「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(71ページ目) - Weblio英語例文検索

SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING THE DEVICE, AND TEST METHOD OF THE DEVICE例文帳に追加

半導体装置、半導体装置の製造方法及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

A second set of relays control the connection of the metallic line test bus to the subscriber line.例文帳に追加

第二リレー群が、メタル回線テストバスの加入者回線への接続を制御する。 - 特許庁

To equalize measuring temperature of each device with a prober apparatus for conducting electric test of wafers.例文帳に追加

ウエハの電気テストを行うプローバ装置で、デバイス毎の測定温度を均一にする。 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置および半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

To stabilize a power supply voltage when performing a simultaneous measurement of a plurality of devices under test.例文帳に追加

複数の被試験デバイスを同時測定する際に、電源電圧を安定化する。 - 特許庁

The mixture of chemicals had an EC10 of 3.7％ for the former and 5.2％ for the latter test.例文帳に追加

混合化学物質では，EC10が，前のテストでは3.7％，後のテストでは5.2％であった。 - 英語論文検索例文集

an act of waylaying a passer-by to test the effectiveness of a new sword in ancient Japan 例文帳に追加

昔,武士が刀の切れ味をためすために,路上で通行人を斬ったこと - EDR日英対訳辞書

To shorten a test time by reducing the number of S-FF of a signal scan pass by half.例文帳に追加

１本のスキャンパスのＳ−ＦＦの数を半減してテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a test facilitation design method of shortening the design period of an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩの設計期間を短縮するテスト容易化設計方法を提供する。 - 特許庁

To provide a multiple torsional fatigue tester enabling the torsional test of a plurality of test pieces by one test to enhance the efficiency of a torsional fatigue test and capable of achieving the reduction of an arranging space and cost reduction as compared with a conventional case arranging a plurality of torsional fatigue testers.例文帳に追加

１度の試験により複数個の供試体のねじり疲労試験が可能で、ねじり疲労試験の能率を向上させ、かつ、従来のねじり疲労試験機を複数台設置する場合に比して設置スペースの削減およびコストの低減を達成することのできる多連ねじり疲労試験機を提供する。 - 特許庁

For realizing the running environment with a lot of dust not by a dust prevention performance test by actual test course running, road surface conditions and operation motion scattering of a driver is excluded and reproducibility of the running environment with a lot of dust is improved, and repetition of a plurality of testing which may occur in the dust prevention performance test by actual test course running, can be avoided.例文帳に追加

そして、テストコース実走行防塵性能試験によらずに多塵路走行環境を再現するので、路面コンディションやドライバ−の運転操作バラツキが排除され、多塵路走行環境の再現性が向上し、テストコース実走行防塵性能試験で起こり得る複数回にわたる試験の繰り返しを回避できる。 - 特許庁

A start order selection part of each of the test scenarios G1, G2 is inputted with random designation information outputted by a random designation part, determines start order of a plurality of tests constituting a test group included inside the respective test scenarios G1, G2 corresponding to the random designation information, and decides the start order of the tests of the test group.例文帳に追加

各テストシナリオＧ１，Ｇ２の起動順選択部は、ランダム指定部が出力するランダム指定情報が入力され、このランダム指定情報に対応して各テストシナリオＧ１，Ｇ２内に複数含まれているテスト群を構成するテストの起動順を決定し、このテスト群のテストの起動順を確定する。 - 特許庁

Following on execution of the test, this system stores as the test result the output time of each of the second images corresponding to each of the first images, or ranking of the order of output time of each second image which is sought for from the output time.例文帳に追加

テストの実行に伴い、各第１画像に対応した各第２画像の出力時間、又はそれから求められた各第２画像の出力時間順の順位、をテスト結果として記憶する。 - 特許庁

An SRAM 1017 for storing test setting data for each externally designated test item and a BIST (built-in self-test) controller 1005 for reading out the test setting data stored in the SRAM and for executing the BIST, in parallel with the operation of storing the test setting data in the SRAM, are provided.例文帳に追加

外部から指定されるテスト項目毎のテスト設定データを蓄積するＳＲＡＭ１０１７と、前記テスト設定データをＳＲＡＭに蓄積する動作と平行して、ＳＲＡＭに蓄積された前記テスト設定データを読み出してＢＩＳＴを実行するＢＩＳＴコントローラ１００５とを備える。 - 特許庁

A control means 14 having an in-circuit test function 11, a function test function 12 and a communication test function 13 and collectively controlling the operations of these test functions and the operation procesure thereof according to the test program set in a circuit board is provided.例文帳に追加

インサーキットテスト機能１１と、ファンクションテスト機能１２と、通信テスト機能１３とを一体に備え、これらの各テスト機能の動作とその動作手順を、前記回路基板に対して設定したテストプログラムに従って一括管理して制御する制御手段１４とを備える。 - 特許庁

Before the test of the test vehicle 2 is started, the floating members 7 are raised, the wheels 9 are released from their contact with the test rollers 5, 6, the floating members 7 are lowered, the wheels 9 are placed on the test rollers 5, 6, and the test is started.例文帳に追加

前記被験車両２の試験開始前に前記フローティング部材７を上昇させ前記車輪９を前記テスト用ローラ５，６の接触から解放した後、前記フローティング部材７を下降し、前記車輪９を前記テスト用ローラ５，６上に載置して、前記試験を開始する。 - 特許庁

A first test image signal inputted from an image signal generator 110 and a second test image signal read from an internal memory are synthesized and are displayed on one screen, and the degree of amplification of the first test image signal is adjusted until the hue sensitivity of the first test image signal becomes the same as that of the second test image signal.例文帳に追加

映像信号発生機器１１０から入力された第１テスト映像信号と内部メモリから読み出された第２テスト映像信号を合成して１つの画面に表示し，第１テスト映像信号の色相感度と第２テスト映像信号の色相感度が同じになるまで第１テスト映像信号の増幅度を調節する。 - 特許庁

To eliminate a need of a socket substrate for checking a tester and a test board itself of a test system, and for debagging a test program, and to optionally conduct attachment and detachment for a finished product IC and an IC socket without depending on insertion and removing of a pin.例文帳に追加

テストシステムのテスタ、テストボード１２自体のチェックや、テストプログラムのデバッグを行うための、ソケット基板を不要とすると共に、完成品ＩＣ、ＩＣソケットの脱着をピンの挿脱によることなく、任意に行うこと。 - 特許庁

The coating nozzle 144 is set opposite to a desired position on a test coating tape 39 of the test coating device, and the center of imaging by the camera 190 in this state is obtained as a reference position of the test coating device.例文帳に追加

塗布ノズル１４４を試し塗布装置の試し塗布テープ３９０上の所望の位置に対向させ、その状態におけるカメラ１９０の撮像中心を試し塗布装置の基準位置として取得する。 - 特許庁

To provide a test device for terminal crimp allowing automatic test for quality of crimped condition by using a pickup image of a camera and improvement of test efficiency and a terminal crimping device having it.例文帳に追加

撮像カメラの撮像画像に基づいて圧着状態の良否の検査を自動的に行うことができ、検査効率の向上が図れる端子圧着検査装置およびそれを備えた端子圧着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a random number test circuit having no limit on a total number of a random number necessary for test, and preventing increase of a circuit scale even if handling a large number of data necessary for the test to allow miniaturization.例文帳に追加

検定に必要な乱数の総数に制限がなく、多量の検定に必要なデータ数を扱ったとしても回路規模が増大せず、小型化が可能な乱数検定回路を提供することを可能にする。 - 特許庁

A positional deviation between the electrode pad of the semiconductor element and the probe pin 13 generated in a high temperature test and a low temperature test of the electric characteristic test is avoided by adjusting the temperature of the support members 12a, 12b.例文帳に追加

そして、電気的特性試験の高温試験、或いは低温試験で発生した、半導体素子の電極パッドとプローブピン１３との位置ずれを支持部材１２ａ、１２ｂの温度を調節することにより回避する。 - 特許庁

When a sub-test in the test flow is executed, a map 800 of linked data nodes 802-814 is indexed by using a key 500a formed from (1) a numerical value identifier of the sub-test and (2) the array of the context values.例文帳に追加

テストフロー内のサブテストを実行すると、リンクされたデータノード８０２〜８１４のマップ８００は、（１）サブテストの数値識別子と（２）コンテキスト値のアレイとから形成されたキー５００ａを使用して索引を付けられる（１０４）。 - 特許庁

According to this constitution, the test result of the semiconductor chip can be transferred the adjacent semiconductor chip sequentially, and therefore the test results of all the semiconductor chips can be outputted from the test result output terminal of one semiconductor chip.例文帳に追加

これにより、半導体チップの試験結果を隣接する半導体チップに順次に転送できるため、全ての半導体チップの試験結果を１つの半導体チップの試験結果出力端子から出力できる。 - 特許庁

When the operation indicating part 1e instructs start of test object operation, a test executing part 1f outputs generation instruction of event based on the generation timing of event stored in the test timing information storage part 1d.例文帳に追加

試験実行部１ｆは、動作指示部１ｅが試験対象動作の開始を指示すると、試験タイミング情報記憶部１ｄに記憶されたイベントの発生タイミングに基づいて、イベントの発生指示を出力する。 - 特許庁

Hereby, rearrangement of the test items can be executed according to the self-diagnosis result, and a test can be executed from the test item having high possibility of detection of a failure spot, to thereby shorten the failure detection time.例文帳に追加

これにより、自己診断結果に応じて試験項目の並び替えを行うことができ、故障箇所を検出する可能性の高い試験項目から試験を実行できるため、故障検出時間を短縮できる。 - 特許庁

The method and apparatus of the present invention provides for a test stand, a plurality of X-ray test phantoms(10, 20, 30, 40, 50, 60, 70) and a computer program for data entry, analysis and storage of the test results.例文帳に追加

一般的に、本発明の方法及び装置は、テスト台と、複数のＸ線テスト模型（１０、２０、３０、４０、５０、６０、７０）と、データ入力、分析、及びテスト結果の保存のためのコンピュータプログラムとを提供する。 - 特許庁

To prevent punch-through, etc., of data due to skews between phases and to perform a test in a small hardware overhead without using a clock dedicated for the test in the production test for a logical circuit controlled by a clock of a plurality of phases.例文帳に追加

複数の相のクロックで制御される論理回路の製造テストにおいて、テスト専用のクロックを用いずに、相間のスキューによるデータの突き抜け等を防止でき、ハードウェアオーバヘッドの小さいテストを可能にする。 - 特許庁

A test timing information converting part 8 converts the test timing information of the external pin without signal variation which is detected by the setting part 2 into test timing information of the external pin of other function pattern.例文帳に追加

テストタイミング情報変換部８は、信号変化有無設定部２によって検出された信号変化のない外部ピンのテストタイミング情報を、別のファンクションパターンの当該外部ピンのテストタイミング情報に変換する。 - 特許庁

To provide a mesh for accurate and highly reproducible observation of a test piece in a drawing process and further a test piece through the drawing process to a contraction process, and a method of observation of a test piece using the mesh.例文帳に追加

延伸過程にある試験片、さらに延伸過程から収縮過程にある試験片の精密で再現性よい観察を可能にするメッシュ及び該メッシュを用いた試験片の観察方法を提供する。 - 特許庁

To make fitness to a specification coincide with the acceptance result of a test, even when the sequence among communication data or there is a change in timing, in the range of the specification in a test to a test object device accompanied by transmission/reception of data.例文帳に追加

データの送受信を伴う試験対象装置への試験において、通信データ間の順序やタイミングが仕様の範囲内で変化した場合でも、仕様への適合性と試験の合否結果を一致させる。 - 特許庁

To provide a test facilitation circuit capable of carrying out a desired test for a semiconductor device outputting an analog signal in response to parallel data, and specifically capable of carrying out the test using a digitizer of low precision.例文帳に追加

パラレルデータに応じたアナログ信号を出力する半導体装置の所望の試験を容易に行う、具体的には、精度が低いデジタイザを使用して行うことを可能とする試験容易化回路を実現する。 - 特許庁

To provide a method and a system, which conduct a test by automatically creating a test data creation suitable for a test case regardless of existence or nonexistence of past input online journal and regardless of a change in data layout.例文帳に追加

過去の入力オンラインジャーナルの有無に関わらず、かつ、データのレイアウト変更に関わらず、テストケースに適合したテストデータ作成を自動的に生成してテストを実行することができる方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To enable suppression of test consumption current for every circuit by performing an operation test of a fire detector one by one in order without overlapping test signals and without the need of a dedicated fire receiver.例文帳に追加

専用の火災受信機を必要とせず、試験信号を重ならせずに火災感知器を１台ずつ順送りに動作試験を行うことにより、回線毎の試験消費電流を抑制できることを目的とする。 - 特許庁

To determine the quality of an object under test, by initially performing a comparison of the object under test, by using an image as a template image which is obtained by photographing the state of the object under test, before being attached to its right place.例文帳に追加

本発明の目的は、被検物が正しい箇所に取り付けられる前の状態を撮像した画像をテンプレート画像とし、最初に被検物との比較を実施することで、被検物の良否を判定することにある。 - 特許庁

The test is performed by the time element data of a time element table for a normal action at a normal time, and by the time element data of a time element table for the interlinking test which is shorter than the time element table for the normal action at the time of the interlinking test.例文帳に追加

通常時には通常動作用時素テーブルの時素データで、連動検査時には通常動作用時素テーブルに比較して短い連動検査用時素テーブルの時素データによって検査を行う。 - 特許庁

To provide an apparatus for compensating the heat generation of a semiconductor element test handler, which compensates the temperature deviation due to the heat generation of the semiconductor element itself, in the temperature test of the semiconductor element, and which can perform the test at an accurate temperature.例文帳に追加

半導体素子の温度テスト中に半導体素子自体の発熱による温度偏差を補償して、正確な温度下でテストを遂行できる半導体素子テストハンドラの発熱補償装置を提供する。 - 特許庁

To provide an LSI test system in which a plurality of DUTs can be tested without lowering the use efficiency of the test system when the DUTs are tested while being mounted on frames and the throughput of test process can be enhanced.例文帳に追加

複数のＤＵＴをフレームに搭載してテストする場合にテストシステムの使用効率を悪化させることなくテストを行うことができ、テスト工程のスループットも向上させることが可能になるを提供する - 特許庁

To automatically generate a test program for operation verification of a processing system of a test object developed as a refine product to a standardized product, and verify the operation validity by use of the test program.例文帳に追加

標準規格品に対するリファイン品として開発した検査対象の処理系に関し、処理系の動作検証を行うテストプログラムを自動生成し、そのテストプログラムにより動作正当性検証を行う。 - 特許庁

In a link, including a plurality of media converters which connect a UTP (unshielded twisted pair cable) and an optical cable, when a test manager detects broken state of the link, test mode is started and the test manager transmits a prescribed trigger packet to a plurality of the media converters.例文帳に追加

ＵＴＰケーブルと光ケーブルを接続するメディアコンバータを複数個含むリンクにおいて、テストマネージャがリンク切断を検出すると、テストモードが起動され、複数のメディアコンバータへ所定のトリガパケットが送信される。 - 特許庁

To reduce a pattern transfer time by minimizing the number of times of test pattern transfer from a buffer memory to a local memory, following a measurement sequence by a test program, and to thereby shorten the measuring time, in a function test of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の機能テストに際して、テストプログラムによる測定シーケンスにしたがうバッファメモリからローカルメモリへのテストパターン転送回数を最小化してパターン転送時間を削減し、測定時間を短縮する。 - 特許庁

The software allows test pilots and test engineers to track the weights and moments of aircraft, test equipment, armament, missiles and other loads and to accurately predict and verify the travel of the centre of gravity. 例文帳に追加

このソフトウェアを使用すると、試験飛行を行う操縦士とエンジニアは、航空機、テスト装置、兵器、ミサイル、およびその他の装備品の重量とモーメントを追跡し、重心の移動を正確に予測および検証できます。 - NetBeans

To efficiently expand test coverage in dynamic verification of a program.例文帳に追加

プログラムの動的検証においてテストカバレッジを効率的に拡大する。 - 特許庁

When it is test pattern mode, a test pattern is read and the correction of the operation coefficient, a correction situation, removing number of corrections, etc., are notified (step S20).例文帳に追加

テストパターン読取モードの場合は、テストパターンを読取り、演算係数の補正と補正の状況、補正残回数等を報知する（ステップＳ２０）。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR ATMOSPHERIC CORROSION TEST OF METAL MATERIAL FOR HOME ELECTRICAL APPLIANCE例文帳に追加

家電用金属材料の大気腐食試験方法およびその装置 - 特許庁