「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(78ページ目) - Weblio英語例文検索

Besides, the information on the progress conditions of the entrusted test and the test schedule is disclosed to a specified or unspecified client or testing place.例文帳に追加

また、受託試験の進捗状況、試験計画の情報を特定又は不特定の顧客または試験所に公開する。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

In this manner by displaying the test images on the display unit, test concerning the display operation of the display unit can be carried out.例文帳に追加

このように表示器にテスト画像を表示させると、表示器の表示動作に関する試験を実施することができる。 - 特許庁

The test patterns are subjected to X-extraction (step 3), and each test pattern is mapped in the state transition of an FSM (step 4).例文帳に追加

テストパターンに対してＸ抽出を行ない（ｓｔｅｐ３）、各テストパターンをＦＳＭの状態遷移にマッピングする（ｓｔｅｐ４）。 - 特許庁

To provide a test handler and a semiconductor element test method, capable of testing a semiconductor element under a high temperature environment and a low temperature environment.例文帳に追加

半導体素子を高温環境及び低温環境でテストできるテストハンドラー及び半導体素子テスト方法を提供する。 - 特許庁

This leakage test device 10 has structure in which a plurality of chambers 11 circulate required processes for the leakage test.例文帳に追加

本発明の漏れ検査装置１０は、複数のチャンバ１１が漏れ検査の所要の各工程を循環する構造となっている。 - 特許庁

Consequently, the outer circumferential surface of the polishing drum 12 is hardly changed during the test, and the test having excellent repeatability can be performed.例文帳に追加

したがって、試験中に研磨ドラム１２の外周面が変化し難く、再現性に優れた試験を行うことが出来る。 - 特許庁

To provide a system for a voluntary test for communication facility, which improves the efficiency of total testing works for the voluntary test for the communication facility prior to use.例文帳に追加

通信設備の使用前自主検査の全体の作業の効率化が図れる設備自主検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an automatic test item generating device which automatically prepares and extracts a test item from advice etc. of a technical standard and an inputted function standard.例文帳に追加

技術標準の勧告などや入力された機能仕様からテスト項目の作成および抽出を自動的に行う。 - 特許庁

When the test image is displayed at the display device in such a manner, the test relating to the display operation of the display device can be executed.例文帳に追加

このように表示器にテスト画像を表示させると、表示器の表示動作に関する試験を実施することができる。 - 特許庁

The tester simulation device for performing tests of the test object by the test program by a tester is improved.例文帳に追加

本発明は、テストプログラムによる被試験対象のテスタによる試験を行うテスタシミュレーション装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To select a test pattern capable of attaining the excellent test quality at irreducibly necessary strobe points.例文帳に追加

この発明は、必要最小限のストローブ・ポイントで優れたテスト品質を達成し得るテストパターンを選別することを課題とする。 - 特許庁

To provide a relief analysis device for a semiconductor memory for performing a relief analysis after the test of all test items is completed.例文帳に追加

全テスト項目のテスト完了後に救済解析を行なうようにした半導体メモリの救済解析装置を提供する。 - 特許庁

When pressing down a test button of the alarm during the setting mode, the alarm outputs alarm signals by automatically performing an alarm test.例文帳に追加

設定モード中に警報器のテストボタンが押下されると、警報器は自動的に警報テストを行って警報出力する。 - 特許庁

This semiconductor device is conveyed through the buffer tray whose pitch has been adjusted between a test tray and a customer tray of a test handler.例文帳に追加

半導体装置は、テストハンドラーのテストトレイとカストマートレイとの間でピッチが調節されたバッファトレイを経由して移送される。 - 特許庁

The test fuel is also irradiated with thermal neutrons (S24), and the intensity of the gamma rays emitted from the test fuel is measured (S25).例文帳に追加

また、試験燃料に熱中性子を照射し（Ｓ２４）、その試験燃料から放出されるガンマ線強度を測定する（Ｓ２５）。 - 特許庁

To provide a dustproof test apparatus capable of performing dustproof test on carbon powder contained in actual exhaust gases.例文帳に追加

実際の排気ガスに含まれるカーボン粉末に対する耐塵試験を行なうことができるようにした耐塵試験装置を提供する。 - 特許庁

To simultaneously and accurately cut plural rectangular test pieces from a multi-purpose test piece manufactured by injection molding of resin.例文帳に追加

樹脂の射出成型により作成された多目的試験片から複数の矩形状試験片を同時に且つ正確に裁断する。 - 特許庁

To provide an irradiation test method capable of more efficiently performing an irradiation test for a semiconductor device.例文帳に追加

より効率的に半導体装置の放射照射試験を実施することができる放射線照射試験方法を提供する。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTER, SEMICONDUCTOR DEVICE TEST CONTACT SUBSTRATE, TEST METHOD OF THE SEMICONDUCTOR DEVICE, THE SEMICONDUCTOR DEVICE, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

半導体試験装置、半導体装置試験用コンタクト基板、半導体装置の試験方法、半導体装置及びその製造方法 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can test a programmable impedance control function simultaneously with a function test of a device.例文帳に追加

デバイスのファンクションテストと同時にプログラマブル・インピーダンス制御機能の試験を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

To reduce a test cost of a whole function test performed for a semiconductor memory provided with a security circuit.例文帳に追加

セキュリティ回路を備える半導体メモリに対して実行する全体機能テストのテストコストを低減させることを課題とする。 - 特許庁

A suitable test signal is applied to the membrane and the semiconductor wafer, and the response of the semiconductor wafer to the test signal is measured.例文帳に追加

適切な試験信号をメンブレインと半導体ウエハに印加し、試験信号に対する半導体ウエハの応答を測定する。 - 特許庁

METHOD FOR PREPARING TEST DATA OF FORM PROGRAM, FORM PROGRAM PREPARING DEVICE, AND STORAGE MEDIUM RECORDING PROGRAM FOR PREPARING TEST DATA例文帳に追加

帳票プログラムのテストデータ作成方法、帳票プログラム作成装置及びテストデータを作成するプログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

In the step S10, the test of a wafer under test is terminated in midstream, and the wafer is stored in an output cassette OC1.例文帳に追加

ステップＳ１０では、現在試験中のウェハの試験が途中終了され、当該ウェハをアウトプットカセットＯＣ１に格納する。 - 特許庁

a test procedure in which the identity of those receiving the intervention is concealed from both the administrators and the subjects until after the test is completed 例文帳に追加

テストが終了するまで、介入を受ける者のアイデンティティが管理者と対象者の両方から隠されるテスト手順 - 日本語WordNet

Extensible Markup Language Conformance Test Suites (XML TS) are a collection of software conformance test suites for the XML v 1.0, Second Edition Recommendation. 例文帳に追加

拡張可能なマーク付け言語コンフォーマンステストスイート（XML TS）は、XML v 1.0第２版勧告のためのソフトウェア適合テストスイートの集成である。 - コンピューター用語辞典

To prevent a malfunction from occurring when a plurality of integrated circuits mounted on a burn-in test board are subjected to a burn-in test simultaneously.例文帳に追加

バーンインテストボードに搭載された複数の集積回路が同時にバーンインテストを受ける際に発生する誤動作を予防する。 - 特許庁

A test packet transmitter 111 transmits respective test packets including mutually different pieces of identification information to a repeater 121.例文帳に追加

試験パケット送信装置１１１は、互いに異なる識別情報を含む各試験パケットを中継装置１２１へ送信する。 - 特許庁

A test subscriber deciding means 12b decides the test subscriber on the basis of the subscriber's information according to the identification information.例文帳に追加

試験加入者決定手段１２ｂは、識別情報により、加入者情報にもとづいて試験加入者を決定する。 - 特許庁

Furthermore, a test result of blood sampled from a participant is received (Step S15) and the received test result is displayed (Step S17).例文帳に追加

また、参加者から採取された血液の検査結果を受信し（ステップＳ１５）、受信した検査結果を表示する（ステップＳ１７）。 - 特許庁

Also, a connection test of each terminals can be performed by only terminals used for normal operation without providing an exclusive test terminal.例文帳に追加

また、専用の試験端子を設けることなく通常動作に使用する端子だけで各端子の接続試験が実行される。 - 特許庁

An image process condition of the printing area is corrected from a test pattern detection result of the out-of-printing area on the basis of the information of a difference between an image state obtained from the test pattern detection result of the out-of-printing area and an image state of the printing area obtained by scanning a test chart 1,150.例文帳に追加

印刷外領域のテストパターン検知結果から得た画像状態と、テストチャート１１５０を走査して得た印刷領域の画像状態の差の情報を元に、前記印刷外領域の前記テストパターン検知結果から、前記印刷領域の画像プロセス条件を補正するようにした。 - 特許庁

An evaluation test apparatus comprises a plurality of first buffer amplifiers each applying a test load signal to each of a plurality of external terminals of a device (object to be tested) having the plurality of external terminals.例文帳に追加

評価試験装置は、複数の外付端子を有するデバイス（被試験体）の前記複数の外付端子それぞれに、試験負荷信号を印加する複数の第１のバッファアンプを備えている。 - 特許庁

To provide a reference voltage generation circuit whose quantity resistance value of a quantity resistance test of latch-up is high by preventing variation of a rudder resistance value and disconnection of rudder resistor in a quality resistance test of latch-up.例文帳に追加

ラッチアップ耐量試験でのラダー抵抗値の変化およびラダー抵抗の断線を防ぐことで、ラッチアップ耐量試験の耐量値が高い参照電圧発生回路を提供する。 - 特許庁

A body 71 of a heat sensitive member 70, made of a material having high thermal conductivity, is brought to abut on the outer surface of the test object 10 to close an opening of the inner space 11 of the test object 10.例文帳に追加

感温部材７０の良熱伝導性材料からなる本体７１を検査対象１０の外面に当接し、検査対象１０の内部空間１１の開口を塞ぐ。 - 特許庁

The present invention refers to a test pattern 1, a set of test patterns and a method of evaluating the transfer properties of a pattern as well as a method of determining at least one parameter of a transfer process.例文帳に追加

転移処理の少なくとも一つのパラメータを決める方法と同様に，テストパターン１，テストパターンの集合，テストパターンの転移特性を評価する方法についても言及している。 - 特許庁

The test circuit 14 flows test current when a test switch 15 closes, stops the test current after elapse of a given time in case the leak detection circuit 7 does not output signals, and stops the test current before elapse of the given time in case the leak detection circuit 7 keeps on outputting signals.例文帳に追加

テスト回路１４は、テストスイッチ１５が閉極するとテスト電流を流し、漏電検出回路７が信号を出力していない場合には所定の時間経過後にテスト電流を停止させ、漏電検出回路７が信号を出力している場合には所定の時間が経過する前にテスト電流を停止させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor test circuit for remarkably reducing an amount of a scanning test pattern and shortening a full scanning test time by modifying the constitution of an inside scanning chain at any time without increasing a test terminal and remarkably shortening a once-scanning shift action period in an LSI full scanning design, and to provide its test method.例文帳に追加

ＬＳＩのフルスキャン設計において、テスト端子を増加させずに、内部スキャンチェーンの構成を随時変更し、１回のスキャンシフト動作期間の大幅な短縮を行うことで、スキャンテストパターン量の大幅な削減とフルスキャンテスト時間の短縮を可能とする半導体テスト回路及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test strip reading and analyzing system in which, without any limitations on locations, a user communicates with a test strip analyzing system using a mobile device and thereby obtaining the result of test strip reading and analyzing and the test report, which enables saving user's time and improving the efficiency of the test strip reading and analyzing.例文帳に追加

使用者が場所に制限されずに、携帯機器を利用して試験紙分析システムと通信することにより、試験紙読み取り分析の結果および検査報告を得ることができ、使用者の時間を節約し、試験紙読み取り分析の効率を上げることができる試験紙読み取り分析システムを提供する。 - 特許庁

To provide a service providing method and system for speeding up a water quality test, and for reducing test costs by excluding any accessory task from the task of a test institute, and for improving the accuracy of the test by making the test institute dedicate itself to its original task.例文帳に追加

試験機関の業務から上述した付随的業務を排除することで、水質試験の迅速化、試験コストの削減を図るとともに、試験機関には本来の業務に専念させることで、試験の確実性を向上させることが可能なサービス提供方法及びサービス提供システムを提供することにある。 - 特許庁

To obtain a tray conveyance device capable of moving and stopping a testing tray at a comparatively high speed, capable of shortening the index time of the test, and capable of improving the reliability of the test, a testing device and a test method.例文帳に追加

試験用トレイを比較的高速で移動および停止させることが可能であり、試験のインデックスタイムの短縮を図ることができ、且つ試験の信頼性を向上させることができるトレイ搬送装置、試験装置および試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a structure of a fuel line for an engine test bench capable of detecting an abnormal flow rate in a fuel feed line, capable of preventing a fuel feed pump from burning and sticking, and capable of preventing fuel from leaking out after the finish of a test, and a method for operating the engine test bench.例文帳に追加

燃料供給ラインの流量異常を検知し、燃料ポンプの焼付きを防止でき、テスト終了後の燃料漏出を防止出来るエンジンテストベンチの燃料配管の構造及び、エンジンテストベンチの運転方法の提供。 - 特許庁

To provide a setup test print capable of measuring the density of each band without increasing the entire setup test print regardless of an error in the amount of conveyance of the setup test print, and to provide a photo-processing apparatus.例文帳に追加

セットアップ用テストプリントの搬送において送り量誤差が発生しても、セットアップ用テストプリント全体を長くすることなく、各帯体の濃度をそれぞれ測定することが可能なセットアップ用テストプリントおよび写真処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an IC test system which is capable of easily inputting the values of parameters for which a test is made on an IC to be tested, and capable of checking the values of the parameters for which a test is made on an IC to be tested in the form of the waveform.例文帳に追加

本発明の課題は、被試験ＩＣの試験を行うパラメータの値の入力を容易に行うことが可能な、また、被試験ＩＣの試験を行うパラメータの値の確認を波形で行うことが可能なＩＣ試験システムを提供することである。 - 特許庁