| 意味 | 例文 |
OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
The test system 6 includes a monitor run mask processing part for controlling a reception acceptance/rejection of test data when the communication data transferred from the gate way device 5 is input as the test data and a test is executed, to improve a test organization.例文帳に追加
試験系システム6には、ゲートウェイ装置5から転送される通信データを試験データとして入力して試験を実施するときに、試験データの受信可否を制御するモニタランマスク処理部を備えることで、試験の制度を向上させる。 - 特許庁
SYSTEM FOR AUTOMATICALLY GENERATING TEST PROGRAM/TEST PATTERN OF MIXED-SIGNAL LSI AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE SYSTEM AS PROGRAM例文帳に追加
ミックスドシグナルLSIのテストプログラム・テストパタン自動生成システム及びそのシステムをプログラムとして記録した記録媒体 - 特許庁
INFORMATION PROCESSOR, METHOD, AND PROGRAM FOR DETERMINING PRIORITY OF TEST CASE TO BE EXECUTED IN REGRESSION TEST例文帳に追加
回帰テストにおいて実施すべきテストケースの優先度を決定するための情報処理装置、方法、及びプログラム - 特許庁
The test piece is held between a pair of test piece holding members provided in parallel across a predetermined interval.例文帳に追加
所定の間隙を隔てて平行に設けられた一対の試験片保持部材の間に試験片を保持する。 - 特許庁
To provide a multi-test kit for screening a disease of a cat in a household test form, and provide a method using it.例文帳に追加
家庭用試験形態の、ネコの病気をスクリーニングするためのマルチ試験キットおよび方法を提供する。 - 特許庁
To improve test efficiency by generating a test case by use of a result obtained by exhaustively executing model inspection.例文帳に追加
モデル検査を網羅的に実行した結果を用いて、テストケースを生成することによりテスト効率を向上させる。 - 特許庁
A test data label determination part 54 determines labels to each piece of individual data by collating the test data with the classifier.例文帳に追加
テストデータラベル判定部54は、テストデータと分類器とを照合して、各個別データに対するラベルを判定する。 - 特許庁
MEASURING METHOD OF REDUCING SUBSTANCE, TEST PIECE FOR REDUCING SUBSTANCE MEASUREMENT AND TEST LIQUID FOR REDUCING SUBSTANCE MEASUREMENT例文帳に追加
還元性物質の測定方法、還元性物質測定用試験片及び還元性物質測定用試験液 - 特許庁
To apply the cause and effect graph technique, that is a hardware test technique, to the generation of hardware test items.例文帳に追加
ソフトウェア・テストの技法である「原因−結果グラフ」技法をハードウェアのテスト項目生成にも適用可能とすること。 - 特許庁
Then a transparent toner in a predetermined toner deposition amount is formed on the test patch P to obtain a test patch Q, and the density of the patch Q is read by a color sensor.例文帳に追加
次に、テストパッチPの上に、所定のトナー載り量の透明トナーを形成し、テストパッチQを得る。 - 特許庁
Only the test vector effective for performing the verification therefore is adopted and the total number of test vectors can be reduced.例文帳に追加
したがって、検証を行う上で効果的なテストベクトルのみが採用され、テストベクトルの総数を削減できる。 - 特許庁
To reduce memory access using any test pattern in a recording test of a recording disk, such as an optical disk and a hard disk.例文帳に追加
光ディスクやハードディスクなどの記録ディスクの記録テストで任意のテストパタンを用いつつメモリアクセスを低減する。 - 特許庁
Preferably, the contact of the test substance with the cells is performed by administering the test substance to zebra fishes.例文帳に追加
好ましくは,試験物質と細胞との接触は,ゼブラフィッシュに試験物質を投与することにより行う。 - 特許庁
TREATING METHOD OF CLEANING LIQUID IN PENETRANT TEST AND CLEANING LIQUID FOR PENETRANT TEST USED IN METHOD THEREOF例文帳に追加
浸透探傷試験における洗浄液の処理方法及び該方法に使用する浸透探傷試験用洗浄液 - 特許庁
To provide a technique to display test results sorted based on the version in a graph for comprehension of test status.例文帳に追加
バージョン毎に分類したテスト結果を、テストの状況を把握できるグラフに表示する技術を提供する。 - 特許庁
To provide a test apparatus of a fuel cell, which can improve response in comparison to a test apparatus using a dew point meter.例文帳に追加
露点計を用いた試験装置に比べて応答性を改善できる燃料電池の試験装置の提供。 - 特許庁
In a serial test scenario 8 of a test bench 1, a high speed serial bus model 5 is controlled, and an asynchronous high speed serial bus is simulated.例文帳に追加
テストベンチ1のシリアルテストシナリオ8で、高速シリアルバスモデル5を制御し、非同期の高速シリアルバスを模擬する。 - 特許庁
To provide a test specification preparing system in which the test specification of the program is automatically prepared by inputting a program.例文帳に追加
プログラムを入力してそのプログラムのテスト仕様書を自動作成するテスト仕様書作成システムを提供する。 - 特許庁
This Radiometric Kirk Test of this invention involves a test pattern having an isolated dark area within a much larger bright field.例文帳に追加
本発明の放射キルクテストは、より大きな明視野内に孤立した暗領域を有するテストパターンを含む。 - 特許庁
To provide a quenching test apparatus with which the end surface of a test piece can uniformly be cooled with cooling gas.例文帳に追加
冷却ガスにより試験片の端面を一様に冷却することができる焼入れ試験装置を提供する。 - 特許庁
Test pattern data are preliminarily stored in the test pattern memory means 130 of this semiconductor testing device 100.例文帳に追加
半導体試験装置100のテストパターン記憶手段130には、予めテストパターンデータが記憶されている。 - 特許庁
Reference image data of a prescribed test chart and object image data generated by imaging a test chart are acquired.例文帳に追加
所定のテストチャートの基準画像データとテストチャート撮像により生成された対象画像データを取得する。 - 特許庁
To redcuce the production cost of pure water (replenishing water or test water) by recycling wastewater obtained after a condenser water pressure test.例文帳に追加
復水器水圧試験排水を再利用し、純水(補給水や試験用水)の製造コストの低減を図る。 - 特許庁
To provide a fire sensor and an inspection device of the fire sensor performing a smoking test and a sensitivity test simultaneously.例文帳に追加
加煙試験と感度試験が同時にできる火災感知器および火災感知器の点検装置を提供する。 - 特許庁
A test packet transmission means 21 transmits a test packet for checking the congestion situation of the communication network 30.例文帳に追加
テストパケット送信手段21が、通信ネットワーク30の混雑状況を調査するためのテストパケットを送信する。 - 特許庁
An aptitude test result information management means (31) manages driving aptitude test result information of each driver.例文帳に追加
適性検査結果情報管理手段(31)により、各運転者の運転適正検査結果情報を管理する。 - 特許庁
To provide a microporous film capable of obtaining preferable results both in a battery over charge test and an oven test.例文帳に追加
電池過充テスト及びオーブンテストの両方で良好な結果が得られる微多孔性フィルムを提供すること。 - 特許庁
The network test device uses at least two PN sequences applied to the network which is the object of the test.例文帳に追加
ネットワーク試験装置は、試験対象のネットワークに対して印加する少なくとも2つのPNシーケンスを用いる。 - 特許庁
Further, an inspection device is provided to the food testing system to test the test target positioned on the upstream side of the second belt conveyor 7.例文帳に追加
また、検査装置を備え、第2のベルトコンベア7より上流に位置する検査対象物を検査する。 - 特許庁
The test strip has a transfer member for facilitating migration of the sample to the reaction area in the test strip.例文帳に追加
テストストリップは、テストストリップ中の反応領域へサンプルが移動するのを容易にする転送部材を有する。 - 特許庁
The test conditions including recommended values of preliminarily set test conditions are selectively displayed.例文帳に追加
ヘルプキーの操作により、予め定められた試験条件の推奨値を含む試験条件を選択的に表示する。 - 特許庁
To provide a testing device which can conduct an environmental test with a plurality of modules under different test conditions.例文帳に追加
複数のモジュールの環境試験を異なる試験条件で行うことができる試験装置を提供する。 - 特許庁
TEST CIRCUIT FOR HYSTERESIS VOLTAGE WIDTH MEASUREMENT AND MEASURING METHOD OF HYSTERESIS VOLTAGE WIDTH BY USING TEST CIRCUIT例文帳に追加
ヒステリシス電圧幅測定用のテスト回路およびそのテスト回路を用いたヒステリシス電圧幅の測定方法 - 特許庁
To transfer smoothly a test object into a guide part by preventing effectively clogging of the test object supplied to a disk.例文帳に追加
円盤に供給される被試験体の詰まりを有効に防止して、被試験体をスムーズに案内部に移送する。 - 特許庁
To provide a vibration test method capable of easily and precisely performing the vibration test corresponding to a real environment.例文帳に追加
実環境に合致した振動試験を容易に高精度で行うことができる振動試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide an endurance performance testing apparatus performing both an endurance test and a performance test of a mechanical component, or the like.例文帳に追加
機械部品等の耐久試験と性能試験との両方を行う耐久性能試験装置を提供する。 - 特許庁
To shorten a time required in a test for a storing part of an information processor or to improve test accuracy.例文帳に追加
情報処理装置の記憶部に対する試験にかかる時間の短縮又は試験精度の向上を実現する。 - 特許庁
When an indication on printing for a test pattern is inputted from the outside, a preparation of image data for the test pattern or the like is performed.例文帳に追加
外部からテストパターンの印刷指示が入力されると、テストパターン用の画像データ作成等が行われる。 - 特許庁
SCANNING IRRADIATION METHOD OF CHARGED PARTICLE BEAM, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, TEST PIECE OBSERVATION METHOD, AND TEST PIECE PROCESSING METHOD例文帳に追加
荷電粒子ビーム走査照射方法、荷電粒子ビーム装置、試料観察方法、及び、試料加工方法 - 特許庁
To provide a test circuit of an earth leakage breaker, by which a test switch can be miniaturized, and a wrong operation can be prevented.例文帳に追加
テストスイッチを小型化し、また、誤動作を防止することができる漏電遮断器のテスト回路を提供する。 - 特許庁
To provide an apparatus and a method for the test of a semiconductor device whose test time can be shortened.例文帳に追加
試験時間を短縮することができる半導体デバイスの試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁
To achieve high measuring precision with a reduced load of a test tape in relation to a test tape unit for coating body fluids.例文帳に追加
体液の塗布用の試験テープユニットに関して試験テープの少ない負荷で高い測定精度を達成する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device capable of reducing test time by realizing a highly reliable test circuit.例文帳に追加
信頼性の高い試験回路を実現し、試験時間を短縮することができる半導体装置を提供すること。 - 特許庁
A test problem creating section 12 automatically creates test problems on the basis of the sentence sent out from the sentence decision section 11.例文帳に追加
テスト問題生成部12は、文判定部11から送出される文を元にテスト問題を自動生成する。 - 特許庁
This device is provided by improving a test board device to be electrically connected to a test head of an IC tester.例文帳に追加
本発明は、ICテスタのテストヘッドに電気的に接続するテストボード装置に改良を加えたものである。 - 特許庁
A test instruction is created in an instruction output part 16, and the test instruction is presented to the constructor of work.例文帳に追加
指示書出力部16で検査指示書が作成され、この検査指示書が工事の施工者に提示される。 - 特許庁
Preferably, a plurality of test charts different by width and interval are displayed in the test chart display area 12.例文帳に追加
テストチャート表示領域12には、好ましくは、幅および間隔の相異なる複数のテストチャートが表示される。 - 特許庁
Therefore, a test pattern is given directly to the parity cell array and an incorporated self-test of a semiconductor memory can be performed.例文帳に追加
したがって、試験パターンをパリティセルアレイを直接与えて半導体メモリの組み込み自己検査を実施できる。 - 特許庁
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