「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(67ページ目) - Weblio英語例文検索

According to the test pattern, voltage is applied by a voltage generating section 11 to each input terminal of a test workpiece 5.例文帳に追加

このテストパターンに従って電圧発生部１１にて被検査ワーク５の各入力端子に対して電圧を印加する。 - 特許庁

To automatically generate a system test specification fit for an actual situation of business for performing a test about processing important on the business.例文帳に追加

業務上重要な処理についてテストするための業務の実態に即したシステムテスト仕様書を自動生成する。 - 特許庁

To enhance the selectivity of a specific component in a test solution while speeding up an elution test due to an ultraviolet absorbing method.例文帳に追加

試験液中の特定成分の選択性を高め、紫外線吸収法による溶出試験の迅速化を図る。 - 特許庁

A test pattern 28 is projected from an off-axis collimator to a right side peripheral surface part or a left side peripheral surface part of the test lens 12.例文帳に追加

軸外コリメータから被検レンズ１２の右側周面部又は左側周面部にテストパターン２８を投写する。 - 特許庁

A wheel leak test device includes a wheel holding part for holding a wheel, a pair of sealing tools, a pressurizing part, and a leak test section.例文帳に追加

本発明のホイールリークテスト装置は、ホイールを保持するホイール保持部、１対のシール治具、加圧部、リークテスト部を備える。 - 特許庁

The test device 1 transmits a test frame 24 with a predetermined signal pattern to a port 18a of the repeater 18.例文帳に追加

検査機器１は、中継器１８のポート１８ａに対して所定の信号パターンの試験フレーム２４を送信する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device including a test circuit performing write-mask operation, in a test of a wafer state.例文帳に追加

ウェーハ状態の試験において、ライトマスク動作を実行するテスト回路を備えた半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

This test tube carrying device has a direction determining mechanism 30 for automatically determining the direction of the test tube to be transferred.例文帳に追加

試験管搬送装置は、移送される試験管の向きを自動的に判定する向き判定機構３０を有している。 - 特許庁

To simply measure dynamic characteristics of a rubber bush without using a test device such as a torsion test machine.例文帳に追加

捩り試験機等の試験装置を使用せずに、簡便にラバーブッシュの動特性を測定できるようにすることである。 - 特許庁

In a test mode, the protective transistor QN is driven depending on the output of the test circuit 21, acting as an output circuit.例文帳に追加

テストモードでは、テスト回路２１の出力に応じて保護トランジスタＱＮが駆動されて、これが出力回路となる。 - 特許庁

The system includes multiple-well test panels capable of conducting ID and AST testing on the same test panels.例文帳に追加

このシステムは、同じ試験パネル上でＩＤ試験およびＡＳＴ試験を行うことのできる多重ウェル試験パネルを含む。 - 特許庁

To prevent the self-weight of a detector from acting on a test piece by separating a target attached to the test piece and the detector.例文帳に追加

試験片に装着されるターゲットと検出器を分離して、検出器の自重が試験片に作用しないようにする。 - 特許庁

To provide a bellows durability test device capable of reliably executing a bellows durability test in a high temperature environment.例文帳に追加

高温環境下にてベローズの耐久性試験を安定して実施可能なベローズの耐久性試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test plug which can check the active status of a track and can easily connect to a test device.例文帳に追加

線路の活電状態を確認することができ、かつ容易に試験装置との接続を行えるテストプラグを提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating a test substance capable of evaluating the effect that an orally ingested test substance has on a nematode.例文帳に追加

経口摂取した被検物質が線虫に与える影響を評価できる被検物質評価方法を提供する。 - 特許庁

The system is provided with plural kinds of test modules for improving a test system that tests an object to be tested.例文帳に追加

本発明は、複数種類の試験モジュールにより、被試験対象を試験するテストシステムに改良を加えたものである。 - 特許庁

TEST PATTERN HARDLY-PERCEPTIBLE TO HUMAN OBSERVATION, AND METHOD FOR ANALYZING IMAGE DATA CORRESPONDING TO TEST PATTERN OF INKJET PRINTER例文帳に追加

人間観察に知覚されにくいテストパターン、およびインクジェットプリンタのテストパターンに対応する画像データの分析方法 - 特許庁

Hereby, preparation of an exclusive horn antenna is not required for each test, and the pyramid horn 22 can be used in common for each test.例文帳に追加

このため、各試験毎に専用のホーンアンテナを準備する必要がなく、角錐ホーン２２を各試験で共用できる。 - 特許庁

To improve the efficiency of debug by expanding a test function for a system test and accelerate the simulation execution time.例文帳に追加

システムテストのためのテスト機能を拡大しデバッグの効率を向上すると共に、シミュレーション実行時間を高速化する。 - 特許庁

A host computer A transmits a plurality of test packets, and a host computer B measures delay time in each test packet.例文帳に追加

ホストＡ・１は複数の試験パケットを送信し、ホストＢ・５が各々の試験パケットについて遅延時間を測定する。 - 特許庁

A control means performs test recording of prescribed test recording data on the recording medium prior to actual recording.例文帳に追加

制御手段は、実際の記録に先だって、所定のテスト記録データを記録媒体上に記録するテスト記録を行う。 - 特許庁

The optical fiber etalon 3 transmits the light under test every time the wavelength of the light under test fulfills a fixed condition.例文帳に追加

光学ファイバエタロン３は、被測定光の波長が一定の条件を満たす毎に、当該被測定光を透過させる。 - 特許庁

MULTI PROBE CARD UNIT, PROBE TEST DEVICE INCLUDING THE SAME, THEIR MANUFACTURING METHODS, AND METHOD OF USING PROBE TEST DEVICE例文帳に追加

マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法 - 特許庁

To prevent a water flow test body from getting into a junction pipe or a branch pipe in the midway of a drain pipe, during a drain pipe water flow test.例文帳に追加

排水通水試験で試験体が排水管の途中の合流管又は分岐管に入らないようにする。 - 特許庁

To simplify and miniaturize the structure of a test circuit in an earth leakage breaker, and to carry out an accurate leakage test.例文帳に追加

漏電遮断器におけるテスト回路の構成を簡単にし、小形にするとともに正確な漏電テストを可能にする。 - 特許庁

The developer revises the knowledge base so as to obtain the expected value of the test case stored in the test case base.例文帳に追加

開発者は、テスト事例ベースに格納されたテスト事例について期待値が得られるような知識ベースの改版を行う。 - 特許庁

Therefore, the arrangement state in the circuit block does not change before and after insertion of the test point, namely, the test point can be inserted without changing the arrangement state in the circuit block.例文帳に追加

したがって、テストポイントを挿入する前後において回路ブロック内の配置の状態が変わることがない。 - 特許庁

Therefore, a leak current is not made to flow in a boosting circuit even if a test voltage pad is cut off after finish of a test.例文帳に追加

したがって、テスト終了後にテスト電圧パッドを切断しても、昇圧回路にリーク電流が流れなくなる。 - 特許庁

To easily generate a test pattern by suppressing reduction of integration degree in a test circuit for a dual port memory.例文帳に追加

デュアルポートメモリのテスト回路において、集積度の低下を抑え、テストパターンの生成を容易にすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a method and a system of loop back test by which a loop back test is executed between devices in a LAN (local area network).例文帳に追加

ＬＡＮ内の装置間でループバックテストを実行することができるループバックテスト方法及びループバックテストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an electrochemical detection method for a test substance, capable of detecting the test substance with high detection sensitivity.例文帳に追加

高い検出感度で被検物質を検出することができる被検物質の電気化学的検出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test board for an integrated circuit capable of reducing the labor for development, characteristic test or the like, and reducing the cost.例文帳に追加

開発や特性試験等の手間が低減し、低コスト化することができる集積回路用テストボードを提供する。 - 特許庁

To reduce the scale of a circuit to be added for a test by reducing a test series length in a strong possibility inspection DFT method.例文帳に追加

強可検査ＤＦＴ法において、テスト系列長を短縮し、テストのために付加される回路の規模を削減する。 - 特許庁

To provide a different type inclusion test method and a test device having high detection capability of a different type inclusion.例文帳に追加

異品種の混入に対して高い検知力をもつ異品種混入検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

Thus, it becomes possible to test different kinds of IC devices by sharing one socket board for the test.例文帳に追加

こうすると、１つのテスト用ソケットボードを共用して異なる種類のＩＣデバイスを検査することができるようになる。 - 特許庁

The test voltage applying portion 2 applies test voltage Vt of various voltage levels on a corresponding read-out signal line VSL.例文帳に追加

テスト電圧印加部２は、種々の電圧レベルのテスト電圧Ｖｔを対応する読み出し信号線ＶＳＬに印加する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory having a test mode in which defect of a boosting circuit system can be specified and its test method.例文帳に追加

昇圧回路系の不良特定を可能としたテストモードを有する半導体メモリ及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A test pixel section 310 is formed in a serial circuit of an external amplifier transistor 312 and a pixel selection transistor 314 for test.例文帳に追加

テスト画素部３１０は、画素外アンプトランジスタ３１２とテスト用画素選択トランジスタ３１４の直列回路にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of implementing a test between a memory and memory peripheral logic in a scan test.例文帳に追加

メモリ及びメモリ周辺ロジック間のテストを、スキャンテストにて実現することができる半導体周期回路を提供する。 - 特許庁

The decision section determines whether the data in the memory cell array are the same as the test data and the inverted data of the test data or not.例文帳に追加

判断部はメモリセルアレイ内のデータがテストデータやテストデータの反転データと同じであるかの可否を判断する。 - 特許庁

To shorten testing time of semiconductor devices, while preventing mistakes in setting and altering test conditions, within a test program.例文帳に追加

試験プログラム内での試験条件の設定ミスや変更ミスを防止しながら、半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁

To facilitate defect analysis of a semiconductor memory by performing a probe test for wafer and a chip test for single chip.例文帳に追加

ウェハ用のプローブ試験および単体チップ用のチップ試験が実施可能で半導体メモリの不良解析を容易にする。 - 特許庁

To provide a system allowing specific test or processing to be performed twice without executing the whole of the test twice.例文帳に追加

試験全体を二度実行することなく、特定の試験や処理を二回行なうことのできるシステムを提供する。 - 特許庁

To efficiently verify a surveillance test procedure before performing a surveillance test to a plant having a plurality of apparatuses.例文帳に追加

複数の機器を有するプラントに対してサーベイランステストを行う前に、サーベイランステスト手順の検証を効率的に行う。 - 特許庁

To distinguish a channel of a handler corresponding to a die during a test in a multi-channel semiconductor test system.例文帳に追加

マルチチャネル半導体テストシステムにおいて、テスト中に、ダイに対応するハンドラのチャネルを識別することができるようにする。 - 特許庁