| 意味 | 例文 |
OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
METHOD OF CONDUCTING CRASH TEST USING CARRIAGE AND CORRESPONDING DEVICE例文帳に追加
キャリッジを用いてクラッシュテストを行う方法および対応する機器 - 特許庁
METHOD FOR PROBE TEST, PROBE DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
プローブ試験方法、プローブ装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
To shorten the test time (failure analysis time) of a semiconductor memory.例文帳に追加
半導体メモリの試験時間(不良解析時間)を短縮すること。 - 特許庁
To provide a method of evaluating a blurring caused by video processing in a test video sequence.例文帳に追加
テスト・ビデオ・シーケンスにおけるビデオ処理によるブレを評価する。 - 特許庁
To perform bonding strength test of a bonding wire easily and surely.例文帳に追加
ボンディングワイヤについて簡単確実に接着強度試験を行う。 - 特許庁
WITHSTAND VOLTAGE TEST METHOD FOR PLANT JOINT PART OF LONG POWER CABLE例文帳に追加
長尺電力ケーブルの工場ジョイント部の耐電圧試験方法 - 特許庁
To provide a water sampling device capable of performing a water permeable test and water sampling.例文帳に追加
透水試験及び採水が可能な採水装置を提供する。 - 特許庁
A plurality of network cards 120 are provided to a network test system 110.例文帳に追加
ネットワークテストシステム110に複数のネットワークカード120を設ける。 - 特許庁
BELT MEANDERING PREVENTING DEVICE AND MEANDERING PREVENTING METHOD OF RUNNING TEST DEVICE例文帳に追加
走行試験装置のベルト蛇行防止装置及び蛇行防止方法 - 特許庁
SCAN TEST CIRCUIT, LOGICAL CONNECTION INFORMATION GENERATING METHOD OF THE SAME, AND PROGRAM例文帳に追加
スキャンテスト回路、その論理接続情報生成方法及びプログラム - 特許庁
VISUALLY EXPRESSED GRAPH OF CLINICAL TEST DATA AND SYSTEM FOR GENERATING THE SAME例文帳に追加
臨床検査データの可視化表現グラフ及びその作成システム - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND OPERATIONAL AMPLIFIER AND TEST METHOD OF THE SAME例文帳に追加
半導体集積回路およびオペアンプならびにそれらのテスト方法 - 特許庁
TEST METHOD, ITS DEVICE, AND MULTIPOINT MEASURING DEVICE OF MULTIPLEXER SWITCH例文帳に追加
マルチプレクサスイッチの試験方法とその装置および多点測定装置 - 特許庁
UNIFORMITY OF WHEELED TYRE AND/OR DYNAMIC BALANCING TEST DEVICE例文帳に追加
ホイール付きタイヤのユニフォーミティおよび/または動釣合釣合試験装置 - 特許庁
To provide a memory test circuit evaluating an address access time of the memory.例文帳に追加
メモリのアドレスアクセスタイムを評価するメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁
ALUMINUM ALLOY PLATE FOR BOTTOM END OF BOTTLE TYPE CAN SUPERIOR IN SOUND TEST FITNESS例文帳に追加
打検適性に優れたボトル型缶底蓋用アルミニウム合金板 - 特許庁
To make uniform abrasion of a spacing shaft during an aging test.例文帳に追加
エージング試験に際し、スペーシングシャフトの摩耗が均一なるようにする。 - 特許庁
To reduce the load of a test executed by connecting software modules.例文帳に追加
ソフトウエアモジュールを結合して実施するテストの負担を軽減する。 - 特許庁
To improve detection accuracy of a test pattern projected on a screen.例文帳に追加
スクリーンに投影されたテストパターンの検出精度を向上させる。 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR POSITIONING INTERFACE UNIT OF AUTOMATIC TEST SYSTEM例文帳に追加
自動試験システムのインタフェースユニットを位置付ける装置及び方法 - 特許庁
LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND ITS METHOD FOR EXCHANGE OF TEST PIECE例文帳に追加
低真空走査電子顕微鏡及びその試料交換方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR GENERATING TEST PATTERN OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテストパタン生成方法およびテストパタン生成装置 - 特許庁
To predict the accuracy of speech recognition without any test utterance.例文帳に追加
テスト発話なしで音声認識の精度を予測できるようにする。 - 特許庁
The activation energy at the finish time of the secondary accelerated test is obtained.例文帳に追加
二次加速試験終了時点での活性化エネルギーを求める。 - 特許庁
To improve the accuracy of a system test in a train operation control system.例文帳に追加
列車運行管理システムのシステム試験の精度を向上させる。 - 特許庁
To make suitably performable a durability test of electronic controller.例文帳に追加
電子制御装置の耐久試験を好適に行えるようにする。 - 特許庁
APPARATUS FOR PUSHING AND HITTING TESTING OF DEVICE- MOUNTED SUBSTRATE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加
デバイス実装済み基板の押打試験装置及びその試験方法 - 特許庁
To provide an inexpensive test circuit of high performance by simple constitution.例文帳に追加
簡易な構成で高性能かつ安価なテスト回路を提供する。 - 特許庁
PHOTOIRRADIATION APPARATUS, TEST APPARATUS OF SOLID STATE IMAGING DEVICE, AND RELAY DEVICE例文帳に追加
光照射装置、固体撮像装置の試験装置、中継装置 - 特許庁
SAMPLE STORAGE CONTAINER FOR HISTOLOGICAL TEST, AND LID MEMBER OF THE SAME例文帳に追加
組織学的試験のための試料収納容器及びその蓋体 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR ESTIMATING NECESSARY NUMBER OF TESTS IN ACCELERATED TEST例文帳に追加
加速試験における必要試験個数見積もり方法および装置 - 特許庁
METHOD FOR INSPECTING INSECTICIDE RESISTANCE OF MEDIATOR INSECT AND TEST KIT例文帳に追加
媒介昆虫の殺虫剤耐性の検査方法および試験キット - 特許庁
METHOD AND APPARATUS OF PROGRAMMABLE MEMORY BUILT-IN SELF TEST (MBIST)例文帳に追加
プログラマブル・メモリ・ビルト・イン・セルフ・テスト(MBIST)の方法及び装置 - 特許庁
To reduce the test cost of an electronic device for outputting analog signals.例文帳に追加
アナログ信号を出力する電子デバイスのテストコストを低減する。 - 特許庁
POSITIONING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND CARRYING DEVICE FOR TEST APPARATUS例文帳に追加
半導体装置の位置決め装置及び試験装置用搬送装置 - 特許庁
TESTING DEVICE, TESTING METHOD OF FATIGUE TEST, AND CRACK EVOLUTION TESTING METHOD例文帳に追加
試験装置、疲労試験の試験方法、およびき裂進展試験方法 - 特許庁
TEST EQUIPMENT OF ELECTROMAGNETIC FORCE SUPPORTING DEVICE EMPLOYING SUPERCONDUCTING MAGNET DEVICE例文帳に追加
超電導磁石装置を用いた電磁力支持装置の試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND TEST METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体装置、半導体装置の製造方法及び試験方法 - 特許庁
TESTING FIXTURE SUBSTRATE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF SENSOR例文帳に追加
センサの試験用治具基板及び試験装置並びに試験方法 - 特許庁
progress: Marks test completion as success, regardless of actual outcome. 例文帳に追加
progress: 実際の結果に関わらず、完了したテストを「success」として記録します。 - NetBeans
The value of the destination property is set at the time the test case is created.例文帳に追加
「宛先」プロパティーの値は、テストケースの作成時に設定されます。 - NetBeans
Newly generated test cases, of course, will be OK. 例文帳に追加
もちろん、新しく生成したテストケースについては問題ありません。 - NetBeans
To achieve the huge test of firmware with a few man-hours and time.例文帳に追加
ファームウェアの膨大なテストを少ない工数と時間で可能にする。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路、および、半導体集積回路のテストシステム - 特許庁
THROTTLE CONTROL DEVICE FOR TEST BENCH OF AIRCRAFT TURBINE ENGINE IN PARTICULAR例文帳に追加
特に航空機タービンエンジンのテストベンチのためのスロットル制御装置 - 特許庁
INCLUSIVE TEST FOR EVALUATING FUNCTIONALITY OF THROMBIN/ ANTITHROMBIN SYSTEM例文帳に追加
トロンビン/アンチトロンビン系の機能性を評価するための包括的試験 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路、および、半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁
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