「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(72ページ目) - Weblio英語例文検索

To improve a failure detection rate per unit area of a test circuit.例文帳に追加

テスト回路の単位面積当たりの故障検出率を向上させる。 - 特許庁

To restrain an increase of a test pattern to conduct a dynamic compaction.例文帳に追加

テストパターンの増加を抑制して効果的にダイナミックコンパクションを行なう。 - 特許庁

An exhaust speed of fluorine exhausted in a power generation test is obtained.例文帳に追加

発電試験において排出されるフッ素の排出速度を求める。 - 特許庁

To provide a test method and an inspection device of substrates capable of conducting detailed inspection, without installing test land.例文帳に追加

テストランドを設けることなく詳細な検査を行うことが可能な基板の検査方法及び検査装置を提供することをを目的とする。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR DIELECTRIC BREAKDOWN TEST OF COATED WIRE例文帳に追加

被膜付電線の絶縁破壊試験装置及び絶縁破壊試験方法 - 特許庁

To improve the efficiency of an analog and digital characteristic test and suppress the manufacturing cost of the analog and digital characteristic test circuit.例文帳に追加

本発明の課題は、アナログ・ディジタル特性試験の効率を向上し、また、アナログ・ディジタル特性試験回路の製造コストを抑えることである。 - 特許庁

A test tray and a test system for assessing the response of a biological sample to a compound or combination of compounds are provided.例文帳に追加

化合物または化合物の組み合わせに対する生物試料の応答を評価するための試験トレイおよび試験トレイシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a test structure of a semiconductor device, and a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のテスト構造物及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

ROLLER FOR BENDING STRENGTH TEST OF CONCRETE AND TESTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

コンクリートの曲げ強度試験用ローラおよびこれを用いた試験装置 - 特許庁

To provide a test burn-in board(TBIB) handler capable of preventing mounting inferiority of an IC on a normal IC socket on a TBIB with superior test efficiency.例文帳に追加

試験効率が良く、ＴＢＩＢ１上の正常ＩＣソケットにＩＣ１Ａの実装不良を防止できるＴＢＩＢハンドラを提供する。 - 特許庁

A control point CP transmits a plurality of test indications to the server SV1.例文帳に追加

コントロールポイントＣＰは、複数のテスト指示をサーバＳＶ１に送信する。 - 特許庁

WHEEL OF TEST VEHICLE, EXPERIMENTAL DEVICE AND AERODYNAMIC CHARACTERISTIC DETECTION METHOD例文帳に追加

テスト車両の車輪、実験装置及び空力特性検出方法 - 特許庁

BURN-IN TEST DEVICE, AND MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE USING THE DEVICE例文帳に追加

バーンイン試験装置およびそれを用いた半導体装置の製造方法 - 特許庁

To provide a nonvolatile memory card and a test method therefor that can shorten the time for test of a nonvolatile memory after the assembly of the memory card.例文帳に追加

メモリカードの組み立て後に不揮発性メモリのテストを短時間で行うことができる不揮発性メモリカードおよびそのテスト方法を実現する。 - 特許庁

TEST METHOD FOR DATA STORAGE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING DATA STORAGE DEVICE例文帳に追加

データ記憶装置のテスト方法及びデータ記憶装置の製造方法 - 特許庁

PRINT CONTROLLER, PROGRAM, AND TEST PRINTING METHOD OF PRINT CONTROLLER例文帳に追加

印刷制御装置、プログラム、および印刷制御装置のテスト印刷方法 - 特許庁

To confirm normality of voice even without interposing a test operator.例文帳に追加

試験操作者が介在しなくても音声の正常性を確認する。 - 特許庁

A test pattern (line pattern) on a recording medium is read (S80), and a corresponding position of the test pattern is acquired by a pixel unit of reading pixel pitch (S82).例文帳に追加

記録媒体上のテストパターン（ラインパターン）を読み取り（Ｓ８０）、読取画素ピッチの画素単位でテストパターンの対応位置を取得する（Ｓ８２）。 - 特許庁

To improve the accuracy of the test results obtained by a cone calorimeter.例文帳に追加

コーンカロリメーターを用いて得られる試験結果の精度を向上させる。 - 特許庁

To increase success rate of path delay test by enhancing the controllability of path delay test thereby making active a path to be tested stably and surely.例文帳に追加

パス遅延テストの制御性を向上させてテストしたいパスを安定且つ確実にアクティブとして、パス遅延テストの成功率を高くすること。 - 特許庁

To provide a terminal device which performs test of an application which easily copes with a different format, and also to provide a test method of the application.例文帳に追加

容易に異なるフォーマットに対応することができるアプリケーションのテストを行う端末装置、及びアプリケーションのテスト方法を提供する。 - 特許庁

TEST PIECE FOR SENSITIVITY CALIBRATION OF ULTRASONIC TESTING, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

超音波探傷試験の感度校正用試験片とその製造方法 - 特許庁

The varying temperature section includes a plurality of mobile heat conduction sections, in which each contact surface with the test object can move according to the shape of test object.例文帳に追加

変温部は、被試験体の形状に応じて、被試験体との各々の接触面が可動する複数の可動式熱伝導部を含む。 - 特許庁

The output of the LSI 11 in response to the test pattern, together with the output of the window comparator 12, is processed by a function test result determination part 23.例文帳に追加

そのテストパターンに対するＬＳＩ１１の出力は、ウィンドウコンパレータ１２の出力とともにファンクションテスト結果判定部２３で処理される。 - 特許庁

The first program section is programmed when a test of an internal circuit is passed.例文帳に追加

第１プログラム部は、内部回路のテストがパスしたときにプログラムされる。 - 特許庁

TEST METHOD FOR COLOR FILTER SUBSTRATE, TEST DEVICE FOR PICTURE ELEMENT OF COLOR FILTER SUBSTRATE, MANUFACTURING METHOD OF COLOR FILTER SUBSTRATE AND DISPLAY DEVICE WITH COLOR FILTER SUBSTRATE例文帳に追加

カラーフィルタ基板の検査方法、カラーフィルタ基板の絵素の検査装置、カラーフィルタ基板の製造方法及びカラーフィルタ基板を備えた表示装置 - 特許庁

A plurality of sets of the naturally promoted weathering test devices are defined within the array and the test piece is exposed to the solar radiation with different intensity.例文帳に追加

自然促進耐候性試験装置の複数のセットが配列内で定義されまた試験片は異なる太陽熱放射強度に暴露される。 - 特許庁

ALTERNATIVE TEST METHOD FOR EFFECT OF ENVIRONMENTAL POLLUTANT ON BONE例文帳に追加

環境汚染物質の骨に及ぼす影響に関する代替試験方法 - 特許庁

To contain a maximum number of test strips protected from moisture in a test strip magazine which is exchangeable in an analyzer of mobile type.例文帳に追加

携帯型分析装置中で交換可能なテストストリップマガジン中に、湿気に対して防御された最大限の数のテストストリップを収容する。 - 特許庁

This component testing device includes two conveyance hands 50A, 50B for conveying the electronic component T to the plurality of test sockets Sc of a component test part.例文帳に追加

部品試験装置は部品試験部の複数のテストソケットＳｃに電子部品Ｔを搬送する２つの搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂを有する。 - 特許庁

MATERIAL TESTING MACHINE AND METHOD FOR MEASURING TEST PIECE WIDTH OF MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法 - 特許庁

To improve reliability of a test without lowering workability.例文帳に追加

稼働効率を低下させることなく、試験の信頼性の向上させる。 - 特許庁

To reduce costs required for a performance test of a developed application (program).例文帳に追加

開発したアプリケーション（プログラム）の性能テストに要するコストを削減する。 - 特許庁

To grasp the shape of a surface of a test piece by using a reflection wave from the surface when an ultrasonic wave is made incident to the test piece.例文帳に追加

超音波を試験体に入射させたときの表面からの反射波を利用して試験体の表面形状を把握可能とする。 - 特許庁

To collect logs regardless of the state of a test object computer state without providing a means for collecting logs on the test object computer.例文帳に追加

試験対象計算機上にログを収集する手段を設けず、かつ、試験対象計算機状態に関わらずログを収集可能とする。 - 特許庁

DETERMINATION METHOD AND DETERMINING DEVICE FOR STRAIN AND TENSILE FORCE OF TEST PIECE例文帳に追加

テストピ—スのひずみおよび引張力決定方法ならびに決定装置 - 特許庁

To provide a test head that can suppress bending of a probe card.例文帳に追加

プローブカードの撓みを抑制することが可能なテストヘッドを提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit for reducing test time, by reducing the number of shift times required for setting to a register on a serial path and for monitoring the value of the register.例文帳に追加

シリアルパス上のレジスタへの設定、レジスタ値のモニタに必要なシフト数を減らし、テスト時間の短縮が可能なテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a communication test apparatus capable of performing a communication test according to a codec of a terminal even if various codecs are not loaded.例文帳に追加

種々のコーデックを搭載しなくても、端末装置のコーデックに応じた疎通試験を行うことができる疎通試験装置を提供する。 - 特許庁

To efficiently transmit a control instruction to a plurality of test modules.例文帳に追加

複数の試験モジュールに対して効率的に制御命令を送信する。 - 特許庁

To provide a portable train monitor test apparatus capable of carrying out a transmission function test of a monitoring device necessitating no train radio command station without dismounting the monitoring device from a train.例文帳に追加

モニタリング装置を列車から降ろさず、列車無線指令局を必要としないモニタリング装置の伝送機能試験を実施可能とする。 - 特許庁

The image forming apparatus confirms the kind of a test copy (S10) and in test copy mode of form composition, a form is specified first (S11).例文帳に追加

画像形成装置においては、テストコピーの種類を確認し（Ｓ１０）、フォーム合成の試しコピーモードにおいては、まずフォームを指定する（Ｓ１１）。 - 特許庁

An algorithm identifying part 237 identifies the algorithm of the memory test on the basis of the test result obtained by the FAIL information analysis part 230.例文帳に追加

アルゴリズム特定部２３７は、ＦＡＩＬ情報解析部２３０によって取得された試験結果に基づいてメモリ試験のアルゴリズムを特定する。 - 特許庁

To perform a power cycle test simultaneously on a plurality of MOSFETs.例文帳に追加

複数のＭＯＳＦＥＴに対して同時にパワーサイクル試験を行うこと。 - 特許庁

To provide a DSP where a holding test for judging the operation stop state of a DSP core can be conducted during the self-test of the DSP core.例文帳に追加

ＤＳＰコアのセルフテスト中に、ＤＳＰコアの動作停止状態を判定するホールドテストが実施可能になるＤＳＰを提供する。 - 特許庁