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「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(44ページ目) - Weblio英語例文検索


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OF testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 23309



例文

To reduce the number of cycles during a capture period in a scan test.例文帳に追加

スキャンテストにおけるキャプチャ期間のサイクル数を削減する。 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD OF TEST PIECE FOR DETECTING LIVING BODY RELATED SUBSTANCE例文帳に追加

生体関連物質検出用試験片の製造方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INFERRING TEST TIME OF INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF REDUNDANCY ARITHMETIC OPERATION, AND MEMORY TEST DEVICE例文帳に追加

リダンダンシ演算方法及び装置並びにメモリ試験装置 - 特許庁

例文

To simply carry out a leak test operation of a device.例文帳に追加

装置のリーク検査作業を簡単に行なえるようにする。 - 特許庁


例文

To provide spindle structure capable of preventing deterioration in test accuracy.例文帳に追加

試験精度の悪化を防止することができるようにする。 - 特許庁

SETTING METHOD OF CORRECTION VALUE, AND TEST PATTERN FOR DENSITY CORRECTION例文帳に追加

補正値の設定方法、及び濃度補正用のテストパターン - 特許庁

VISCOELASTICITY MEASURING DEVICE, AND TEST METHOD OF VISCO-ELASTIC BODY例文帳に追加

粘弾性計測装置および粘弾性体の試験方法 - 特許庁

FLOORING MADE OF FIBER AND TEST METHOD FOR ITS STATIC ELECTRICITY-PREVENTIVE FUNCTION例文帳に追加

繊維製床敷物及びその除電性能試験方法 - 特許庁

例文

The plurality of flip-flops generate scan chains in scan test.例文帳に追加

複数のフリップフロップは、スキャンテスト時にスキャンチェーンを形成する。 - 特許庁

例文

METHOD AND APPARATUS FOR TESTING MOTION SIMULATION OF TEST MODEL例文帳に追加

試験模型の移動シミュレーション試験方法及びその装置 - 特許庁

To provide a system for accumulating summary of test data.例文帳に追加

試験データのサマリーを蓄積するシステムを提供すること。 - 特許庁

TEST DEVICE FOR COMMUNICATION AREA OF DSRC ROAD SIDE RADIO EQUIPMENT例文帳に追加

DSRC路側無線機の通信領域の試験装置 - 特許庁

TEST METHOD FOR TESTER OF SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ装置のテスタのテスト方法及びその装置 - 特許庁

TUBULAR BODY SEALING DEVICE, AND AIRTIGHT TEST METHOD OF WELD PART例文帳に追加

管体封止装置及び溶接部の気密試験方法 - 特許庁

Test runs of Bangkok's first subway line started on April 13. 例文帳に追加

4月13日,バンコク初の地下鉄線の試運転が始まった。 - 浜島書店 Catch a Wave

She passed the captain's test on July 2 of this year. 例文帳に追加

今年の7月2日,彼女は機長の試験に合格した。 - 浜島書店 Catch a Wave

SYSTEM AND METHOD FOR ACQUIRING PROFILE DATA OF MACRO- GRATING TEST PATTERN例文帳に追加

マクロ格子テストパターンプロファイルデータ取得システムおよび方法 - 特許庁

To efficiently perform the sampling of measurement data on a material test.例文帳に追加

材料試験の計測データのサンプリングを効率よく行う。 - 特許庁

The encircling coil includes a pair of test coils 21 and 22.例文帳に追加

貫通コイルは、一対の試験コイル21及び22を含む。 - 特許庁

TEST METHOD FOR EVALUATING WEARING AND ABRASION AND HARDNESS OF POWDER AND ITS DEVICE例文帳に追加

粉体摩耗、硬さ評価試験方法およびその装置 - 特許庁

CORE LIBRARY TEST PATTERN EDITOR AND METHOD OF DESIGNING LSI例文帳に追加

コアライブラリテストパターン編集装置およびLSI設計方法 - 特許庁

RAPID DIAGNOSTIC APPARATUS HAVING LOCKING MECHANISM BY USE OF TEST STRIP例文帳に追加

テストストリップによるロック機構を備えた迅速診断装置 - 特許庁

WATERTIGHT TESTING DEVICE AND WATERTIGHT TEST METHOD OF GLAZING CHANNEL例文帳に追加

グレージングチャンネルの水密試験装置及び水密試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR AUTOMATING TEST OF IMAGE PROCESSING SYSTEM例文帳に追加

画像処理システムの試験を自動化するシステムおよび方法 - 特許庁

GENERATING METHOD AND DEVICE OF MENU SELECTABLE TEST PROGRAM TOOL例文帳に追加

メニュー選択型試験プログラムツールの生成方法及び装置 - 特許庁

OIL SUPPLY DEVICE OF AUTOMATIC TEST APPARATUS FOR AUTOMATIC TRANSMISSION例文帳に追加

自動変速機用自動試験装置の油供給装置 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁

FOCUSED ION BEAM DEVICE AND METHOD OF PROCESSING AND OBSERVING TEST PIECE例文帳に追加

集束イオンビーム装置及び試料の加工・観察方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR EXECUTING TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置および半導体装置のテスト実行方法 - 特許庁

PROBE DEVICE, PROCESSING APPARATUS, AND METHOD OF PROCESSING WAFER PROBE TEST例文帳に追加

プローブ装置、処理装置及びウェハプローブテストの処理方法 - 特許庁

GAS REMOVAL RATE TEST METHOD AND TESTING DEVICE OF CHEMICAL FILTER例文帳に追加

ケミカルフィルタのガス除去率試験方法および試験装置 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING REPRESENTATIVE DENSITY VALUE OF TEST EXPOSURE DOT LINE例文帳に追加

テスト露光ドットラインの代表濃度値を決定する方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR MAINTAINABILITY TEST OF POROUS MATERIAL例文帳に追加

多孔性材料の保全性試験のための方法及びシステム - 特許庁

TEST CARRIER AND MOUNTING METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT THEREON例文帳に追加

テストキャリアとそのテストキャリアへの半導体素子の実装方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD OF CONTROLLING THE SAME, AND TEST SYSTEM例文帳に追加

試験装置およびその制御方法、ならびに試験システム - 特許庁

To provide a method for forecasting the toxicity of a test substance.例文帳に追加

被検物質の毒性を予測する方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CARRYING OUT ABRASION TEST OF METALLIC WIRE FOR CARD, AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

紡機用メタリックワイヤの摩耗試験方法及びその装置 - 特許庁

To provide an improved test system of a data storage system.例文帳に追加

データ・ストレージ・システムの改善されたテスト・システムを提供する。 - 特許庁

TEST EQUIPMENT AND INSPECTION METHOD OF ELEMENT FOR METAL BELT例文帳に追加

金属ベルト用エレメントの検査装置及び同検査方法 - 特許庁

DURABILITY TESTING METHOD OF COATING MEMBER AND TEST DEVICE THEREFOR例文帳に追加

コーティング部材の耐久性試験方法および試験装置 - 特許庁

TEST SOCKET OF SEMICONDUCTOR ELEMENT, AND CONTACT PIN STRUCTURE THEREOF例文帳に追加

半導体素子試験用ソケットおよびそのコンタクトピン構造 - 特許庁

To facilitate centering of a test piece on a compression platen.例文帳に追加

圧縮圧盤上で試験片のセンタリングを容易に行う。 - 特許庁

(3) Method of calculating insurance liabilities, etc. in the field test 例文帳に追加

③ 今回のフィールドテストにおける保険負債等の計算方法 - 金融庁

SYSTEM AND METHOD FOR OPPORTUNISTIC TRANSMISSION OF TEST PROBE METADATA例文帳に追加

テストプローブメタデータを便宜的に送信するシステムおよび方法 - 特許庁

GENE-MODIFIED ANIMAL FOR EVALUATING HARMFULNESS OF TEST SUBSTANCE例文帳に追加

被験物質の有害性を評価する遺伝子改変動物 - 特許庁

The Ikoma test institute of Kansai Electronic Industry Development Center 例文帳に追加

(社)関西電子工業振興センター「生駒試験所」 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

CHUCK MECHANISM OF THIN SECONDARY BATTERY CHARGE AND DISCHARGE TEST DEVICE例文帳に追加

薄型二次電池用充放電試験装置のチャック機構 - 特許庁

The tester generates a test result on the basis of the status signal.例文帳に追加

テスターは状態信号に基づきテスト結果を発生する。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor memory device of which the test time is short.例文帳に追加

テスト時間が短い半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁




  
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