「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(53ページ目) - Weblio英語例文検索

The pin card executes the test with control of a test system control part 17 based on the loaded waveform images.例文帳に追加

ピンカードは、テストシステム制御部１７の制御により、ローディングされた波形イメージに基づいてテストを実行する。 - 特許庁

TEST SERVER FOR TECHNICAL STANDARD CONFORMANCE, SOFTWARE RADIO DEVICE, AND TECHNICAL STANDARD CONFORMANCE TEST METHOD OF THE SOFTWARE RADIO DEVICE例文帳に追加

技術基準適合試験サーバ、ソフトウェア無線機、およびソフトウェア無線機の技術基準適合試験の方法 - 特許庁

To form a test tube suitable for a vase by decorating the test tube using natural beauty of a natural material.例文帳に追加

天然素材の自然美を活用して試験管を飾るようにし、試験管が花差しとして相応しいものとする。 - 特許庁

the reference values for a given test is based on test results for 95% of the healthy population. 例文帳に追加

ある検査の基準値は、健康な人で構成される集団の95％における検査結果に基づき決定される。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

Upon the receipt of a test input by a button operation or the like, a newly installed terminal B broadcasts a test signal.例文帳に追加

新設の端末Ｂは、釦操作などによるテスト入力を受付けると、テスト信号をブロードキャスト送信する。 - 特許庁

To evaluate the operation of a base station unit under the same test condition in one-to-multi connection test.例文帳に追加

一対多対向接続試験における同一試験条件下での基地局装置動作評価を可能とすること。 - 特許庁

To provide a test system using a JTAG (joint test action group) extension interface provided by expanding a conventional JTAG, making the best use of an existing resource.例文帳に追加

既存の資源を生かして、従来のJTAGを拡張したJTAG拡張インタフェースを用いたテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a fatigue testing machine capable of starting a test without applying an unnecessary impact to a test piece.例文帳に追加

供試体に不必要な衝撃を与えることなく試験を開始することができる疲労試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test device which can perform a memory test and write of user data provided by a user.例文帳に追加

メモリ検査とユーザーから提供されたユーザデータの書込みを行うことができるメモリ検査装置を提供する。 - 特許庁

Thereafter, thickness or resistance value of the unwanted film remaining at the bottom surface of the contact hole of the test object is estimated by measuring potential contrast of the secondary electron image of the test object, by radiating the electron beam to the contact hole as the test object, and then comparing the potential contrast of the standard sample 1 for test with potential contrast of the test object.例文帳に追加

その後、被検査対象のコンタクトホールへ電子線を照射して被検査対象の二次電子画像の電位コントラストを測定し、検査用標準試料１の電位コントラストと被検査対象の電位コントラストとを比較することにより、被検査対象のコンタクトホールの底面に残る不要残存膜の厚さまたは抵抗値を推定する。 - 特許庁

To prevent the deviation of a rotating shaft of a core barrel for excavating a cylindrical test body and to prevent the damage of the cylindrical test body caused by separation of chips of the cylindrical test body in the core barrel during excavation and contact between the inner peripheral surface of the core barrel and the cylindrical test body in the core barrel.例文帳に追加

円柱試験体を掘削するコアバレルの回転軸のぶれを防止すると共に、コアバレルの内周面とコアバレル内の円柱試験体との接触並びに掘削中のコアバレル内の円柱試験体の欠片の剥落による円柱試験体の損傷を防止する。 - 特許庁

To obtain a working heat treatment reproducing test apparatus enabling not only the rotation of a test piece at a predetermined angle but also the movement thereof to a predetermined position, capable of independently controlling the temp. of the test piece and that of a working device and capable of compensating the uniform heating of a mechanical test piece.例文帳に追加

本発明の課題は、試験片を所定角度に回転できると共に試験片を所定位置に移動でき、かつ、試験片と加工具をそれぞれ単独に温度制御でき、しかも機械試験片の均熱性を補償できる加工熱処理再現試験装置を提供することにある。 - 特許庁

In this turnover decision method, a vertical acceleration Ao of a trunk of a test subject is calculated on the basis of an angular velocity and an acceleration detected by sensors installed to the trunk of the test subject, and vertical displacement ΔZ of the trunk of the test subject is calculated on the basis of the vertical acceleration Ao of the trunk of the test subject.例文帳に追加

本発明に係る転倒判定方法は、被験者の体幹に取り付けたセンサで検知された加速度及び角速度に基づいて被験者の体幹の鉛直加速度Ａｏを算出し、被験者の体幹の鉛直加速度Ａｏに基づいて被験者の体幹の鉛直変位ΔＺを算出する。 - 特許庁

Between a couple of reciprocating belt of one conveyer belt, a test tube holding member is arranged along the belt and the bottom plane of a cap of test tubes is supported with the test tube holding member and the top plane of an outgoing side conveyer belt.例文帳に追加

一つの搬送ベルトの往復するベルトどうしの中に試験管保持部材をベルトに沿って配置し、試験管のキャップの下端面を試験管保持部材と往き側送りベルトの上端面とで支持している。 - 特許庁

To shorten the processing time required for the processing of verifying a circuit to be tested on the basis of test patterns of a number larger than that of the memory maximum length of a memory for storing the test patterns without increasing load on a test apparatus.例文帳に追加

テストパターン格納用メモリのメモリ最大長よりもパターン数の大きなテストパターンに基づく被テスト回路に対する検証処理に要する処理時間の短縮を、テスト装置の負荷増大を伴うことなく行う。 - 特許庁

(2) Among a plurality of through-holes, the front ends of a plurality of optionally selected through-holes are drilled to a specific depth to make a test hole 31, and the test hole 31 is used to execute a permeability test of a plurality of holes.例文帳に追加

（２）複数の前記貫通孔のうち、任意に選定された複数の貫通孔の先端部を所定深さまで削孔して試験孔３１を設け、前記試験孔を使用して複数孔透水試験を実施する。 - 特許庁

A test case generation part 7 creates a test case from an obtainable value of an input variable of the function of the test target and an obtainable value of the output variable of the stub function output by the stub function output value generation part 6.例文帳に追加

テストケース生成部７は、試験対象の関数の入力変数の取り得る値と、スタブ関数出力値生成部６が出力したスタブ関数の出力変数の取り得る値とからテストケースの作成を行う。 - 特許庁

To share the use of a test terminal by selectively outputting many signals to be observed to the test terminal at the time of outputting the many signals of the internal circuit of an integrated circuit to a limited number of test terminals.例文帳に追加

集積回路の内部回路の数多くの信号を限られたテスト端子に出力する際に、観測したい多くの信号を選択しテスト端子に出力させことにより、テスト端子を共有化することにある。 - 特許庁

To obtain an ultrasonic flaw detector constituted so as to discriminate between the echo from the flaw present in the vicinity of the surface of a test target and the echo from the flaw extending into the test target from the surface of the test target to achieve the enhancement of the precision of an inspection result.例文帳に追加

試験体表面近傍にあるきずからのエコーと、試験体表面から試験体内部へ延びているきずからのエコーを識別し、検査結果の精度向上を図った超音波探傷装置を得る。 - 特許庁

SIGNAL GENERATOR, TEST PATTERN, AND EVALUATION METHOD OF VIDEO APPARATUS例文帳に追加

信号発生装置、テストパターン及び映像機器の評価方法 - 特許庁

DEVICE FOR INTAKE TEST WITH HOMOGENIZATION PROCESSING MECHANISM OF FINE PARTICLE例文帳に追加

微粒子の均一化処理機構を有する吸入試験装置 - 特許庁

To enable a purchaser to make test listening of music data before buying the data.例文帳に追加

楽曲データを購入する前に試聴できるようにする。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING SHAPE OF OPTICAL TEST SURFACE例文帳に追加

光学試験表面の形状を判定する方法及び装置 - 特許庁

To easily evaluate the rotation characteristics of an under test gear mechanism G.例文帳に追加

供試ギヤ機構Ｇの回転特性を一層容易に評価する。 - 特許庁

MEMORY CONTROLLER WITH SELF-TEST FUNCTION, AND METHOD OF TESTING MEMORY CONTROLLER例文帳に追加

セルフテスト機能のあるメモリコントローラ及びそれをテストする方法 - 特許庁

METHOD OF RECEIVING AND CORRELATING TEST RESULT DEPENDING ON CONDITION例文帳に追加

条件に依存してテスト結果を受信し関連づける方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR REPRODUCING TROUBLE GENERATION STATE OF DISK ARRAY DEVICE例文帳に追加

ディスクアレイ装置における障害発生時の再現テスト方法 - 特許庁

METHOD FOR SUPPORTING CREATION OF UNIT TEST ITEM FORM AND ITS SYSTEM例文帳に追加

単体試験項目票作成支援方法ならびにそのシステム - 特許庁

QUICKLY OBTAINING SYSTEM OF EXAMINEE INFORMATION AND TEST RESULT INFORMATION例文帳に追加

受験者情報及び試験成績情報の早期取得システム - 特許庁

To automatically test a field bus protocol of an apparatus adaptable to a network.例文帳に追加

ネットワーク対応機器のフィールドバスプロトコルを自動的に検査する。 - 特許庁

To keep the production cost of solar cell test devices low.例文帳に追加

太陽電池セル検査装置の製造コストを低額に抑える。 - 特許庁

TEST METHOD OF SHIELDED CABLE WITH BRACKET AND BRACKET PRESS-FITTING例文帳に追加

ブラケット付きシールドケーブルの検査方法及びブラケット圧入装置 - 特許庁

REWRITING DURABILITY TEST METHOD OF NONVOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY APPARATUS例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置の書き換え耐久試験方法 - 特許庁

To obtain a fouling degree measurement test result of high precision.例文帳に追加

精度の高い汚損度測定試験結果が得られる様にする。 - 特許庁

Last December, he passed the first part of the CPA test. 例文帳に追加

昨年12月，公認会計士試験の１次試験に合格した。 - 浜島書店 Catch a Wave

The entire 42.8-kilometer test line will be completed by the end of 2013. 例文帳に追加

全長42.8キロの実験線は2013年末までに完成予定だ。 - 浜島書店 Catch a Wave

EVALUATING METHOD OF OPTICAL PICKUP DEVICE, TEST DISK, AND OPTICAL DISK例文帳に追加

光ピックアップ装置の評価方法、テストディスクおよび光ディスク - 特許庁

To provide test methods for evaluating the performance of cookware.例文帳に追加

調理器具の性能を評価する試験方法を提供する。 - 特許庁

FITTING BAY OF ELECTRIC DEVICE AND TEST DEVICE HAVING IT例文帳に追加

電気装置の取付け用ベイおよびこれを有する試験装置 - 特許庁

To efficiently test the reliability of a semiconductor device.例文帳に追加

、半導体装置の信頼性を効率良く試験できるようにする。 - 特許庁

To provide an LSI test system capable of shortening the measurement time.例文帳に追加

測定時間を短縮できるＬＳＩテストシステムを提供する。 - 特許庁

RADIO BASE STATION TEST DEVICE AND METHOD OF TESTING RADIO BASE STATION例文帳に追加

無線基地局試験装置及び無線基地局の試験方法 - 特許庁

COOLING DEVICE, AND COOLING METHOD OF CHAMBER SPACE FOR DEVICE TEST例文帳に追加

冷却装置及びデバイステスト用チャンバ空間の冷却方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, CONNECTION TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置、電子機器、半導体装置の接続試験方法 - 特許庁

To surely perform the pressure resistance test of an AC element.例文帳に追加

交流素子の耐圧テストを確実に行うことを課題とする。 - 特許庁