「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(75ページ目) - Weblio英語例文検索

ISOLATION WORK METHOD FOR STOP VALVE, ISOLATION DEVICE AND TEST DEVICE OF THE ISOLATION DEVICE例文帳に追加

止め弁の隔離工法と隔離装置及び隔離装置の試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR CHARGE/DISCHARGE TEST OF SECONDARY BATTERY例文帳に追加

二次電池の充放電試験装置と二次電池の充放電試験方法 - 特許庁

The acetic acid test detected more than 75 percent of potential cancers.例文帳に追加

この酢酸試験で潜在的な癌の７５％以上を発見した。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

The logic gate 4 is activated by a test mode selecting signal TM so that the output of a test circuit 21 is transferred to the gate of the protective transistor QN.例文帳に追加

論理ゲート４はテストモード選択信号ＴＭにより活性化されて、テスト回路２１の出力を保護トランジスタＱＮのゲートに転送する。 - 特許庁

METHOD FOR INDIVIDUAL IDENTIFICATION AND METHOD FOR PARENTAGE TEST OF CATTLE USING SINGLE NUCLEOTIDE POLYMORPHISM例文帳に追加

一塩基多型を用いた牛の個体識別法と親子鑑別法 - 特許庁

CONVEYING DEVICE OF TEST TUBE TO BE LABELED IN STACKED CONDITION例文帳に追加

ラベルを貼着するための試験管の堆積状態からの搬送装置 - 特許庁

TEST MARK AS WELL AS FOCUS USING THE SAME AND METHOD OF MEASURING ABERRATION例文帳に追加

テストマーク、並びにそれを用いたフォーカス及び収差の測定方法 - 特許庁

To provide a burn-in board capable of performing accurate test, a test burn-in device, and a skew correction method capable of conducting correct skew correction.例文帳に追加

より正確な試験が出来るバーンインボード、テストバーンイン試験および、正確なスキュー補正を行うことが出来るスキュー補正方法を提供する。 - 特許庁

A pair of these test piece holding members are provided with bearing members held turnably centered on an axial line passing through a bending stress providing point of the test piece held between the test piece holding members, respectively.例文帳に追加

そして、これらの一対の試験片保持部材に、該試験片保持部材間に保持される試験片の曲げ応力付与点を通る軸線を中心にそれぞれ回動自在に保持した軸受部材を設ける。 - 特許庁

Since the test pad of the bond pad extension is disconnected from the electric components when not tested, the test pad of the bond pad extension test does not give any additional parasitic effects to the corresponding electric circuit device.例文帳に追加

テストしないとき、電気的構成要素からボンド・パッド延長部のテスト・パッドを切断できるので、ボンド・パッド延長部のテスト・パッドは、対応する電気回路デバイスに付加的な寄生効果を与えない。 - 特許庁

To provide an operation test support device for efficient and stable debugging in an operation test of a device to be tested performed by a semiconductor integrated circuit tester on the basis of a test program.例文帳に追加

テストプログラムに基づいて半導体集積回路試験装置が行う被測定デバイスの動作試験において、効率良く、安定したデバッグを行うための動作試験支援装置を提供する。 - 特許庁

A passing module information storing means 105 associates a module where processing passes when a test of a plurality of test items is executed for the uncorrected source code with the test items to store the module.例文帳に追加

通過モジュール情報記憶手段１０５は、修正前のソースコードに対して複数のテスト項目のテストを実行した際に処理が通過するモジュールを、テスト項目と対応付けて記憶する。 - 特許庁

The bone head for test reset is fitted into the test cup 21 with the test cup 21 attached to the sliding surface 8S of the inner wall 8, thereby the length or others of a cervical part is selected by applying joint movement.例文帳に追加

内壁８の摺動面８Ｓに試験用カップ２１を取り付けた状態で、試験用カップ２１に試験整腹用骨頭を嵌め、関節運動を負荷することにより頚部の長さなどを選定する。 - 特許庁

In this method, an appearance of a test patch which is printed by an image forming system after the test patch is stabilized, is predicted by applying a transfer function to the color of the test patch newly printed.例文帳に追加

本発明による方法は、新たに印刷されたテストパッチのカラーに伝達関数を適用することによって、画像形成システムにより印刷されたテストパッチの安定後の外観を予測する。 - 特許庁

The water-sensitive paper, discolored to density different corresponding to the adhesion amount of water droplets, is mounted on the test piece to perform impingement test and the relation between a position and the impingement amount of water droplets is calculated from the test result.例文帳に追加

また水滴の付着量に応じて異なる濃度に変色する感水紙を、供試体に装着して衝突試験を行い、その結果から位置と水滴の衝突量との関係を求める。 - 特許庁

To provide a downsized test terminal for installation of a substrate, which prevents a test pattern provided on the substrate from being damaged, and also prevents misregistration of a probe from occurring, and also to provide a substrate with the test terminal.例文帳に追加

基板に設けられたテストパターンを傷つけたり、プローブの位置ずれが生じたりするのを防止でき、かつ、小型化を実現可能な基板設置用テスト端子、及びテスト端子付き基板を提供する。 - 特許庁

To start test without operating any pre-processing such as stab preparation or external variables setting in the simplex test and partial connection test of a program composed of multiple modules to be performed by using a debugger.例文帳に追加

デバッガを用いて行う複数モジュールからなるプログラムの単体テストおよび部分結合テストにおいて、スタブ作成や外部変数の設定等の前処理を行わずに、テストを開始できるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory equipped with a test circuit whose I/O constitution is small and which is useful for shorting the test time of a DRAM and simplifying the test process, and to suppress the variation and dispersion of input capacity.例文帳に追加

Ｉ／Ｏ構成の小さいＤＲＡＭのテスト時間の短縮とテスト工程の簡略化に役立つテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供し、入力容量の変化やばらつきを抑制する。 - 特許庁

To provide a towing test apparatus enabling a model test for towing of a high speed vessel even in a short water tank, providing highly accurate measurement data, and also enabling a model test for the takeoff and landing of a flying boat.例文帳に追加

短い水槽でも高速船の曳航模型試験が可能であると共に計測データの精度が高く、かつ、飛行艇の離着水模型試験が可能な曳航試験装置を提供するものである。 - 特許庁

A test chart control section 204 determines whether the reconfiguration request of test chart specifications has been received from a terminal unit 2, or the like, and whether it triggered the reconfiguration of a preset test chart.例文帳に追加

テストチャート制御部２０４は、端末装置２等からテストチャート仕様の再構成依頼を受け付けたか否か、及び予め設定されているテストチャート再構成の契機となったか否かを判断する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device comprising a test circuit capable of shortening an SSF time without impairing the controllability of an internal circuit part, and remarkably reducing a test time and the test cost.例文帳に追加

内部回路部の制御性を低下させることなくＳＳＦ時間を短縮でき、テスト時間及びテストコストを大幅に削減することができるテスト回路を備えた半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a steam turbine test facility including a steam turbine for a test simulating faithfully a behavior of an actual steam turbine, and improving efficiency of a performance test.例文帳に追加

実際の蒸気タービンの挙動を忠実に模擬できるとともに、性能試験の効率を向上できる試験用蒸気タービンを備える蒸気タービン試験設備などを提供することを課題とする。 - 特許庁

Even for BGA structure semiconductor devices having different external shapes, pin pitches, and arrangements, a test is performed with the position of the contact pin 33 being in contact with the test pads 22 unchanged by standardizing the arrangement of the test pads 22.例文帳に追加

ＢＧＡ構造の半導体装置の外形、ピンピッチおよび配置が異なっても、テストパッド２２の配置を共通化して、テストパッド２２と接触するコンタクトピン３３の位置を変えずにテストを行う。 - 特許庁

In the burn-in test, a plurality of test patterns for the burn-in are selectively generated by a circuit 20 for generating the burn-in test patterns on the chips of the LSI, and inputted in parallel to a flip-flop circuit 15 for scanning forming scan paths.例文帳に追加

バーンインテストに際して、LSI チップ上のバーンインテストパターン発生回路20で複数のバーンインテストパターンを選択的に発生し、スキャンパスを形成するスキャン用フリップフロップ回路15に並列に入力する。 - 特許庁

A test performer associates test items and the communication log by collating the date and time of the acceptance/rejection determination with the date and time of the communication log which are controlled by the test item management section 11.例文帳に追加

テスト実施者は、テスト項目管理部１１により管理されている合否判定の日時と通信ログの日時とを照合することによって、テスト項目と通信ログとの対応付けを行う。 - 特許庁

The switching circuit 4 is electrically connected to the TBIB 1 on which the IC 1A to be tested is mounted, and a first test signal of the IC test circuit 2 and a second test signal of the burn-in board checker 3 are switched.例文帳に追加

切換回路４は、被試験ＩＣ１Ａが実装されたＴＢＩＢ１と電気接続し、ＩＣ試験回路２の第１の試験信号とバーンインボードチェッカ３の第２の試験信号を切り換える。 - 特許庁

To provide a specimen for bending fatigue detection that does not directly handle a minute test piece and accurately applies a load to a certain position of the test piece, in a bending fatigue test of a micro material.例文帳に追加

マイクロ材料の曲げ疲労試験において、微小な試験片を直接取り扱うことがなく、試験片の一定位置に正確に荷重を負荷させる曲げ疲労検出用試験体を提供すること。 - 特許庁

To segment a quality deterioration block, and to efficiently search for the cause of the quality deterioration by acquiring precision close to the line test of End-End even in a test environment in which a test block is divided.例文帳に追加

試験区間を分割して行う試験環境においてもＥｎｄ〜Ｅｎｄの回線試験に近い精度を得て、品質劣化区間の切り分けを行い、品質劣化原因の究明を効率よく行う。 - 特許庁

This invention is completed from such a conception that a labor for collecting test solution can be omitted by being brought into direct contact with the test solution instead of collection of the test solution by washing from a specimen.例文帳に追加

被検体から洗浄により被検液を採取する代わりに被検液に直接接触させることで被検液の採取の手数を減らすという着想から以下の発明を完成した。 - 特許庁

A test signal generating section 12 and a test signal switching section 13 divides a plurality of speakers into two groups of speakers, and supply test signals having two phase signals, i. e. positive and negative to two speakers in each group.例文帳に追加

試験信号発生部１２および試験信号切換部１３は、複数のスピーカを２個のスピーカの組に分け、各組における２個のスピーカに対し、正逆２相の試験信号を供給する。 - 特許庁

A test condition assigning part 13 stores the condition identification code of the test condition data in the condition identification code of the telephone number management data based on the pattern identification code included in test condition data.例文帳に追加

試験条件割当部１３は、試験条件データに含まれるパターン識別コードに基づいて、当該試験条件データの条件識別コードを電話番号管理データの条件識別コードに格納する。 - 特許庁

To improve reliability at the point of a temperature drift or a DC drift in the case of applying especially a load in a reliability test such as a thermal shock test, a temperature cycle test in an optical waveguide device.例文帳に追加

光導波路デバイスにおいて、熱衝撃試験や温度サイクル試験などの信頼性試験で特に負荷を加えたときに、温度ドリフトやＤＣドリフトの点での信頼性を一層向上させる。 - 特許庁

To provide a contact test set for easily actualizing sure connection between a DUT being a testing object and a load board of a test device, and sure regulation of a small-sized connector used in the test device.例文帳に追加

テスト対象となるＤＵＴとテストデバイスのロードボードとの確実な接続と、テストデバイスで用いられる小型のコネクタの確実な規制とを容易に実現する接触テストセットを提供する。 - 特許庁

Based on the result of the test determined to be appropriate of the independent chi-squared test and the accuracy probability test, it is estimated whether the manufacturing process causes the defective occurrence factor.例文帳に追加

独立性のカイ２乗検定と正確確率検定とのうち適すると判断した検定の結果に基づいて、その製造工程が不良品発生要因となっているかどうかの推定を行う。 - 特許庁

To provide a reliability testing device and a reliability test method capable of performing a reliability test in a comparatively short time at low cost, and having a small error of an estimated value based on the test result.例文帳に追加

信頼性試験を比較的短時間で低コストに行うことができ、また、試験結果に基づく推定値の誤差が少ない信頼性試験装置および信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁

The recorded test pattern is reproduced (step S3), and based on plural of reproducing signals captured, the recording conditions capable of forming the first test mark and the second test mark favorably are selected, respectively (step S4).例文帳に追加

記録されたテストパターンを再生し（ステップＳ３）、得られた複数の再生信号に基づいて、第１テストマーク及び第２テストマークを良好に形成できる記録条件をそれぞれ選定する（ステップＳ４）。 - 特許庁

To provide a method for specifying a tissue fusion system in a test executed before the system is used in surgical operation and automatically executing the test as a part of the starting procedure of self test when turning on a power supply.例文帳に追加

システムを外科手術に使用する前に実施する試験で特定され、電源投入時自己診断などの起動手順の一部として自動で試験を実施する方法を提供する。 - 特許庁

The test light 11 is emitted to a direction parting from an opposite direction with respect to the display light 7 emitted from the display light emitting elements of the display part 1 from the test light emitting elements of the test light light emitting section 2.例文帳に追加

テスト光発光部２のテスト発光素子から、表示部１の表示発光素子から発光される表示光７に対して、反対方向に離れる方向にテスト光１１を発光させる。 - 特許庁

The test plan preparation means 12 of a test plan deriving device 1 determines a test period for each program to be released on the basis of release plan information acquired by a release plan acquisition means 11.例文帳に追加

テスト計画導出装置１のテスト計画作成手段１２は、リリース計画取得手段１１が取得したリリース計画情報に基づいて、リリースされるプログラム毎にテスト期間を決定する。 - 特許庁

Respective test input terminals 3a_1 to 3a_n of the selection circuit 2a are connected to test terminals 11_1 to 11_n of a logic circuit 10, and test input signals IS_1 to IS_n are input thereto from the logic circuit 10.例文帳に追加

選択回路２ａの各テスト入力端子３ａ_１〜３ａ_ｎは、論理回路１０のテスト端子１１_１〜１１_ｎに接続され、論理回路１０からテスト入力信号ＩＳ_１〜ＩＳ_ｎが入力される。 - 特許庁

By this constitution, the density state in the test piece 30 becomes almost equal to that of the evaluation target layer of the on-the-spot ground, and the compression test is performed with respect to the test piece 30 in the state near to the actual execution time.例文帳に追加

これにより、供試体３０内部の疎密状態が、現地地盤の評価対象層とほぼ同等となり、実際の施工時に近い状態の供試体３０で圧縮試験を行うことができる。 - 特許庁

When the coincidence signal SWp is outputted, an interruption control circuit 154 outputs the test data held in the test data register 151 to heads of a plurality of test data latch circuits 114.例文帳に追加

割込み制御回路１５４は、一致信号ＳＷｐが出力された場合に、複数のテストデータラッチ回路１１４の先頭に対しテストデータレジスタ１５１に保持されているテストデータを出力する。 - 特許庁

The data input circuit inputs, in parallel, a plurality of test writing data written in the memory based on the plurality of test output data and the strobe signal for test writing.例文帳に追加

前記データ入力回路は、前記複数のテスト出力データと前記テスト書き込み用ストローブ信号とに基づいて前記メモリに書き込まれた複数のテスト書き込みデータを並列に入力する。 - 特許庁

Data on bioaccumulativity (BCF, logKow) and degradability (biodegradability, hydrolytic properties, etc.) shall be based on the test methods specified by the Chemical Substances Control Law (Law Concerning the Examination and Regulation of Manufacture, etc of Chemical Substances), OECD Test Guidelines, ASTM Standard Test Methods, etc.例文帳に追加

生物蓄積性（BCF、logKow）、易分解性（生分解性、加水分解性など）のデータは、化審法に規定する試験法、OECDテストガイドライン、ASTM標準試験法等に準拠し信頼のおけるものとする。 - 経済産業省

To provide a thermal shock test device, a thermal shock test method, and a method of inspecting a semiconductor wafer, wherein a productivity and an authenticity of a thermal shock test can be simultaneously enhanced.例文帳に追加

冷熱衝撃試験の生産性及び信憑性を同時に向上することができる冷熱衝撃試験装置、冷熱衝撃試験方法及び半導体ウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁