「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(47ページ目) - Weblio英語例文検索

The body thickness information acquisition part 52 acquires relation between a position of a test subject on a top plate and the body thickness of the test subject.例文帳に追加

体厚情報取得部５２は、被検体の天板上の位置と被検体の体厚との関係を取得する。 - 特許庁

To automatically generate a test vector to realize the shortening of a test time based on log data at the performance of a manual operation.例文帳に追加

マニュアル操作を行った際のログデータに基づいて、試験時間の短縮を実現するテストベクタを自動生成すること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DISCRIMINATING RESULT OF SPEECH UNDERSTANDING TEST AND STORAGE MEDIUM STORING DISCRIMINATING PROGRAM FOR RESULT OF SPEECH UNDERSTANDING TEST例文帳に追加

音声疎通試験結果判定方法及び装置及び音声疎通試験結果判定プログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of easily uniforming and controlling the temperature of each device under test in a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験における各被試験デバイスの温度を容易に均一化して制御可能なバーンイン装置を提供する。 - 特許庁

To provide a water permeability test device capable of rapidly performing a water permeability test of a barrier material which is a low-permeable material.例文帳に追加

難透水材料であるバリア材の透水試験を迅速に行うことができる透水試験装置を提供する。 - 特許庁

When executing the maintenance test of a communication terminal 301, a maintenance terminal 101 manages and stores an execution state of the test.例文帳に追加

保守端末装置101は、通信端末301の保守試験を実行する際、この試験の実行状態を管理し、保持している。 - 特許庁

At least some of the test elements are provided with a defect marking which includes information about defectiveness of the test elements.例文帳に追加

該テストエレメントの少なくともいくつかには、テストエレメントの欠陥についての情報を含む欠陥マークが、設けられる。 - 特許庁

CALIBRATION METHOD OF MULTIPATH FADING SIGNAL LEVEL AND CORRECTION METHOD IN SENSITIVITY TEST OF MOBILE WIRELESS MACHINE AND MOBILE WIRELESS MACHINE TEST SYSTEM例文帳に追加

移動無線機の感度試験におけるマルチパスフェージング信号レベルの校正方法、補正方法及び移動無線機テストシステム - 特許庁

To provide a scan test method capable of readily performing scan test between chips at actual operation timing of each chip.例文帳に追加

各チップの実動作タイミングでチップ間のスキャンテストを簡単に行うことができるスキャンテスト方法を提供すること。 - 特許庁

Waveforms of shorter cycle or longer cycle than that of, for example, ordinary test waves are used as the test waves for insertion.例文帳に追加

挿入用試験波としては、例えば、定常用試験波よりも、短周期あるいは長周期の波形を用いる。 - 特許庁

To provide an apparatus for determining the performance of a test plug which is small and superior in portability and has excellent visibility of a test and a measurement result.例文帳に追加

小型で可搬性に優れ、試験および測定結果の視認性に優れたテストプラグの判定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue test method capable of confirming a crack developing state on a plurality of repetition rates by a one-time test.例文帳に追加

１回の試験で複数の繰返し速度についてのき裂進展状況を確認可能な疲労試験方法の提供。 - 特許庁

example: test of a conversion device is carried out in a state approved test laboratory of a manufacturer, sealing happens after the installation 例文帳に追加

事例：変換器の試験は製造事業者の州政府承認の試験所で行われ，封印は設置後行われる - 経済産業省

METHOD OF CONFIRMING WORKING POSITION OF ELEMENT CONVEYOR FOR TEST HANDLER OF SEMICONDUCTOR ELEMENT例文帳に追加

半導体素子のテストハンドラの素子搬送装置の作業位置の認識方法 - 特許庁

To obtain many kinds of correction values from limited kinds of densities of a test pattern.例文帳に追加

テストパターンの限られた種類の濃度から、多くの種類の補正値を得る。 - 特許庁

The edge of the existing pile of a test object and a foundation building frame of the existing building is cut.例文帳に追加

試験対象の既存杭と既存建物の基礎躯体との縁を切る。 - 特許庁

The amount of sticking toner of the test pattern 1 is detected from a value of the reflected light.例文帳に追加

この反射光の値から、テストパターン１のトナー付着量を検出する。 - 特許庁

The testing device includes: a test execution means that executes testing including one or more test items selected from among a plurality of test items as an object to be executed to a device to be tested concerning each of the test items by using one or more measuring instruments; and a test item display means that indicates a test image including one or more selected test items.例文帳に追加

複数の試験項目から実行対象として選択された１つ以上の試験項目を含む試験を、試験項目毎に、１つ以上の測定器用いて、被試験器に対して実行する試験実行手段と、選択された１つ以上の試験項目を含む試験画像を表示する試験項目表示手段と有する。 - 特許庁

A modulation frequency of the test light 11 is set on the outside of a signal band of communication light 10, and a frequency of a communication signal and that of a test signal are multiplexed.例文帳に追加

また、試験光１１の変調周波数を通信光１０の信号帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重する。 - 特許庁

After the printing of the serial number, the probe is moved in a return direction to draw the saliva sampling needle out of the test tube and the guide is loaded with the new test tube from a test tube housing case (208).例文帳に追加

シリアル番号の印字後、プローブは戻り方向に移動して、試験管から針が抜かれ、試験管収納ケース（２０８）から新たな試験管が装填される。 - 特許庁

After the end of test, the test result is searched and the test communication number wherein the relaying apparatus can make communication with the master unit 1 and the slave units 3 the number of which is at a maximum is obtained and displayed.例文帳に追加

試験終了後に、試験結果を検索して、親機１と通信可能で、最も通信可能子機３の数が多い試験通信番号を求めて表示する。 - 特許庁

A test signal of a plurality of bits in which only a test control signal T1 becomes a high level and test control signals T2 to Tn become a low level is inputted to a decoder DEC.例文帳に追加

また、デコーダＤＥＣにテスト制御信号Ｔ１のみがハイレベルとなり、テスト制御信号Ｔ２乃至Ｔｎがロウレベルとなる複数ビットのテスト信号を入力する。 - 特許庁

To provide a scanning test circuit capable of reducing the number of LSI pins, reducing test patterns, improving a failure detection rate, and reducing a scanning test related circuit scale.例文帳に追加

ＬＳＩのピン数を削減し，テストパターン削減，故障検出率の向上，および，スキャンテスト関連回路規模の削減を図ることの可能なスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

Regarding each predetermined test of a test module, test environment and forms of input value and output value are uniquely determined by information stored in the information system.例文帳に追加

テストモジュールの所定の各テストに関して、テストの環境と入力値及び出力値の形式は、情報システムに保存された情報によって一義的に決定される。 - 特許庁

To increase the speed of a scan test by mitigating the restrictions on the operational frequency during the test, in a semiconductor integrated circuit device having a failure detection test circuit of a scan system.例文帳に追加

スキャン方式の故障検出テスト回路を備えた半導体集積回路装置において、テスト時の動作周波数の制限を緩和してスキャンテストを高速化する。 - 特許庁

To carry out a withstand voltage test that produces a result of determination even when the test is forcibly terminated from outside in the middle of test time set by a timer.例文帳に追加

耐電圧試験において、タイマに設定されている試験時間の途中で、外部から強制終了がかけられた場合でも、判定結果が出されるようにする。 - 特許庁

To prevent the electric interference of a chip under test with a chip not under test among chips probed simultaneously in the wafer test of an IC by a multi-probing method.例文帳に追加

マルチプロービング方法によるＩＣのウェハテストにおいて、同時にプロービングされたチップのうちテスト中のチップに非テスト中のチップからの電気的干渉の発生を防ぐ。 - 特許庁

A test information management apparatus 1 performs a test concerning the propriety of software behavior in a device that is installed with the software, and manages the result of the test.例文帳に追加

本発明に係るテスト情報管理装置１は、ソフトウェアを実装した装置においてソフトウェアの挙動の適否に関するテストを行い、そのテスト結果を管理する。 - 特許庁

To provide a method of generating a test program for a computer program, automatically generating a test program capable of extracting defect generated under a complicated condition to a test target program.例文帳に追加

テスト対象プログラムに対し、複雑な条件で発生する不良の摘出が可能なテストプログラムを自動で生成するコンピュータプログラムのテストプログラム生成方法を提供する。 - 特許庁

This urine component test paper 20 of the color identification test paper is provided with a stick-like base 22 and the three circular test pieces 24 bonded to one side face of the base 22.例文帳に追加

呈色試験紙である尿成分試験紙２０は、スティック状のベース２２と、ベース２２の片側の面に貼付された３個の円形状の試験片２４を備える。 - 特許庁

Further, the control computer 20 has a test mode for examining the test piece in place of the commodity to perform the test of the X-ray line sensor 14 or the examination processing part 21.例文帳に追加

また、制御コンピュータ２０は、商品の代わりにテストピースを検査にかけてＸ線ラインセンサ１４や検査処理部２１のテストを行うためのテストモードを有している。 - 特許庁

When the test is determined to be error, the refractive power of the right eye ER is measured by a +1D gradation test to which a prescribed spherical degree is added, instead of the red/green test.例文帳に追加

エラーと判断された場合には、レッド・グリーンテストに代えて、所定の球面度を付加して行う＋１Ｄぼかしテストにより右眼ＥＲの屈折力を測定する。 - 特許庁

To shorten design TAT by responding change of a test method without recalculating the test efficiency each time or adding a process of inserting a new test point.例文帳に追加

テスト手法が変更されても、その都度テスト効率を計算し直したり、新たなテストポイントを挿入する工程を追加することなく対応して、設計ＴＡＴを短縮する。 - 特許庁

On the basis of the result of selecting the test mode, the test pattern is emitted from a pattern producing circuit 60 synchronously with the external clock exck, and the test for the semiconductor memory 20 is conducted.例文帳に追加

このテストモード選択結果に基づき、パターン生成回路６０から、外部クロックｅｘｃｋに同期してテストパターンが出力され、半導体メモリ２０のテストが行われる。 - 特許庁

To optionally set the potential of a bit line to an H level or an L level without changing a test code during performing a test of a semiconductor device by a DQ compressed test mode.例文帳に追加

ＤＱ圧縮テストモードによる半導体装置の試験の実施時に、テストコードを変更することなく、ビット線の電位を任意にＨレベルまたはＬレベルに設定すること。 - 特許庁

To provide a pad unit having a test logic circuit for a chain test having a noise reduction function, and a method of driving a system with the usage of the pad unit having the test logic circuit.例文帳に追加

ノイズ除去機能を有する鎖テストのためのテストロジック回路が付加されたパッドおよびテストロジック回路が付加されたパッドを用いるシステムの駆動方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test specifications creation support system and method for automatically creating test specifications corresponding to a description of a software requirement and eliminating an omission of a description in the test specifications.例文帳に追加

ソフトウェア要件の記述に対応したテスト仕様を自動作成し、テスト仕様書において記述の漏れを無くすテスト仕様書作成支援システム及び方法を提供する。 - 特許庁

Test data and test sequence required for test operation are set in a register, in an input signal region of the functional block to be tested from the outside of the LSI or the CPU.例文帳に追加

テスト対象とする機能ブロックの入力信号領域におけるレジスタにＬＳＩの外部又はＣＰＵからテスト動作に必要なテストデータとテストシーケンスを設定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage which can perform a test while keeping quality even when test pins of a test device are tewer than address pins or data pins of the semiconductor storage.例文帳に追加

テスト装置のテストピンが半導体記憶装置のアドレスピンまたはデータピンよりも少ない場合にも品質を保持したテストが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A management side device 11 occasionally obtains a progress condition of a test by browsing the test plan and the test result via a Web browser by means of a browsing means 112.例文帳に追加

管理側装置１１は閲覧手段１１２により、その試験計画や試験結果をＷｅｂブラウザで閲覧することで、試験の進捗状況を随時把握する。 - 特許庁

A metallic material is machined into the cube shape of the test piece 1, and stress is applied to each side of the test piece 1, or the test piece 1 is subjected to quenching treatment.例文帳に追加

テストピース１は、金属材料で正立方体の形状に加工した後、テストピース１の各辺に応力を加え、又は、テストピース１を焼入れする処理を行う。 - 特許庁

This reduction gear for the automobile safety test rapidly reduces the speed of a carriage 15 capable of traveling with an automobile 10 under test loaded on it for the automobile safety test.例文帳に追加

試験対象の自動車１０を載せて走行することができる台車１５を急減速させて自動車の安全性を試験する自動車安全試験用減速装置。 - 特許庁

The printer apparatus 10 moves a reading position of the test image, reads the formed test image, and carries out output density adjustment on the basis of the read test image.例文帳に追加

そして、プリンタ装置１０は、テスト画像の読取位置を移動させて、形成されたテスト画像を読み取り、読み取られたテスト画像に基づいて、出力濃度調整を行う。 - 特許庁

To provide an adjusting method of a tire indoor travel tester capable of increasing the test accuracy by improving the variation in test result in a tire indoor travel test.例文帳に追加

タイヤ室内走行試験における試験結果のバラツキを改善し、試験精度を高めることが可能なタイヤ室内走行試験機の調整方法を提供する。 - 特許庁

To provide a heating test device and a heating test method of an exhaust system member where the atmosphere of the test could be made more similar to the atmosphere under the condition that the exhaust member is mounted on an engine.例文帳に追加

試験雰囲気をより機関搭載状態に近づけることのできる排気系部材の加熱試験装置及び加熱試験方法を提供することにある。 - 特許庁