「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(51ページ目) - Weblio英語例文検索

The characteristic test device and characteristic test method are provided for testing optical characteristics or electrical characteristics by collectively setting a plurality of optical modules detachably mounted on test boards, to a prescribed test temperature.例文帳に追加

検査ボードに着脱自在に取り付けた複数の光モジュールを一括して所定の検査温度に設定して光学的特性或いは電気的特性を検査する特性検査装置と特性検査方法。 - 特許庁

A device and method for efficiently administering the test material to the test unit by atomizing a solution or suspension of the test material and drawing the atomized droplets to the test unit are described.例文帳に追加

試験物質の溶液または懸濁液を霧状化し、霧状化した液滴を試験ユニットに引き付けることにより試験物質を試験ユニットに効率的に投与する装置および方法が記載されている。 - 特許庁

When a test execution period of the each load test starts, the test management server 3 transmits a test schedule file with a registered URL written thereon to the user terminals 1 operated by the registered users.例文帳に追加

テスト管理サーバ３は、各負荷テストのテスト実行期間に至ると、登録されているＵＲＬを記述したテストスケジュールファイルを、登録されているユーザが操作するユーザ端末１へ送信する。 - 特許庁

To provide an electrical connection appliance for test plug in which wiring work for test is performed easily and surely with little risk of electric shocks, and to provide an electrical test method that utilizes the electrical connection appliance for test plug.例文帳に追加

感電の危険が少なく、試験用の配線作業が容易で確実なテストプラグ用電気接続器具及びそのテストプラグ用電気接続器具を利用した電気試験方法を提供する。 - 特許庁

To enable stable test at the actual operating frequency by controlling, during the test of semiconductor device, power source noise and power source voltage drop due to heavy current in the test mode for operating a test circuit.例文帳に追加

半導体装置の試験において、テスト回路を動作させるテストモード時の大電流による電源ノイズや電源電圧降下を抑制し、実動作周波数での安定した試験の実施を可能にする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH BUILT-IN TEST FUNCTION, STORAGE MEDIUM FOR STORING ELECTRONIC DESIGN DATA COMPRISING TEST CODE GENERATION PROGRAM, TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST CODE GENERATION AUTOMATIZING METHOD AND ITS PROGRAM例文帳に追加

組込みテスト機能付き半導体集積回路、テストコード生成プログラムから成る電子設計データを保存する記憶媒体、該半導体集積回路のテスト方法、テストコード生成自動化方法及びそのプログラム - 特許庁

To provide a thunder stroke test device, a thunder stroke test system, and a thunder stroke test method capable of eliminating trouble in imaging or electricity leakage caused by dew condensation, etc., enhancing efficiency in cooling a test piece, and reducing a cost.例文帳に追加

結露等による撮影への支障や、漏電がない上、供試体の冷却効率が高く、かつコストダウンが可能な雷撃試験装置、雷撃試験システム、および雷撃試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a small test piece supplying device with a novel and simple turning mechanism of a test piece, which can supply the test piece such that the test piece is aligned either face up or down.例文帳に追加

試験片の反転機構として斬新かつシンプルなものを採用し、装置全体の小型化を図るとともに、試験片を表向きまたは裏向きのいずれか一方向にそろえて供給できるようにする。 - 特許庁

To provide a plasma processing apparatus where a test piece can be heated to a high temperature without breaking a test piece stand, and heating efficiency is excellent by eliminating contamination to the test piece due to the abnormal electric discharge of the test piece.例文帳に追加

試料台の異常放電による試料への汚染がなく、試料台を破損せずに、試料を高温まで加熱することができ、しかも加熱効率の優れたプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

The system is provided with one or a plurality of test data writers 2, 3 for writing a test data in the RF-ID medium, and a test data reader 4 for reading the test data written in the RF-ID medium.例文帳に追加

ＲＦ−ＩＤメディアにテストデータを書き込むための１つまたは複数のテストデータ用ライター（２，３）と、ＲＦ−ＩＤメディアに書き込まれたテストデータを読み取るためのテストデータ用リーダー（４）とを備えている。 - 特許庁

The test pattern compression method performs compression on a plurality of test patterns for testing a circuit and is configured so as to simultaneously test the logic paths which cross each other activated by each test pattern.例文帳に追加

回路をテストする複数のテストパターンに対して圧縮を行うテストパターンの圧縮方法であって、前記各テストパターンで活性化された論理パスが交差するものを同時にテストするように構成する。 - 特許庁

When a fire occurrence is detected during the test, a test interruption part 70 interrupts the acoustic pressure measurement test and outputs a fire alarm sound of a different pattern showing the fire occurrence during the test.例文帳に追加

試験中断部７０は試験中に火災発生を検知した場合、音圧測定試験を中断し、試験中に火災が発生したことを示す異なるパターンの火災警報音を出力させる。 - 特許庁

To provide a program test program, program test method, and program test device for testing a program capable of easily, quickly, uniformly, and efficiently preparing highly precise test results.例文帳に追加

本発明は、番組の考査を行う番組考査プログラム、番組考査方法および番組考査装置に関し、精度の高い考査結果を簡易、迅速かつバラツキなく効率的に作成することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for detecting a state of a circuit under test, capable of simply modeling the state of the circuit under test and easily evaluating the state of the circuit under test.例文帳に追加

被テスト回路の状態を簡単にモデル化することができ、被テスト回路の状態を容易に評価することができる被テスト回路の状態検出方法及び状態検出装置を提供すること。 - 特許庁

The CPU 10 transmits 32 pieces of test data included in one set of test data sequentially to a data bus, and makes an image write section 17 output a set of output images formed from the one set of test data.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、１組のテストデータに含まれる３２個のテストデータを順次データバスに伝送させて、１組のテストデータから形成される１組の出力画像を画像書込み部１７に出力させる。 - 特許庁

The ejection operation of the ink by the recording head 202 is controlled on the basis of the test pattern of the first test pattern and the second test pattern which has a smaller placement amount of the ink per unit area.例文帳に追加

そして、第一のテストパターンと第二のテストパターンとのうち、単位面積当たりのインクの打ち込み量の少ない方のテストパターンに基いて記録ヘッド２０２によるインクの吐出動作が制御される。 - 特許庁

To obtain a method of storing a test result, a method of displaying a test result, and a test result display device, capable of facilitating verifying whether reliability of a designed semiconductor integrated circuit with time can be guaranteed.例文帳に追加

設計した半導体集積回路の経時的な信頼性を保証できるか否かを容易に検証できる試験結果記憶方法、試験結果表示方法、及び試験結果表示装置を得る。 - 特許庁

Burn-in of the number of times of burn decided in this number of times deciding test are performed, after that, a function test is performed with the test object device unit, and a burn-in defect rate is monitored (step SP5, SP6).例文帳に追加

この回数決定テストにおいて決定されたバーンイン回数のバーンインを実施し、その後、テスト対象デバイス単位で機能テストを行なって、バーンイン不良率をモニタする（ステップＳＰ５，ＳＰ６）。 - 特許庁

To hold a plurality of types of test tubes T with different outer diameters by using the same holder without using an adapter, and further to adjust the center of the test tube T to the center of a test tube holder 1.例文帳に追加

アダプタを使用することなく、外径の異なる複数種の試験管Ｔを同一のホルダで保持し、さらに、その試験管Ｔの中心を試験管ホルダ１の中心に合わせることである。 - 特許庁

In the calibration of overlay property, position error data of a first set is obtained by carrying out the exposure of a first substrate (S1) during a first test exposure sequence using a test structure of the first set and measuring the test structure (S2).例文帳に追加

オーバレイ特性のキャリブレーションにおいて、第１基板を、第１セットのテスト構造を用いて第１テスト露光シーケンスの露光（Ｓ１）しテスト構造を測定（Ｓ２）して第１セットの位置誤差データを得る。 - 特許庁

Each test unit receives the analog output signals of M driving units and selects one of them as a test signal according to a select signal and sends a status signal representing abnormality to a external tester in the case of a voltage of the test signal being higher than a high reference voltage or lower than a low reference voltage.例文帳に追加

テスト信号の電圧がハイ参考電圧より高いか或いはロー参考電圧より低い時、テストユニットは異常を代表する状態信号を外接のテスターに送る。 - 特許庁

The communication device 4 sets conditions of the test on the basis of the received condition setting request and transmits results of the test executed on the basis of the received test request, to the information processor 1.例文帳に追加

通信機器４は、受信した条件設定要求に基づいて試験の条件設定を行い、受信した試験要求に基づいて実行した試験の結果を情報処理装置１に送信する。 - 特許庁

To perform a test by one burn-in test using one kind of a burn-in board even with respect to a case performing the burn-in test of an IC requiring the arrangement of a plurality of pins.例文帳に追加

複数のピン配置が必要なＩＣに対するバーンイン試験を行う場合についても、１種類のバーンインボードを使用し、１回のバーンイン試験にて試験の実施を可能とすることである。 - 特許庁

To provide an operation test method of a portable terminal and an operation test system of the portable terminal that can surely confirm display image of the portable terminal, after executing an operation test of the portable terminal.例文帳に追加

携帯端末の表示画像を、携帯端末の動作試験の実施後に確実に確認できる携帯端末の動作試験方法及び携帯端末の動作試験システムを提供すること。 - 特許庁

Selective test data log method related to one embodiment includes a step for monitoring test data generated by a plurality of devices to prepare statistics on test data, and a step for selectively adjusting tester which generated test data, in response to the statistics on test data to correct test data logged by the tester on a plurality of devices.例文帳に追加

一実施形態に係る選択的テストデータログ方法は、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成することと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正することとを含む。 - 特許庁

This is a selective test data log system, equipped with codes for monitoring test data generated by a plurality of devices to prepare statistics on test data and codes for selectively adjusting tester which generated test data, in response to the statistics on test data to correct test data logged by the tester on a plurality of devices.例文帳に追加

選択的テストデータログシステムであって、複数のデバイスにより生成されたテストデータをモニタしテストデータに関する統計を生成するためのコードと、テストデータに関する統計に応答して、テストデータを生成したテスタを選択的に調整し、複数のデバイスについてテスタがログするテストデータを修正するためのコードとを備える。 - 特許庁

To provide test equipment which can input test signal to both first and second terminals of a device under test, further can prevent mixing of frequency component in signals output from plural devices under test so as to properly test these plural devices under test.例文帳に追加

被試験装置の第１の端子及び第２の端子の両方に試験信号を入力して試験を行うことができ、複数の被試験装置の出力信号の周波数成分が混合されることを防ぎ、複数の被試験装置を正しく試験することができる試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an ATM unit and a cell continuity test method mounting an SAR function that can attain a cell continuity test so as to extend and application route range of the cell continuity test and to increase the transmission band of cells for continuity test without employing an exclusive test unit to send/receive the continuity test cells.例文帳に追加

ＳＡＲ機能を搭載したＡＴＭ装置及びセル導通試験方法に関し、導通試験用セルを送受信する専用の試験装置を用いることなく、セル導通試験を可能とし、セル導通試験の適用ルート範囲の拡大化、導通試験用セルの伝送帯域の増大化を可能にする。 - 特許庁

A plurality of friction test parts, each comprising a test disk drive unit part 12 for rotating a test disk and a friction force measuring part 14 for measuring friction force while pressing a pad test piece against the test disk, are disposed so as to surround a motor from positions substantially equally spaced from the motor and lying in lateral directions of the motor for rotating the test disks.例文帳に追加

試験円板を回転させる試験円板駆動ユニット部１２と、パッド試験片を試験円板に押圧すると共に摩擦力を測定する摩擦力測定部１４からなる複数の摩擦試験部を、試験円板を回転させるモータの横方向で、かつモータから略等距離の位置にモータを取り囲む様に配置する。 - 特許庁

The projector 1 as the master gathers enlarged images of divided test patterns from the slave projectors 2 to 4 and puts the gathered images of test patterns and the image of a test pattern that the master projector 1 itself take partial charge of together into an image of one test pattern.例文帳に追加

マスタのプロジェクタ１は、分割されたテストパターンを拡大した画像を、スレーブのプロジェクタ２乃至４から収集し、収集したテストパターンの画像と、マスタのプロジェクタ１自身が担当するテストパターンの画像とを合成して、一つのテストパターンの画像とする。 - 特許庁

To provide a printer which can suppress a test printing time and an increase of consumption of printing sheets without requiring fixed form printing control exclusive for test printing in the case of carrying out test printing of fixed form printing, and to provide a printing method of test printing and a POS terminal device.例文帳に追加

定形印刷のテスト印刷を実行する場合に、テスト印刷専用の定形印刷制御を必要とせず、テスト印刷時間と印刷用紙の消費の増加とを抑制できる、印刷装置、テスト印刷の印刷方法、及びＰＯＳ端末装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vibration test system capable of exciting simultaneously in each direction of xyz-axes of a test body only by a vibration test in one direction, and exciting to acquire desired accelerations in each direction of the xyz-axes of the test body, by using a uniaxial vibration testing device.例文帳に追加

一軸振動試験装置を用いて、一方向への振動試験のみで被試験体のｘｙｚ軸の各方向に同時に加振でき、被試験体のｘｙｚ軸の各方向に所望の加速度が得られるように加振可能な振動試験システムを提供すること。 - 特許庁

At the time of conducting a network test on a test server 6, client cards 401-40n inserted into a client control machine 1 load a test application, test data and OS for card, which are stored in a main control part 2, and conduct the communication test on the test server 6 by using the loaded test application and test data executing and loading OS for card.例文帳に追加

試験用サーバ６に対するネットワーク試験を行う際、クライアント制御マシン１内に挿入されているクライアントカード４０_1〜４０_nは、それぞれ主制御部２内に格納されている試験用アプリケーション、試験用データおよびカード用ＯＳをロードして、ロードした該試験アプリケーションおよびそのカード用ＯＳを実行しロードした該試験用データを用いて試験用サーバ６の通信試験を行う。 - 特許庁

9) There are a number of in vitro genotoxicity tests (comet test using mammalian cultured cells, UDS test using mammalian cultured cells, DNA repair test (Rec-assay) using grass bacillus, umu test using Salmonella typhimurium, SOS test using colon bacillus, chromosome aberration including aneuploidy test using yeast/gene conversion, etc.) and the host-mediated test (host-mediated assay), but these test results are not used for classification.例文帳に追加

9) 数多くの in vitro 遺伝毒性試験（ほ乳類培養細胞を用いるコメット試験、ほ乳類培養細胞を用いる UDS 試験、枯草菌を用いるＤＮＡ修復試験(Rec-assay)、ネズミチフス菌を用いる umu 試験、大腸菌を用いる SOS 試験、酵母を用いる異数性を含む染色体異常試験/遺伝子変換試験など）や宿主経由試験（Host-mediated assay）があるが、これらの試験結果は分類に用いない。 - 経済産業省

The setting means sets each correction value for correcting the position of each color corresponding to each of the test image blocks based on the amount of displacement of each color of each of the test image blocks.例文帳に追加

前記設定手段は、各テスト画像ブロックの各色の位置のずれ量に基づき、各テスト画像ブロックに対応する各色の位置を補正する各補正値を設定する。 - 特許庁

To cope with increase of the number of test ICs testable in one period and the number of input/output pins of the test ICs without increasing the number of channel circuits of a semiconductor testing device.例文帳に追加

半導体試験装置のチャンネル回路数を増設せずに、一時期に試験可能な被試験ＩＣ数、被試験ＩＣの入出力ピン数の増加に対応すること。 - 特許庁

To efficiently execute an operation test of a Web page in a plurality of kinds of Web browsers.例文帳に追加

複数種のウェブブラウザにおけるウェブページの動作テストを効率的に実行する。 - 特許庁

The amount of sticking toner of the test pattern 2 is detected from a value of the reflected light.例文帳に追加

さらに、この反射光の値から、テストパターン２のトナー付着量を検出する。 - 特許庁

Then, the test control means 43 input again the test scenario that has failed in the test out of the test scenarios 45 input in the test simulator 41 and commands to load change means 42 to change a load applied to the multitask OS.例文帳に追加

その後、テスト制御手段43は、テストシミュレータ41に入力したテストシナリオ45の内、テスト失敗となったテストシナリオを再度テストシミュレータ41に入力すると共に、負荷変更手段42に対して上記マルチタスクOSにかかる負荷を変更するように指示する。 - 特許庁

In an activation test sequence:11000, the propagation test sequence:11011 and the propagation test sequence:11010 of the test sequence ID:9 are input into the ATPG 2100, to generate test patterns 11000XX, 11011XX, 11011XH.例文帳に追加

テストシーケンスＩＤ：９の活性化テストシーケンス：１１０００、伝播テストシーケンス：１１０１１および伝播テストシーケンス：１１０１０をＡＴＰＧ２１００に入力して、テストパターン１１０００ＸＸ、１１０１１ＸＸ、および１１０１１ＸＨを生成する。 - 特許庁

This radar is constituted so that a test forbidden area is recorded in a test forbidden map information circuit 85 based on a test forbidden map production instruction from the outside, and that the test forbidden area is compared and collated with detection at the search time, to thereby perform management of the test beam.例文帳に追加

外部からの検定禁止マップ作成指示をもとに、検定禁止エリアを検定禁止マップ情報回路８５に記録し、この検定禁止エリアと捜索時の検出とを比較照合して検定ビームのマネージメントを行うように構成した。 - 特許庁

An optimizing device W has a test calculation condition analysis processing means 60 as a means for performing processing, while grasping the change characteristics of a test calculation object to be calculated as a test and a test calculation instruction means 70 for generating an instruction for performing test calculation.例文帳に追加

最適化装置Ｗは、試算を行う試算対象の変化特性を把握し、処理を行う手段である試算条件分析処理手段６０と、試算を行うための命令を発生する試算命令手段７０とを有している。 - 特許庁

A node to be inserted is determined by comparing the failure detection rates in a test efficiency comparing step S111, and selecting the one with higher test efficiency of the test point for observation and the test point for control in a test point insertion node determining step S112.例文帳に追加

続いて、テスト効率比較ステップＳ１１１にて両者を比較し、テストポイント挿入ノード決定ステップＳ１１２において観測用テストポイント及び制御用テストポイントのうち、テスト効率がより高い方を選択し、挿入されるノードを決定する。 - 特許庁

The test frame confirmation part 180 compares the test frame received from the test frame extraction part 170 with the test frame output from the test frame supply part 110 to diagnose the normality/abnormality of the communication processing parts 130, 160.例文帳に追加

試験フレーム確認部１８０は、試験フレーム抽出部１７０から受け取った試験フレームを、試験フレーム供給部１１０から出力された試験フレームと比較することにより、通信処理部１３０，１６０の正常／異常を診断する。 - 特許庁

To separately set a multibit test mode standardized by LEDEC, to set concurrently a special test mode not standardized by LEDEC and the multibit test mode to satisfy a specification, and to shorten a test time for a special test out of the specification.例文帳に追加

JEDEC で標準化されているマルチビットテストモードを単独で設定でき、JEDEC で標準化されていない特殊テストモードとこのマルチビットテストモードを同時に設定できるようにして規格を満たすと共に規格外の特殊テストのテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁