「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(68ページ目) - Weblio英語例文検索

To illustrate the advantage of using the Test File option, suppose you are working on a unit test for a Rails controller. 例文帳に追加

「ファイルをテスト」オプションを使用する利点を説明するために、Rails のコントローラ用の単体テストを行なっていると仮定します。 - NetBeans

To provide an IP test system without the need for applying alteration to all of test execution apparatuses.例文帳に追加

本発明では試験実施装置全てに変更を加える必要のないＩＰ試験システムを提供することを目的とする。 - 特許庁

To prevent erroneous operation caused by that the prescribed test mode is not set due to defect of a line in a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験におけるライン不良により所定のテストモードに入れていないことによる誤動作を防止すること。 - 特許庁

To reduce the development period of a test pattern and the LSI test time, and to eliminate the necessity for an expensive analogue/digital mixed tester.例文帳に追加

テストパターンの開発期間およびＬＳＩのテスト時間を短縮し、高価なアナログデジタル混在用テスタを不要にする。 - 特許庁

To provide an automatic test program generator capable of shortening a working time for regenerating a test program.例文帳に追加

テストプログラムを再生成するための作業時間を短縮することができるテストプログラム自動生成装置を提供する。 - 特許庁

A test problem generating section generates the cloze test problem by setting a blank area to the cloze word of the slide information.例文帳に追加

テスト問題作成部は、スライド情報の穴埋め単語に空白領域を設定して穴埋めテスト問題を作成する。 - 特許庁

To analyze network characteristic of specified parts in a test object, based on the modulated signal output from the test object.例文帳に追加

被測定物から出力される変調信号に基づいて、被測定物内の特定箇所の網特性を解析する。 - 特許庁

To simplify the structure of a test circuit in an earth leakage breaker to miniaturize it, and to enable a correct earth leakage test.例文帳に追加

漏電遮断器におけるテスト回路の構成を簡単にし、小形にするとともに正確な漏電テストを可能にする。 - 特許庁

To generate diverse test data including an abnormal input not permitted to improve reliability of a test result.例文帳に追加

許容されないような異常入力を含めて多様なテストデータを生成し、テスト結果の信頼性を向上させる。 - 特許庁

As for a Charpy impact test, a CPU 24 determines omissible test conditions based on test conditions regulated by the standard, test conditions required by a customer and contents of an agreement on test conditions concluded between delivery parties, determines test conditions when performing the Charpy impact test based on the determination result and controls an output device 4 to output the determined test conditions.例文帳に追加

シャルピー衝撃試験について、ＣＰＵ２４が、規格で規定されている試験条件、顧客が要求する試験条件、及び受渡当事者間で結ばれている試験条件に関する協定の内容に基づいて省略可能な試験条件を判別し、判別結果に基づいてシャルピー衝撃試験を行う際の試験条件を決定し、出力装置４を制御することによって決定した試験条件を出力する。 - 特許庁

A CPU 21 of the CPU board 2, on the basis of a test list showing a list of two or more pieces of test data to be input from a controller 3, reads the pieces of test data respectively from a storage device 4, and transfers them to the target board 1.例文帳に追加

ＣＰＵボード２のＣＰＵ２１は、制御装置３から入力される複数の試験データの一覧を表す試験リストに基づいて、試験データをそれぞれ記憶装置４から読み出してターゲットボード１に転送する。 - 特許庁

To provide a test mode setting circuit of MCU, which does not separately have a test pin, in which a test mode is set through the use of only the reset pin or the clock pin of the basic constitution element of MCU to be applied to MCU with the small number of pins.例文帳に追加

テストピンを別途に備えず、ＭＣＵの基本構成要素のリセットピン又はクロックピンのみを用いてテストモードを設定して、ピン数の少ないＭＣＵにも適用し得るＭＣＵのテストモード設定回路を提供すること。 - 特許庁

In the colorimetric method of a test print TP, concentration of the test print TP is measured (S2) and with colorimetric values, obtained as the result of measurement, in both terminal portions of the test print TP as a reference, colorimetric positions of the respective colorimetric values are corrected, respectively (S5).例文帳に追加

テストプリントＴＰの測色方法では、テストプリントＴＰの濃度測定を行なって、その結果得られたテストプリントＴＰの両端部における測色値を基準にして各測色値の測色位置をそれぞれ補正する。 - 特許庁

Multiple pieces of information on test conditions described in a test program PR are stored in a hardware register 3, then one piece is selected by a register controller 9 from among the multiple pieces of information on test conditions stored in the hardware register 3, and the first test of a device 30 to be measured is conducted, based on the information on test conditions selected.例文帳に追加

試験プログラムＰＲに記述された複数の試験条件情報をハードウェア・レジスタ３に格納した後、ハードウェア・レジスタ３に格納された複数の試験条件情報のうちの一つをレジスタ・コントローラ９で選択し、その選択された試験条件情報に基づいて被試験デバイス３０の一回目の試験を行う。 - 特許庁

A CPU 61 of a sound field support device 40 outputs test sound into a sound field 1, obtains a test signal which is a signal of the test sound itself and a response signal which is a collection signal of response sound of the test sound in the sound field 1, and calculates a simplified amplitude characteristic R'(ω) based on difference of power spectrums between the test signal and the response signal.例文帳に追加

音場支援装置４０のＣＰＵ６１は、音響空間１へテスト音を放射させ、そのテスト音そのものの信号であるテスト信号と、音響空間１におけるそのテスト音の応答音の収音信号である応答信号とを取得し、テスト信号と応答信号のパワースペクトルの差を基に簡略振幅特性Ｒ’（ω）を算出する。 - 特許庁

Since rotating shaft 34 of the first test probe 18A is inserted into an insertion hole of the second test probe 18B, the first test probe 18A and the second test probe 18B are connected to each other in a relatively rotatable manner to allow the first test probe 18A and the second test probe 18B to be integrated thereby providing a scissors-like structure.例文帳に追加

第２のテストプローブ１８Ｂの挿通孔に第１のテストプローブ１８Ａの回動軸３４を挿入することで、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとが相対的に回動自在に連結され、第１のテストプローブ１８Ａと第２のテストプローブ１８Ｂとが一体に構成された、いわゆるはさみ構造をなしている。 - 特許庁

A heat storage test apparatus 1 for evaluating the heat-resistance property of a test body T is provided with a heat source 13 that is disposed at a position separated from the test body T, radiates light to the test body T, and also radiates heat to the test body T; and a temperature sensor 15 that measures the temperature of the test body.例文帳に追加

試験体Ｔの耐熱性を評価するための蓄熱試験装置１であって、前記試験体Ｔから離間した位置に配置され前記試験体Ｔに対して光を照射すると共に前記試験体Ｔに対して放熱する熱源１３と、前記試験体の温度を測定する温度センサ１５とを備えたことを特徴とする。 - 特許庁

A weathering state of a bedrock and an activity of landslide or the like are predicted on the basis of an elution test of a bedrock sample or an analytical result of a quality test of ground water from composition to be eluted and its variations.例文帳に追加

地山試料の溶出試験または地下水の水質試験分析結果から、溶出される成分とその変化から、地山の風化状態と地すべり等の活動を予測する。 - 特許庁

The above data and monitor display contents include present date and hour, the date and hour of validity of a monitored biosensor test piece, the number of test pieces, the date and hour of unsealing, or the display of a combination of the above.例文帳に追加

上記のデータ及びモニタ表示内容として、現在の日時、モニタしたバイオセンサ試験片の有効日時、試験片数量、開封日時或いは前記の組合せの表示を含む。 - 特許庁

A display part 11 of the disaster prevention receiver 1 displays the test result of the second auxiliary power supply Bt2 as well as the test result of the first auxiliary power supply Bt1.例文帳に追加

防災受信機１における表示部１１は、第２の予備電源Ｂｔ２の試験結果を第１の予備電源Ｂｔ１の試験結果と共に表示する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus of a semiconductor device free from troubles such as a leak defect or a failure of a test board caused by generation of frost in the test board.例文帳に追加

テストボードに霜が生じることで発生していたＬｅａｋ不良やテストボードの故障といった不都合のない半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

The test lens L is arranged on a nose piece 9 being a measuring base point of a lens meter, and first of all a first power of the test lens L in the air is measured.例文帳に追加

被検レンズＬをレンズメータの測定基点となるノーズピース９上に配置し、まず空気中における被検レンズＬの第１のレンズ度数を測定する。 - 特許庁

To provide a CMIP protocol test automating device, capable of saving power for confirming the result of testing and for preparing the test environment of a CMIP protocol level.例文帳に追加

テスト結果確認及びＣＭＩＰプロトコルレベルのテスト環境の作成を省力化可能なＣＭＩＰプロトコル試験自動化装置を提供する。 - 特許庁

A high-temperature corrosion testing device 1 includes a test-piece temperature adjusting means 5 of adjusting the temperature of a test piece S to lower than the temperature of an adjusting gas G.例文帳に追加

高温腐食試験装置1は、試験片Sの温度を調整ガスGの温度よりも低いものとする試験片温度調節手段5を備えている。 - 特許庁

To avoid the generation of a timing violation, and to dispense with setting of an expectation in a burn-in test determination device of a semiconductor integrated circuit having a scan test function.例文帳に追加

スキャンテスト機能を有する半導体集積回路のバーンインテスト判定装置において、タイミング違反の発生を回避し、期待値の設定を不要にする。 - 特許庁

To improve the reliability of electrical test in a semiconductor integrated circuit, a manufacturing method of a semiconductor device, and a test method of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体集積回路、半導体装置の製造方法、及び半導体装置の試験方法において、電気的な試験の信頼性を高めること。 - 特許庁

The surface of the test wafer 30 is then imaged by an imaging means 50, the cut of the test wafer 30 is recognized, and information data of the cut are obtained.例文帳に追加

次いで，撮像手段５０によりテストウェハ３０の表面を撮像して，テストウェハ３０の切削部を認識して切削部の情報データを得る。 - 特許庁

To measure highly accurately face spacing of every test lens, for example, in the case of including a filter not transmitting a wave range of a light source on one side in the test lens.例文帳に追加

被検レンズ内に一方の光源の波長域を透過しないフィルタが含まれている場合など、あらゆる被検レンズの面間隔を高精度で測定する。 - 特許庁

To provide the test adjustment supporting device of a monitor control system capable of extremely efficiently performing the test adjusting task of a monitor control system.例文帳に追加

監視制御システムの試験調整業務を極めて効率的に行うことのできる監視制御システムの試験調整支援装置を提供することである。 - 特許庁

At the time of scanning test, an internal clock generating circuit 3 outputs a clock signal for test of high level width smaller than a clock signal CLK at the time of normal operation.例文帳に追加

スキャンテスト時に内部クロック生成回路３では通常動作時のクロック信号ＣＬＫよりも小さいハイレベル幅のテスト用クロック信号を出力する。 - 特許庁

To provide a test method of a semiconductor memory device by which real ability of tRCD can be evaluated accurately even in the case of a test in which an address is shrunk.例文帳に追加

アドレスを縮退した試験の際にも、ｔＲＣＤの実力を正確に評価することが可能な、半導体記憶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁

To restore a database of an actual system corresponding to reception data, into a database of a test system when testing the test system using reception data of the actual system.例文帳に追加

実システムの受信データを用いて試験システムを試験する場合に、受信データに対応する実システムのデータベースを試験システムのデータベースに復元する。 - 特許庁

To provide a testing system of a short message which can perform an overall verification test of short message service, and a test method of the short message.例文帳に追加

本発明は、ショートメッセージサービスの総合的な確認試験が行えるショートメッセージ試験システム及びショートメッセージの試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a fuel cell heat simulator capable of reducing test cost by executing an initial system integration test of a required element instead of a solid-state oxide fuel cell.例文帳に追加

固態酸化物燃料電池の代わりに、必要とする素子の初期システム統合テストを行い、テストコストを低下する燃料電池熱シミュレータを提供する。 - 特許庁

To shorten time of development and time of execution of a test in a static electric source current measuring test in a system LSI with a built-in processor.例文帳に追加

プロセッサーを内蔵するシステムＬＳＩにおいて、静止電源電流測定試験時の試験の開発時間と実施時間を短縮することを目的とする。 - 特許庁

To make the time required to read a test pattern as short as possible in the case of reading the test pattern several times in the case of calibration of an image forming device.例文帳に追加

画像形成装置のキャリブレーションに際してテストパターンを複数回にわたって読取る場合にできるだけそれに要する時間を抑制する。 - 特許庁

In this case, the hardness of the plating layer 3 similar to that of the metal test piece 2 is selected for preventing the end parts of the metal test piece 2 from coming off.例文帳に追加

この場合、金属試験片２の端部の弛れを防止するために、メッキ層３の硬度は金属試験片３の硬度と近しいものを選択する。 - 特許庁

The start time of the alignment test signal is adjusted until the frequency content of the return alignment test signal corresponds to the alternating pattern of frequencies.例文帳に追加

位置調整検査信号の開始時間は、戻り位置調整検査信号の周波数コンテンツが周波数の交互パターンに対応するまで調整される。 - 特許庁

In this case, the hardness of the plating layer 3 similar to that of the metal test piece 2 is selected for preventing the end parts of the metal test piece 2 from coming off.例文帳に追加

この場合、金属試験片２の端部の弛れを防止するためにメッキ層３の硬度は金属試験片３の硬度と近しいものを選択する。 - 特許庁

To provide a applied force testing machine constituted so as to apply a stable test load to a test target using a support means composed of a plurality of sets of pantograph mechanisms.例文帳に追加

複数組のパンタグラフ機構から成る支持手段を用いて試験体へ安定した試験荷重を加える構成とした加力試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test system capable of improving the efficiency of operation to connect a plurality of cables connecting a test device and a tested device to each other.例文帳に追加

試験装置と被試験器とを接続する複数のケーブルを接続する際の作業効率を向上させることができる試験システムを提供する。 - 特許庁

The action to the hair of the test object is judged by using a cell cycle of a hair related cell with or without existence of the test object as an index.例文帳に追加

被験物の存在下及び非存在下に於ける、毛髪関連細胞の細胞周期を指標とし、被験物の毛髪への作用を鑑別する。 - 特許庁

To provide a memory test circuit capable of testing a memory having a data width larger than that of a CPU data bus without increasing the number of test cycles.例文帳に追加

ＣＰＵのデータバスの幅よりも大きなデータ幅を有するメモリに対し、テストサイクル数を増大させずに試験をすることができるメモリテスト回路を提供する。 - 特許庁

To reduce the cost of a semiconductor integrated circuit by reducing the circuit area of a RAM test data generating circuit incorporated as one of test functions.例文帳に追加

テスト機能の１つとして内蔵されるＲＡＭテストデータ生成回路の回路面積を縮小し、半導体集積回路のコスト削減を行う。 - 特許庁

To provide the pitch adjusting method of a buffer tray for increasing the conveyance speed of a semiconductor device by a test handler for the test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のテストのためのテストハンドターで半導体装置の移送速度を増加させることができるバッファトレイのピッチ調節方法を提供する。 - 特許庁