「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(50ページ目) - Weblio英語例文検索

The outcome evaluation circuits (30/31, 40, and 50) takes in the expected value (D1, D2, ...) of the scan test with same amount of data as the test data that is contained in scan-in data to evaluate the outcome of scan test.例文帳に追加

結果評価回路（３０／３１，４０，５０）は、テストデータと同じデータ量を有してスキャンインデータに含まれるスキャンテストの期待値（Ｄ１，Ｄ２…）を取り込んでスキャンテストの結果を評価する。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of performing a DC test with a smaller number of pins, while suppressing the area of a test circuit which a semiconductor device has within to be small, and to provide a method for testing.例文帳に追加

半導体装置に内蔵されたテスト回路の回路面積を抑えながら直流試験を少ないピン数で行うことができるテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To make processing of a test, from preparation of test problems and user's input of answers to confirmation by displaying the grading result, in completely paperless manner and rapidly, even in a written test.例文帳に追加

筆記式試験においても、試験問題の作成も含め、利用者の解答入力から採点結果の表示による確認までを、完全にペーパレスで迅速に行うことを課題とする。 - 特許庁

To provide a method or the like capable of shortening the execution time and starting time of a test more when a multi-processor system performs a test of a main memory more than when one processor performs the test.例文帳に追加

マルチ・プロセッサ・システムでメイン・メモリのテストを行う場合に、１つのプロセッサが行う場合に比べてテストの実行時間や起動時間を短縮可能な方法等を提供する。 - 特許庁

The reserving device extracts the plurality of semiconductor devices as good articles based on the re-test result of the test device, and sequentially puts them on a second semiconductor device carrier by the grade of the re-test result.例文帳に追加

取り置き装置が、テスト装置の再テスト結果に基づき、良品とした複数の半導体デバイスを取り出し、再テスト結果のグレードによって、順次に第２半導体デバイスキャリアに置く。 - 特許庁

The reaction line is constituted, for example, of an endless track system type provided successively with a plurality of test piece holders, and the internal standard is incorporated in a test piece mounting portion itself of the test piece holder.例文帳に追加

反応ラインは、例えば複数の試験片ホルダーを連ねた無限軌道方式のものから構成され、内部標準は試験片ホルダーの試験片載置箇所自体に組み込む。 - 特許庁

To provide a peel strength measuring instrument capable of accurately measuring the peel strength of the film of a test target material when a 90° peel test, a 45° peel test or the like are performed.例文帳に追加

９０度剥離試験、４５度剥離試験などを行うに際し、被試験材の膜の剥離強度を正確に計測することができる剥離強度計測装置を提供すること。 - 特許庁

To restrain the increase in the cost of a burn-in test and in the unit price of chip by making a burn-in test pattern capable of enhancing the activation ratio able to be set in a short time in the burn-in test for a logical LSI.例文帳に追加

ロジックLSI のバーンインテストに際して、活性化率を高めることが可能なバーンインテストパターンを短時間で設定でき、バーンインテストのコストアップひいてはチップ単価の高騰を抑制する。 - 特許庁

The logic verification method is provided with: a means of determining whether the output of a functional block test is an input to another functional block test; and a means of making the output be the input to the other functional block test.例文帳に追加

機能ブロックテストの出力が他の機能ブロックテストの入力となるかどうかを判定する手段と、出力を他の機能ブロックテストの入力とする手段を設ける。 - 特許庁

To provide a test tube type discriminating device precisely discriminating types of a plurality of test tubes stored in a test tube rack and performing discrimination work in a short period of time.例文帳に追加

試験管ラックに収容されている複数の試験管の種類を正確に判別でき、しかも判別作業を短時間内に行なうことのできる試験管種類判別装置を提供。 - 特許庁

The present invention relates to a network quality test management system wherein a communication quality test is performed for each user terminal on a network to which a plurality of user terminals are connected, and the user terminal is notified of a result of the test.例文帳に追加

複数のユーザ端末が接続されるネットワークについての通信品質試験をユーザ端末毎に実行して、その結果を通知するネットワーク品質試験管理システムである。 - 特許庁

Test is carried out while keeping some distance between each terminal of the electronic device waiting test and a corresponding test terminal (pogo pin) by means of a resilient device, and bringing each terminal into contact with the corresponding test terminal through compression of the resilient device.例文帳に追加

更に弾性装置で試験待機電子装置の各端子と対応する試験端子（ｐｏｇｏ ｐｉｎ）にある距離を保持させ、弾性装置の圧縮により各端子と対応する試験端子が接触させられ、試験が行なわれる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device, a semiconductor memory test device, and a semiconductor memory test method in which testing capability of a semiconductor device is maximized, and factors of rise of a device cost can be minimized, and test cost is reduced.例文帳に追加

半導体デバイスのテスト能力が極大化されると共に、装置価格の上昇要因を最小化し得、テストコストも削減される半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To detect defects on the structure of a test object speedily and with an improved signal noise ratio in a circuit device for processing signals which are generated from the defects on the structure of the test object by ultrasonic waves during the nondestructive test of the test object.例文帳に追加

被検体の無破壊試験で被検体の構造の欠陥の超音波によって生じる信号の処理のための回路装置において、被検体の構造の欠陥を高速度で、かつ改善された信号雑音比で検出すること。 - 特許庁

An electric circuit arrangement automatically detects when a test voltage is applied to the test pad of the bond pad extension, then connects the test pad of the bond pad extension in response to the detection of the applied test voltage.例文帳に追加

電気回路構成は、ボンド・パッド延長部のテスト・パッドにテスト電圧が印加されたときにそのことを自動的に検出し、その後、印加されたテスト電圧の検出に応答してボンド・パッド延長部のテスト・パッドを接続する。 - 特許庁

The apparatus may include a multimedia test engine operable to exercise and test multimedia application programming interfaces (APIs) of a wireless device on the basis of the execution of test setting comprising a test script downloaded to the wireless device.例文帳に追加

無線デバイスにダウンロードされたテスト・スクリプトを備えるテスト設定の実行に基づいて無線デバイスのマルチメディア・アプリケーション・プログラミング・インターフェース（ＡＰＩ）を使用しそしてテストするために動作するマルチメディア・テスト・エンジンを含むことができる。 - 特許庁

In the read/write test, test lengths having the specified lengths for all of the laps are set, and a test pattern is written into the part of the test length, and further, the same pattern is read out to verify the existence of the trouble to the device or the tape.例文帳に追加

リード・ライト試験ではすべてのラップについて所定の長さの試験長を設定し、当該試験長部分に対してテスト・パターンを書き込み、さらに同パターンを読み取って装置またはテープへのトラブルの有無を検証する。 - 特許庁

To provide a dry gas enclosing device which prevents the discharge to the outside of a test head of dry gas introduced between the test head and a probe card and leaking into the test head in the case of connecting the test head and the probe card through a coaxial connector.例文帳に追加

同軸コネクタを介してテストヘッドとプローブカードとを接続する場合において、テストヘッドとプローブカードとの間に導入されテストヘッド内に漏れる乾燥ガスのテストヘッド外部への排出を防ぐ乾燥ガス封入装置の提供。 - 特許庁

When one or a plurality of test number factors are designated to one or a plurality of levels of the present test flow context 300, the base number in the present test number range is determined by using the test number factor (104).例文帳に追加

現在のテストフローコンテキスト３００の１つまたは複数のレベルに対して１つまたは複数のテスト番号ファクタが指定されている場合、テスト番号ファクタを使用して（１０４）、現在のテスト番号範囲のベース番号を決定する。 - 特許庁

Next, the room temperature test is performed, and a method of testing the semiconductor device accepts or reject the memory cell arrays 11a to 11n on the basis of the high temperature test result written on the memory cell arrays 11a to 11n and the room temperature test result of the room temperature test.例文帳に追加

次いで、常温試験を行い、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎに書き込まれた高温試験結果と、常温試験の常温試験結果とに基づいて、メモリセルアレイ１１ａ，１１ｂ，〜，１１ｎの合否判定を行う。 - 特許庁

Since the test container 5 is supported from the downside by the heater 6 in this way, a load of the test container 5 and the test liquid is applied to the heater 6, thereby the heater 6 can be stuck close to the bottom part of the test container 5, and heating efficiency of the test liquid can be improved.例文帳に追加

このように、試験容器５を下方からヒータ６で支持することにより、試験容器５及び試験液の荷重がヒータ６に加わるため、ヒータ６を試験容器５の底部に対してより密着させることができ、試験液の加熱効率を向上することができる。 - 特許庁

The widely used test tube preparation device or the like to a tray is utilized to prepare label pasted test tubes and the direction of the test tubes after a label is pasted is detected to be arranged by utilizing a turntable so that the bottom parts of the test tubes are directed ahead to make the axial lines of the test tubes coincide with a feed direction.例文帳に追加

汎用されているトレイへの試験管準備装置などを利用して、ラベルを貼着した試験管を準備し、ラベル貼着後の試験管の向きを検出して底部が先になるようにターンテーブルを利用して揃えると共に、試験管の軸心線を搬送方向と一致させる。 - 特許庁

When the test threads are called and requested for testing the mounted HDDs, the respective allocated threads execute a series of test operations one-by-one, and the test status of each HDD is recorded at every time one operation of the test is ended by the test thread.例文帳に追加

装着されたＨＤＤをテストするためにテストスレッドが呼出しおよび要求された時，それぞれの割り当てられたスレッドは一連のテスト作業を一つずつ行い，テストスレッドによってテストの一作業が終了する度に各ＨＤＤのテスト状態が記録される。 - 特許庁

METHOD FOR JUDGMENT OF PRESENCE OR ABSENCE OF READING OF DENSITY OF FOREIGN OBJECT AND METHOD FOR CALCULATION OF REPRESENTATIVE VALUE OF DENSITY OF TEST PATTERN例文帳に追加

異物濃度の読み取り有無の判定方法、及び、テストパターンの濃度の代表値を算出する方法 - 特許庁

To provide an apparatus which can automatically transfer measured test bodies in an optional order to test body storage racks with a high processing efficiency without limiting an order of setting and measuring test bodies to test body racks even when kinds of test body containers are mixed.例文帳に追加

検体ラックに検体をセットして測定する順序に何ら制限なく、検体容器の種類が混在していても、測定した検体を任意の順序で検体収納ラックに自動的に高い処理能力で移し替えることができる装置を提供する。 - 特許庁

The operations of the respective test functions are controlled by describing a command, which designates the communication protocol in the communication test function, in the test program described using a command for designating the operations of the in-circuit test function and the function test function.例文帳に追加

そしてインサーキットテスト機能およびファンクションテスト機能の動作をそれぞれ指定するコマンドを用いて記述されるテストプログラム中に、通信テスト機能における通信プロトコルを指定するコマンドを記述することで、前記各テスト機能の作動をそれぞれ制御する。 - 特許庁

When a test selection signal S2 is inputted into a selection signal terminal (trigger terminal) of each selector of a test selection circuit part 7, the test selection circuit part 7 supplies a test signal inputted from a test selection signal generation part 6 to a data selection circuit part 3.例文帳に追加

テスト用選択回路部７の各セレクタの選択信号端子（トリガ端子）へテスト用選択信号Ｓ２を入力すれば、テスト用選択回路部７はテスト用選択信号生成部６から入力されるテスト用信号をデータ選択回路部３へ供給する。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor wafer by which a test can be conducted in a state that the contact resistance of a probe and a test pad of the semiconductor wafer is reduced to a reference value and the test can be conducted with contact resistance which is always the same.例文帳に追加

プローブ針と半導体ウェーハのテストパッドとの接触抵抗を基準値まで低減させた状態でテストすることが可能であり、常に同一の接触抵抗でテストをすることが可能となる半導体ウェーハのテスト方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The switching circuit 13 switches a connecting destination of an input and output circuit 11 from a regular connector 12 to the test connector 14 when a test tool cable 31 of a test tool 30 is connected with the test connector 14, and makes the test tool 30 connect with the input and output circuit 11.例文帳に追加

切換回路１３は、試験コネクタ１４に試験ツール３０の試験ツールケーブル３１が接続されるとき、入出力回路の接続先を正規コネクタ１２から試験コネクタ１４に切り換えて、試験ツール３０を入出力回路１１と接続させる。 - 特許庁

The bending elastic moduli E of the respective test pieces are calculated from these measuring values, the interval S between the two supports, the thicknesses h_1 and h_2 of the test pieces X and Y, the widths b_1 and b_2 of the test pieces X and Y and the width ratio 1:A of the test pieces X and Y.例文帳に追加

これらの測定値と、２つの前記支持体の間隔Ｓ、供試体Ｘ，Ｙの厚さｈ_１，ｈ_２、供試体Ｘ，Ｙの幅ｂ_１，ｂ_２、及び供試体Ｘ，Ｙの幅の比１：Ａとから各供試体の曲げ弾性率Ｅを算出する。 - 特許庁

To output the determined result of a test to the outside without increasing the number of pins to test a successive approximation type A/D converter mounted on an LSI, to execute the test of the A/D converter and the test of other circuits in parallel, and to shorten time for testing the LSI.例文帳に追加

LSI に搭載された逐次比較型A/D コンバータのテストを行なうためにピン数を増やすことなくテストの判定結果を外部へ出力し、A/D コンバータのテストを他の回路のテストと並行に実行でるようにし、LSI のテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

A test sound wave is inputted into the microstructure sensor device, and a frequency characteristic of the output voltage amplitude of the sensor responded to the input of the test sound wave is analyzed.例文帳に追加

テスト音波を入力して、テスト音波の入力に応答したセンサ出力電圧振幅の周波数特性を解析する。 - 特許庁

PRINTER, METHOD OF JUDGING FORMING OF DOT, COMPUTER PROGRAM, RECORDING MEDIUM, COMPUTER SYSTEM, TEST PATTERN REGION, AND METHOD OF PRINTING TEST PATTERN REGION例文帳に追加

印刷装置、ドット形成判定方法、コンピュータプログラム、記録媒体、コンピュータシステム、テストパターン領域、及び、テストパターン領域印刷方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of more surely performing an operation test while reducing the number of terminals for the operation test of an internal circuit.例文帳に追加

内部回路の動作テストのための端子を減らしつつ、より確実に動作テストすることが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

The slip issuing machine carries out printing of a test pattern 96 at a lower portion of a slip 94 in order to test printing omission of a printing mechanism 90.例文帳に追加

伝票発行機では、伝票９４の下部に印字機構９０の印字欠落をテストするためのテストパターン９６を印字する。 - 特許庁

In the operation test, data transfer for test is executed for each combination of the value of interface voltage and the value of operation voltage.例文帳に追加

この動作テストにおいては、インターフェース電圧の値と動作電圧の値との各組み合わせ毎に、テスト用のデータ転送が実行される。 - 特許庁

To provide a test tube holder capable of easily observing the inside of a held test tube visually, and easily storing at the time of disusing and having a simple structure.例文帳に追加

保持した試験管内の様子を視認し易く、しかも不使用時の保管が容易な簡易な構成の試験管ホルダを提供する。 - 特許庁

A small number of test print sheets where a compact test patch, where a plurality of different colors are adjacent, is printed in a plurality of sets may be used.例文帳に追加

複数の異なる色が隣接する小型のテストパッチが複数組印刷されたテストプリントシートを少ない枚数だけ使用してもよい。 - 特許庁

The width of a ridge test pattern 10e of the first test pattern 10 is made smaller than contact terminal patterns 21a, 22a, 23a of the fixed contact 2.例文帳に追加

第１テストパターン１０の畝状テストパターン１０ｅの幅を固定接点部２の接点端子パターン２１ａ，２２ａ，２３ａより細くする。 - 特許庁

To reduce occurrence of damage to an organic EL panel accompanying the application of a test driving signal in the test of the organic EL panel.例文帳に追加

有機ＥＬパネルの検査において、検査駆動信号の印加に伴って有機ＥＬパネルに対する損傷の発生を低減すること。 - 特許庁

To produce a set of test sequences for operating each edge-device in a main area of interest in the state of maintaining a minimum test time.例文帳に追加

試験時間を最小に維持した状態で、注目主領域で各エッジ装置を作動させる試験シーケンスのセットを作り出す。 - 特許庁

Then the measured value of the test color is corrected according to the measured value of the correction colors which are indicated in the proximity of the test color in a step S205.例文帳に追加

そしてステップS205で、試験色の測色値を、該試験色近傍に表示された補正色の測色値に基づいて補正する。 - 特許庁

To obtain a flash point detecting device which is suitable for a test of the dielectric strength of a gas insulated electric device and can improve the efficiency of test operation.例文帳に追加

ガス絶縁電気装置の耐電圧試験に適し、試験作業の能率を向上させることができる閃絡点検出装置を得る。 - 特許庁

To provide a test planning method capable of saving effort and time to plan a performing schedule of a test and capable of preventing planning errors.例文帳に追加

試験の実施日程の計画にかかる手間と時間の節約並びに計画ミスの防止が可能な試験計画方法を提供する。 - 特許庁

As a result of the test of separation resistance, the separation is soon found, that is, only ten cycles in the duration test, on the friction material of a/b=1.0.例文帳に追加

剥離耐久試験の結果、ａ／ｂ＝１．０のセグメントタイプ摩擦材は、耐久サイクルが僅か１０サイクルですぐに剥離してしまう。 - 特許庁