「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test interface circuit for mixed memory in which the number of test data input/output terminals is reduced and a practicable test pattern is increased.例文帳に追加

テストデータ入出力端子の数を低減しかつ実行可能なテストパターンを増加させる混載メモリ用テストインターフェイス回路を提供する。 - 特許庁

During a shear test, abutments (30, 31) provide an additional clamping force on the test tool (100) while the test tool (100) is shearing the bond part (302) off of the substrate (300).例文帳に追加

剪断試験中、試験ツール(100)により結合部(302)を基板(300)から剪断させるとき、当接部(30,31)は追加のクランプ力を試験ツール(100)に付与する、 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus which can reduce the measurement time of a current test on a semiconductor device, and semiconductor test method.例文帳に追加

半導体素子の電流試験の測定時間を短縮することができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供すること。 - 特許庁

Each of the test substrates is classified and allocated to a test substrates group having a common reusable process assigned to the test substrates group.例文帳に追加

各々のテスト基板は、テスト基板のグループに割当てられた共通の再生利用プロセスを有するテスト基板のグループに分類され、配置される。 - 特許庁

To efficiently perform high-accuracy fatigue test on a minute test specimen according to the material characteristics of an inspecting object component that is the test specimen.例文帳に追加

微小な供試体に対する高精度な疲労試験をその供試体の検査対象部品の材料特性に応じて効率的に行う。 - 特許庁

A test signal storing part 24A is constituted of erasable and writable storage means, and stores test information required for executing a test.例文帳に追加

テスト信号記憶部２４Ａは、消去及び書込み可能な記憶手段から構成され、テストを実行するために必要なテスト情報を記憶する。 - 特許庁

In performing the verification test of the apparatus, the apparatus verification test is performed by switching to a dedicated operation screen for the apparatus test.例文帳に追加

機器の確認試験を実施する場合、機器の試験を行うための専用の操作画面に遷移させて機器の確認試験が実施される。 - 特許庁

To provide a method of processing a test current for measuring an analyte in a fluid by using a test strip and a test meter.例文帳に追加

テストストリップと、検査計測器とを使用して、液体の中の分析物の測定のために検査電流を処理する方法を提供すること。 - 特許庁

In an activation test sequence:11XX0 of a test sequence ID:8 is input into the ATPG 2100 to generate an activation test sequence:11000.例文帳に追加

テストシーケンスＩＤ：８の活性化テストシーケンス：１１ＸＸ０をＡＴＰＧ２１００に入力して、活性化テストシーケンス：１１０００を生成する。 - 特許庁

In this method (100) for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法（１００）において、現在のテストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中、維持される（１０２）。 - 特許庁

In this method for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てるための方法において、現行のテストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中、維持される（１０２）。 - 特許庁

In this method 100 for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法１００において、現行テストフローコンテキスト情報３００は、テストフロー２００の実行中維持される（１０２）。 - 特許庁

A test mode signal TM is inputted from a test mode determining circuit 30 to the POR circuit 25 in the test mode for testing the operation of an internal circuit.例文帳に追加

内部回路の動作をテストするテストモードにおいて、テストモード判定回路３０からテストモード信号ＴＭをＰＯＲ回路２５に入力する。 - 特許庁

A test-performing and comparing part 23 repeats performing of a CMIS service via a test data transmission/reception part 22 according to a test procedure file 11.例文帳に追加

テスト実行比較部２３はテスト手順ファイル１１にしたがって、テストデータ送受信部２２を介してＣＭＩＳサービスを繰り返し実行させる。 - 特許庁

To verify the validity of an input pattern, and to detect faults in a test circuit itself, in the test circuit for inputting a serial test pattern.例文帳に追加

シリアルテストパターンを入力するテスト回路において、入力パターンの妥当性を確認と、テスト回路自体の故障検出を可能にする。 - 特許庁

The tester simulation device for simulating a test of the test object by a tester based on the test program is improved.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムに基づいて、被試験対象のテスタによる試験をシミュレーションするテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

A test chart image 906 is obtained by recording the same test pattern in respective divided areas obtained by dividing the full width of a test chart 600 into plurality.例文帳に追加

テストチャート画像９０６は、テストチャート６００の全幅を複数に分割した各分割エリア内に同じテストパターンを記録したものである。 - 特許庁

To provide a circuit test apparatus which can reduce man-hours and costs required for a test on the operation of the connection between boards under test.例文帳に追加

被検査基板間の接続の動作の試験に要する工数、コストの低減を実現することが可能な回路試験装置を提供する。 - 特許庁

A test process determining part 12 determines the test process data indicating a schedule of a test, and an evaluation reference value as the reference for judging a progress.例文帳に追加

テスト工程設定部１２は、テストのスケジュールを示すテスト工程データと進捗判定の基準となる評価基準値とを設定する。 - 特許庁

To realize reduction in the increase of the circuit scale normally caused by adding a test section and to fulfill a test function by selecting a self-test section.例文帳に追加

セルフテスト部を採用することによるテスト機能の充実とテスト部追加による回路規模の増大を軽減することの双方を実現する。 - 特許庁

To provide a J1C tester capable of reducing such a useless test that a value calculated by a test becomes invalid to efficiently perform a J1C test.例文帳に追加

試験により求められた値が無効となる無駄な試験を削減して、効率的にＪ_1C試験を行うことのできる試験装置を提供する。 - 特許庁

With this, the leak test treatment means 71 equipped in the control unit 55 automatically executes a leak test of a flow channel to be an object for test.例文帳に追加

こうすると、制御装置５５に備えたリーク検査処理手段７１が、検査対象となる流路のリーク検査を自動的に処理実行する。 - 特許庁

A plant test adjustment support device consists of a maintenance tool 22 and a measuring instrument test device 31, and they are connected through a test information cable.例文帳に追加

プラント試験調整支援装置を保守ツール２２と計器試験装置３１とにより構成し、これらを試験情報ケーブルを介して接続する。 - 特許庁

The test circuit 13 judges setting of a test mode based on the detection signal, and supplies a prescribed test signal to the internal circuit 14.例文帳に追加

テスト回路１３は、検出信号ＣＯによりテストモードが設定された旨を判断して、所定のテスト信号を内部回路１４に供給する。 - 特許庁

At the time of a test mode, the comparator 4 performs feedback control so that boosting voltage is equalized to test voltage supplied to a test voltage pad.例文帳に追加

テストモード時には、コンパレータ４は、昇圧電圧がテスト電圧パッドに供給されるテスト電圧に等しくなるように帰還制御を行う。 - 特許庁

The test circuit is enabled by a test enable input signal, and the row driver sequentially enables the row of the detector together with individual test circuits.例文帳に追加

試験回路は試験イネーブル入力信号によりイネーブルされ、行ドライバは個々の試験回路と共に検出器の行を順次イネーブルする。 - 特許庁

When the test number corresponding to the index information exists in the database 400, the test number is assigned to the result of the sub-test (106).例文帳に追加

索引情報に対応するテスト番号がデータベース４００内に存在する場合、このテスト番号はサブテストの結果に割り当てられる（１０６）。 - 特許庁

TEST CLOCK CONTROL STRUCTURE TO GENERATE CONFIGURABLE TEST CLOCK FOR SCAN-BASED TESTING OF ELECTRONIC CIRCUITS USING PROGRAMMABLE TEST CLOCK CONTROLLER例文帳に追加

プログラム可能テストクロックコントローラを使用した電子回路のスキャンベーステスト用に構成可能なテストクロックを生成するためのテストクロック制御構造 - 特許庁

In this method (100) for assigning the test number, present test flow context information 300 is maintained during execution of a test flow 200 (102).例文帳に追加

テスト番号を割り当てる方法（１００）において、テストフロー２００の実行中、現在のテストフローコンテキスト情報３００を維持する（１０２）。 - 特許庁

The advantage of the Test File option is that, while you can be in the file you want to test, you are not required to be in the test file for the class. 例文帳に追加

「ファイルをテスト」オプションの利点は、テスト対象のファイル内にいても構いませんが、そのクラスのテストファイル内にいる必要がないことです。 - NetBeans

This class implements the interface needed by the test runner to allow it to drive the test, and methods that the test code can use to check for and report various kinds of failures.例文帳に追加

TestCaseクラスでは、テストランナーがテストを実行するためのインターフェースと、各種のチェックやテスト失敗をレポートするためのメソッドを実装しています。 - Python

According to this, the test is performed at the operation speed of the SOC to shorten the test time, and even after the SOC is mounted on a board, the test can be performed.例文帳に追加

これにより、ＳＯＣの動作速度でテストを行い、テスト時間を短縮させ、ＳＯＣがボードに実装された後にもテストを行える。 - 特許庁

To provide a hearing test device not always requiring restraint on a subject during a test, and capable of improving test accuracy.例文帳に追加

検査中検者を常に拘束させておく必要がないとともに、検査精度を向上させることができる聴力検査装置を提供する。 - 特許庁

(3)Test that is described in Priority 1 or an OECD TG test in Priority 2, and a GLP compliance test, and receives some degree of approval (review by plural persons).例文帳に追加

③ Priority1 に記載されている、 又は Priority2 で OECD TG 試験であり、かつＧＬＰ適合試験であり、かつ一定の評価（複数者のレビュー）を受けているもの - 経済産業省

When fatigue test is performed on test pieces by means of bend load by providing the test pieces 31 with vibration of a previously set vibration frequency, a plurality of support mechanisms are formed on a support body 11a supporting/fixing one end part of each test piece.例文帳に追加

試験片３１に予め設定された振動数で振動を与えて曲げ負荷によって、試験片の疲労試験を行う際、試験片の一端部が支持固定される支持体１１ａに支持機構を複数形成する。 - 特許庁

In this method for evaluating adhesive peel strength of test paper, the adhesive peel strength of test paper is evaluated by bonding test papers by an adhesive to measure the breaking strength of paper layers of the test papers.例文帳に追加

本発明の試験紙の接着剥離強度評価方法は、試験紙と試験紙とを接着によって貼り合わせ、試験紙の紙層の破壊強度を測定することにより、試験紙の接着剥離強度を評価することを特徴とする。 - 特許庁

To heat the inside of a test chamber so that dispersion of a temperature distribution in the test chamber or fluctuation of the salt concentration and the specific gravity of sampled liquid are within a fixed range, and that the temperature inside the test chamber can be raised quickly up to the test temperature.例文帳に追加

試験槽内の温度分布のばらつきや採取液の塩濃度及び比重の変動が一定範囲内であるように、且つ試験槽内の温度を試験温度まで迅速に上昇できるように試験槽内を加熱すること。 - 特許庁

The area dividing means divides the information recording means into a plurality of record test areas for carrying out the record test to be performed in advance of recording processing and a plurality of record test result storage areas for recording the result of the record test.例文帳に追加

領域分割手段は、情報記録媒体において記録処理に先立って行う記録テストを実行する複数の記録テスト領域と記録テストの結果を記録する複数の記録テスト結果記憶領域とに分割する。 - 特許庁

The signal processing block duplicates a test signal applied from the outside, applies each of a plurality of duplicated test signals to a test object device respectively, and provides a plurality of determination signals based on test result signals received from the test object device respectively.例文帳に追加

信号処理ブロックは外部から印加されるテスト信号を複製して複製された複数のテスト信号それぞれをテスト対象デバイスにそれぞれ印加し、テスト対象デバイスからそれぞれ受信されたテスト結果信号に基づいた複数の判定信号を提供する。 - 特許庁

To provide test progress management method and system by which the change of the transition relation of test items is suppressed to absolute minimum even in the case that the test items are changed during a test and a person easily performs the operations of increasing/decreasing the test items and changing a performance order or the like.例文帳に追加

テスト中にテスト項目の変更が発生した場合でも、テスト項目の遷移関係の変更を最小限に抑え、かつ、人がテスト項目の増減や実施順序の変更などの操作を行いやすいテスト進捗管理方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an external semiconductor memory test device connected to a semiconductor memory test device which can increase the number of simultaneous test by double or more, and can test memories of the number of data bits or more, in a conventional semiconductor memory test device.例文帳に追加

従来の半導体メモリ試験装置において、同時試験個数を２倍以上にすることができ、また、試験可能なデータビット数以上のメモリの試験を可能にする半導体メモリ試験装置に接続する外付け半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

A test scenario pass generation processing part 8 processes an event (series) of an event flow of the request specification file 2 while imaging the form of the test scenario pass (4), automatically generates a test scenario pass correspondingly to specified test strategy, and stores the generated data in a test scenario pass file 5 (5).例文帳に追加

テストシナリオパス生成処理部８は、要求仕様ファイル２のイベントフローのイベント(系列)をテストシナリオパスの形をイメージして処理し(４)、指定されたテスト戦略に対応して自動的にテストシナリオパスを生成し、テストシナリオパスファイル５に生成したデータを格納する(５)。 - 特許庁

Test circuits of semiconductor integrated circuits exchange test data via a path including the data bus 12, and the test circuit of the semiconductor integrated circuit that has received the test data determines a data transfer failure according to the comparison of the received test data with reference data.例文帳に追加

データバス１２を含む経路を介して半導体集積回路のテスト回路間でテストデータを送受信し、テストデータを受信した半導体集積回路のテスト回路が、受信したテストデータと参照データとの比較結果に基づいてデータ転送障害を判定する。 - 特許庁

An address conversion section 13 converts a test address into an address of a common area 23 being the same areas as the test program 3a of the opposite subordinate unit 2a for an opposite test when receiving an access to the test address from the test program 3 in the subordinate unit 2.例文帳に追加

アドレス変換部１３は、下位装置２内の試験プログラム３から試験用アドレスへのアクセスがあると、対向試験を行う対向側の下位装置２ａの試験プログラム３ａと同一エリアの共通エリア２３へとアドレス変換する。 - 特許庁

The system is constituted so that a control/monitor terminal 25 of a ground test device server 24 and a user office facility 14 of a thermal vacuum test facility 10, a vibration test facility 11, a sound test facility 12, and an impact test facility 13 are mutually connected through an Internet network 15.例文帳に追加

熱真空試験設備１０、振動試験設備１１、音響試験設備１２、衝撃試験設備１３の地上試験装置サーバ２４及びユーザオフィス設備１４の制御監視端末２５はインタネット網１５経由にて相互に接されている。 - 特許庁