「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(66ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a data processor capable of ending the test of a RAM and a test including a user logic circuit further in a short time.例文帳に追加

ＲＡＭのテストおよびユーザロジック回路を含むテストをさらに短時間で終了させることができるデータ処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a materials testing machine capable of more rapidly and more surely reporting changes in the characteristics of a test object during a test to an operator.例文帳に追加

試験中における試験体の特性変化を、より早くより確実にオペレータに報知することができる材料試験機の提供。 - 特許庁

A test signal generation unit 600 generates a test signal having a level higher than a signal level of normal sensitivity of a reception circuit 330 by a prescribed level.例文帳に追加

テスト信号生成部600は、受信回路330の規定感度となる信号レベルより所定分高いレベルのテスト信号を生成する。 - 特許庁

To improve reliability by making the constitution of a dual port memory test device simpler and by shortening a test time by decreasing the number of signals to be observed.例文帳に追加

デュアルポートメモリ試験装置をより簡単な構成にし、観測する信号数を減して試験時間を短縮し、信頼性を高める。 - 特許庁

During the English listening comprehension test, 224 people at 181 sites reported a malfunction of their audio device, and 220 of them took the test again on the same day. 例文帳に追加

英語のリスニング試験では，181会場で224人が再生装置の不具合を訴え，そのうち220人が同日に再びこの試験を受けた。 - 浜島書店 Catch a Wave

To shorten the test time of testing a device under test including a scan chain comprising a plurality of flip-flops.例文帳に追加

複数のフリップフロップから構成されるスキャンチェインを有する被試験デバイスの試験の試験時間の短縮化を図ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a test tool and a test method for efficiently testing basic software corresponding to the difference of the specifications of hardware.例文帳に追加

ハードウェアの仕様の違いに対応した基本ソフトウェアを効率的にテストする、テストツール及びテスト方法を提供することができる。 - 特許庁

To decrease the scale of a microcomputer for testing a memory part and a logic part, and to eliminate the wasted time of the test to shorten a test time.例文帳に追加

メモリ部及びロジック部をテスト可能なマイコンを小規模化し、かつテストにおける無駄な時間を解消し、テスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a loading test room capable of reducing a noise generated during a loading test of an industrial vehicle, and discharging exhaust gas effectively.例文帳に追加

産業車両のロードテスト時に発生する騒音を低減でき、かつ排ガスを効果的に排出できるロードテスト室を提供する。 - 特許庁

The device of housing and endowing the test strips 142 has a vessel housing a stack 104 of the test strips.例文帳に追加

試験ストリップ１４２を格納しかつ分与するための装置は、試験ストリップのスタック１０４を格納するように構成された容器を含む。 - 特許庁

About one out of two conductors constituting a differential impedance test pattern 104, conductor of a characteristic impedance test pattern 105 is connected.例文帳に追加

差動インピーダンステストパターン１０４を構成する２本の配線のうち、１本について特性インピーダンステストパターン１０５の配線を接続する。 - 特許庁

To suppress increase of wiring area from a data output terminal of each memory to a test control circuit in an incorporated memory test circuit.例文帳に追加

組み込み型メモリ試験回路において、各メモリのデータ出力端子から試験制御回路までの配線面積の増加を抑制する。 - 特許庁

To provide a sequence test apparatus and a sequence test method capable of allowing a user to easily identify the latencies of terminals to be tested.例文帳に追加

被試験端末のレイテンシをユーザに容易に識別させることができるシーケンス試験装置及びシーケンス試験方法を提供する。 - 特許庁

To implement an accurate tire test of tires having various sizes under the wide range of test conditions by using a tire tester.例文帳に追加

タイヤ試験機において、１機のタイヤ試験機でさまざまなサイズのタイヤに対して広範囲な試験条件で高精度にタイヤ試験を行う。 - 特許庁

Preferably, the crushed activated carbon as the carrier has a particle size that remains on a test sieve of 500 μm opening and passes through a test sieve of 5.60 mm opening.例文帳に追加

担体である破砕状活性炭は試験用ふるいの目開きで、５００μｍ〜５．６０ｍｍの粒度を有するものが好ましい。 - 特許庁

To provide an inexpensive digital eddy current defect detection test device capable of performing efficiently an eddy current defect detection test of a pipe.例文帳に追加

パイプの渦流探傷試験を効率よく実施することができる安価なデジタル式渦流探傷試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a static semiconductor memory device capable of shortening the test time of a data retention test, thereby improving productivity.例文帳に追加

データリテンションテストのテスト時間を短縮して、生産性を向上させることができるスタティック型半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device and its test method improving reliability of the operation test while suppressing the increase of a chip size.例文帳に追加

チップサイズの増加を抑制しつつ動作テストの信頼性を向上出来る半導体記憶装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, a test method, and a program capable of performing a test within a short period of time.例文帳に追加

本発明は、短い時間でテストを行うことが出来る半導体装置、試験方法及びプログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To enable verification of the operation state of each pixel in a pixel array part and to simplify a device test to shorten the test time.例文帳に追加

ピクセルアレイ部の各ピクセル（画素）の動作状態の検証を可能にするとともに、デバイステストを簡略化してテスト時間の短縮する。 - 特許庁

(3) The film frame is put on a test device, and the test device re-tests the plurality of semiconductor devices based on the information of the first map.例文帳に追加

(３) フィルムフレームをテスト装置に置き、テスト装置が、第１マップの情報に基づき、複数の半導体デバイスに再テストを行う。 - 特許庁

To provide a simple inspecting method of an organic thin film capable of enlarging a test area and conducting a test speedily; and to provide a device for the inspection.例文帳に追加

検査面積の大型化が可能で、検査速度の速い簡便な有機薄膜の検査方法及びその装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test configuration capable of rapidly and perfectly executing a test of a tire; its device; and its method.例文帳に追加

タイヤの試験を素早くかつ完全に実施可能にする、タイヤを試験するための試験配置並びに装置及び方法を提供する。 - 特許庁

The plural input pads of the test circuit 14 are connected through test wirings 18 with the corresponding terminals of all the chips 12.例文帳に追加

テスト回路１４が備える複数の入力パッドをテスト配線１８を介して全てのチップ１２の対応する端子に接続する。 - 特許庁

Then, the set temperature Test of the air conditioner is decreased by the prescribed amount (1°C) when the derivative value of the ultradian rhythm becomes minimum.例文帳に追加

次に、ウルトラディアンリズム周期の微分値が極小となるときに、空調機の設定温度Testが所定量（１℃）だけ減少される。 - 特許庁

To provide a measurement device for an immunochromatography test piece, capable of measuring a coloring degree of the test piece with high accuracy.例文帳に追加

免疫クロマト試験片の呈色の度合いを精度よく測定することが可能な免疫クロマト試験片の測定装置を提供すること。 - 特許庁

On the basis of the kind of the audio signal, test signal determination means 8 determines whether or not the audio signal is a test signal.例文帳に追加

テスト用信号判断手段８は、音声信号の種類に基づいて、当該音声信号がテスト信号であるか否かを判断する。 - 特許庁

To provide a test system carrying out an actual speed test of a desired route among a plurality of synchronizing memory elements.例文帳に追加

複数の同期式記憶素子間の経路の内の所望の経路の実速度テストを行うことのできるテストシステムを提供すること。 - 特許庁

To provide a loading test device capable of controlling easily a load to act following deformation of a test structure or the ground.例文帳に追加

試験構造物や地盤の変形に追従して荷重を簡単に制御して作用させることができる載荷試験装置を提供する。 - 特許庁

To prevent erroneous operation of a characteristic test of an optical path even when a test light cutoff filter is not arranged actually.例文帳に追加

試験光遮断フィルタが実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試験が実施されてしまうことを防止する。 - 特許庁

A computer 100 performs test execution of a program, adds link information to memory dump obtained as a result of the test and shows it on a monitor 115.例文帳に追加

計算機１００でプログラムをテスト実行し、テストの結果として得られるメモリダンプに、リンク情報を付加して、モニタ１１５に表示する。 - 特許庁

The image of a test pattern is formed on the photoreceptor drums 21 for four primary colors YMCK so as to form the image of a test patch 51 on the transfer belt 11.例文帳に追加

４原色ＹＭＣＫ感光ドラム２１上にテストパターンを作像して、転写ベルト１１上にテストパッチ５１を像形成する。 - 特許庁

To provide a tire abrasion test method capable of setting easily and properly a travel mode to test precisely abrasion of a tire.例文帳に追加

走行モードを簡易且つ適切に設定して、タイヤ摩耗を精度良く試験することができるタイヤ摩耗試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a material testing machine for a fine test piece capable of measuring a fatigue characteristic and a tensile characteristic of the fine test piece with high accuracy.例文帳に追加

微小試験片の疲労特性及び引張特性を高精度に測定できる微小試験片用材料試験機を提供する。 - 特許庁

Also, the ADC test result is only a 1-bit Flag signal, so that the number of terminals of the ADC test circuit can be greatly reduced.例文帳に追加

また、ＡＤＣテスト結果がわずか１ビットのＦｌａｇ信号であり、ＡＤＣテスト回路の端子数を大幅に減らすことができる。 - 特許庁

A static power current IDDQ is measured at a plurality of strobe points with application of a test signal to a CMOS integrated circuit 50 under test.例文帳に追加

試験対象のＣＭＯＳ集積回路５０にテスト信号を印加して静止電源電流Ｉ_DDQ を複数のストローブ点で測定する。 - 特許庁

A failure state database memory for memorizing data associating a self-diagnosis result of the test object with the order of test items is added.例文帳に追加

被試験体の自己診断結果と試験項目の順序を対応付けたデータを記憶する故障状況データベース記憶器を付加する。 - 特許庁

To provide a deburring apparatus for a rubber test piece, capable of automatically and efficiently performing the deburring work of the rubber test piece comprising a vulcanized rubber.例文帳に追加

加硫サンプルからなるゴム試験片のバリ取り作業を自動的に効率良く行うゴム試験片のバリ取り装置を提供する。 - 特許庁

In a device, a kind of gas ion beam for processing a test piece and a kind of gas ion beam for observing the test piece can be switched over.例文帳に追加

試料を加工するガスイオンビーム種と試料を観察するときのガスイオンビーム種を切り替えることが可能である装置とする。 - 特許庁

TEST PATTERN GENERATION METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST PATTERN GENERATOR OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, CONTROL PROGRAM, READABLE RECORDING MEDIUM例文帳に追加

半導体集積回路のテストパターン生成方法および半導体集積回路のテストパターン生成装置、制御プログラム、可読記録媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device in which memory tests of a plurality of test patterns are performed and its test time can be shortened.例文帳に追加

複数のテストパターンのメモリテストを実行するとともに、そのテスト時間を短縮することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To improve the throughput of test, enable tests to be carried out at an accurate temperature, and realize a miniaturization, simplification and cost reduction of a test device.例文帳に追加

試験のスループットを向上させ、正確な温度での試験を可能とし、試験装置の小型化、単純化および低コスト化を図る。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM AND METHOD OF REMOVING OXIDE FILM ON SURFACE OF SEMICONDUCTOR ELECTRODE PAD TO BE INSPECTED IN SEMICONDUCTOR TEST SYSTEM例文帳に追加

半導体テストシステムおよび半導体テストシステムにおける検査対象となる半導の電極パッド表面の酸化被膜除去方法 - 特許庁

To provide a method for an external appearance test of a semiconductor chip and a probing test in a state of a wafer.例文帳に追加

ウエハの状態で半導体チップの外観検査とプロービングテストを行う方法において、外観検査が適切に行われるようにする。 - 特許庁

To provide a program test specification generation which enables automatic extraction of a test item corresponding to significance.例文帳に追加

重要度に応じたテスト項目の自動的な抽出を可能とするプログラムテスト仕様書生成装置を提供する。 - 特許庁