「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(48ページ目) - Weblio英語例文検索

After a different load is applied to each test piece by a durometer, the magnetic field distribution of each test piece is measured by scanning the surface of each test piece with a Hall-effect device.例文帳に追加

硬度計によって各試験片に異なる荷重を加えた後に、各試験片の表面にホール効果素子を走査させて各試験片の磁場分布を測定した。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory test apparatus in which a test result can be referred to properly in the midst of the test without providing a log memory of a large capacity and which is inexpensive and can be constituted simply.例文帳に追加

大容量のログメモリを設けることなく、試験途中でテスト結果を適宜参照でき、安価かつ簡単に構成できる半導体メモリ試験装置を提供する。 - 特許庁

The subsystem is equipped with a transport system moving the carrier through the instrument where various modules perform operations on the test devices including sealing the test devices, loading the test devices into an incubation station, incubating the test devices, reading the test devices and disposing of the test devices.例文帳に追加

このサブシステムは、担体を器具を通して移動させる運搬システムを備え、ここで様々なモジュールが、試験装置の密封、培養ステーション内への試験装置の装填、試験装置の培養、試験装置の読取、および試験装置の処分を含む操作を試験装置上で行う。 - 特許庁

The issued points are determined by a multiplying factor to a grade of each test decided in advance registered in the test information 112, and the multiplying factor is changed between when taking a test or the like wherein the taken test is a source issuing the points and when taking a test except the test.例文帳に追加

発行されるポイントは、試験情報１１２に登録されている事前に定められた各試験の点数に対する乗率により決定し、受験する試験がポイントを発行する元となった試験等と、それ以外の試験を受験する場合とで乗率を変化させる。 - 特許庁

When a management side device 11 requests a test from a test execution side device 10 via a network 12 by means of a request means 111, the test execution side device 10 receives the request by a request receiving means 101 and creates a test plan based on the test request by a test plan creation means 102.例文帳に追加

管理側装置１１は依頼手段１１１により、ネットワーク１２を介して試験実施側装置１０に試験依頼すると、試験実施側装置１０は、依頼受付手段１０１にて依頼を受け付け、試験計画作成手段１０２にて試験依頼に基づいた試験計画を作成する。 - 特許庁

The semiconductor test device detects a test efficiency value being the optimum value in numerical values exceeding a reference test efficiency value and the matching time corresponding to the test efficiency value by comparing each of the test efficiency values at each matching time with the reference test efficiency value, and performs processing setting them at a matching time out time.例文帳に追加

そして、各マッチ時間ごとの試験効率値のそれぞれを基準試験効率値と比較して基準試験効率値を超える数値の中で最適値となる試験効率値と、この試験効率値に対応するマッチ時間を検出し、マッチタイムアウト時間に設定する処理を行う。 - 特許庁

Then, the test conditions specified as conditions necessary for acquiring the test result of the object to be tested in the test program according to the acquired result storage position are extracted, and whether or not the extracted test conditions are matched with test conditions in the test required specifications is determined.例文帳に追加

そして、その取得された結果格納位置に従ってテストプログラムに被テスト対象のテスト結果を得るために必要な条件として規定されたテスト条件を抽出し、その抽出したテスト条件がテスト要求仕様におけるテスト条件に合致するか否かを判別する。 - 特許庁

To prevent some test questions from leaking by executing a control that a package enclosed with some comprehensive test question sheets delivered to many test sites distributed in a nation-wide basis before a test executing day cannot be opened until at least one hour before the start time of the test on the test executing day.例文帳に追加

全国に散らばっている多数の試験会場に、試験当日前に届いた統一試験問題用紙を入れた包装体を試験当日の少なくとも１時間前までは開封できないように厳密に管理できるようにして、試験問題の漏洩を防止すること。 - 特許庁

The parallel bit test method includes a step in which the test data are stored in the test data storage section, a step in which the test data and the inverted data of the test data are written in the memory cell array and a step in which decision is made to determine whether the data read from the memory cell array are the same as the test data and their inverted data or not.例文帳に追加

並列ビットテスト方法は、テストデータ貯蔵部にテストデータを貯蔵する段階、メモリセルアレイにテストデータやその反転されたデータをライトする段階、メモリセルアレイから読取りしたリードデータが前記テストデータやその反転されたデータと同じであるかを判断する段階を含む。 - 特許庁

Even if one of the semiconductor test circuits is failed, a semiconductor test is continued by interconnecting two semiconductor test circuits and causing the other semiconductor test circuit to implement a test allocated to the failed semiconductor test circuit.例文帳に追加

本発明は、２台の半導体試験回路を相互接続することにより一方の半導体試験回路が故障した場合でも故障した半導体試験回路の割当て分をもう一方の半導体試験回路が行うことにより半導体試験を継続出来ることを特徴とする。 - 特許庁

The screening method for a test article includes culture of a highly hydrogen-producing bacterium in the presence of the test article and determination of the variation of hydrogen production of the bacterium, thereby determining biotoxicity of the test article.例文帳に追加

被験物の存在下に高度水素生産菌を培養し、該菌の水素生成量の変化を測定することによって、被験物の生物毒性を判定することを特徴とする被験物のスクリーニング方法。 - 特許庁

To provide technology for improving reliability of a product by efficiently performing a test by automatic generation/execution of test conditions obtained in combination of conditions of software and conditions of hardware to improve a covering rate of the test.例文帳に追加

ソフトウェアの条件、ハードウェアの条件を合わせたテスト条件の自動生成・実行により、効率的にテストを行い、テストの網羅率を向上させ、製品の信頼性を高めることができる技術を提供する。 - 特許庁

DURABILITY PERFORMANCE TEST METHOD OF STEERING DEVICE OF VEHICLE AND TESTING DEVICE例文帳に追加

車両のステアリング装置の耐久性能試験方法及び試験装置 - 特許庁

An error rate of transmission data is acquired on the basis of difference between the received content of the test pattern data and the transmitted content of the test pattern data.例文帳に追加

そして、テストパターンデータの受信内容と当該テストパターンデータの送信内容との差に基づいて送受信データの誤り率が求められる。 - 特許庁

The state degree of each test sample is estimated from the degree of state of the control sample having a coordinate close to the coordinate of each test sample on the Coomans plot.例文帳に追加

Coomansプロット上で、各テストサンプルの座標に近い座標をもつコントロールサンプルの状態程度から、各テストサンプルの状態程度を推測する。 - 特許庁

CREATION OF TEST FOR EVALUATING ACHIEVEMENT LEVEL OF LEARNING SUBJECT AND CAUSAL PART例文帳に追加

学習課題達成度および原因部分を評価するテストの作成 - 特許庁

An electronic device tester channel supplies a single test signal to a plurality of terminals of electronic devices of under test (DUTs) through a set of isolation resisters.例文帳に追加

電子装置テスタチャネルは、電子的な被験装置（ＤＵＴ）の多数の端子に一組の分離抵抗を介して単一のテスト信号を送る。 - 特許庁

EVALUATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TEST SAMPLE, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試料の評価方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

Sado ban (Sado version) had a character '佐' as hallmark of Sujimiyaku (inspector) on the place of test hallmark of Kobanshi, along with characters '神' and '当' as test hallmark of Fukisho. 例文帳に追加

佐渡判は小判師の験極印の位置に筋見役（すじみやく）の極印「佐」、吹所の験極印は「神」、「当」のものがそれであるとされる。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To reduce a time for a test by reducing the number of addresses in the case of testing a DRAM etc.例文帳に追加

DRAM等のテスト時のアドレス数を減らしてテスト時間を短縮する。 - 特許庁

DEVICE FOR DETECTION OF ROTOR ANGLE POSITION AND SPEED, AND POWER TEST SYSTEM OF ROTOR例文帳に追加

回転体の角度位置／速度検出装置および動力試験システム - 特許庁

(b) Knowledge of strength, structure, maintenance, remodeling, and test of airframe 例文帳に追加

ロ　機体構造の強度、構造、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(a) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of propeller 例文帳に追加

イ　プロペラの構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(b) Methods of handling, maintenance, remodeling, and test of airframe structure 例文帳に追加

ロ　機体構造の取扱い、整備方法、改造方法及び試験方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(i) Work involving replacement of grinding wheels or their test runs at the time of replacement; 例文帳に追加

一　研削といしの取替え又は取替え時の試運転の業務 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To measure the refractive index of a test object in a short period of time and with high accuracy.例文帳に追加

被検物の屈折率を短時間で高精度に計測すること - 特許庁

To reduce a test time by reducing the number of shifts of a pulse control register.例文帳に追加

パルス制御レジスタのシフト数を少なくして、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a collection capacity testing machine of a mask easy to repeat a collection capacity test of the mask.例文帳に追加

マスクの捕集性能試験を繰り返すことが容易な試験機。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of reducing the number of pins without lowering the rate of failure detection at the time of test or lengthening the test time.例文帳に追加

試験時の不良検出率を落としたり、試験時間を長くすることなくピン数を削減できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide an oscillator testing method and an oscillator that can test characteristics of a resonator itself of an actual machine.例文帳に追加

実機の共振器自体の特性を試験することができる。 - 特許庁

To facilitate the centralized monitoring of a plurality of environment test devices, etc.例文帳に追加

複数台の環境試験装置等の集中監視を容易に行なう。 - 特許庁

Explain the test results (rate of change or change of the characteristics). 例文帳に追加

テスト結果を説明しなさい。（点数の変化もしくは特徴の変化） - Weblio Email例文集

TEST METHOD OF BRAKE SYSTEM OR AUXILIARY STARTER SYSTEM OF CABLE TRANSPORT EQUIPMENT例文帳に追加

ケーブル輸送設備のブレーキシステム又は補助起動システムの試験方法 - 特許庁

The step of quantizing the plurality of colors in each test area is performed irrespective of the numbers of quantized colors in the individual test areas.例文帳に追加

このときに、テスト領域毎の複数色の量子化ステップは、個別のテスト領域毎の量子化色の各色数とは無関係に実行する。 - 特許庁

METHOD OF VERIFYING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF CREATING TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路の検証方法及びテストパターンの作成方法 - 特許庁

To provide an inspection apparatus capable of inhibiting breakage of test objects and assembling easily.例文帳に追加

検査対象物の破損を防止しかつ組み立てを容易とすること。 - 特許庁

To improve initialization of the cache part of microprocessor design under a test.例文帳に追加

テスト中のマイクロプロセッサ設計のキャッシュ部分の初期化を改良する。 - 特許庁

The default implementation of this method returns the first line of the test method's docstring, if available, or None.例文帳に追加

デフォルトでは、テストメソッドのdocstringの先頭の一行、またはNoneを返します。 - Python

To prevent loading of test force exceeding the capacity of a load cell.例文帳に追加

ロードセルの容量を超えた試験力が負荷されることを防止する。 - 特許庁

In the high-speed test method of ICs, a test device main body 1 produces a pattern for testing and inputs it to a socket substrate 3 connected to the test device main body through connector.例文帳に追加

試験装置本体で試験のためのパターンを生成して，試験装置本体とコネクタを介して接続されたソケット基板に入力する。 - 特許庁

To recognize failure without causing misoperations due to failure of a test switch when forced operation is carried out by the test switch, while taking into account the system test.例文帳に追加

システム試験を考慮し、テストスイッチによる強制動作を行なわせる場合、テストスイッチの不良等による誤動作を発生させず、不良を認識可能とする。 - 特許庁

A test image generating section 26 generates test image data including identification information of an image processor selected at the selecting section 25 and a test pattern.例文帳に追加

テスト画像生成部２６は、選択処理部２５が選択した画像処理装置の識別情報とテストパターンとを含むテスト画像データを生成する。 - 特許庁

An output signal obtained by inputting the prescribed test signal STEST to the test circuit 10 is varied in accordance with cut off or non-cut-off of the fuse 11 for cut off test.例文帳に追加

テスト回路１０に所定のテスト信号Ｓ_TESTを入力して得られる出力信号は、切断試験用ヒューズ１１の切断の有無に応じて異なる。 - 特許庁

A test data creating part 16 creates appropriate test data per detected operation component on the basis of preregistered design information and test patterns.例文帳に追加

テストデータ生成部１６は、予め登録された設計情報及びテストパターンを元に、検出された操作部品ごとに適切なテストデータを生成する。 - 特許庁

A test mode signal STM1 inputted form a test mode terminal 14 is supplied for the control input of the MUX 3 via a test mode input part 4.例文帳に追加

テストモード端子１４より入力されるテストモード信号ＳＴＭ１はテストモード入力部４を介してＭＵＸ３の制御入力に付与される。 - 特許庁