「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(70ページ目) - Weblio英語例文検索

This test mode entry circuit is provided with test mode entry controllers 191-193 generating an enable-control signal bMSETENB enabling continuous input of a second command only at the time of test mode entry when the signal bMSET is received with a continuous cycle synchronizing with a clock in this test mode entry circuit.例文帳に追加

このテストモードエントリ回路において信号bMSET をクロックに同期した連続したサイクルで受ける際、第２のコマンドの連続した入力をテストモードエントリ時のみ可能にするイネーブル制御信号bMSETENBを生成するテストモードエントリコントローラ191 〜193 を設けた。 - 特許庁

To obtain a program debugging apparatus which obtains a test result similar to that in a case where a program for semiconductor test is operated with respect to an actual semiconductor device to be inspected and by which the content of the program for semiconductor test can be verified accurately on the basis of the test result.例文帳に追加

実際の被検査用半導体デバイスに対して半導体試験用プログラムを動作させた場合と同様の試験結果を得て、この試験結果に基づいて半導体試験用プログラムの内容を的確に検証できるようにする。 - 特許庁

A test signal is transmitted from the AV amplifier to the display device, the test signal is reproduced from the speaker of the display device, and the test signal is received by a microphone arranged at the position of a listener, and thereby, a test signal arrival time is measured.例文帳に追加

ＡＶアンプからディスプレイ装置にテスト信号を送信し、ディスプレイ装置のスピーカーからテスト信号を再生させ、聴取者の位置に配置されるマイクによってテスト信号を受信することにより、テスト信号到達時間を測定する。 - 特許庁

Makiwara is a sheaf of straw bunched around a bamboo pole, to test the sharpness of an Uchigatana (sword) on Iai-jutsu (technique of drawing real swords) (batto-jutsu [an art of drawing a sword]), and Iaido (art of drawing the Japanese sword). 例文帳に追加

居合術（抜刀術）、居合道で打刀で試し斬りする竹を芯に藁を巻いたもの。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To reduce waste when testing operations of a plurality of releases of software using two or more pieces of test data.例文帳に追加

複数のテストデータを用いてソフトウェアの複数のリリースの動作をテストする際の無駄を削減する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR IMPLEMENTING AT LEAST ONE OF TEST OF, DIAGNOSIS, AND OBSERVATION OF OPERATION OF ELECTRONIC CIRCUIT例文帳に追加

電子回路の動作の試験、診断および観測の少なくとも１つを行う方法および装置 - 特許庁

The coverage matrix table 22 consists of a plurality of array elements corresponding to the combination of the plurality of test inputs.例文帳に追加

カバレージマトリクステーブル２２は、複数のテスト入力の組合せに対応する複数の配列要素からなる。 - 特許庁

To realize reduction of chip area, shortening of a test time, and reduction of a cost by a method for an embeded self-test of a memory by which a defective bit can be detected, analyzed, and restored.例文帳に追加

欠陥ビットの検知、分析、修復可能な埋込型メモリーセルフテスト方法により、チップ面積の縮小化、テスト時間の短縮化、コスト削減を実現する。 - 特許庁

The image standstill or turbulence of an image of the speckle pattern of the CCD camera appearing immediately before the test piece is cut may be sensed to stop the tensile load of the test piece.例文帳に追加

試験片の切断直前に現われるＣＣＤカメラのスペックル模様の画像静止又は画像の乱れを感知して試験片の引張荷重を停止してもよい。 - 特許庁

This method also includes a step of performing a test among the domains and implementing a second subset of the domain of the plurality of circuits provided with the dynamic defect detection test pattern.例文帳に追加

本方法はまた、ドメイン間テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第２サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁

The tangle error of the test lens 1 is determined by transmission wavefront measurement of a projection part 3, and the comatic aberration of the test lens 1 is determined by transmission wavefront measurement of a lens part 2.例文帳に追加

また、張出部３の透過波面測定により被検レンズ１の面倒れを求め、レンズ部２の透過波面測定により被検レンズ１のコマ収差を求める。 - 特許庁

The pad P1U of the first string of pads CL1 which is used for the first test is so arranged as to face the pad P2N of the second string of pads CL2 which is not used for the second test.例文帳に追加

第２パッド列ＣＬ２の第２テスト時未使用パッドＰ２Ｎに対向するように第１パッド列ＣＬ１の第１テスト時使用パッドＰ１Ｕが配置されている。 - 特許庁

A processing part 8 compares the shape data of the annular region with inputted shape data of the test surface 1b, and acquires the position of the surface top 1tb of the test surface 1b.例文帳に追加

処理部８は環状領域の形状データと入力された被検面１ｂの形状データを対比して被検面１ｂの面頂１ｔｂの位置を取得する。 - 特許庁

To shorten largely a test time by improving an activation rate of a word line only at the time of a test of a row system without changing constitution of DRAM cores, in a DRAM-mixed logic LSI.例文帳に追加

ＤＲＡＭ混載ロジックＬＳＩにおいて、ＤＲＡＭコアの構成を変えることなく、ロウ系のテスト時のみワード線の活性化率を上げてテスト時間を大幅に短縮化する。 - 特許庁

To make establishabel a test of a small number of pins which can effectively input the instructions by means of an external test LSI and an internal data receiving circuit of a one-chip microcomputer.例文帳に追加

１チップマイクロコンピュータ外部のテスト用ＬＳＩと内部のデータ受信回路により効率的な命令入力が可能な少ピンテストの確立を目的とする。 - 特許庁

To provide a test method for rubber fatigue which can predict the fatigue life of the rubber for a short period of time while conducting the operations of tensile deformation of a rubber test piece without its rupture.例文帳に追加

ゴム試験片に対する引張変形操作を破断まで行うことなく、ゴムの疲労寿命を短時間で予測できるようにしたゴムの疲労試験方法を提供する。 - 特許庁

The pulse width of the probe pulses is shorter than the cycle of maximum frequency component signal of the test pattern, for wide band measurement of the test pattern waveform.例文帳に追加

これらプローブパルスのパルス幅は上記テストパターンの最大周波数成分信号の周期に比べて短くし、テストパターン波形の広帯域計測ができるようにする。 - 特許庁

To secure reproducibility of test results of a scratch test and a determination results of a scratch on a film-like specimen and to objectively prove the reliability of the determination results.例文帳に追加

引掻き試験の試験結果およびフィルム状試料の引掻き傷に対する判定の判定結果の再現性を確保し、判定結果の信頼性を客観的に示す。 - 特許庁

To easily reproduce a bug of software and to promote development of the software of test equipment in a system for reproducing a bug of the software operating on the test equipment.例文帳に追加

テスト機器の上で動作するソフトウェアのバグを再現するシステムにおいて、ソフトウェアのバグを容易に再現させて、そのテスト機器のソフトウェアの開発促進に資するようにする。 - 特許庁

Although the Community Bus Yawata Route was at first established for testing purpose to conduct a real-world evaluation for the period of one year, the operation period of the route was later extended for another year from the first expiration date of the test in 2006, and again another year from the second expiration date of the test in 2007. 例文帳に追加

この経路は、当初は1年間の試験運行とされていたが、現在はその期間を1年延長し、2007年に更に1年延長している。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide the optimization system of a Java class path for improving efficiency of a field test.例文帳に追加

フィールド試験の効率性を高めたＪａｖａクラスパスの最適化方式を得る。 - 特許庁

The PCa3 performs the verification processing of a test result based on the these pieces of information.例文帳に追加

ＰＣａ３はこれらの情報に基づいてテスト結果の検証処理を行う。 - 特許庁

To provide a test method capable of exactly judging good or bad of a plasma display panel.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネルの正確な良否判定ができる検査方法を提供する。 - 特許庁

In 16, a transfer rate of the test writing data is calculated on the basis of a timing result.例文帳に追加

計時結果に基づき、Ｓ１６で試し書きデータの転送レートを算出する。 - 特許庁

To improve a signal waveform of a test signal applied to a terminal of an element to be tested.例文帳に追加

被試験素子の端子に印加される試験信号の信号波形を改善する。 - 特許庁

CONSTRUCTION METHOD OF COMBINATORIAL SWITCHING MATRIX AND TEST SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE THEREOF例文帳に追加

組合せ型スイッチングマトリクスの構築方法およびその半導体装置の試験システム - 特許庁

In the extraction of the relationship, the number of abnormalities on each test item is given attention.例文帳に追加

この関係抽出では、各検査項目における異常回数に注目する。 - 特許庁

The evaluating means evaluates the quality of each of the dots in the read test image.例文帳に追加

前記評価手段は、読取テスト画像に含まれた各ドットの品質を評価する。 - 特許庁

The inkjet recorder records a plurality of test patterns with different impact amounts of ink.例文帳に追加

インクジェット記録装置は、インク打ち込み量の異なる複数のテストパターンを記録する。 - 特許庁

To provide a test method of semiconductor device which can enhance an efficiency of a tester.例文帳に追加

テスタの効率を向上させ得る半導体素子の検査方法を提供する。 - 特許庁

An SRAM 90 of scan test non-corresponding type receives an output of a multiplier 66.例文帳に追加

スキャンテスト非対応型のＳＲＡＭ９０は、乗算器６６の出力を受ける。 - 特許庁

To suppress the increase of TAT or a repetition of processing in inserting a test circuit.例文帳に追加

テスト回路を挿入する際のＴＡＴの増大や反復処理を抑制する。 - 特許庁

To improve accuracy of a traveling test of a vehicle to be tested on a chassis dynamometer.例文帳に追加

シャシーダイナモメータ上での被試験車両の走行試験の精度を向上させる。 - 特許庁

To perform a speed test of a receiver circuit, without the connections of the driver circuit.例文帳に追加

レシーバ回路の速度試験をドライバ回路の接続無しに行えるようにすること。 - 特許庁

Where to send your test messages instead of one of the actual lists 例文帳に追加

メッセージの送信試験を行なうために、実際のメーリングリストの代わりに使うアドレス - FreeBSD

test expr 0 [ expr ] Return a status of 0 or 1 depending on the evaluation of the conditional expression expr . 例文帳に追加

0test expr[ expr ]条件式exprを評価した結果に基づいて、ステータス 0 または 1 を返します。 - JM

SPLIT BARREL OF SAMPLER FOR STANDARD PENETRATION TEST MADE OF MOLDED RAW MATERIAL例文帳に追加

成型した素材を用いて製作した標準貫入試験用サンプラーのスプリットバレル - 特許庁

FOOD FOR EVALUATION TEST OF CHOLESTEROL RESPONSIVENESS AND EVALUATION METHOD OF CHOLESTEROL RESPONSIVENESS例文帳に追加

コレステロール応答性評価試験用食品及びコレステロール応答性の評価方法 - 特許庁

The test water is passed at a predetermined quantity of flow from an entrance 11 (in) of a measuring cell 11.例文帳に追加

測定セル１１の入口１１inから検水を一定流量で通水する。 - 特許庁

EX-VITO TEST KIT FOR TESTING EFFECTIVENESS OF REVERSER OF MULTIDRUG RESISTANCE例文帳に追加

多重薬剤耐性リバーサーの効果を検査するためのｅｘ−ｖｉｖｏ検査キット - 特許庁

TRANSMISSION/RECEPTION SYSTEM HAVING FUNCTION OF DETERMINING DEGRADED PORTION OF CHANNEL BY TEST SIGNAL例文帳に追加

テスト信号による通信路の劣化部位の判定機能を有する送受信システム - 特許庁

(c) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of piston engine accessory 例文帳に追加

ハ　ピストン発動機補機の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(c) Knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of turbine engine accessory 例文帳に追加

ハ　タービン発動機補機の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(b) knowledge of structure, function, performance, maintenance, remodeling, and test of radio communication device 例文帳に追加

ロ　無線通信機器の構造、機能、性能、整備、改造及び試験に関する知識 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The nozzles are selected on the basis of a breadth of a ruled line on a test pattern or the like.例文帳に追加

ノズルの選択は、テストパターン上の罫線の幅等に基づいて実行される。 - 特許庁