「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(59ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, by allocating test items for testing the function of the program to be released to the respective determined test periods on the basis of the function indicated by a function ID included in test item information read from a test item information storage device 20, the test plan is prepared.例文帳に追加

次に、リリースされるプログラムの機能をテストするテスト項目を、テスト項目情報記憶装置２０から読み出したテスト項目情報に含まれる機能ＩＤが示す機能に基づいて、前記決定された各テスト期間に割り当てることによって、テスト計画を作成する。 - 特許庁

A handler is provided with: a test tray for putting a plurality of devices under test thereon; a chamber for putting the test tray therein; an overall heater for collectively heating the plurality of devices under test in the chamber up to a target temperature; and individual heaters provided in the test tray to heat the devices individually.例文帳に追加

複数の被試験デバイスを収容するテストトレイと、テストトレイを収容するチャンバと、チャンバの内部において複数の被試験デバイスを目標温度まで一括して加熱する全体ヒータと、テストトレイに設けられ、複数の被試験デバイスを個別に加熱する個別ヒータとを備える。 - 特許庁

An operation content including all the input signals inputted to test equipment when a tester performs testing, an input time of day, and a time of day when the test has been performed by the test equipment is recorded as test data, their management table, and operation history every test ID, and is managed as a bug management database.例文帳に追加

テスターがテストを実施した際のテスト機器に入力された全ての入力信号と、入力された時刻と、テスト機器で実行された時刻を含む操作内容を、テストＩＤ毎に、テストデータと、その管理テーブルと操作履歴として記録してバグ管理データベースとして管理する。 - 特許庁

To provide a testing device of existence of cable disconnection and a test method of existence of the cable disconnection capable of testing with high reliability on a neutron detector and a test of existence of the cable disconnection.例文帳に追加

中性子検出器とケーブルの断線有無の試験について信頼性の高い試験ができるケーブル断線の有無試験装置およびケーブル断線の有無試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which goes into a test mode according to an implementation test signal applied from outside, by changing an environment (test property) of the semiconductor device in the implementation state, capable of entering the test mode at the implementation state.例文帳に追加

実装状態でもテストモードに入ることができ、実装状態で半導体装置の環境（内部特性）を変化させ、外部から印加される実装テスト信号に応じてテストモードに入る半導体装置を提供すること。 - 特許庁

In the pseudo-spatial transmission test device 100 of this system, antennas 22, 32 and radio communication units 20, 30 are respectively mounted on both ends of a test cavity 10, and the transmission test is carried out between the radio communication units, by using the test cavity for a pseudo-space.例文帳に追加

本発明の疑似空間伝送試験装置１００は、試験空洞１０の両端にアンテナ２２，３２と無線通信装置２０，３０とを装着し、試験空洞を疑似空間として無線通信装置の間で伝送試験を行う。 - 特許庁

As a result, the number of test items to be test NG can be reduced, thereby reducing the number of test items to be visually confirmed by a tester and performing an effective test to determine whether or not degradation is generated.例文帳に追加

この結果、検証ＮＧとなる試験項目数を減らすことができるので、試験者が目視確認を行う試験項目数を減らすことができ、デグレードが発生しているか否かを効率的に検証することが可能になる。 - 特許庁

The invention relates to the test board locking device for testing a semiconductor chip and more particularly relates to the test board locking device capable of easily mounting/detaching a test board on/from the stiffener in the EDS test process of the semiconductor chip.例文帳に追加

本発明は半導体チップのテストのためのテストボードロッキング装置に係わり、さらに詳細には半導体チップのＥＤＳテスト工程でスチフナ上にテストボードを容易に脱付着させることができるテストボードロッキング装置に関する。 - 特許庁

To provide a communication network automatic test system that requires no man-hour for a communication test up to a wireless terminal of a wireless block and a wired block, automatically discriminates the result of communication test for a time band where general communication is less performed and conducts the man-hour saved communication test.例文帳に追加

無線区間及び有線区間の無線端末までの通信路の通信試験を人手を要せず、かつ、一般通信が少ない時間帯に自動的に判定し、その省力化した通信試験を可能にする。 - 特許庁

The method of installing and configuring a test package for a unit under test in an automated assembly process uses an identifier of the unit under test to retrieve the test files and other files for the installation and configuration.例文帳に追加

自動化された組み立て工程においてテスト中のユニット装置に対してテスト・パッケージをインストールし設定する方法は、上記テスト中のユニットの識別子を用いてテスト・ファイルとインストール及び設定用の他のファイルとを検索する。 - 特許庁

To calibrate the output timing of test signal in a semiconductor test device, having a socket which has a first terminal capable of giving test signals to a semiconductor device and a driver outputting the test signal to the first terminal.例文帳に追加

半導体デバイスへ試験信号を与えることのできる第１端子を有するソケットと、試験信号を第１端子へ出力するドライバとを有する半導体試験装置における試験信号の出力タイミングをキャリブレーションすること。 - 特許庁

While a disk test piece formed of a journal-suiting material is being slid on a block test piece which is a slide bearing metal-suiting material, those test liquids are circularly supplied to a contact part of the two to perform wear test.例文帳に追加

これらの試験液を、滑り軸受けメタル対応材料であるブロック試験片の上をジャーナル対応材料で形成したディスク試験片を滑らせながら、両者の接触部位に循環供給して摩耗試験を行う。 - 特許庁

To suppress increase in a test vector making time and increase in a test time, when an evaluation test of a DRAM core circuit incorporated in a DRAM mixed logic LSI is performed by unnecessitating an exclusive test vector for each DRAM core circuit being an object of evaluation.例文帳に追加

DRAM混載ロジックLSI に内蔵するDRAMコア回路の評価テストを行う場合に、評価対象となるDRAMコア回路毎に専用のテストベクタを必要としなくなり、テストベクタ作成時間の増大やテスト時間の増大を抑制する。 - 特許庁

To provide a load testing machine for performing a plurality of tests, such as a test for simultaneously applying loads of a plurality of weights to a test object and a test for applying a load to the test object while increasing the load in steps, without requiring any attachment/detachment of a dedicated tool.例文帳に追加

被試験物に複数の分銅の荷重を同時に負荷する試験、被試験物に荷重を段階的に増加させて負荷する試験等複数の試験を専用の治具の着脱を要することなく行うことができる荷重試験機を提供する。 - 特許庁

A test program control part 4 translates commands of the test program and outputs a change request signal including a change parameter after the change and an input terminal of a change target to a test parameter control part 5 when the change of the parameter value of a test signal is requested.例文帳に追加

試験プログラム制御部4は、試験プログラムのコマンドを翻訳し、試験信号のパラメータ数値の変更を要求している場合、変更対象の入力端子と、変更後の変更パラメータとを含む変更要求信号を試験パラメータ制御部5に出力する。 - 特許庁

In this nondestructive inspection method for the hammering test workpiece, a frequency exhibiting maximum amplitude in hammering of the hammering test workpiece surface is measured to be compared with an ideal natural frequency of the hammering test workpiece for indexation of the soundness degree of the hammering test workpiece.例文帳に追加

打音検査物表面を打撃した際の振幅が最大となる振動数を測定し、当該振動数と打音検査物の理想固有振動数と比較し、打音検査物の健全度を指数化することを特徴とする打音検査物の非破壊検査方法。 - 特許庁

To provide a test apparatus for semiconductor integrated circuit and test pattern diagnostic method capable of shortening the time required for the search for cause in the event of an abnormality such as frequency of fails during a test by allowing the diagnosis of only a test pattern.例文帳に追加

試験パターンのみを診断可能とすることで、試験中にフェイルが多発する等の異常が生じたときの原因追及に要する時間を短縮することができる半導体集積回路試験装置及び試験パターン診断方法を提供する。 - 特許庁

When an adjustment mode is set, transfer positions of the test patterns of each color on the intermediate transfer belt 21 are detected in the separation state, to measure the shift of the test patterns of each color from the transfer positions of the test patterns of each color and correct the measured shift of the test patterns of each color by using each difference in the memory 75.例文帳に追加

そして、調整モードが設定されると、離間させた状態で、中間転写ベルト２１上の各色のテストパターンの転写位置を検出して、各色のテストパターンの転写位置からそれらのずれを測定し、この測定した各色のテストパターンのずれをメモリ７５内の各差分を用いて補正している。 - 特許庁

The software test system includes: a terminal device, in which software to be tested is installed, and a software test device that stores a test driver for testing the target software according to test data and a test procedure of the target software, wherein the test driver is transmitted to the terminal device to test the target software by combining the test data and the test procedure within the terminal device.例文帳に追加

ソフトウェアテストシステムは、テスト対象ソフトウェアがインストールされている端末装置と、前記テスト対象ソフトウェアのテストデータ、および、前記テスト対象ソフトウェアのテスト手続きに従って前記テスト対象ソフトウェアをテストするテストドライバが記憶されているソフトウェアテスト装置と、を有していて、前記テストドライバが前記端末装置に伝送され、前記端末装置において前記テストデータと前記テスト手続きとの組み合わせにより前記テスト対象ソフトウェアがテストされる。 - 特許庁

METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE TEST ELEMENT AND METHOD OF MEASURING PHYSICAL CHARACTERISTICS OF THIN FILM例文帳に追加

半導体装置テストエレメントの製造方法及びその薄膜物性値測定方法 - 特許庁

To provide a low-cost leakage tester capable of performing a leakage test of a plurality of works.例文帳に追加

複数のワークのリークテストを行うことができる低コストのリークテスト装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF DETECTING FAILURE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF GENERATING DC TEST PATTERN例文帳に追加

半導体集積回路の故障検出方法およびＤＣテストパターン発生方法 - 特許庁

Hereby, the degree of shrinkage of the rubber ring 22 is changed according to the diameter of the test tube 11.例文帳に追加

これにより、試験管１１の直径に応じてゴムリング２２の伸縮度が変化する。 - 特許庁

To detect disturbance of regularity of an address included in a test pattern of a semiconductor memory.例文帳に追加

半導体メモリの試験パターンに含まれるアドレスの規則性の乱れを検出する。 - 特許庁

Consequently, the single eFuse bank preserves data of a plurality of sets from a plurality of test stages.例文帳に追加

その結果、単一のeFuse バンクが複数のテスト・ステージからの複数セットのデータを保存する。 - 特許庁

METHOD OF PREPARING ELECTROLYTIC CORROSION TEST SAMPLE FROM DEFECT GENERATING BASE MATERIAL OF THROUGH HOLE SECTION OF PRINTED BOARD例文帳に追加

プリント板のスルーホール部基材欠陥発生品の電食試験サンプル作製方法 - 特許庁

The qualifying examination referred to in clause (c)(ii) of sub-section (1) of section 126 shall consist of a written test and a viva voce examination. 例文帳に追加

第126条(1)(c)(ii)にいう資格試験は，筆記テスト及び口述試験から成る。 - 特許庁

The operator inputs the comparison result of the color of the test pattern T with that of the reference body R.例文帳に追加

オペレータは、テストパターンＴの色と基準体Ｒの色との比較結果を入力する。 - 特許庁

DEGREE OF COMPREHENSION JUDGEMENT SYSTEM FOR JUDGING DEGREE OF COMPREHENSION OF LEARNER AND PARTICIPANT BASED ON TEST RESULT例文帳に追加

テスト結果に基づき学習者，受講者の理解度を判定する理解度判定システム - 特許庁

It turned out the results of joe's i.q. test... had caught the attention of the highest levels of government.例文帳に追加

刑務所で受けた知能テストの結果により ジョーのIQが世界一高いことが判明した - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

• Prohibition of the utilization of personal data as test data when confirming the operation of information system 例文帳に追加

・情報システムの動作確認時のテストデータとして個人データを利用することの禁止 - 経済産業省

(1) Director-General of Labour Standards Bureau of Ministry of Health, Labour, and Welfare synthetically evaluates the level of compliance of the relevant test facilities, etc. with the Industrial Safety and Health Law GLP taking into consideration of the results of the compliance monitoring例文帳に追加

(1) 厚生労働省労働基準局長は、適合調査の結果そして結果の考慮 - 厚生労働省

It is possible to test the entire memory space by setting not so as to finish a test even if an output of the terminal 12 does not coincide with a test pattern due to the setting of the LSI tester.例文帳に追加

ＬＳＩテスタの設定で端子１２の出力がテストパターンと一致しなくてもテストを終了しないように設定することで、全メモリ空間をテストすることができる。 - 特許庁

An instruction code generating means 31 of the instruction sequence generating means 3 generates instruction codes of a test instruction sequence according to test instruction sequence constitution information 61 and test execution information 62.例文帳に追加

命令列生成手段３の命令コード生成手段３１は、試験命令列構成情報６１と試験実行情報６２とに基づいて試験命令列の命令コードを生成する。 - 特許庁

To educe the work quantity in a test executed as the inspection prior to field use of a nuclear reactor containment vessel and the work quantity of a main test appurtenant work to easily perform the test in a short time.例文帳に追加

原子炉格納容器の現地使用前検査として実施する試験時の作業量及び本試験付帯工事作業量を低減し、容易かつ短時間で試験できるようにする。 - 特許庁

A pulse pattern generator generating a test signal of specified pattern using a plurality of digital/analog converters and outputting the test signal to a test object is improved.例文帳に追加

本発明は、所定のパターンの試験用信号を、複数のデジタルアナログ変換器を用いて生成し、被試験対象に出力するパルスパターン発生装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

A test pattern generated with the test pattern generation circuit 1 is given to the related circuit of the selected bank and the test pattern given from a tester is given to the related circuit of the other banks.例文帳に追加

選択されたバンクの関連回路にテストパターン発生回路１で生成されたテストパターンを与えるとともに、他のバンクの関連回路にはテスタから与えられたテストパターンを与える。 - 特許庁

Test data obtained by combining the test data of respective items are prepared from these information and set up in a work table 13 and the output of a form is verified based on the set test data.例文帳に追加

そして、それらの情報から各項目のテストデータが組み合わされたテストデータがワークテーブル１３に設定され、設定されたテストデータに従って帳票の出力の検証が行われる。 - 特許庁

To provide a device and a program for supporting to rapidly and easily prepare the test case group of a test specification providing a low working load to a test case preparing person and capable of increasing a coverage.例文帳に追加

テストケース作成者に与える作業負荷が低く、網羅性の高い試験仕様書のテストケース群を迅速かつ容易に作成できるよう支援を行う装置及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a frame relay line test method by which a test of a frame relay line is conducted under a condition close to an actual operating state, even missing of a test packet can be detected and no error due to an intermingled packet from other line is caused.例文帳に追加

実際の使用状態に近い条件で試験が行え、試験用パケットの紛失も検知でき、他回線からのパケット混入によるエラーが発生しないようにする。 - 特許庁

To provide a test apparatus for a network apparatus capable of carrying out a performance/function evaluation test of the network apparatus having many communication ports by using a few test communication ports.例文帳に追加

少数の試験通信ポートを用いて多数の通信ポートを有するネットワーク装置の性能・機能評価試験を行うことができるネットワーク装置用試験装置を提供する。 - 特許庁

A plurality of test object chips CP on a test object wafer 10 and a plurality of chips SCP on a test wafer 210 are simultaneously electrically connected through water contactors 20, 220 respectively.例文帳に追加

ウェハコンタクタ２０，２２０を介して、試験対象ウェハ１０上の複数の試験対象チップＣＰと、テストウェハ２１０上の複数のチップＳＣＰとは、それぞれ同時に電気的に結合される。 - 特許庁

To provide a probe card which can test characteristics of a TEG by the test equipment for an electronic circuit of a semiconductor chip, and a test method using the same.例文帳に追加

半導体チップの電子回路の特性をテストする設備環境において、ＴＥＧの特性テストを行うことが可能なプローブカードおよびそれを用いた試験方法を提供する。 - 特許庁

To automatically, inexpensively and accurately grasp the number of test vehicles entering a test course by using the function of vehicle terminal equipment mounted on a test vehicle for various purposes.例文帳に追加

試験車両に種々の目的で搭載された車両端末機の機能を利用してテストコースに入場している試験車両の台数を無人で自動的に、安価で正確に把握する。 - 特許庁

To implement a test wave generating method capable of generating test waves for insertion at the time when a request for the insertion of test waves for insertion is inputted during steady operation.例文帳に追加

定常運転中において、挿入用試験波の挿入要求が入力されたときに、挿入用試験波を発生させることができる試験波の発生方法を提供する。 - 特許庁