「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(60ページ目) - Weblio英語例文検索

This device is provided with an amplifier inputting an output from the test object, turning a phase of noise in the test signal into an opposite phase, and using an output as an output of the test object.例文帳に追加

本装置は、被試験対象の出力を入力し、試験信号のノイズを逆位相にし、出力を被試験対象の出力とするアンプを設けたことを特徴とする装置である。 - 特許庁

A test result predictor 11 predicts the test result of a second semiconductor wafer, by inputting the electric characteristic data of a second finished wafer to the organized test result prediction model.例文帳に追加

テスト結果予測部１１は、構築されたテスト結果予測モデルに、第２の完成ウエハの電気的特性データを入力することによって、第２の半導体ウエハのテスト結果を予測する。 - 特許庁

With test pieces different in stress conditions from each other being supported/fixed on the plurality of support mechanisms, fatigue test is performed at the same time on the plurality of test pieces by giving vibration to the support body.例文帳に追加

そして、複数の支持機構に互いに応力条件が異なる試験片を支持固定して、支持体に振動を与えて、複数の試験片について同時に疲労試験を行う。 - 特許庁

Next, this test pattern data are reproduced with rotation speed being lower than speed at the time of test writing of this test pattern data (e.g. 1/2 times), after it is amplified by ta pre-amplifier 4, it is supplied to a quality evaluating means 22.例文帳に追加

次に、このテストパターンデータを試し書き時よりも低い（例えば、１／２倍の）回転速度で再生し、プリアンプ４で増幅した後、品質評価手段２２に供給する。 - 特許庁

A traffic test part 13 transmits a fixed amount of test data to a video receiver 20, and the transfer rate confirmation part 22 measures a transfer speed according to the reception time of the test data.例文帳に追加

トラフィック試験部１３は、一定量の試験データを動画受信装置２０へ送信し、転送レート確認部２２はその試験データの受信時間によって転送速度を測定する。 - 特許庁

To provide a test device improving working efficiency of a test without preparing all devices for a radio communication system in a communication test of a mobile station.例文帳に追加

移動局の通信試験を行う際に無線通信システムのすべての装置を用意する必要がなく、試験の作業効率を向上できるようにした試験装置を提供する。 - 特許庁

Data (test data) are recorded in a test disk 10 so that all of data regions are filled up with the data and border-out including information showing that addition of data is impossible is recorded following the test data.例文帳に追加

テストディスク１０には、データ領域の全てが埋まるようにデータ（テストデータ）が記録され、さらに、このテストデータに続いて、追記不可を示す情報を含むボーダ・アウトが記録されている。 - 特許庁

The test data of a bit map image and a plotting command are held in a storage section 12 of a scanner 100 and when carrying out test printing, these test data are transmitted to a printer 200 via an interface 15.例文帳に追加

スキャナ１００の記憶部１２にビットマップイメージと描画コマンドのテストデータを保持し、テストプリント実行時にこれらのテストデータをインターフェース１５を介してプリンタ２００に送信する。 - 特許庁

To inexpensively provide a test device and method capable of sharply reducing adjustment time for performing a test wherein a test load exceeding an allowable range of a piezoelectric vibrator is applied.例文帳に追加

圧電振動子の許容範囲を超える試験荷重が加わる試験を行うための調整時間を大幅に短縮することができる試験装置及び試験方法を安価に提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a semiconductor device, a test system therefor, capable of supplying each proper test voltage to each semiconductor device respectively, and to provide the semiconductor device.例文帳に追加

個々の半導体装置にそれぞれ適切な試験電圧を供給できるようにした半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験システム、半導体装置を提供する。 - 特許庁

The plurality of semiconductor memory apparatuses 1 are arranged on a plurality of test boards being divided, test boards TB_1-TB_n have corresponding test board synchronizing circuits TSC_1-TSC_n respectively.例文帳に追加

複数の半導体記憶装置１は、複数のテストボード上に分割して配置され、各テストボードＴＢ_1〜ＴＢ_nは、それぞれ対応するテストボード同期回路ＴＳＣ_1〜ＴＳＣ_nを有する。 - 特許庁

To contribute to improvement in an accuracy of test, a product yield and a reliability, by attaining the test in the worst case, which activates word lines of first and second ports by a same timing at the test.例文帳に追加

テスト時、第１、第２のポートのワード線を同一タイミングで活性化させる、ワーストケースでのテストを可能とし、テストの精度、製品の歩留まり、信頼性の向上に貢献する。 - 特許庁

To provide a test circuit for a LCD driver and controller capable of measuring resistance of built-in bias resistors and preventing test failure caused by an external factor during a function test.例文帳に追加

内蔵バイアス抵抗のそれぞれの抵抗値を測定できると共に、ファンクションテストの際に、外部要因によるテスト不良を防ぐことのできるＬＣＤドライバ／コントローラのテスト回路を提供する。 - 特許庁

(i) Of a mutagenicity test, a test from which information equivalent to or better than that obtainable from a mutagenicity test or the carcinogenicity tests, to carry out any one of these tests. 例文帳に追加

一　変異原性試験、化学物質のがん原性に関し変異原性試験と同等以上の知見を得ることができる試験又はがん原性試験のうちいずれかの試験を行うこと。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

A test generating section, based on the level of an educational course for which the learner registers and a by-level question setting information table, extracts questions out of the test data storage section 24 to generate a test.例文帳に追加

テスト作成部は、受講者が受講登録した教育講座のレベルと、レベル別出題情報テーブルとに基づいてテストデータ収納部２４から問題を抽出してテストを作成する。 - 特許庁

The first surface of a test specimen (106) is put on the second surface of the test specimen (106) to join with an adhesive agent and the first surface is clamp-fixed to a device (100) to prepare the test specimen (106).例文帳に追加

試験片（１０６）を、試験片（１０６）の第１面を試験片（１０６）の第２面に、接着剤を用いて重ね接合して、該第１面を装置（１００）にクランプ固定して準備する。 - 特許庁

The jig 10 for stress corrosion cracking test has both a ceiling 18 for supporting both ends of a test piece 20 from above and an intermediate point support part 12 for supporting a center part of the test piece from below.例文帳に追加

応力腐食割れ試験用ジグ１０は、試験片２０の両端を上側から支持する天壁１８と、試験片の中心部を下側から支持する中点支持部１２を有する。 - 特許庁

A rigid part 2 is bonded to a test piece 7 and, in this state, the rigid part 2 is pulled in the direction crossing the surface direction of the test piece 7 to investigate the peel strength of the test piece 7.例文帳に追加

本方法は、試験片７に剛体部２を接着した状態で、剛体部２を試験片７の面方向と交差する方向に引張り、試験片７の剥離強さを調べる。 - 特許庁

An annular support 2 concentric with a test piece 1 is disposed on one side of the test piece 1 with disk-like form, and a concentric annular force point 3 different from the support 2 is disposed on another side of the test piece 1.例文帳に追加

円板状試験片１の一面に、この試験片１と同心円状支点２を配置し、試験片１の他面に、支点２と異なった同心円状力点３を配置する。 - 特許庁

To provide a test program inspection method and device for checking the consistency of a test program itself with required specifications to improve the quality of the test program.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムの検査方法及び検査装置に関し、テストプログラム自体の要求仕様に対する整合性をチェックすることでテストプログラムの品質向上を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for semiconductor devices capable of function tests and d-c tests and enable an LSI tester with a few of pins to test.例文帳に追加

機能試験と直流試験を行うことができるとともに、少ないピン数のＬＳＩテスタで試験することができる半導体装置のテスト回路及びテスト方法の提供を目的とする。 - 特許庁

A first data analyzing part 103 generates a test data template 2 to describe a precondition, a postcondition and a test range of a software combination test on the basis of the keyword information.例文帳に追加

第１のデータ解析部１０３は、キーワード情報に基づいて、ソフトウェア組合せ試験の事前条件、事後条件、試験範囲を記載する為のテストデータテンプレート２を生成する。 - 特許庁

To provide a drop tester and a drop test method capable of easily dropping test objects under fixed conditions and having high reproducibility of test environments without spending much labor.例文帳に追加

一定の条件下で試験対象物を落下させるのが容易で、かつ労力を費やすことなく、試験環境の再現性が高い落下試験装置および落下試験方法を提供する。 - 特許庁

f) The national and local governments shall request that medical institutions provide appropriately detailed explanations of possible hepatitis test results to examinees before operation. The national government shall conduct surveys and research into explanations of hepatitis test results before operation by medical institutions in order to characterize test conditions.例文帳に追加

カ 国は、就労を維持しながら適切な肝炎医療を受けることができる環境の整備等について、各事業主団体に対し、協力を要請する。 - 厚生労働省

To provide test equipment of a SDH/SONET communication apparatus in which the test is facilitated by lessening the burden on a tester when a test of a container belonging to a group is carried out.例文帳に追加

グループに属するコンテナに関する試験を行う際に、試験者の負担を軽減して試験を簡易にすることができるＳＤＨ／ＳＯＮＥＴ通信機器試験装置を提供すること。 - 特許庁

The obtained magnetic data are analyzed in comparison with the result of the material test, thus the detailed internal changes of the test piece TP when the external force for the material test is applied can be grasped.例文帳に追加

得られた磁気データを材料試験の結果とも対比して分析することにより、材料試験のための外力印加に伴う試験片ＴＰの細部の内的変化が把握できる。 - 特許庁

Further, the first and second hydraulic motors 4 and 5 are connected to a hydraulic control part B, thus executing at least one of the damping force test, speed test, and load driving test of the vehicle.例文帳に追加

さらに、第１及び第２の油圧モータ４、５を油圧制御部Ｂに接続して、車両の制動力試験、速度試験、負荷走行試験の少なくとも一を実施可能とする。 - 特許庁

To provide an air leakage test method and an air leakage test device capable of executing under the atmospheric pressure without putting the whole test object product into a vacuum container, and realizing the quantification and high accuracy of the leakage amount.例文帳に追加

検査対象物全体を真空容器に入れることなく大気圧下で行え、かつ漏れ量の定量化、高精度化が実現できる気密漏れ検査方法と装置を提供する。 - 特許庁

The difference between a reproduced signal from a magnetic domain 80 sandwiched by the test patterns 98 and 99 of the test pattern 96 and a reproduced signal from an unsandwiched magnetic domain 82 is calculated for each recording light quantity of the test patterns 98 and 99.例文帳に追加

テストパターン96のテストパターン98,99に挟まれた磁区80からの再生信号と、挟まれていない磁区82からの再生信号との差を、テストパターン98,99の記録光量毎に求める。 - 特許庁

In an implementing stage, a test image of the target is recorded while a comparison of the test image is performed with all of the reference images to seek the position of the test image whereat the optimum matching exists between the test image and any one of the several reference images.例文帳に追加

実施段階においては、前記目標物のテスト画像が記録され、かつ、前記テスト画像と前記幾つかの基準画像のうちの任意の１つとの最適な整合が存在する前記テスト画像の位置を見つめるために、前記テスト画像と全ての基準画像との比較がなされる。 - 特許庁

An initial probability setting file 13 shows the rate of each parameter value for each parameter item, and a test parameter generator 2 generates a plurality of types of test patterns according to a rate of each parameter value of the initial probability setting file 13, and makes a test bench 4 execute simulation by using a test pattern 3.例文帳に追加

初期確率設定ファイル１３は、パラメタ項目ごとに各パラメタ値の比率を示しており、テストパターンジェネレータ２は、初期確率設定ファイル１３のパラメタ値ごとの比率に従って複数種のテストパターンを生成し、テストベンチ４にテストパターン３を用いたシミュレーションを実行させる。 - 特許庁

The test device 1 has a feedback loop where a signal of a node N13 on the output side of the multiplexer MUX1 is inputted into a test signal generating section 6 of the test circuit 5, and is inputted to one of the input sides of the multiplexer MUX1 via a test signal generating section 6.例文帳に追加

マルチプレクサＭＵＸ１の出力側のノードＮ１３の信号が試験回路５のテスト信号発生部６に入力され、その信号がテスト信号発生部６を介してマルチプレクサＭＵＸ１の入力側の一方に入力される帰還ループが形成されている。 - 特許庁

A learning test region about one parameter of a disk is made length integral multiple of wobble beat period width caused in a reproduced wobble signal of wobble, test recording about one parameter value is performed for the learning test region, reproduction of test recording, reproduction evaluation, and preservation of a reproduction evaluation result are performed.例文帳に追加

ディスクの１つのパラメータに関する学習テスト領域をウォブルの再生ウォブル信号に生じるウォブルビート周期幅の整数倍の長さとし、学習テスト領域に対し１つのパラメータ値に関するテスト記録を行い、テスト記録の再生、再生評価、及び再生評価結果の保存を行う。 - 特許庁

The test circuit K is configured of two test blocks KB (KB1 and KB2), and these test blocks KB1 and KB2 comprise a pseudo-circuits each having a function equal to that of an existing circuit part 11 of the target apparatus M.例文帳に追加

検査回路Ｋは、二つの検査ブロックＫＢ（ＫＢ１，ＫＢ２）からなり、これら検査ブロックＫＢ１，ＫＢ２は、いずれも対象装置Ｍの既存回路部１１と同等の機能を有する疑似回路からなる。 - 特許庁

The test object mounting surface may be smaller than the terminal contact side of a test object to be mounted, and test object suction holes may be provided in between the top surfaces of the plurality of terminals.例文帳に追加

検査対象載置面は、載置すべき検査対象の端子接触側面よりも小さい面積であっても良く、複数の端子の頂面間に検査対象吸引穴が設けられていても良い。 - 特許庁

To provide a memory test method by which the number of processes required for a test of a ROM and a RAM can be reduced, test time can be shortened, the required number of elements can be reduced and costs can be saved.例文帳に追加

ＲＯＭ及びＲＡＭの試験に必要な工程数を減らし、試験時間を短縮することができ、必要な要素数を減らし、費用を低減することができるメモリ試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a processor, a memory test method, and a memory test system capable of an operation test of a built-in data memory by a passage similar to a case of making access to the built-in data memory at ordinary operation time (command executing time).例文帳に追加

通常の動作時（命令実行時）に内蔵データメモリにアクセスする場合と同様の経路により内蔵データメモリの動作テストが可能なプロセッサ、メモリテスト方法、メモリテストシステムを提供する。 - 特許庁

An operator sets the thinning rate of the test case by a test case extraction dialogue 400, and sets the priority order of logics to be applied to the extraction of the test case by a thinning parameter setting dialogue 500.例文帳に追加

オペレータは、テストケース抽出ダイアログ４００でテストケースの間引き率を設定し、間引きパラメータ設定ダイアログ５００でテストケースの抽出に適用されるロジックの優先順位を設定する。 - 特許庁

To reduce the number of terminals for a burn-in test signal by dispensing with input of the burn-in test signal from each external terminal in each scan chain in a burn-in test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のバーンイン試験において、スキャンチェーン毎にそれぞれの外部端子からバーンイン試験用信号を入力することを不要にしてバーンイン試験用信号のための端子数を減らす。 - 特許庁

An imaging means (printer 300) outputs a plurality of test patterns including an identical test pattern and the gradation characteristics of the imaging means are corrected based on the read out results of these test patterns.例文帳に追加

画像形成手段（プリンタ３００）が、同一のテストパターンを含む複数枚のテストパターンを出力し、それらのテストパターンを読み取った結果から画像形成手段の階調特性の補正を行う。 - 特許庁

To provide a test device and a test method for semiconductor memory, in which capacity of fail memories required for relieving analysis of a semiconductor memory is reduced and of which the test cost is reduced.例文帳に追加

半導体メモリの救済解析に必要とされるフェイルメモリの容量を削減し、半導体メモリの試験コストを低減することができる半導体メモリの試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

Thus, the memory test by means of the memory test circuit 14 and the logic tests of the user logic circuits 13a and 13b by means of the CPU 11 can be parallel executed so that test time can be shortened.例文帳に追加

これにより、メモリテスト回路１４によるメモリテストと、ＣＰＵ１１によるユーザロジック回路１３ａおよび１３ｂのロジックテストを並列で実行することができるので、テスト時間を短縮できる。 - 特許庁

To provide a material strength testing device and a material strength test method capable of testing a plurality of test pieces simultaneously, and acquiring accurate data of each test piece.例文帳に追加

複数の試験片を同時に試験することができるとともに、試験片ごとの正確なデータを取得することができる材料強度試験装置および材料強度試験方法を提供する。 - 特許庁

A transmitter 3 inserts a prescribed test pattern into an undefined area of a transmission frame, compensates difference of parity by insertion of the test pattern and transmits the test pattern to the respective transmission lines with the redundancy configuration.例文帳に追加

送信装置３は、送信フレームの未定義領域に所定のテストパターンを挿入すると共に、テストパターンの挿入によるパリティの差分を補償し、冗長構成の各伝送路に送信する。 - 特許庁

From the outside of the sensor, a test voltage signal level and a test mode are controlled and from an output signal of the sensor during the test mode, characteristic variation information of the component such as the column amplifier or the output buffer amplifier is detected.例文帳に追加

センサ外からテスト用の電圧信号レベルとテストモードを制御し、テストモード時のセンサの出力信号から、列アンプ、出力バッファアンプなどの構成要素の特性ばらつき情報を検出する。 - 特許庁