「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(69ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an image forming apparatus capable of stably detecting a pair of line segments constituting a test pattern without increasing the number of parts, and the test pattern.例文帳に追加

部品点数を増やすことなく、テストパターンを構成する一対の線分を安定して検出することのできる画像形成装置、及びそのテストパターンの提供。 - 特許庁

The test pattern 502 of the negative region includes a plurality of white bars extending in the longitudinal direction, and the test pattern 501 includes a plurality of white bars extending in the lateral direction.例文帳に追加

ネガ領域のテストパターン５０２は、縦方向に伸びる複数の白バーを含み、テストパターン５０１は横方向に伸びる複数の白バーを含む。 - 特許庁

The test pattern 402 of the positive region includes a plurality of black bars extending in the longitudinal direction, and the test pattern 401 includes a plurality of black bars extending in the lateral direction.例文帳に追加

ポジ領域のテストパターン４０２は、縦方向に伸びる複数の黒バーを含み、テストパターン４０１は横方向に伸びる複数の黒バーを含む。 - 特許庁

To provide a metal detection device capable of being calibrated without bringing a metal test piece into contact with an article to be processed while obviating the need of recovery of the metal test piece.例文帳に追加

金属テストピースの回収を不要にしつつ、処理されるべき物品に金属テストピースが接触することなく、金属検出装置を校正する。 - 特許庁

In formation of the test piece made of the same material as a workpiece, the size of the test piece is set to allow its storage in an adsorption tube container mountable on a gas chromatograph mass spectrometer.例文帳に追加

被加工材料と同一材料の試験片をガスクロマト質量分析装置に装着できる吸着管容器に収容できるサイズに作製する。 - 特許庁

To test an integrated circuit without changing the constitution of the integrated circuit of a testing object and without providing a large capacity of test vector memory.例文帳に追加

テスト対象の集積回路の構成を変更する必要がなく、大容量のテストベクトルメモリも設けることなく、集積回路のテストを可能にする。 - 特許庁

A tester processor 10, when conducting a test consisting of a plurality of test items on a semiconductor device 100, reads failure distribution data including the frequency of failure of each test item from a failure distribution data storage part 12 at first, sets the order of execution of each test item in a decreasing order of failure frequency, and executes each test item in the set order thereafter.例文帳に追加

テスタプロセッサ１０は、半導体装置１００に対して複数のテスト項目からなる試験を行う際に、まずフェイル分布データ格納部１２から各テスト項目のフェイル頻度が含まれるフェイル分布データを読み出して、フェイル頻度が高い順番に各テスト項目の実行順番を設定しており、その後、この設定した順番で各テスト項目を実行する。 - 特許庁

At the test mode, a selector circuit 75 receives output of the selector circuits 72 and 74, and when an object of an operation test is a spare memory cell, the circuit 75 outputs an output of the selector circuit 74 to a test device as test output data TDout.例文帳に追加

セレクタ回路７５は、テストモード時において、セレクタ回路７２および７４の出力を受けて、動作テストの対象がスペアメモリセルである場合には、セレクタ回路７４の出力をテスト出力データＴＤｏｕｔとして、試験装置に対して出力する。 - 特許庁

One of a pair of wireless base station devices generates a test packet including test data, stores replicated data having the same content as that of the test data, and transmits the test packet to the other wireless base station device together with originator information via a wireless communication network.例文帳に追加

一方の無線基地局装置は、試験データを含む試験パケットを生成して、当該試験データと同一内容の複製データを記憶するとともに、当該試験パケットを発信元情報と共に無線通信網を介して他方の無線基地局装置へ送信する。 - 特許庁

After a positive type resist is coated on a test substrate and it is brought into a focus by using a mask original plate for a test pattern to expose at a plurality of parts, development is carried out to form the test patterns composed of remaining patterns at the plurality of parts on the test substrate, respectively (step S11).例文帳に追加

テスト基板上にポジ型レジストを塗布し、テストパターン用マスク原版を用いてフォーカスを振って複数個所に露光した後、現像を行なって、テスト基板上の複数個所にそれぞれ残しパターンからなるテストパターンを形成する（ステップＳ１１）。 - 特許庁

A quantity of light for reading the image adjustment test pattern printed on the rear surface through from the front side of the recording sheet with the position adjustment test patterns formed is adjusted; and the light quantity is increased, until the density level of the test pattern printed on the rear surface reaches a prescribed value, and then, the test pattern on the rear surface is read.例文帳に追加

位置調整用のテストパターンが形成された記録シートの表側から裏面のテストパターンを透かして読み取るときの光量を調整し、裏面のテストパターンの濃度レベルが所定値になるまで光量を増加させて読取を行う。 - 特許庁

Preferably, the analog test signals are directly inputted to the A/D converter 5 as well and the abnormality of the input circuit is judged based on the comparison of digital conversion test signals by the A/D converter 5 of the directly inputted test signals and the test signals after the separation.例文帳に追加

好ましくはアナログ試験信号をＡ／Ｄコンバータ５へも直接入力し、直接入力の試験信号のＡ／Ｄコンバータ５によるディジタル変換試験信号と前記分離後の試験信号との比較に基づき入力回路の異常を判定する。 - 特許庁

To solve the problem that since trimming data are random data unique to each chip, when a plurality of chips are measured simultaneously by an external device, individual control of chips is required, a test time, a test cost such as man-hour for test program development, and human errors due to complication of a test program are increased.例文帳に追加

トリミングデータはチップ毎に固有のランダムなデータであるため、外部装置により複数チップを同時測定している場合、チップ個別の制御が必要となり、テスト時間・テストプログラム開発工数等のテストコストやテストプログラム複雑化によるヒューマンエラー増大を招く。 - 特許庁

A test signal transmission section 12 of LTE 1 transmits an optical test signal, the transmitted test signal is relayed and transmitted by a node N1 or the like of the optical transmission network system along the new route and received by a test signal reception section 22 of LTE 2.例文帳に追加

ＬＴＥ１の試験信号送信部１２から光による試験信号が送信され，送信された試験信号は新規ルートに沿って光伝送ネットワークシステムのノードＮ１等により中継伝送され，ＬＴＥ２の試験信号受信部２２に受信される。 - 特許庁

By this constitution, as an independent test circuit is not required for the dual port memory 11 and a memory test of a conventional march pattern can be performed, circuit scale is suppressed and a test of the dual port memory 11 can be realized without increasing wirings and terminals of the test circuit.例文帳に追加

この構成により、デュアルポートメモリ１１用に独立したテスト回路を持つ必要がなく、これまでのマーチパターンのメモリテストを行えるため、テスト回路の配線や端子を増やすことなく、回路規模を抑えてデュアルポートメモリ１１のテストを実現することができる。 - 特許庁

In the test of the semiconductor device, since the clock of the scan chain need not be longer than the cycle of the clock of the pattern generator, increase in the number of the clocks of the pattern generator necessary for the test is avoided, and thereby the test time is avoided from increasing.例文帳に追加

半導体装置のテストにおいて、スキャンチェインのクロックをパタン発生器のクロックの周期よりも長くする必要がないので、テストに必要なパタン発生器のクロック数の増加が回避され、それによりテスト時間が増加するのが回避される。 - 特許庁

To provide a sample test system and a sample test method that can simply and reliably batch-change the setting conditions of a plurality of test apparatuses to the same setting conditions, in facilities, such as a testing center having a plurality of test apparatuses of the same type.例文帳に追加

検査センターなどの同一種類の検査装置を複数台有する施設において、複数の検査装置の設定条件を労することなく確実に、かつ一括してその設定条件を同一設定条件に変更できる検体検査システムおよび検体検査方法を提供する。 - 特許庁

The printer apparatus 10 may form arranging a plurality of test images in a main scanning direction, select the test image which does not overlap with the region of unevenness or streaks among the plurality of formed test images, and carry out output density adjustment on the basis of the selected test image.例文帳に追加

また、プリンタ装置１０は、複数のテスト画像を主走査方向に配列して形成し、形成された複数のテスト画像のうち、ムラ又はスジの領域と重ならないテスト画像を選択し、選択されたテスト画像に基づいて、出力濃度調整を行ってもよい。 - 特許庁

To provide a test circuit for hysteresis voltage width measurement and a measuring method of the hysteresis voltage width capable of simplifying the test circuit by dispensing with installation of a mode decoder for test signal selection, and suppressing to the minimum the increase of a chip area for the test circuit.例文帳に追加

テスト信号選択用のモードデコーダを設けなくて済んでテスト回路を簡略化することができるとともに、テスト回路のためのチップ面積の増加を最小限に抑えることができるヒステリシス電圧幅測定用のテスト回路およびそのヒステリシス電圧幅の測定方法を提供する。 - 特許庁

On the basis of a test sound signal of a single frequency, levels of a first test sound outputted from a first loudspeaker, a second test sound outputted from a second loudspeaker, and a composite sound of the first and second test sounds simultaneously outputted from the first and second loudspeakers are detected (step S22).例文帳に追加

単一周波数のテスト音声信号に基づいて第１スピーカから出力される第１テスト音声、第２スピーカから出力される第２テスト音声、並びに第１及び第２から同時に出力される第１及び第２テスト音声の合成音声のレベルを検出する（ステップＳ２２）。 - 特許庁

To provide a test method of side slip or the like of a vehicle and its testing device having a simple formation and a small size, capable of improving test precision by releasing before the test an initial stress of wheels loaded on a test roller, being manufactured inexpensively, and improving its service life.例文帳に追加

テスト用ローラに乗り込んだ車輪の初期応力を試験前に解放し、試験精度の向上を図るとともに、構成が簡単で小形かつ安価に製作でき、その寿命の向上を図れるようにした、車両のサイドスリップ等の試験方法及びその試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a RAID (Redundant Arrays of Inexpensive Disks) test system with which a disk controller of a RAID device is substituted with a conventional testing computer to perform a test of another RAID device about a shipping test of RAID devices, a RAID test program and a RAID testing method.例文帳に追加

ＲＡＩＤ装置の出荷試験に関し、より詳細にはＲＡＩＤ装置のディスクコントローラを従来の試験用コンピュータと代替し、他のＲＡＩＤ装置に対して試験の実施を行うＲＡＩＤ試験システム、ＲＡＩＤ試験プログラムおよびＲＡＩＤ試験方法に関する。 - 特許庁

To provide a magnetic disk test method or a certifier which reduces a write connecting region of test burst signals in a test track, which become non-test areas, and also reduces error of defect detection of the write connecting region when errors of a magnetic disk are detected.例文帳に追加

未検査エリアとなる検査トラックにおけるテストバースト信号の書きつなぎ領域を低減しかつ磁気ディスクのエラー検出をする際に書きつなぎ領域の欠陥誤検出を低減することができる磁気ディスクの検査方法あるいはサーテファイアを提供することにある。 - 特許庁

A main body controlling part 11 selects any one or a plurality of the test images among a plurality of the kinds of the test images stored, and the selected test image is print-outputted by the printer part 3 by an outputting condition in accordance with the kind of the selected test image.例文帳に追加

本体制御部１１は前記記憶された複数種類のテスト画像のうち、何れか一又は複数のテスト画像を選択し、当該選択したテスト画像の種類に応じた出力条件で、当該選択したテスト画像を前記プリンタ部３によりプリント出力させる。 - 特許庁

A plurality of the test tool individual packages 1 in the same shapes are aligned so that base end directions of the two adjacent test tool individual packages 1 become opposite to each other, and the grip part 33 of one test tool individual package 1 is adjacent to the storage part 34 of the other test tool individual package 1.例文帳に追加

同一形状の複数の試験具個包装体１を、隣り合う２つの試験具個包装体１の基端方向が互いに反対になり、一方の試験具個包装体１の把持部３３と、他方の試験具個包装体１の収納部３４とが隣接するように並べる。 - 特許庁

When the test execution period of the each load test starts, the test management server 3 checks the number of the user terminals 1 that are already started up among the user terminals 1 operated by the registered users, and assigns a load value registered in the test load registration database 37 to each of the users according to the number of the user terminals.例文帳に追加

テスト管理サーバ３は、各負荷テストのテスト実行期間に至ると、登録されているユーザが操作しているユーザ端末１のうち起動中のものの台数を調べ、テスト負荷登録データベース３７に登録されている負荷値を当該台数に応じて各ユーザに分配する。 - 特許庁

This event type test system has a plurality of pin units assigned to a device pin to be tested, a test finishing signal generator for generating a signal for indicating finishing of the test for a corresponding pin unit independently of the other pin unit, and a system controller for controlling an entire operation of the event type test system.例文帳に追加

イベント型テストシステムは、被試験デバイスピンに割り当てられる複数のピンユニットと、対応するピンユニットについてのテストの終了を示す信号を他のピンユニットと独立して発生するテスト終了信号発生器と、イベント型テストシステムの全体的動作を制御するシステムコントローラとを有する。 - 特許庁

A transmitter/receiver is installed on one end of a test object pipe, and an acoustic signal is transmitted from a transmitter to the inside of the test object pipe, and the acoustic signal reflected on the inside of the test object pipe is received by a receiver, and inspection of the test object pipe is executed by the received acoustic signal.例文帳に追加

検査対象管の一端に送受信機を取り付け、送信子から音響信号を検査対象管内部に送信すると共に受信子により検査対象管内で反射した音響信号を受信し、この受信した音響信号により検査対象管の検査を行う。 - 特許庁

The target position of a test tube 90 to be housed is corrected on the basis of the relative position of the target test tube 90 in relation to the test tube hand 22 detected by the obtained image of an image pickup part 51 and the conveying mechanism 20 moves the test tube hand 22 to the corrected target position.例文帳に追加

収納される試験管９０の目標位置は、撮像部５１の取得画像により検出した試験管ハンド２２に対する目標試験管９０の相対位置に基づいて補正され、搬送機構２０は補正された目標位置に試験管ハンド２２を移動させる。 - 特許庁

The test time can be shortened without using the expensive tester because the DUT of a test target is recognized on the basis of a holder 511, a test number recognition signal S511 recorded in ID data and the count number of a timing clock S540b of a tester 540 to perform a test.例文帳に追加

治具５１１やＩＤデータに記録された検査番号認識信号Ｓ５１１とテスター５４０のタイミングクロックＳ５４０ｂカウント数から検査対象のＤＵＴを認識して検査を行うため、高価なテスターを用いることなく検査時間の短縮を図ることができるようにすることができる。 - 特許庁

Castec started to make earnest efforts to have employees take the national technical skills test after its director in charge of general administrative affairs was told by an official of another manufacturer located in the same industrial zone that it was natural for technical workers to pass at least Level 2 of the test. Thereafter, the company made it a policy to require team leaders or employees with higher positions to pass the national technical skills test so as to differentiate their skill levels from those of subordinates and disclose the qualifications acquired through the test.例文帳に追加

たまたま取締役総務部長が、同じ工業団地内のメーカーの人との会話の中で、「2 級技能検定合格は技術者として当たり前」と言われたことが、従業員の技能検定受検に本格的に取り組むきっかけとなった。 - 経済産業省

To provide an EMC test estimation system capable of specifying each characteristic deterioration factor in an EMC test site, and to provide a method for improving the EMC test site by use of a result obtained by using the EMC test estimation system.例文帳に追加

ＥＭＣ試験サイトにおける個々の特性劣化要因を特定できるＥＭＣ試験評価システムを提供すると共に、このＥＭＣ試験評価システムを使用して得られた結果を用いてＥＭＣ試験サイトを改良する方法を提供する。 - 特許庁

A test program and a test pattern generating program are downloaded into the CPU cores 2c and 3c of the LSI or the group of LSIs to generate test patterns by the test pattern generating program and diagnose internal function blocks etc.例文帳に追加

そして、上記ＬＳＩもしくは上記ＬＳＩ群のＣＰＵコア２ｃ，３ｃに試験プログラムおよび試験パターン生成プログラムをダウンロードし、上記試験パターン生成プログラムにより、試験パターンを発生させ、内部の機能ブロック等の診断を行う。 - 特許庁

When the flotation height of the glide test head is determined according to the rotational frequency during the certification test, a change amount of the thermal deformation using mechanism provided to the glide test head is adjusted so that the glide test head have a desired flotation height.例文帳に追加

サーティファイテスト時の回転数に応じてグライドテスト用ヘッドの浮上高さが決定した場合に、グライドテスト用ヘッドに設けてある熱変形利用機構の変化量を調整してグライドテスト用ヘッドを所望の浮上高さとなるようにしている。 - 特許庁

To eliminate operation for unnecessary simulation, etc., by accurately measuring a description which is not covered by a verification test and preventing an unnecessary test from being generated when the coverage of test data used to test the function of a logic circuit is evaluated.例文帳に追加

論理回路の機能テストをする際に用いられるテストデータのカバレッジを評価する際、検証テストでカバーされていない記述を正確に計測し、不要なテストを作成することを防ぐことによって、不要なシミュレーション等の作業を省略する。 - 特許庁

As a result, when the test timing information of the external pin without signal variation can be made identical to test timing information of other function pattern, test timing information can be carried out in common, so that periods necessary for the LSI test can be reduced.例文帳に追加

したがって、信号変化のない外部ピンのテストタイミング情報を、別のファンクションパターンのテストタイミング情報と同じにすることができる場合には、テストタイミング情報を共通にすることができ、ＬＳＩのテストに要する時間を削減することができる。 - 特許庁

Data to be recorded in a data area is stored in a memory 108 while test writing for a test writing area of an optical disk is performed, recording of data for the data area and test writing for the test writing area are performed alternately.例文帳に追加

光ディスクの試し書き領域へ試し書きが行われている間にメモリ１０８にデータ領域へ記録するデータを記憶させ、データ領域へのデータの記録と試し書き領域への試し書きとを交互に行うことを特徴とする。 - 特許庁

A storage is stored with test conditional information composed of laser output value and scanning velocity, and test coordinates information regarding each test printing position Pn in which the distance from the optical axis center C of a convergent lens 13 is made almost equal (test radius R2).例文帳に追加

記憶装置に、レーザ出力値と走査速度からなるテスト条件情報と、収束レンズ１３の光軸中心Ｃからの距離が略等距離（テスト径Ｒ２）となるテスト印字位置Ｐｎに関するテスト座標情報を記憶するようにした。 - 特許庁

The arrangement of the test bench needed for the verification program is described within the verification program, whereby a mechanism is constructed which is executed after the test bench conforming to the test bench arrangement described is automatically constructed from the test bench of the largest arrangement.例文帳に追加

検証用プログラムに必要なテストベンチの構成を検証用プログラム内に記述することで、記述されたテストベンチ構成にしたがったテストベンチが最大構成のテストベンチから自動的に構築されてから実行される仕組みを構築する。 - 特許庁

Then, when registration processing of the test form data is performed, the test form data is stored only in a folder for which registration of the test form data has been permitted, and the test form data for which another folder has been set as a distribution destination folder is registered in an error folder.例文帳に追加

そして、テスト帳票データの登録処理を行う際には、テスト帳票データの登録を許可したフォルダにのみテスト帳票データを保存し、それ以外のフォルダが配信先フォルダとなっているテスト帳票データはエラーフォルダに登録する。 - 特許庁

When the connection characteristics of the connection mechanisms are not different from each other, a first load test execution part 22 determines load test combination programs of the test program and the load program with load effects for all processors, allocates them to the processors, and executes the load test.例文帳に追加

第１負荷試験実行部２２は接続機構の接続特性に相違がない場合、全プロセッサを対象に負荷効果のある試験プログラムと負荷プログラムとの負荷試験組合せプログラムを決定し、プロセッサに割付けて負荷試験を実行する。 - 特許庁

To provide a test piece retention mechanism capable of precisely positioning and holding without changing the position of the test piece even if it expands and shrinks by temperature change and a test piece processing and observation device equipped with this test piece retention mechanism.例文帳に追加

温度変化によって膨張、収縮したとしても保持している試料の位置を変化させること無く、正確に位置決め、保持することが可能な試料保持機構、及び、この試料保持機構を備えた試料加工・観察装置に提供する。 - 特許庁

To provide an impact testing device capable of applying a reproducible impact force to a test object, and acquiring an accurate test result, concerning the impact testing device for performing an impact test of the test object or the like in the state where an electronic component is loaded on a substrate.例文帳に追加

電子部品を基板に搭載した状態の被試験物等の衝撃試験を行う衝撃試験装置に関し、被試験物に再現性のある衝撃力を加えることができ、正確な試験結果が得られる衝撃試験装置を実現する。 - 特許庁

The image forming apparatus forms a test pattern only on one side of a recording paper, outputs the recording paper after the test pattern is fixed once, then forms the test pattern only on one side of the recording paper and outputs the recording paper after the test pattern is fixed once.例文帳に追加

画像形成装置は、記録用紙の片面にのみテストパターンを形成して一回の定着を行った記録用紙を出力し、次に記録用紙の片面にのみテストパターンを形成して一回の定着を行った記録用紙を出力する。 - 特許庁

To execute a precise pressure application test over a long period of time without using expensive apparatuses, etc. and to secure safety even if a test body happens to burst during the test, in the case of executing an inner pressure application test.例文帳に追加

内圧付加試験を実施する場合において、高価な装置類を使用することなく長期間にわたって正確な加圧試験を実施し、また試験中に試験体が破裂するようなことがあっても安全が守られることを課題とする。 - 特許庁