「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(62ページ目) - Weblio英語例文検索

To test a memory being operated at higher speed by a test apparatus generating a reference clock of low speed in a memory test method.例文帳に追加

本発明はメモリ試験方法に関し，低速度の基準クロックを発生する試験装置により高速で動作するメモリの試験を行うことを可能にすることを目的とする。 - 特許庁

To quickly and accurately request a test from a medical institution to a clinical test company by using an electronic form reflecting the information of latest test items.例文帳に追加

最新の検査項目の情報を反映した電子フォームを用いて医療機関から臨床検査会社に対して迅速にかつ正確に検査の依頼を行うこと。 - 特許庁

The test modules are attached to a pocket formed in a door of a test chamber so that the senstive modules are not exposed to harsh environment in the test chamber.例文帳に追加

試験モジュールは、試験チャンバ内の過酷な環境に精密な機械であるモジュールが曝されることないように、試験チャンバのドア内に形成されたポケットに取付けられている。 - 特許庁

In an erase process to erase the test write data recorded in the test area, CW erase is performed (a step S104) and reproduction of the test write data is attempted (a step S106).例文帳に追加

テストエリアに記録された試し書きデータを消去する消去工程では、ＣＷイレーズを行い（ステップＳ１０４）、試し書きデータの再生を試行する（ステップＳ１０６）。 - 特許庁

To provide a method for evaluating an electrophotographic toner in which the performance of the toner after a copying test can be rapidly and readily evaluated without carrying out the copying test and a heating test.例文帳に追加

コピー試験や加熱試験を行うことなくコピー試験後のトナーの性能を迅速且つ簡便に評価できる電子写真用トナーの評価方法を提供する。 - 特許庁

A processor is used for controlling the operation of the test, according to test instructions and processing radiant energy detected from the sample for evaluating test results.例文帳に追加

試験の運転を試験指令にしたがって制御し、試験結果を評価するためにサンプルから検出される放射エネルギーを処理するためにプロセッサが使用される。 - 特許庁

To provide a piping pressure test data collection system which can easily and reliably perform a pressure test at a low cost, and which is excellent in the applicability of the test result.例文帳に追加

容易かつ安価に信頼性の高い耐圧試験を行うことができ、試験結果の活用性にも優れた配管耐圧試験データ収集システムを提供する。 - 特許庁

To provide an IC test device for suppressing IC to be tested from deteriorating due to discharge current of a capacitor in an IC test, and to provide an IC test method.例文帳に追加

ＩＣの試験において、コンデンサの放電電流によって被試験ＩＣが劣化するのを抑止することができるＩＣテスト装置およびＩＣテスト方法を提供する。 - 特許庁

To put it concretely, a common region only for test circuit for conducting the test on a plurality of chips is formed on the wafer, and test circuits are removed from the respective chips 112.例文帳に追加

ウェハ１１１上のチップ１１２を接続できる配線と、その配線を電気的に遮断できる構成を持ち、全てのチップを一度にテストできる構成とする。 - 特許庁

To provide a thin film stripping test method and an apparatus for beating a test piece on a side opposite to a thin film by using a mass element such as a hammer etc. and implementing a test for reproducing an actual peel state of the thin film.例文帳に追加

本発明は、ハンマ等の質量体で試験片の反薄膜側を打撃し、実際の薄膜の剥離状態を再現する試験を行うことを目的とする。 - 特許庁

Provided are the means and device which automatically conduct the unit test of the software through a computer network and automatically generate the unit test written standards and unit test written results.例文帳に追加

コンピュータネットワークを介してソフトウェア単体試験を自動実行し、かつ単体試験規格書、及び単体試験成績書を自動生成する手段と装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus and a test program for reducing the amount of correction in a program when a change or addition in test items, measuring instruments, devices under test, or the like occurs.例文帳に追加

試験項目や測定器、被試験器等の変更・追加が生じたときのプログラム修正量を低減するようにした試験装置及び試験プログラムを提供する。 - 特許庁

Therefore it is possible to reduce the test costs since probe cards or jigs such as test boards can be made inexpensive, contact is easily achieved to simultaneously test a large number of chips.例文帳に追加

したがって，プローブカードまたはテストボード等の治具を安価にできること，またコンタクトが取りやすく同時に多数のチップをテストできることから，テストコストを低減できる。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATING METHOD, DATA STRUCTURE OF TEST PATTERN, TEST PATTERN GENERATING DEVICE, DISPLAY PANEL INSPECTION SYSTEM, CONTROL PROGRAM, AND COMPUTER READABLE RECORDING MEDIUM WITH THE PROGRAM RECORDED THEREON例文帳に追加

テストパターン発生方法、テストパターンのデータ構造、テストパターン発生装置、表示パネル検査システム、制御プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁

A test stream measuring means 14 receives the test stream returned from the receiving node, and measures quality information, such as a round trip time of the test stream and a packet loss rate.例文帳に追加

試験ストリーム計測手段１４は、受信ノードから返送された試験ストリームを受信し、試験ストリームのラウンド・トリップ・タイム、パケットロス率などの品質情報を計測する。 - 特許庁

Thereafter the test piece 21 is taken out; the measuring oil 23 on the surface of the test piece 21 is wipen off and the test piece 21 is perfectly put in a graduated cylinder 24 in which the measuring oil 23 is housed.例文帳に追加

その後、供試体２１を取り出し、表面の計測用油２３を拭き取り、計測用油２３が入れられたメスシリンダ２４内に供試体２１を完全に入れる。 - 特許庁

This unit test device 10 executes a unit test by defining at least one screen among a series of screen group having screen transition as a test object picture.例文帳に追加

本発明によるユニットテスト装置１０は、画面遷移のある一連の画面群のうち、少なくとも１つの画面をテスト対象画面としてユニットテストを実施する。 - 特許庁

The test rate is corrected and shortened corresponding to this calculated degree of the allowance, and thereafter the function test for the semiconductor device is done using the test rate normally corrected.例文帳に追加

この算出された余裕度に応じてテストレートを修正、短縮化し、その後、通常通り前記修正されたテストレートを用いて半導体デバイスのファンクションテストを行なう。 - 特許庁

A main vibration test condition setting part 47 sets main vibration test conditions from the relation between the characteristic frequency and the maximum amplitude of the test object 13 to the command waveform.例文帳に追加

本振動試験条件設定部４７は、指令波形に対する被試験体１３の固有振動数と最大振幅の関係から、本番の振動試験条件を設定する。 - 特許庁

To provide a software test item selecting device which efficiently selects test items to be retested from already performed test items in consideration of an uncorrected fault module.例文帳に追加

未修正の不具合モジュールを考慮し、実施した試験項目の中から、再試験すべき試験項目を効率的に選択するソフトウェア試験項目選択装置を提供する。 - 特許庁

To provide test circuit constitution technology for a semiconductor device which conducts a test of the semiconductor without using a tester (test device) on the market and reduces the necessary cost.例文帳に追加

市販のテスタ（テスト装置）を用いることなく半導体装置のテストを行なえ、所要コストが少なくて済む半導体装置のテスト回路構成技術を提供する。 - 特許庁

To provide a test program and a test method capable of performing a load change test in accordance with a hardware configuration on a target system with an arbitrary hardware configuration.例文帳に追加

任意のハードウェア構成を有する対象装置についてハードウェア構成に応じた負荷変動試験を実施することができる試験プログラムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

To realize a semiconductor device which can improve a reliability with suppressing an increase of power consumption at a burn-in test time and, its test apparatus and its test method.例文帳に追加

バーンインテスト時の消費電力の増加を抑制しつつ信頼性を向上させることができる半導体装置、そのテスト装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A connect test, a login test and a write in test are performed to a storage destination of image data, and if any error occurs in these tests, measures to cope with the error are presented.例文帳に追加

画像データの保存先に対してコネクトテスト、ログインテスト、書込みテストを行い、これらのテストでエラーが発生している場合にはそのエラーに対応する対応策を提示する。 - 特許庁

To reduce a cost required for a test by performing a test continuously by using a high speed clock signal in an expected value determination test and defective cycle detection of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の期待値判定テストおよび不良サイクル検出に関し、高速のクロック信号を用いて連続してテストを行うことでテストに係る費用を削減する。 - 特許庁

In the case of executing a system verification test, plural individual verification test descriptions are executed in accordance with the system verification utilities corresponding to respective individual verification test descriptions.例文帳に追加

システム検証テストの実行においては、複数の個別検証テスト記述を、それぞれの個別検証テスト記述に対応するシステム検証用ユーティリティに従って実行する。 - 特許庁

The integrated circuit chip includes a test pad, a test element group coupled to the test pad, and a plurality of bonding pads each coupled to corresponding inner circuits.例文帳に追加

本発明による集積回路チップは、テストパッド、前記テストパッドに連結されたテスト素子グループ、及び対応する内部回路に各々連結される複数のボンディングパッドを含む。 - 特許庁

If you are in the midst of editing the controller class and want to test it, you merely execute Test File, by pressing Ctrl+F6, and it runs the test file corresponding to the class you are currently in. 例文帳に追加

コントローラのクラスを編集中にそれをテストする場合、Ctrl+F6 キーを押して「ファイルをテスト」を実行するだけで、現在いるクラスに対応するテストファイルが実行されます。 - NetBeans

The other device such as a test terminal is not required with such constitution and the consecutive change work of the test terminal is not always required whenever a test on one interface is conducted.例文帳に追加

本構成によれば、試験端末など他の装置が不要であり、１つのインタフェースについての試験を実施する毎に試験端末のつなぎかえ作業が不要である。 - 特許庁

To preserve the fracture state at the initial stage when a material test leading to fracture of a test piece is conducted using a material test machine.例文帳に追加

材料試験機を使用して試験片の破壊を伴う材料試験を行う際に、その破壊が発生し始めた初期段階の破壊状態を保存できるようにする。 - 特許庁

To provide a test data generating program, a test data generating device, and a test data generating method, capable of improving exhaustiveness in validation for logic verification.例文帳に追加

論理検証における検証網羅性を向上させることが可能なテストデータ生成プログラム、テストデータ生成装置及びテストデータ生成方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To reproduce access to a testee Web application in a test, and test the influence of the test on the testee Web application or other Web applications.例文帳に追加

テストの実施に際し、テストを実施するＷｅｂアプリケーションへのアクセスを再現し、また、テストによって被テストＷｅｂアプリケーションまたは他のＷｅｂアプリケーションへ及ぼす影響をテストする。 - 特許庁

The vehicle traction device is constituted such that a dolly 13 is only located in the rear of a test vehicle 14 in moving direction when testing the test vehicle 14, and that an arm 15 is provided to the dolly 13 to push the test vehicle 14.例文帳に追加

ドーリー13を試験用車両14の試験時の、移動方向の後方にのみ配置して、このドーリー13に試験用車両14を押すためのアーム15を取付ける。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the test condition of the receiving unit is set and changed in a timing relation where the generating time of the test pattern is synchronized with the timing of changing operation of each receiving unit for changing the test condition.例文帳に追加

試験パターンの発生タイミングと、試験条件の変更が行われる各受信ユニットの変更動作のタイミングとが同期したタイミング関係で受信ユニットの試験条件を設定変更する、半導体試験装置。 - 特許庁

A test mode for performing data compression of test output data from a memory core part and transferring the test output data to a data input-output node 50 includes a normal mode and a fine mode, the degree of data compression of which is lower than that of the normal mode.例文帳に追加

メモリコア部からのテスト出力データをデータ圧縮した上でデータ入出力ノード５０へ伝達するテストモードは、通常モードと、通常モードよりもデータ圧縮度が低いファインモードとを含む。 - 特許庁

To provide an outside diameter-measuring device capable of measuring the outside diameter, inside diameter, and thickness of a steel pipe test piece while especially being rotated with the center of the test piece as an axis regarding a device for inspecting the dimensions of the steel pipe test piece.例文帳に追加

鋼管テストピースの寸法検査をする為の装置に関し、特にテストピースの中心を軸に回転させながら、鋼管テストピースの外径、内径、肉厚を測定することができる外径測定装置を提供する。 - 特許庁

In this method, the test process of a semiconductor device under test is proceeded when a customer tray of a loader section is not vacant, while the number of the semiconductor devices under test mounted on a buffer tray of a loader side buffer section is counted if the customer tray is vacant.例文帳に追加

本発明はローダ部のカスタマートレイが空いていなければ、被検査半導体素子の検査過程を進行し、空いていれば、ローダ側バッファ部のバッファトレイに搭載された被検査半導体素子の数をカウントする。 - 特許庁

This testing device is equipped with a plurality of test modules for testing a plurality of devices to be tested, and the central processing unit for controlling test operation of the plurality of test modules based on a designated operation mode.例文帳に追加

複数の被試験デバイスの試験を行う複数の試験モジュールと、指定された動作モードに基づいて複数の試験モジュールの試験動作を制御する中央処理装置とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

A method for testing the presence or absence of the fungus and/or the bacterium in a test specimen comprises a step of bringing the tracer into contact with the test specimen and a step of detecting the incorporation of the tracer into the test specimen.例文帳に追加

前記トレーサーを該被験体に接触させる工程および該トレーサーの該被験体内への取り込みを検出する工程を含む、被験体における真菌および／または細菌の存在の有無を検定する方法。 - 特許庁

To provide a test method and a test tool for a sensor element capable of efficiently and easily carrying out processes of a performance test of a sensor element detecting a concentration of gas to be detected carried out in a heated and activated state.例文帳に追加

加熱して活性化させた状態で行われる被検知ガスの濃度を検知するセンサ素子の性能検査の工程を、効率よく容易に行えるようにしたセンサ素子の検査方法、および検査治具を提供する。 - 特許庁

To support improvement in the level of proficiency in technical knowledge of each constructor by making the constructor of work perform test items following a test instruction and evaluating achievement of element work based on the test items.例文帳に追加

工事の施工者に検査指示書に従う検査項目を実施させ、要素作業の実施実績を検査項目により評価することにより各施工者ごとの技術知の習熟度の向上を支援する。 - 特許庁

The circuit is provided with a plurality of memories 10a to 10n which can store data, a built-in self-test circuit 20 performing tests of a plurality of memories, and an analyzing circuit 30 analyzing a test result of the built-in self-test circuit.例文帳に追加

データを記憶可能な複数のメモリ１０ａ〜１０ｎと、複数のメモリのテストを行う組込自己テスト回路２０と、組込自己テスト回路のテスト結果を解析する解析回路３０と、を備えている。 - 特許庁

To provide a performance test support device for easily and accurately grasping improvement circumstances by the tuning of this system based on a plurality of number of times of performance test results in the same test contents.例文帳に追加

同一試験内容における複数回の性能試験結果に基づき、システムのチューニング等による改善状況を容易かつ的確に把握させることを可能とする性能試験支援装置を提供する。 - 特許庁

An input signal Sina output from the test terminal Padt1 and a clock signal Sclka output from the test terminal Padt2 are input to the test circuitry 3, and test results of the paths to be tested are output via the test terminal Padt3.例文帳に追加

テスト回路部３はテスト端子Ｐａｄｔ１から出力される入力信号Ｓｉｎａとテスト端子Ｐａｄｔ２から出力されるクロック信号Ｓｃｌｋａが入力され、テスト対象のパスのテスト結果がテスト端子Ｐａｄｔ３を介して出力される。 - 特許庁

In this test mode register circuit, test functions to which conventional test modes are divided into each element are allotted to the decoder circuit 60 as a set address value, and each test mode is realized by multi- selecting a plurality of test mode register circuits.例文帳に追加

この試験モード登録回路においては、従来の試験モードを各要素に分けた試験機能がデコーダ回路６０に設定されたアドレス値として割当てられており、複数の試験モード登録回路を多重選択することにより各試験モードを実現する。 - 特許庁