「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(54ページ目) - Weblio英語例文検索

A polarization rotor 3 controls a polarization angle of the test light.例文帳に追加

偏光回転子３は、試験光の偏光角度を制御する。 - 特許庁

CHECK DEVICE OF REQUESTER PROGRAM AND TEST VALUE INPUT SUPPORT DEVICE例文帳に追加

リクエスタプログラムのチェック装置およびテスト値入力支援装置 - 特許庁

METHOD FOR SHORTENING TEST TIME OF NVM CELL BASE FPGA例文帳に追加

ＮＶＭセルベ—スＦＰＧＡのテスト時間を減少させる方法 - 特許庁

FERROELECTRIC SEMICONDUCTOR MEMORY OF WHICH TEST TIME IS SHORTENED例文帳に追加

試験時間を短縮した強誘電体半導体記憶装置 - 特許庁

Then, the test lot products of components are manufactured from the solid model.例文帳に追加

次に、ソリッドモデルを元にして部品のテストロット品を製作する。 - 特許庁

An output is received in response to the performance of the subsystem test.例文帳に追加

サブシステム・テストの実行に応答して、出力が受け取られる。 - 特許庁

The test chamber has the relationship of fluid communication with the micro needles.例文帳に追加

その試験チャンバは、マイクロニードルと液体流通関係にある。 - 特許庁

LUBRICITY TEST METHOD OF LUBRICANT, AND FRICTION TESTING DEVICE例文帳に追加

潤滑剤の潤滑性能試験方法および摩擦試験装置 - 特許庁

COUPLING DEVICE FOR TEST HEAD OF WAFER TESTING SYSTEM AND PROBE CARD例文帳に追加

ウェハ試験システムのテストヘッドとプロ—ブカ—ドとを結合する装置 - 特許庁

INSULATION TEST METHOD AND APPARATUS OF SOLAR BATTERY MODULE例文帳に追加

太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR INSERTING TEST CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト回路挿入方法及び装置 - 特許庁

The reagent produces pigment formation as the measure of test specimen concentration.例文帳に追加

試薬は被検体濃度の尺度である色素形成を生じる。 - 特許庁

Neither of those two students passed the test. 例文帳に追加

その二人の学生は両方とも試験に合格しませんでした。 - Tanaka Corpus

Authorization for the Harvest of Aquatic Animals and Plants for Test and Research 例文帳に追加

試験研究等のための水産動植物の採捕の承認 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Modify the name of the test class to UtilsJUnit3Test in the Create Tests dialog box.Click OK. 例文帳に追加

「テストを作成」ダイアログで、テストクラスの名前を UtilsJUnit3Test に変更します。 - NetBeans

Modify the name of the test class to UtilsJUnit4Test in the Create Tests dialog box.Click OK. 例文帳に追加

「テストを作成」ダイアログで、テストクラスの名前を UtilsJUnit4Test に変更します。 - NetBeans

SURFACE TREATMENT METHOD OF HYDROGEN EMBRITTLEMENT RESISTANCE CHARACTERISTIC EVALUATION TEST PIECE例文帳に追加

耐水素脆化特性評価試験片の表面処理方法 - 特許庁

To provide a circuit for generating a test signal of an excellent C/N.例文帳に追加

Ｃ／Ｎの良好なテスト信号の発生回路を提供する。 - 特許庁

The test body 6 is set on a stage of an X-ray inspection device.例文帳に追加

その被検体６をＸ線検査装置のステージにセットする。 - 特許庁

TEST PATTERN, SIGNAL GENERATOR AND METHOD OF EVALUATING VIDEO DEVICE例文帳に追加

テストパターン、信号発生装置及び映像機器の評価方法 - 特許庁

To actualize source code debugging in the test operation of a microprocessor.例文帳に追加

マイクロプロセッサのテスト動作におけるソースコードデバッグを実現する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETECTING STATE OF CIRCUIT UNDER TEST例文帳に追加

被テスト回路の状態検出方法及び状態検出装置 - 特許庁

AIRTIGHTNESS TESTING METHOD OF HIGH PRESSURE TANK, AND DEVICE FOR AIRTIGHTNESS TEST例文帳に追加

高圧タンクの気密試験方法および気密試験用装置 - 特許庁

To delay a test signal according to the latency of a tested device.例文帳に追加

被試験デバイスのレイテンシに応じて、試験信号を遅延させる。 - 特許庁

Flight that Requires Approval of the Plan for Training, Test etc. 例文帳に追加

訓練試験等計画の承認を受けなければならない飛行 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(b) Basic technique of work and test necessary for maintenance 例文帳に追加

ロ　整備に必要な作業及び検査についての基本技術 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To enable a test of an IC device by sharing a socket board.例文帳に追加

ソケットボードを共用してＩＣデバイスの検査を可能にする。 - 特許庁

A test assembly 2000 is designed for testing product circuitry of a product die 2011.例文帳に追加

製品ダイ2011の製品回路をテストするためのテストアセンブリ2000。 - 特許庁

TEST METHOD FOR EVALUATING GAS DIFFUSION ELECTRODE PERFORMANCE OF FUEL CELL AND THE LIKE例文帳に追加

燃料電池等ガス拡散電極性能評価試験法 - 特許庁

ANALYSIS ON THE DEGREE OF ALLOWABLE GROUND STRESS USING SUBSURFACE SOUNDING TEST例文帳に追加

サウンディング試験を用いた地盤の許容応力度解析法 - 特許庁

Thereby, the test of a RAM and a bus can be performed.例文帳に追加

これによってＲＡＭ及びバスの検査を行うことができる。 - 特許庁

To efficiently administer a small amount of sample material to a test unit.例文帳に追加

少量の試験物質を効率よく試験ユニットに投与する。 - 特許庁

PROBE CARD STRUCTURE SIMULTANEOUSLY ADAPTABLE TO DIFFERENT TEST APPARATUS OF DIFFERENT SPECIFICATION例文帳に追加

異なる規格のテスターに同時に適応可能なプローブカード構造 - 特許庁

METHOD FOR MEASURING OUTPUT OF MULTI-JUNCTION PHOTOELECTRIC CONVERSION DEVICE TEST CELL例文帳に追加

多接合光電変換素子試験セルの出力測定方法 - 特許庁

ACCELERATED CORROSION TEST METHOD OF STEEL PRODUCTS IN HIGH-HUMIDITY ENVIRONMENT例文帳に追加

高湿潤環境における鋼材の腐食促進試験方法 - 特許庁

DEVICE OF VARYING CRASH ANGLE IN TEST APPARATUS FOR VEHICLE CRASH例文帳に追加

車両衝突試験装置における衝突角度可変装置 - 特許庁

CONTROL METHOD OF TEST HAND, RECORDING MEDIUM AND INSTRUMENTATION AND CONTROL SYSTEM THEREOF例文帳に追加

テストハンドの制御方法、記録媒体及び計測制御システム - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST APPARATUS FOR DETECTING FAIL OF BUILT-IN MEMORY例文帳に追加

内蔵メモリのフェイルを検出するための半導体テスト装置 - 特許庁

METHOD FOR PREDICTING CARCINOGENICITY OF TEST SUBSTANCE IN RODENT LIVER例文帳に追加

被験物質のげっ歯類肝における発がん性の予測方法 - 特許庁

TEST AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置の試験方法及び半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a scan test circuit capable of simplifying a circuit scale.例文帳に追加

回路規模を簡素化することが可能なスキャンテスト回路を得る。 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, METHOD FOR TESTING WORK FLOW, AND TEST PROGRAM OF WORK FLOW例文帳に追加

画像処理装置、ワークフローのテスト方法及び同テストプログラム - 特許庁

TRANSFERRING OF INTEGRATED CIRCUIT AND ACTIVE TEMPERATURE CONTROL FOR TEST例文帳に追加

テストのための集積回路の搬送および能動温度制御 - 特許庁

TEST SUPPORT DEVICE, AND TESTING METHOD OF LOW PRESSURE AIR CIRCUIT BREAKER例文帳に追加

試験支援器具および低圧気中遮断器の試験方法 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR TREATING WASTEWATER OF CONDENSER WATER PRESSURE TEST例文帳に追加

復水器水圧試験排水の処理方法及び処理装置 - 特許庁