池などの電子部品に圧力を加えながら性能試験を行う。 - 特許庁

The energization test of the detection means 90 is conducted by loading the analyzing apparatus 60 with an energization test cassette.例文帳に追加

検出手段９０の通電検査は、分析装置６０に通電検査用カセットを装着して行う。 - 特許庁

To provide an optical disk device capable of surely erasing test write data recorded in a test area.例文帳に追加

テストエリアに記録された試し書きデータを確実に消去することができる光ディスク装置を提供する。 - 特許庁

A test device-side reader 180 reads cable information out of the test device-side RFID tag 164.例文帳に追加

試験装置側リーダ１８０は、試験装置側ＲＦＩＤタグ１６４からケーブル情報を読み取る。 - 特許庁