「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(73ページ目) - Weblio英語例文検索

SIMULATED WIRING PATTERN AND EVALUATION TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THE SAME例文帳に追加

模擬配線パターンとこれを用いた半導体素子の評価試験方法 - 特許庁

To facilitate the determination of an interface circuit in a memory operation test.例文帳に追加

メモリ動作試験におけるインターフェース回路の判定を容易にすること。 - 特許庁

To attain the function verification of a logic circuit and the test of a semiconductor device specialized in a stack failure test by using common hardware.例文帳に追加

共通のハードウェアを用いて論理回路の機能検証とスタック故障テストに特化した半導体デバイスのテストとが行えるようにすること。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus and method for simultaneously achieving shortness of a time necessary for calibration and improvement of test precision.例文帳に追加

校正に必要な時間の短縮と試験精度の向上とを同時に実現することができる半導体試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

METHOD FOR CREATING HARDENED LAYER OF RAIL IN RAIL TEST SPECIMEN, AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加

レール試験片におけるレール硬化層の作成方法及びその装置 - 特許庁

METHOD FOR SPECIFIC DETECTION OF OBJECT, DETECTION APPARATUS, AND TEST CHIP例文帳に追加

被検物質の特異的検出方法および装置、ならびに検査チップ - 特許庁

Click Continue.On the completion of the process the HasNoReservations test passes successfully. 例文帳に追加

「継続」をクリックします。 このプロセスが完了すると、HasNoReservations テストは成功です。 - NetBeans

You can also install archive distributions of the IDE if you want to test development builds.例文帳に追加

開発ビルドをテストする場合も、アーカイブ版の IDE をインストールできます。 - NetBeans

Using JIRB to Check Java Behaviourshows examples of using the JRuby IRB to test Java code.例文帳に追加

「Using JIRB to Check Java Behaviour」で、JRuby IRB を使用した Java コードのテスト例が紹介されています。 - NetBeans

To reduce the number of parallel test buses extending parallel within a wiring area.例文帳に追加

配線エリア内を並走するパラレルテスト用のバスの本数を削減する。 - 特許庁

ADJUSTMENT METHOD FOR STROBE TIMING, AND FUNCTION TEST DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ストローブタイミングの調整方法及び半導体装置のファンクションテスト装置 - 特許庁

(iv) Division of the Testing Method for which the test shall be conducted in the testing laboratory accredited 例文帳に追加

四　登録を受けた試験所において行う試験方法の区分 - 日本法令外国語訳データベースシステム

When an electron beam is scanned across the test structure, an expected intensity pattern is produced and imaged as a result of the expected voltage potentials of the test structure.例文帳に追加

電子ビームがテスト構造にわたって走査されるとき、予期された輝度パターンが作られ、テスト構造の予期された電位の結果、画像化される。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR DETERMINING CLINICAL EQUIVALENCE OF TEST METHOD例文帳に追加

試験方法の臨床的等価を判定するためのシステムおよび方法 - 特許庁

In the digital still camera 12, a test image file including image data and a plurality of sets of image processing control data for outputting test images is generated.例文帳に追加

ディジタルスチルカメラ１２において、画像データとテスト画像出力用の複数組の画像処理制御データを含むテスト画像ファイルを生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of contributing to reduction in test cost.例文帳に追加

テストコストの低減に資することができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a leak detector and a leakage test method capable of implementing leakage tests of test body for shorter time.例文帳に追加

本発明は、試験体の漏れ試験をより短時間で行うことが可能なリークディテクタ及び漏れ試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

At that time, the transmission of the test radio wave is delayed so that the test radio wave is transmitted after the door of a pipe shaft is closed.例文帳に追加

その際、試験電波の発信を遅延させ、前記操作手段の操作後パイプシャフトの扉を閉めた後に試験電波が発信するようにする。 - 特許庁

To perform the observation and evaluation of a communication band by employing a simplified test system.例文帳に追加

簡易な試験システムにより通信帯域の観測評価を行う。 - 特許庁

(a) Institute proceedings to test the validity of any patent:例文帳に追加

(a) 何れかの特許の有効性を争点とする訴訟を提起すること - 特許庁

METHOD FOR SYNTHESIZING FULL APERTURE NUMERICAL DATA MAP OF OBJECT TEST SURFACE例文帳に追加

物体試験表面の完全アパーチャ数値データマップを合成する方法 - 特許庁

Test image data T having color resolution of total 24 bits, i.e., 8 bits for each color of RGB, and representing a test image including a specified pattern is prepared.例文帳に追加

ＲＧＢ各色８ビット、合計２４ビットの色分解能を有し、所定パターンを含むテスト画像を表すテスト画像データＴを用意する。 - 特許庁

To provide an IC tester capable of shortening a test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮できるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

The test strip 31 is evaluated in the inside of the rapid diagnostic apparatus.例文帳に追加

テストストリップ３１は、迅速診断装置の内部で評価が行われる。 - 特許庁

To suppress lowering of test efficiency due to a temperature skew correcting function.例文帳に追加

温度スキュー補正機能に起因する試験効率の低下を抑制する。 - 特許庁

The plurality of unit plates 4 are layered to execute the burn-in test.例文帳に追加

この試験ユニット板４を複数積層してバーンイン試験を実施する。 - 特許庁

To provide an immunity testing device capable of suppressing cost required for an immunity test, and improving workability of the immunity test.例文帳に追加

イミュニティ試験にかかる費用を抑え、イミュニティ試験の作業性を向上することのできる妨害排除能力試験装置を提供する。 - 特許庁

To realize an IC tester capable of shortening the test time.例文帳に追加

試験時間を短縮できるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

ABNORMALITY DETECTING METHOD OF TEST WATER PASSAGE IN CONTINUOUS ORGANIC POLLUTION MONITOR例文帳に追加

連続式有機汚濁モニタにおける検水流路の異常検知方法 - 特許庁

CHROMATOGRAPHIC INSPECTION APPARATUS AND METHOD FOR DETERMINING DEGRADATION OF CHROMATOGRAPHIC TEST PIECE例文帳に追加

クロマトグラフィー検査装置およびクロマトグラフィー試験片の劣化判定方法 - 特許庁

To provide an installation mechanism of ultrasonic test equipment capable of easily installing the ultrasonic test equipment in a narrow place in a short time.例文帳に追加

狭隘な箇所に対して短時間で容易に超音波探傷装置を据え付けることができる超音波探傷装置の据付機構の提供。 - 特許庁

To provide an air leak test method capable of performing highly accurate tests in a short time.例文帳に追加

短時間で高精度に行えるエアリークテスト方法を提供する。 - 特許庁

CONCEALMENT TEST PAPER AND COLOR TONE CONFIRMING METHOD OF REPAIRING COLOR COATING例文帳に追加

隠蔽試験紙及び補修用着色塗料の色調確認方法 - 特許庁

To output a test result to the outside in a short time of a wafer test in a manufacturing process of a semiconductor integrated circuit including a nonvolatile memory.例文帳に追加

不揮発性メモリを含む半導体集積回路の製造工程におけるウェハテストにおいて、短時間にテスト結果を外部に出力させる。 - 特許庁

To provide a manipulator capable of docking repeatingly a test head accurately.例文帳に追加

テストヘッドを正確且つ繰り返してドッキングできるマニピュレータを提供する。 - 特許庁

To provide a test device capable of testing a digital filter easily and sufficiently by simple constitution, without increasing the number of test data.例文帳に追加

より簡単な構成で、テストデータ数を増加させることなく、デジタルフィルタのテストを簡単且つ十分に行うことができるテスト装置を提供する。 - 特許庁

PROVISION AND USE OF SECURITY TOKEN MAKING AUTOMATED TEST EQUIPMENT EFFECTIVE例文帳に追加

自動試験装置を有効にするセキュリティトークンの提供及び使用法 - 特許庁

Thus, the need of searching a communication cable connected to the inspection object device in the inspection test is eliminated and the work of the inspection test is simplified.例文帳に追加

よって、検査試験において検査対象装置に接続される通信ケーブルを探し出す必要がなく、検査試験の作業が簡素化される。 - 特許庁

To provide a circuit which reduces an increase in the number of scan path test clock terminal.例文帳に追加

スキャンパステストクロック端子数の増大を抑止する回路の提供。 - 特許庁

A correlation expression between the elongation of the test body and the activation energy is formed.例文帳に追加

試験体の伸びと活性化エネルギーとによる相関式を作成する。 - 特許庁

To provide test chamber system for maintaining the sealing performance of decompression space on which the device under test is mounted to accurately control air pressure of the decompression space.例文帳に追加

試験チャンバ装置において、被試験装置を設置する減圧空間の密閉性を維持し、減圧空間の正確な気圧制御を行う。 - 特許庁

To provide a one-chip microcomputer capable of creating a test program without considering an address, where a STOP instruction is executed, and shortening a test period of time.例文帳に追加

ＳＴＯＰ命令を実行する番地を考慮せずにテストプログラムを作成でき、かつテスト時間を短縮できるワンチップマイクロコンピュータを得る。 - 特許庁

In addition, offset of the test results histogram to the reference histogram is determined.例文帳に追加

また、基準ヒストグラムに対する試験結果ヒストグラムのオフセットを求める。 - 特許庁

To facilitate a test of a receiver trip level in an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路内において受信器トリップ・レベルのテストを容易にする。 - 特許庁

The instruction of the user is preserved as a debug command file 107 so that it is not necessary to perform the same operation in the following re-test or the same kind of test.例文帳に追加

ユーザの指示はデバッグコマンドファイル107として保存し、後の再テストや同種のテストにおいて同じ操作を行わなくても良いようにする。 - 特許庁