「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(58ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve the accuracy of evaluation of the reproduced quality of test pattern data for deciding optimum laser power at the time of recording data even if high speed test writing is performed.例文帳に追加

高速試し書きの場合でも、データ記録時の最適なレーザパワーを決めるためのテストパターンデータの再生品質の評価を精度良くできるようにする。 - 特許庁

To provide a single semiconductor test system capable of running a plurality of the same or different types of test programs parallel with each other by a plurality of virtual testers.例文帳に追加

複数の仮想テスタにより、複数の同一または異なるテストプログラムを同時に並列に実行することのできる単一の半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁

Test structures (200, 300, and 400) support simultaneously deciding of characteristics of a 2-port optical component.例文帳に追加

試験構造(200;300;400)は、2ポート光学部品の同時特性決定を支援する。 - 特許庁

The rotation angle of the test bar 30 corresponds to the direction of bringing down a stick, and the length of the test bar 30 corresponds to the angle of the stick brought down from a neutral position.例文帳に追加

テストバー３０の回転角は、スティックを倒した方向に対応し、テストバー３０の長さは、スティックを中立位置から倒した角度に対応する。 - 特許庁

This compsn. exhibits an elasticity ratio of modulus M100 to static shear modulus Gs at the third time in a repeated 100% tensile deformation test with an autograph of 1.4 or higher and a ratio of modulus M300 at the third time in a repeated 300% tensile deformation test to M100 of 3.6 or lower.例文帳に追加

１００％モジュラスＭ_100 と静的剪断弾性率Ｇｓとの比（Ｍ_100／Ｇｓ）が１．４以上である免震積層体用ゴム組成物。 - 特許庁

• Implementation of a test to recover data from the backup of personal data 例文帳に追加

・個人データのバックアップから迅速にデータが復元できることのテストの実施 - 経済産業省

Further, a plurality of the wafers W are continuously tested, whereby the external appearance test of the wafer W is performed in a standby time of the probing test of a next process.例文帳に追加

また、複数枚のウエハＷを連続的に検査することで、ウエハＷの外観検査を次工程であるプロービングテストの待機時間に行う。 - 特許庁

This test pattern evaluating device 2 comprising an evaluating condition output section 21, a test result input section 22 and a test pattern editing section 23, outputs test pattern evaluating conditions to a test pattern testing section 1 for carrying out testing of a test pattern using a tester to a semiconductor device to be measured, and corrects the test pattern.例文帳に追加

本発明のテストパターン評価装置２は、評価条件出力部２１と、試験結果入力部２２と、テストパターン評価装置２３とを備え、測定対象の半導体装置に対してテスタを用いてテストパターンの試験を行うテストパターン試験部１に対してテストパターンの評価条件の出力したり、テストパターンの修正を行う。 - 特許庁

So, compared with such configuration as a temperature sensor is arranged within the test vessel 5 in which test liquid is held, stretching of wiring is easy, with no possibility of causing short circuit due to contacting of wiring to the test liquid, allowing measurement of the temperature of test liquid with a simple configuration from outside the test vessel 5 in which the test liquid is held.例文帳に追加

これにより、試験液が貯留されている試験容器５内に温度センサなどを配置するような構成と比較して、配線の引き延ばしが容易であるとともに、試験液と配線との接触によりショートが生じるといった可能性がなく、試験液が貯留された試験容器５の外部から簡単な構成で試験液の温度を測定することができる。 - 特許庁

To obtain a gaseous corrosion testing device capable of performing a gaseous corrosion test, while performing a hygrothermal cycle test without forming dew on a wall surface of a test tank, capable of improving the gas concentration stability in the test tank and the reproducibility of test results, and capable of performing the hygrothermal cycle test under an atmosphere where gas concentration is controlled at all times.例文帳に追加

この発明は、試験槽内の壁面に結露を生じることなく温湿度サイクル試験を行いながらガス腐食試験を行うことができ、試験槽内のガス濃度の安定性および試験結果の再現性を向上することができ、常にガス濃度を管理されているガス雰囲気下で温湿度サイクル試験を行うことができるガス腐食試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

The test program complying with the operation specifications by generation processing 11 for the test program is generated to add the test program to the test program 4 when determination is made to the absence of the test program complying with the operation specifications and necessity of the addition of the test program by determination processing 10 after a result is obtained by retrieving the attribute comparison result 8 by determination processing 9.例文帳に追加

判断処理９にて属性比較結果８を検索した結果、動作仕様に対するテストプログラムが存在しないと判断され、判断処理１０にてテストプログラムの追加が必要であると判断されたとき、テストプログラムの生成処理１１にて前記動作仕様に対応したテストプログラムを生成してテストプログラム４に付加する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which is provided with a test mode capable of testing a test block selected out of a plurality of circuit blocks, and can test the test block under a condition of voltage distribution nearly equal to its real working condition even when the device is in the test mode.例文帳に追加

複数の回路ブロックから選択された試験ブロックについて試験が行われるテストモードを備える半導体集積回路装置において、テストモード時においても実使用状態に近い電圧分布のもとで、試験ブロックを試験することが可能な半導体集積回路装置を提供することである。 - 特許庁

Further, conventionally, as a connection test of a row address and a column address between a logic section and a memory is performed by an actual operation test of a whole LSI, a fault detecting rate of a circuit is low, but this test can be performed by a scan-test, and a test pattern having a high fault detecting rate of a circuit can be automatically made.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test system capable of testing even in the case that the number of data input/output pads (or pins) of semiconductor chip to be tested is larger than the number of data input/output pins of tester of the semiconductor test system, and test method.例文帳に追加

半導体テストシステムのテスターのデータ入出力ピンの数よりもテストすべき半導体チップのデータ入出力パッド（または、ピン）の数が多い場合にもテストが可能な半導体テストシステム及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a boundary scan test circuit capable of suppressing increase of the number of test patterns or a test time by an LSI tester, even when the number of boundary scan cells is increased following increase of the number of pins on a printed circuit board.例文帳に追加

プリント回路基板におけるピン数の増加にともないバウンダリスキャンセルの数が増加した場合であっても、ＬＳＩテスタによるテストパターン数やテスト時間が増加するのを抑止することができる、バウンダリスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a data processor capable of executing a determination test for quality of a plurality of modules in a relatively short time, in a test method of a data processor composed by mounting a plurality of modules having the same function.例文帳に追加

同一機能を有するモジュールが複数個搭載されたデータ処理装置の試験方法において、より短時間で該複数個のモジュールの良品、不良品の判定試験が実施可能なデータ処理装置の試験方法を得ること。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for testing a cross point that can test path setting even during operation of the apparatus in a shorter time than that of a conventional test method where no test is available during operation of the apparatus and that takes much test time.例文帳に追加

装置の運用中にテストできず、相当の時間を要する従来のテスト方法に比べて、短時間で、しかも装置の運用中にもパス設定のテストを行うことができるクロスポイントスイッチのテスト方法及びテスト装置を提供する。 - 特許庁

When one or a plurality of test number factors are designated to one or a plurality of levels of the present test flow context 300, the base number in the present test number range is determined by using the test number factor (104).例文帳に追加

１つまたは複数のテスト番号ファクタが現在のテストフローコンテキスト３００の１つまたは複数のレベルに対して指定されている場合には、テスト番号ファクタを使用して（１０４）、現在のテスト番号範囲に関するベース番号を決定する。 - 特許庁

To provide a loading test method excellent in the rapidity or economical efficiency of a test and capable of easily grasping the capacity of a ground anchor by employing a fast loading test method as a loading test for the ground anchor, and a testing apparatus therefor.例文帳に追加

グラウンドアンカーの載荷試験として急速載荷試験方法を採用することによって、試験の迅速性や経済性に優れ、かつ容易にアンカーの性能を把握することができる載荷試験方法及びその装置を提供することである。 - 特許庁

A test timing determination part 1c determines generation timing of event for operation test during test object operation based on timing of detected operation change, and stores determined generation timing of event in a test timing information storage part 1d.例文帳に追加

試験タイミング決定部１ｃは、検出された動作変化のタイミングに基づいて、試験対象動作中の動作試験のためのイベントの発生タイミングを決定し、決定したイベントの発生タイミングを試験タイミング情報記憶部１ｄに格納する。 - 特許庁

To properly estimate the plateau stress when the dimension of a required test piece is different from that of a standard test piece with respect to a porous metal having a closed cell structure, without performing the static compression test in the dimension of the required test piece.例文帳に追加

クローズドセル構造のポーラス金属について標準試験片寸法とは異なる所要試験片寸法の場合でのプラトー応力を、該所要試験片寸法での静的圧縮試験を行うことなく適正に予測できるようにすること。 - 特許庁

To provide a system and a method, assuming that a test subject is a subject of a question sentence to a plurality of questions to be answered by Yes or No, and performing personality test on the basis of a result obtained by the answer performed by the test subject oneself or another person except the test subject.例文帳に追加

肯定又は否定で回答する複数の質問に対し、被験者を質問文の主語と想定して、被験者本人または被験者以外の他人が回答した結果に基づいて性格診断を行うシステムおよび方法を提供する。 - 特許庁

The self test circuit 100 repeats the test by the number of times determined by a first operational clock and a second operational clock, and selects and outputs the determination results so that all of the determination results of the test from the self test circuit 104 are outputted.例文帳に追加

自己テスト回路１００は、第１の動作クロックと第２の動作クロックによって決定される回数のテストを繰り返し、自己テスト回路１０４からのテストの判定結果の全てが出力されるように判定結果を選択して出力する。 - 特許庁

The ground evaluation system is formed of a test value data file in which test numerical values corresponding to a plurality of depths collected by the SWS test, are stored, and an evaluation value data file in which evaluation values determined in proportion to stress functions corresponding to the respective depths of the test values are stored.例文帳に追加

ＳＷＳ試験で収集した複数深度ごとの試験数値を格納する、試験値データファイルと、試験値の各深さに応じる応力関数に比例して決定した評価値を格納する、評価値データファイルとによって構成する。 - 特許庁

In a standby test after the screening test, as a result of the calculation of the difference between the consumption current measured at each test point and the consumption current measured before the screening test, the semiconductor device of which the difference exceeds a second consumption current threshold is regarded as faulty.例文帳に追加

次に、スクリーニングテスト後のスタンバイテストでは、各テストポイントで測定した消費電流とスクリーニングテスト前に測定した消費電流との差分を算出し、それらが第２の消費電流しきい値よりも大きい半導体装置を不良品とする。 - 特許庁

To solve such a problem that in a test of a semiconductor memory, as a chip itself does not store nature of the chip, in order to perform analysis of a defective product by a wafer test after assembling, a test corresponding to the wafer test must be performed again and a defective product must be selected.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査において、チップの素性をチップ自身は記憶していないので、ウエハ検査不良品の解析を組み立て後に行うためには再度、ウエハ検査相当の検査を実施して不良品を選別しなければならない。 - 特許庁

In the self-reference sense circuit 21, a first value is read from a test object cell before writing of writing data for the dummy cell of the test object, and a second value is read from the test object cell after writing of writing data for the test object cell.例文帳に追加

セルフリファレンスセンス回路２１は、テスト対象のダミーセルに対する書込データの書込み前にテスト対象セルから第１の値を読出して保持し、テスト対象セルに対する書込データの書込み後にテスト対象セルから第２の値を読出す。 - 特許庁

A controller 30 records test data in a PCA (prescribed area) of an optical disk 10 to calculate leading jitter and trailing jitter of a reproduction signal of the test data.例文帳に追加

コントローラ３０は光ディスク１０のＰＣＡにテストデータを記録し、テストデータの再生信号の立上ジッタと立下ジッタを算出する。 - 特許庁

In test production, repair and maintenance, etc. of a product, the selection part (1105) selects the bit stream of the signal pair of the test signal and the collection signal.例文帳に追加

製品試作時や修理・メンテナンス時などには選択部（１１０５）はテスト信号及び集音信号の信号対のビットストリームを選択する。 - 特許庁

A test piece 4 clamped by the supply chuck 18 of a test piece feeder is carried to the position of the upper chuck 6 of a tester body.例文帳に追加

試験片供給装置の供給チャック１８に挟持された試験片４が試験機本体の上側チャック６の位置に搬送される。 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring a dimension, capable of accurately setting a position of a test piece and measuring the dimension of the test piece with high accuracy.例文帳に追加

試験片の位置を正確に設定することができ、試験片の寸法を精度よく測定することが可能な測寸装置を提供する。 - 特許庁

As a result of a neutralization test (laboratory test) of coat ash and phosphate buffer solution, reclaimed soil of coal ash is neutralized and pH is made neutral.例文帳に追加

石炭灰とリン酸緩衝液による中和試験（室内試験）を行った結果、石炭灰埋立土が中和され、pHも中性となった。 - 特許庁

To provide a data processing apparatus which is capable of surely reporting occurrence of an error without increasing the number of output terminals and test patterns and a test time.例文帳に追加

出力端子やテストパターン数、テスト時間を増やさずに、エラーの発生を確実に通知することができるデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

Thus, reduction of quality of the test region due to overwriting can be prevented by erasing data of the test region before recording.例文帳に追加

このように、テスト記録前にテスト領域のデータを消去することによって、上書きによるテスト領域の品質の低下を防ぐことができる。 - 特許庁

The lead wire part 22 of the test terminal 20 is directly connected also to an electrode part of an electronic component 4 of the printed circuit board 1 without being limited to the test land 6.例文帳に追加

テスト端子２０のリード線部２２はテストランド６に限らず、プリント基板１の電子部品４の電極部にも直接接続される。 - 特許庁

Coordinates of a test mark within an imageable region are inputted through a user interface 200 as well as a selection of the test mark of a desired type.例文帳に追加

イメージ作成可能領域内のテストマークの座標を、所望のタイプのテストマークの選択とともに、ユーザインタフェイス２００経由で入力する。 - 特許庁

Input of the measurement start key of the next test specimen is permitted in the reaction time, and measurement is performed after measurement finish of the preceding test specimen.例文帳に追加

この反応時間内に次被検検体の測定開始キーの入力を許可し、前被検検体の測定終了後に測定を行う。 - 特許庁

To provide a test method and a test device of terminal fittings wherein acceptability of mounting situation of terminal fittings on an insulator can be judged accurately.例文帳に追加

端子金具の絶縁体への取付状況の良否を正確に判定できる端子金具の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test program emulator for a semiconductor device capable of proofreading an error due to a failure of a programmer caused in a test program of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体素子のテストプログラムにて発生するプログラマの失敗によるエラーを校正できる半導体素子のテストプログラムエミュレータを提供する。 - 特許庁

To conduct test of DRAM with a less number of input/output pins and simultaneously test a larger number of LSIs.例文帳に追加

より少ない数の入出力ピンでもってＤＲＡＭ部の検査を行い、それによって従来よりも多くの数のＬＳＩを同時に検査すること。 - 特許庁

To provide a test pattern generating apparatus capable of generating test patterns appropriate to combinations of a plurality of failure models and layout element information.例文帳に追加

複数の故障モデル及びレイアウト要素情報の組合わせに対して適切なテストパターンを作成可能なテストパターン作成装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the amounts of current that is consumed at the time of a burn-in test are equalized, and a voltage drop in power supply of the entire burn-in test board is inhibited.例文帳に追加

このようにして、バーンインテスト時の消費電流が平準化されて、バーンインテストボード全体の電源における電圧降下が抑制される。 - 特許庁

To solve problems of a method for printing the test pattern of a printing image on the end of a continuous paper that the test pattern print area is limited, and the resulting information is little.例文帳に追加

連続紙の端部に印刷画像のテストパターンを印刷する方法では、テストパターン印刷領域が限られ、得られる情報が少ない。 - 特許庁

A test switch (41) is connected between the first input and the second input of the output amplifier section (40) and is turned on in response to a test signal (TEST) to output the output gradation voltage to the output node (OUT) in a test mode for performing a test related to the output of the D/A converter (50).例文帳に追加

テストスイッチ（４１）は、出力アンプ部（４０）の第１入力と第２入力間に接続され、Ｄ／Ａコンバータ（５０）の出力に関するテストが実施されるテストモードにおいて、テスト信号（ＴＥＳＴ）に応じてオンし、出力階調電圧を出力ノード（ＯＵＴ）に出力する。 - 特許庁

Steps of (1) moving to a test writing area, (2) recording test data into the test writing area, (3) moving to a head position of an area into which the test data are recorded, (4) reproducing the test data, and (5) determining appropriate power, are performed in parallel for two optical pickup units respectively.例文帳に追加

（１）試し書き領域への移動、（２）試し書き領域へのテスト用データの記録、（３）テスト用データが記録された領域の先頭位置への移動、（４）テスト用データの再生、（５）適切なパワーの決定、が２つの光ピックアップ装置について、それぞれ並行して行われる。 - 特許庁