「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(82ページ目) - Weblio英語例文検索

The withstanding voltage test method applies a first test voltage (V1) to power equipment, such as power cables, transformers, generators, and motors for a predetermined period of time and then applies a second test voltage (V2) which is lower than the first test voltage (V1) thereto, for a predetermined period of time.例文帳に追加

電力ケーブル、変圧器、発電機、電動機等の電力設備に、第１の試験電圧（Ｖ１）を所定時間課電した後に、第１の試験電圧（Ｖ１）よりも低い第２の試験電圧（Ｖ２）を所定時間課電することによる耐電圧試験方法。 - 特許庁

Without using a constant test sequence at all times when a test pattern to be set in a shift register at the test is scanned in and the results of the test to be observed are scanned out, by limiting clock phases to be effective in each shift step into one, the problem of the skews are avoided.例文帳に追加

テスト時のシフトレジスタに設定するテストパタンをスキャンインしたり、観測すべきテスト結果をスキャンアウトする際に、常に一定のシフトシーケンスを用いるのではなく、各シフトステップで有効とするクロック相を１つに限定することで、スキューの問題を回避する。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor integrated circuit device including a high-speed input/output device, capable of quickly performing high-speed I/O test exceeding 1 GHz by simple board configuration without alteration of test system for each I/O specification.例文帳に追加

高速入出力装置を備えた半導体集積回路装置の試験方法及び試験装置に関し、簡単なボード構成によって迅速に１ＧＨｚを越える高速Ｉ／Ｏのテストを、各Ｉ／Ｏ仕様毎にテスト・システムを変更することなく行う。 - 特許庁

The device comprises: a light source 5 which is placed on one side of the test object 3 and radiates light to the test object 3; and imaging means 1 which is placed on the other side of the test object 3 and captures the image corresponding to the transmitted beam through the test object 3.例文帳に追加

そして、検査対象３の一方の面側に配置され検査対象３に光を照射する光源５と、検査対象３の他方の面側に配置され検査対象３を透過した光に応じた画像を撮像する撮像手段１と、を備えている。 - 特許庁

A material test is performed using a material testing machine 1 equipped with a load/displacement measuring means for applying load to a test piece 2 to measure the load and displacement of the test piece 2 and a continuity detection means for detecting the presence of continuity and the test piece 2 having a thin film pattern formed thereto.例文帳に追加

試験片２に荷重を加えてその荷重、変位を測定する荷重／変位測定手段と導通の有無を検知する導通検知手段を備えた材料試験装置１と薄膜パターンが形成された試験片２を用いて材料試験を行う。 - 特許庁

In this basket 10 for the test piece capsule installed in a reactor pressure vessel, for storing capsules 5, 7 inside for a test, piece for a material test, confirmation windows 16 are formed on the basket 11 corresponding to weld lines 5b, 7b of a sealing part of the test piece capsule.例文帳に追加

原子炉圧力容器内に設置され内部に材料試験用の試験片のカプセル５，７が収納される試験片カプセル用バスケット１０であって、試験片カプセルの封止部の溶接線５ｂ，７ｂに対応してバスケット１１に確認窓１６を形成する。 - 特許庁

The control board is provided with test operation means (A15 and A16) for making the game devices perform test operations in a predetermined form corresponding to the series of the operation commands for the tests transmitted from the test command output means respectively in the case of shifting to a test mode.例文帳に追加

制御基板に、テストモードに移行した場合に、テストコマンド出力手段から送信される一連のテスト用動作コマンドの各々に対応して予め定められた態様で遊技装置にテスト動作を行わせるテスト動作手段（Ａ１５，Ａ１６）を設ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of performing a connection test of an LSI internal part even when the number of external terminals is larger than the number of pins of a tester for performing a test of an internal logic circuit.例文帳に追加

外部端子数が内部論理回路のテストを行うテスタのピン数より多い場合であってもＬＳＩ内部の接続テストを可能にする半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

The method is applied to a case for displaying a test pattern of a color chart of specification of a first color gamut, and a test pattern of a color chart of specification of a second color gamut wider than the first color gamut on a television receiver 30.例文帳に追加

第１の色域の規格のカラーチャートのテストパターンと、第１の色域よりも広い第２の色域の規格のカラーチャートのテストパターンとをテレビジョン受像機３０に表示させる場合に適用される。 - 特許庁

Daigaku-ryo students had to take graduation examinations, and if they achieved a mark of 80 percentages, they then had to take one of the following examinations given by the Shikibu-sho (the Ministry of Ceremonies): Sinshi (Daigaku student who passed a subject of the official appointment test), Myobo (law), Myogyo (the study of classic Confucian writings), San (mathematics), or Shusai (Daigaku student who passed a subject of the official appointment test). 例文帳に追加

卒業試験試問を受験し、その試験結果が8割に達すれば式部省が実施する進士・明法・明経・算・秀才(科挙)のいずれかの試験を受け､ - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The system automatically generates a test program and an analogue section test pattern of a mixed-signal LSI to be tested by a digital section test program of the mixed-signal LSI to be tested, and an analogue core test program model file and an analogue core test pattern model file which are retrieved based on an analogue core information file which is retrieved from an analogue core test database.例文帳に追加

被試験ミックスドシグナルＬＳＩのデジタル部テストプログラムと、アナログコアテストデータベースから取り込まれるアナログコア情報ファイルに基づいて取り込まれるアナログコアテストプログラム雛型ファイル及びアナログコアテストパタン雛型ファイルと、によって被試験ミックスドシグナルＬＳＩのテストプログラム及びアナログ部テストパタンを自動生成するシステム及びそのシステムをプログラムとして記録した記録媒体。 - 特許庁

A test pattern compressing function by repeating a test pattern reactivating technique in a test pattern creating process and a test pattern compressing function by discriminating a test pattern which detects the largest number of undetected failures from among a plurality of test patterns used in the repeated process are simultaneously made compatible at a high speed by using a PPPF failure simulation technique.例文帳に追加

テストパタンの再活性化手法をテストパタン生成工程において繰り返すことによるテストパタン圧縮機能、及び当該繰り返し工程において用いられる複数のテストパタンの中から最も多くの未検出故障を検出するテストパタンを識別することによるテストパタン圧縮機能を、ＰＰＰＦ故障シミュレーション手法を用いることで同時に高速に両立する。 - 特許庁

To provide a test program development device allowing easy comprehension of a form of an automatically generated source code, allowing guarantee of identity of test conditions between an input sheet and a source file after edition by a user, and allowing heightening of working efficiency of debug or the editing of a test program.例文帳に追加

自動生成されたソースコードの形態を容易に把握でき、入力シートとユーザーが編集した後のソースファイル相互間のテスト条件の同一性が保証され、テストプログラムの編集やデバッグの作業効率を高めることができるテストプログラム開発装置を提供すること。 - 特許庁

The densities of C, M and Y are calculated on the basis of the quantities of reflected lights of the test patterns of C, M and Y.例文帳に追加

そして、これらのＣ、Ｍ、Ｙのテストパターンの反射光量に基づいてそれぞれＣ、Ｍ、Ｙの濃度を算出する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor device and a test method wherein different kinds of chips can be properly tested by using a jig for test which is constituted of a common probe card.例文帳に追加

異なる品種のチップを共通のプローブカードからなるテスト用治工具により適切にテストできる半導体装置およびテスト方法を得る。 - 特許庁

To provide a device and method for a water pressure test of a tire which is advantageous for executing a test of high accuracy, while improving workability.例文帳に追加

作業性の向上を図りつつ精度の高い試験を実施する上で有利なタイヤ水圧試験装置およびタイヤ水圧試験方法を提供する。 - 特許庁

EVALUATION SAMPLE AND METHOD FOR EVALUATING POSITIONING ACCURACY OF RECORDING MEDIUM TEST EQUIPMENT例文帳に追加

評価サンプルおよび記録媒体検査装置の位置決め精度評価方法 - 特許庁

The elastic deformation quantity of the testing machine is calculated by a calibrating test piece.例文帳に追加

較正用試験片によって試験機の弾性変形量を算出する。 - 特許庁

To provide an environmental test device capable of suppressing dew condensation inside and outside of a test tank which is put into a low-temperature state.例文帳に追加

低温状態とされる試験槽の槽内および槽外で結露が発生することを抑制することができる環境試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test circuit which can prevent operation errors or start errors of a circuit to be tested regardless of items to be tested and can reduce the power consumption during the test.例文帳に追加

試験項目によらず、被試験対象回路の誤作動や誤起動を防止でき、試験時の消費電力を削減できる試験回路を提供する。 - 特許庁

Moreover, when the test piece is inclined, it has become clear that the combination of the test piece voltage value, at which an electron beam will not curve and the acceleration voltage values of the electron gun existed.例文帳に追加

また、試料を傾斜したときに、電子ビームが曲がらない試料電圧値と電子銃の加速電圧値の組合せが存在することが判明した。 - 特許庁

To provide a single test equipment that can realize normality test of a plurality of functions with a small circuit scale where components are shared in common.例文帳に追加

複数の機能の正常性試験を、単一の試験装置内で素子を共有化し、小規模な回路構成で実現可能な手段を提供する。 - 特許庁

To provide a testing apparatus by which a throughput of the test can be improved.例文帳に追加

試験のスループットを向上させることができる試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a control method contributing to the enhancement of precision by sensing eccentric loading during a test and correcting it, in a compression strength test of concrete.例文帳に追加

コンクリートの圧縮強度試験において、試験中の偏心載荷を感知して修正することにより精度向上に寄与する管理方法を提供する。 - 特許庁

If the upper surface of the heat exchange part 20 comes into contact with the bottom surface of the heat transfer plate 2, the test cassette can be mounted on a different test device as it is.例文帳に追加

また，熱交換部２０の上面が伝熱板２底面に接触しさえすれば，異なる試験装置にそのまま装着することができる。 - 特許庁

To easily prepare great amount of complex test data with high quality.例文帳に追加

複雑かつ膨大な試験データをより容易にかつ高品質に作成する。 - 特許庁

The device also calculates the characteristic of the sample supplied to the test strip, based on the measured characteristic of the test strip.例文帳に追加

上記装置はまた、上記試験片の測定された特性に基づいて、当該試験片に供給される一定のサンプルの一定の特性も計算する。 - 特許庁

Further, since, in the EDS file, specification and the content of test are described in association with each other, the content of test are easily obtained.例文帳に追加

さらに、ＥＤＳファイルは、仕様書の部分と、テスト内用を記載した部分とが、互いに対応しながら記載されているので、そのテスト内容が把握しやすい。 - 特許庁

Alternatively, captured data are serially stored in the data storage circuit in the RAM or the hard macro core, in the capture operation of the scan test, and are read out to the outside of the large scale circuit after the scan test, in which an external large scale integrated circuit tester verifies expectations.例文帳に追加

ＲＡＭやハードマクロコア内のデータ蓄積回路にスキャンデータを蓄積し、スキャンテストのシフト時にスキャンデータをスキャンチェーンにシフトインする。 - 特許庁

To perform biaxial driving of a test body in a fretting wear evaluation device.例文帳に追加

フレッチング摩耗評価装置において、試験体の２軸駆動を可能とする。 - 特許庁

FUNCTION TEST REINFORCED BY UNDETAILED MUTATION FILTERING OF COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

コンピュ—タプログラムの微細でない変異のフィルタリングによる強化された機能テスト - 特許庁

When transmitted through a test piece, the direction of the stress of the test piece is detected when the angle with respect to the linearly polarized light is 0 degrees and 90 degrees.例文帳に追加

試験片に透過させた場合は、試験片の応力の方向は、直線偏光とのなす角が互いに０度と９０度の時に検出する。 - 特許庁

The NMS1 stops the use of the subcarrier of the ADSL line 902 to test the DSLAM2 conducted by the test once the trouble has occurred.例文帳に追加

ＮＭＳ１は、障害が発生すると、試験を行わせたＤＳＬＡＭ２に試験を行ったＡＤＳＬ回線９０２のサブキャリアの使用を停止させる。 - 特許庁

The test condition is as follows: The ink is subjected to a lapse of time for 24 h under reflux.例文帳に追加

＜経時試験条件＞ インクを還流しながら75℃、24時間経時する。 - 特許庁

To restrict the voltage distortion to be generated in a breaker in a short circuit test circuit for the breaker capable of supplying two or more kinds of short circuit test current.例文帳に追加

２種類以上の短絡試験電流を供給可能にする遮断器の短絡試験回路において、遮断器に発生する電圧歪みを抑制する。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR REDUCING OR REMOVING STRAY LIGHT OF OPTICAL TEST HEAD例文帳に追加

光学的テストヘッドの漂遊光を減少又は排除する方法及び装置 - 特許庁

To make it possible to test visual acuity of every distance with ease and in a short time.例文帳に追加

距離別の視力を、簡単かつ短時間で検査できるようにする。 - 特許庁

To realize an IC tester capable of performing a test with sufficient accuracy.例文帳に追加

精度よく試験が行えるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

Thereby, the number of times of erasure operation required hitherto can be decreased, and a test time and a test cost can be reduced.例文帳に追加

これにより従来必要であった消去動作の回数を減少させることが可能となり、検査時間を削減し検査コストを低減させることができる。 - 特許庁

To provide a test method and a test circuit of a differential buffer for simplifying a constitution, and evaluating an offset voltage and a differential voltage of a differential signal.例文帳に追加

簡単な構成で差動信号のオフセット電圧と差動電圧の評価を行うことができる差動バッファのテスト方法およびテスト回路を提供する。 - 特許庁

To lower the manufacturing cost of a plane display panel with a small number of signal pins for measurement test and to make a measurement test speedy and accurate.例文帳に追加

平面表示パネルにおいて、少ない測定試験用信号ピンでもってパネル製造コストを下げ、かつ測定試験の速度と正確さを実現する。 - 特許庁

To provide a test device measurement system that suitably controls the processing amount of data transmitted from a test device according to the data processing capacity of an information processor.例文帳に追加

情報処理装置のデータ処理能力に応じて、試験装置から送信されるデータの処理量を最適制御する試験装置測定システムを提供する。 - 特許庁

A gray patch of a test print is separated to three colors and subjected to photometry by a densitometer 35.例文帳に追加

テストプリントのグレーパッチを濃度計３５で三色分解測光する。 - 特許庁

Meantime, a receiver receives the test packets from the communication system, and detects a maximum value of a difference in receiving times of the test packets transmitted consecutively.例文帳に追加

一方、受信器は、前記通信システムから試験パケットを受信し、連続して送信された試験パケットの受信時刻の差の最大値を検出する。 - 特許庁

The test signal generating means 10 generates and outputs a plurality of test signals TS so that the quality of a digital modulated signal in normal operation is lowered.例文帳に追加

テスト信号生成手段１０は、通常動作時のデジタル変調信号の品質を低下させた複数のテスト信号ＴＳを生成して出力する。 - 特許庁