「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(49ページ目) - Weblio英語例文検索

To preclude a data of an indefinite value from being taken from an indefinite value generation circuit into a test result compression part therefor, in a scan test using the test result compression part.例文帳に追加

テスト結果圧縮部を使用するスキャンテスト時に不定値発生回路からの不定値のデータがそのテスト結果圧縮部に取り込まれないようにする。 - 特許庁

To provide a test strip for measuring a signal of interest in a biological fluid, when the test strip is combined with an appropriate test meter (not shown).例文帳に追加

試験片が適切な試験計器（図示せず）と組み合わせたときに、生物学的流体に関心のある信号を測定するための試験片を提供すること。 - 特許庁

To provide a leakage test device for improved workability and space efficiency as well as test efficiency for improved operation rate of the test device.例文帳に追加

作業性およびスペース効率が向上するとともに、試験効率がよくて試験装置の稼働率も向上した漏洩試験装置を提供する。 - 特許庁

The test device 1 receives the test frame 24 from the port 22b of the repeater 22 and captures test data 24a as well as the FCS 26, 28, and 30 added to it.例文帳に追加

検査機器１は、中継器２２のポート２２ｂから試験フレーム２４を受信し、試験データ２４ａ及びこれに付加されたＦＣＳ２６，２８，３０をキャプチャする。 - 特許庁

When it is confirmed that the test command has been received, a test command reception flag is reset, and the value of a display control process flag is changed to the value corresponding to a test process.例文帳に追加

テストコマンドを受信していることを確認したら、テストコマンド受信フラグをリセットし、表示制御プロセスフラグの値をテスト処理に応じた値にする。 - 特許庁

A test result information storage means 4 stores test result information set to a test result notifying frame to the present device in the register group 8 of the present device.例文帳に追加

試験結果情報蓄積手段４は、自装置宛の試験結果通知フレームにセットされた試験結果情報を自装置のレジスタ群８に蓄積する。 - 特許庁

To provide a test provided with a function for realizing an access test to the same address in a memory access test by specifying the timing of instruction execution.例文帳に追加

メモリアクセス試験において同一アドレスへのアクセス試験を命令実行のタイミングを特定することで実現する機能を有する試験を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing test plug, provided with such versatility as to adapt to various test modes and capable of reliably testing test plugs in a short time.例文帳に追加

様々な試験モードに対応可能な汎用性を備え、短時間で確実にテストプラグを試験することが可能なテストプラグ試験装置を提供する。 - 特許庁

When starting the test, the file of the test program stored in the product directory 22 is installed in a main storage device 23 and the test is started.例文帳に追加

そして、試験を開始する際に、製品ディレクトリ２２に格納されている試験プログラムのファイルを主記憶装置２３にインストールして試験を開始する。 - 特許庁

An improved semiconductor test device performing test of an object to be tested by a test part to which electricity is supplied from a power source part is provided.例文帳に追加

本発明は、電源部より給電される試験部により、被試験対象の試験を行なう半導体試験装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

The semiconductor device having a DAC is equipped with a test pattern generating means having a storage part which stores a test pattern, and an input terminal of a clock signal for test.例文帳に追加

テストパターンを記憶している記憶部をもつテストパターン発生手段と、テスト用クロック信号入力端子とを、ＤＡＣを有する半導体装置に備える。 - 特許庁

To provide a leak test method for a gas supply inner pipe and a tool for leak test capable of efficiently conducting a leak test by shortening work time.例文帳に追加

作業時間の短縮を図って効率よく漏洩試験を行い得るガス供内管の漏洩試験方法および漏洩試験用工具を提供する。 - 特許庁

To allow even a user having little knowledge of semiconductor test systems to create a test program easily and to alter and revise a test program easily.例文帳に追加

半導体試験装置の知識の浅いユーザでも容易にテストプログラムを生成することができ、テストプログラムの変更、修正を容易に行うことができるようにする。 - 特許庁

When starting the test, the test condition file is called out, changeable test condition columns 31a, 31b, 31e, 31f are displayed on a display screen of a display monitor 22c.例文帳に追加

試験を開始するときは、試験条件ファイルを呼び出し、変更可能な試験条件欄３１ａ，３１ｂ，３１ｅ，３１ｆを表示モニタ２２ｃの表示画面に表示する。 - 特許庁

A display control board 30 reads the test display data from the storage device and displays a test image at the display device on the basis of the read test display data.例文帳に追加

表示制御基板３０は、記憶装置からテスト表示データを読み出し、この読み出したテスト表示データに基づいて表示器にテスト画像を表示させる。 - 特許庁

A test controller 300 collects test data outputted from a test object, i.e. a power converter 20, during the operation of a control power supply 400.例文帳に追加

テスト制御装置３００は、制御電源４００の動作中に、試験対象である電力変換器２０から出力された試験データを収集する。 - 特許庁

Since a driven relative speed of the test pieces is doubled in comparison with immovably fixing the test piece S2, the test time is reduced by half.例文帳に追加

試験体Ｓ２を動かないよう固定する場合と比較して試験体の駆動される相対速度が２倍となるので試験時間が半減される。 - 特許庁

A test printing output address determining part 305 determines the output address of the test printing information created by the test printing information creating part 304.例文帳に追加

テスト印刷出力先判定部３０５は、テスト印刷情報生成部３０４によって生成されたテスト印刷情報の出力先を判定する。 - 特許庁

To provide a protective cover for test plug that improves test efficiency while preventing an operation error at the start or end of a test.例文帳に追加

試験の作業効率を向上させ、試験開始又は試験終了後の操作ミスを防止することができるテストプラグ用保護カバーを提供すること。 - 特許庁

To provide a connector for a test head which enables to replace a test board within a limited space and moreover, facilitate the connection of the test head to an automatic handler.例文帳に追加

限られたスペースのなかでテストボードの交換ができ、しかもテストヘッドをオートハンドラに容易に接続できるテストヘッドの接続装置を提供する。 - 特許庁

The tensile test is performed by using the tensile test piece 17, and the elongation percentage and the breaking strength of the coating film 16 broken prior to the test seal 11 are measured.例文帳に追加

この引張試験片１７を用いて引張試験を行い、試験シール１１よりも先に破断する塗膜１６の伸び率および破断強度を測定する。 - 特許庁

A noncontact energy source such as a plasma source which urges the test place on the printed-circuit board and which is attached to the end part of the test head is included in the test head.例文帳に追加

テストヘッドには、プリント回路板のテスト場所を付勢するためテストヘッドの端部に取付けされたプラズマ源といった無接触エネルギ源が含まれている。 - 特許庁

Into the test module 15, two or more kinds of test program are written, and only a test program selected by a user with the operation section 9 is executed with the MPU 1.例文帳に追加

テストモジュール１５には複数種のテストプログラムが書き込まれており、ユーザが操作部９で選択したテストプログラムのみがＭＰＵ１で実行される。 - 特許庁

When a withstand voltage test and an electrical circuit verification test (sequence test) of a distribution panel are carried out, a wire connection device is attached on a block terminal stand in the distribution panel.例文帳に追加

配電盤の耐電圧試験及び電気回路検証試験（シーケンス試験）を行う時に配電盤内のブロック端子台に結線装置を取り付ける。 - 特許庁

The test sample SA has a test piece A obtained by working the mineral to be flaky and a reflecting film 12 formed on the back 11b of the test piece A.例文帳に追加

試験用サンプルＳＡは、鉱物を薄片状に加工した試験片Ａと、試験片Ａの裏面１１ｂに形成された反射膜１２とを有している。 - 特許庁

To provide a radiation monitor device that greatly shorten a test time, and changes test items according to circumstances by automatically and sequentially optimizing the frequency of a test pulse.例文帳に追加

テスト時間を大幅に削減し、テストパルスの周波数を自動で逐次最適化してテスト項目を臨機応変に変更可能な放射線監視装置を得る。 - 特許庁

The printer 12 receives the test data stream of the response pulse width selected at present, and compares the received test data stream with the predetermined test data stream.例文帳に追加

プリンタ１２は、現在選択されている応答パルス幅でテストデータ列を受信し、受信したテストデータ列を予め定めたテストデータ列と比較する。 - 特許庁

To provide a scan test circuit hardly causing a hold error by adding a sufficient delay to the output of a flip-flop circuit for scan test when performing a scan test.例文帳に追加

スキャンテスト時にスキャンテスト用フリップフロップ回路の出力に十分な遅延を付加して、ホールドエラーを生じ難いスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

To perform both tests of a BEST test and a scan test without mostly increasing circuit area, in a semiconductor memory device test circuit.例文帳に追加

半導体記憶装置試験回路において、回路面積の増大を殆ど招くことなく、ＢＩＳＴ試験及びスキャンテストの両方の試験を行う。 - 特許庁

The pattern generator generates test signals, and the addressor designates addressing of the signals to a known server and instructs the server to return the test signals to a test system.例文帳に追加

パターン発生器はテスト信号を生成し、アドレッサは信号を公知のサーバにアドレス指定し、テスト信号をテストシステムに戻すようにサーバに命令する。 - 特許庁

The comparator compares the returned test signals with the originally transmitted test signals, an decides on performance of a returned channel, using preferably bit error rate test.例文帳に追加

コンパレータは、戻されたテスト信号をもともと送信されたテスト信号と比較し、好ましくはビットエラーレートテストを用いて戻りチャネルの性能を判定する。 - 特許庁

Internal test control signals are generated from a small number of signals given through an address terminal when operated in a test mode by a test signal generating circuit 8.例文帳に追加

テストモード動作時アドレス端子を介して与えられる少数の信号から内部テスト制御信号をテスト信号発生回路（８）により生成する。 - 特許庁

A test result prediction apparatus 1 calculates the value of a test parameter group to be used for the test based on inputted observation data (a step S1).例文帳に追加

検定結果予測装置１では、入力された観測データに基づいて、検定に用いられる検定パラメータ群の値が算出される（ステップＳ１）。 - 特許庁

To automatically extract a test pattern for operating a test object near a boundary condition without analyzing the internal structure of the test object.例文帳に追加

検証対象の内部構造を解析することなく、検証対象を境界条件の近傍で動作させるためのテストパターンを自動的に抽出する。 - 特許庁

Terminal of the electronic device waiting test is separated from the test terminal by releasing compression of the resilient device after completing the test, and the electronic device waiting test is moved to a tray area where vacuum is broken and released.例文帳に追加

試験完了後に弾性装置の圧縮が解除されることで、試験待機電子装置の端子と試験端子が分離し、更に試験待機電子装置がトレイエリアに移動され、真空が破壊されて釈放される。 - 特許庁

To provide a technology for significantly reducing test man-hours for the withstand voltage test of a three-terminal capacitor using a simple device, and for making the withstand voltage test by a one-time withstand voltage test process of the three-terminal capacitor to be tested completed.例文帳に追加

簡便な装置で３端子コンデンサの耐電圧試験の試験工数を大幅に削減し、かつ被試験３端子コンデンサを１回の耐電圧試験工程で耐電圧試験を完了させる技術を提供する。 - 特許庁

A test pattern sequence modifying means 103 rearranges a plurality of test patterns included in an initial test pattern set generated by an initial test pattern generating means 102 in accordance with the number of indeterminate values.例文帳に追加

初期テストパタン生成手段１０２によって生成された初期のテストパタンセットに含まれる複数のテストパタンに対して、テストパタン順序変更手段１０３は、不確定値の数に従って並び替えを行う。 - 特許庁

The server 10 also generates a recording report for the voluntary test based on a result of the voluntary test when the result of the voluntary test, which has been executed in accordance with the plan for the voluntary test, is received from a terminal unit 60.例文帳に追加

また、設備自主検査サーバ１０は、自主検査計画書に従って行われた自主検査の結果を端末装置６０から受信すると、自主検査の結果に基づいて自主検査記録書を作成する。 - 特許庁

The semiconductor device 1 includes a test mode setting circuit 21 which is connected onto an output route of the mask circuit 11 and performs setting of a test to be performed in the test mode, according to the test mode setting signal being input.例文帳に追加

半導体装置１は、マスク回路１１の出力経路上に接続され、テストモード設定信号が入力されることに応じてテストモードで行われる試験の設定を行うテストモード設定回路２１を備える。 - 特許庁

Each test element is defined by a single test column that includes a quantity of a test material, such as gel material or a bead matrix, including a cover strip used to access the contents of the test column.例文帳に追加

それぞれの検査要素は、検査カラムの内容物に接近するために用いられるカバー用細片を含み、ゲル材料もしくはビードマトリックスのような或る量の検査材料を含む単一検査カラムによって定められる。 - 特許庁

To provide a friction test device and a friction test method advantageous for improving friction test accuracy, capable of forming a frozen surface similar to a frozen surface of an ordinary road or a test course which has been changed into a frozen road.例文帳に追加

アイスバーンとなった一般道やテストコースの氷結表面に近似した氷結表面を形成でき、摩擦試験精度の向上を図る上で有利な摩擦試験装置及び摩擦試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test system capable of surely reporting a test result of a test object such as biological information to a test subject himself/herself without acquiring personal information such as a name, by which an individual is uniquely specified.例文帳に追加

氏名などの個人を一意に特定可能な個人情報を取得することなく、生体情報などの検査対象の検査結果を被験者本人に確実に報告することができる検査システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a bit-compressed test pattern to a scanning chain of a circuit under a test, and to handle test patterns of different scanning chain lengths when a decompressed test pattern thereof is applied to the scanning chain.例文帳に追加

テスト中回路中の走査チェーンにビットの圧縮したテストパターンを提供し、これが解凍されたテストパターンを走査チェーンに適用するに際して、異なる走査チェーンの長さのテストパターンを扱えるようにする。 - 特許庁

To provide a material test machine capable of conducting a material test applying alternating displacement (bending stress) to fatigue pre-crack provided in a test piece and observing the state of fatigue pre-crack easily even during test.例文帳に追加

試験片に設けた疲労予亀裂に対して両振りの変位（曲げ応力）を加える材料試験を可能とし、かつ、試験中でも疲労予亀裂の状態を容易に観察できる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a device capable of acquiring stable test data in a drop impact testing machine constituted so as to perform the drop impact test of a test sample by attaching the test sample 10 to a jig 1 to drop the jig 1.例文帳に追加

試験サンプル１０を治具１に取り付け、この治具１を落下させて試験サンプルの衝撃試験を行なうようにした落下衝撃試験装置において、安定した試験データの得られる装置を提供する。 - 特許庁