「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(86ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a material-testing machine with a capstan-type fixture without any damage of a rope test piece and chuck cutting due to the friction of a part for griping the test piece.例文帳に追加

試験片を把持する部分の摩擦によるロープ試験片の損傷、チャック切れのないキャプスタン型つかみ具を有する材料試験機を提供する。 - 特許庁

The lid member 20 is mounted on the valve blocking member 10 at the non-using time of the test hole, and the plug member 40 is mounted on the valve blocking member 10 at the using time of the test hole.例文帳に追加

試験孔の非使用時に弁閉塞具１０に蓋具２０を取り付け、試験孔の使用時に弁閉塞具１０にプラグ具４０を取り付ける。 - 特許庁

The network test planning device works out the plan of communication quality test executed with respect to all combinations among (n) sets of bases in total.例文帳に追加

本発明のネットワーク試験計画装置は、全ｎ個の拠点間の全ての組み合わせについて実行する通信品質試験の計画を策定する。 - 特許庁

To provide an interface circuit for suppressing cost increase and reduction of test accuracy due to external influence in a sensitivity test of a receiver.例文帳に追加

受信用レシーバの感度テストにおける外部影響によるテスト精度の低下及びコスト上昇を抑制することができるインターフェース回路を提供すること。 - 特許庁

To carry out a test on the flexibility of a flexible board easily in a short time.例文帳に追加

短時間に、且つ容易にフレキシブル基板の耐屈曲性の試験を行う。 - 特許庁

based on or being a test of reading skill using the cloze procedure 例文帳に追加

クローズ法を使用する読解力の基準になるまたは基準に基づく - 日本語WordNet

a method of investigation involving observation and theory to test scientific hypotheses 例文帳に追加

科学的仮定を証明するための観察と理論を伴う試験の方法 - 日本語WordNet

a first test of an experimental product (such as computer software) carried out by the developer 例文帳に追加

実験的製品（コンピュータソフトウェアなど）で、開発者が行う最初のテスト - 日本語WordNet

SOCKET FOR ELECTRIC TEST AND SCREW FOR CONTACT PITCH CORRECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体デバイスの電気テスト用ソケットおよび接触子ピッチ矯正用ネジ - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT TEST APPARATUS AND METHOD OF RESTORATION FROM ITS FAILURE例文帳に追加

半導体集積回路試験装置およびその故障時の復旧方法 - 特許庁

To prepare test tubes for a plurality of patients on one rack, by patterning preparation of the test tubes on the rack relative to each patient or the like.例文帳に追加

ラックへの試験管の準備を患者ごとなどにパターン化して一つのラックに複数患者分を準備できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

To provide a probe card capable of transmitting a signal between an integrated circuit and an external semiconductor test device in a test of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の試験において、集積回路と外部半導体試験装置との間で信号の伝送を行わしめるプローブカードを提供する。 - 特許庁

At the IO degeneration mode test, input/output characteristics of all DQ buffers 9a-9d can be performed, and defective receiving of a final test can be prevented.例文帳に追加

ＩＯ縮退モードテスト時にすべてのＤＱバッファ９ａ〜９ｄの入出力特性を行なうことができ、ファイナルテストの受入不良をなくすことができる。 - 特許庁

To reduce power consumption in a scan test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路のスキャンテストにおける消費電力を削減する。 - 特許庁

The respective pitons are respectively individually driven to the respective test pieces by lever manipulation, by which the experiencing of the strength comparison of the respective test pieces is made possible.例文帳に追加

そして、レバー操作により各ハーケンを各試験片に対し個々に打ち付けて各試験片の強度比較を体験するようになされたものとする。 - 特許庁

This test circuit gives delay of Δt to an input clock signal.例文帳に追加

このテスト回路は入力されるクロック信号にΔｔの遅延を与える。 - 特許庁

To provide a semiconductor test circuit and a semiconductor test method which shorten an inspection time of semiconductor, also perform strict operation speed inspection of a memory.例文帳に追加

半導体の検査時間を短縮し、かつメモリの厳密な動作速度検査を行うことのできる半導体テスト回路及び半導体テスト方法を提供する。 - 特許庁

CONNECTION INTEGRITY TEST OF AUTOMATIC ENDOSCOPE REGENERATOR BY LIQUID SUCTION例文帳に追加

液体の吸い込みによる自動内視鏡再生器の接続完全性試験 - 特許庁

To provide a semiconductor test system that does not affect the accuracy of measurement under execution while shortening the switching period of a test program.例文帳に追加

試験プログラムの切り替え時間の短縮化を達成しつつ、実行中の測定精度に影響を及ぼさない半導体試験システムを提供する。 - 特許庁

To remotely test a sensor even if the sensor wire voltage of a receiver and the rated voltage of a sensor adaptive to remote test are different.例文帳に追加

受信機の感知器配線電圧と遠隔試験対応感知器の定格電圧が異なる場合であっても、感知器の遠隔試験ができるようにする。 - 特許庁

To provide a tester simulation device and a tester simulation method capable of performing simulation of a test program in an analog circuit as a test object.例文帳に追加

被試験対象のアナログ回路におけるテストプログラムのシミュレーションを行えるテスタシミュレーション装置及びテスタシミュレーション方法を実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide an internal inspection device capable of observing a test object while suppressing a halation even when the internal shape of the test object changes.例文帳に追加

被検体の内部の形状が変化しても、ハレーションが生じることを抑えて被検体を観察することが可能な内部検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of shortening a test time.例文帳に追加

テスト時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

To provide a shorter test time and a reduction of a circuit area in a comparator test circuit and a semiconductor integrated circuit for testing a plurality of comparators.例文帳に追加

複数のコンパレータをテスト対象とするコンパレータテスト回路及び半導体集積回路において、テスト時間の短縮と回路面積の縮小を提供する。 - 特許庁

Simultaneously, the signal value of the test data (frame data) is inputted to a memory 32.例文帳に追加

同時にメモリ３２にテストデータ（フレームデータ）３７の信号値を入力する。 - 特許庁

Two types of resist patterns are formed on a wafer for test exposure.例文帳に追加

テスト露光として２種類のレジストパターンが前記ウエハ上に形成される。 - 特許庁

METHOD FOR REDUCING INFLUENCE OF HEMATOCRIT ON MEASUREMENT OF ANALYZED OBJECT IN WHOLE BLOOD, AND TEST KIT AND TEST ARTICLE USEFUL FOR THE METHOD例文帳に追加

全血中の分析対象物の計測に対するヘマトクリットの影響を減らす方法ならびに当該方法で有用な試験キット及び試験用品 - 特許庁

To perform normality confirmation and the radio characteristic test of a radio communication system.例文帳に追加

無線通信システムの正常性確認及び無線特性試験を行う。 - 特許庁

To prevent a deformation defective in a bump terminal caused by contact failure of the bump terminal with a test electrode, and caused by irregular contact of the bump terminal with the test electrode.例文帳に追加

バンプ端子とテスト電極との接触不良や、バンプ端子とテスト電極とのイレギュラーな接触などに起因するバンプ端子の変形不良を防止する。 - 特許庁

OSCILLATION TESTER OF PIEZOELECTRIC OSCILLATING DEVICE, MANUFACTURING EQUIPMENT, AND OSCILLATION TEST METHOD例文帳に追加

圧電振動デバイスの発振検査器、製造装置および発振検査方法 - 特許庁

To continuously concentrate analysis object substances in test a water to high level without causing a form change of the analysis object substances or pollution of the test water.例文帳に追加

分析対象物質の形態変化や検水の汚染を引き起こすことなく、検水中の分析対象物質を連続的に高度に濃縮する。 - 特許庁

An angle of view of the off-axis collimator is set to θ and the test pattern 28 that is aerially imaged is imaged through the test lens to obtain a first image.例文帳に追加

画角θに軸外コリメータをセットして、被検レンズを通して空中結像したテストパターン２８を撮像することにより、第１撮像画像を得る。 - 特許庁

A test method for an electronic component for realizing the optimization of a testing period is composed of selecting earliest measurement day (Dm) by a first test day (D0).例文帳に追加

テスト期間の最適化を実現する電子部品のテスト方法は、最初のテスト日（Ｄ０）から最先の測定日（Ｄｍ）を選択することから成る。 - 特許庁

To provide a new marker which reflects clinical conditions of systemic lupus erythematosus (SLE) and to provide a test method and a test drug of SLE using the same.例文帳に追加

全身性エリテマトーデス（ＳＬＥ）の病態を反映する新たなマーカーを提供し、それを用いたＳＬＥの検査方法および検査薬を提供すること。 - 特許庁

Therefore, it becomes possible to simply carry out the leak test operation of the device.例文帳に追加

そのため、装置のリーク検査作業を簡単に行なうことが可能になる。 - 特許庁

PRESSURE TEST METHOD AND DRAIN METHOD OF PIPING IN STEAM TURBINE PLANT例文帳に追加

蒸気タービンプラントにおける配管の耐圧試験方法及び排水方法 - 特許庁

ACTIVITY EVALUATING METHOD OF ELECTRODE CATALYST, AND TEST ELECTRODE USED FOR IT例文帳に追加

電極触媒の活性評価方法およびこれに用いる試験電極 - 特許庁

To correctly measure an access time of a memory macro by using an external test terminal.例文帳に追加

外部テスト端子を用いてメモリマクロのアクセスタイムを正確に測定する。 - 特許庁

COMPUTER SYSTEM, INTERFACE CIRCUIT, EXTERNAL DEVICE, AND TEST METHOD OF INTERFACE CIRCUIT例文帳に追加

コンピュータシステム、インターフェース回路、外部装置およびインターフェース回路のテスト方法 - 特許庁

In a test mode, the dummy word lines are turned on/off selectively instead of work lines.例文帳に追加

テストモードでは、ワード線に代わりダミーワード線が選択的にオン／オフされる。 - 特許庁

By the branch multiplexer 41, the test signal is branched into a plurality of branch test signals and the branched signals are parallelly outputted to a plurality of connected integrated circuits 6.例文帳に追加

分岐マルチプレクサ４１は、テスト信号を複数の分岐テスト信号に分岐し、接続されている複数の集積回路６に対して並列に出力する。 - 特許庁

When test voltage is added to the circuit device 2, voltage of the varistor 5 is lower than the added test voltage, and an overload of the varistor 5 is prevented.例文帳に追加

試験電圧が前記回路装置２に加えられると、前記バリスタ５の電圧は、加えられた試験電圧よりも低く、バリスタ５の過負荷が防止される。 - 特許庁

(3) When the test facilities, etc. received certification of compliance in unfair ways例文帳に追加

３ その試験施設等が不正の手段により適合確認を受けたとき。 - 厚生労働省

Should the test fail, all efforts will be made to contact your next of kin.例文帳に追加

実験が失敗した場合は、 罪は問われません 親族に連絡もします - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

Calculation of the t-test confirmed that the impairment was significant.例文帳に追加

この損傷は有意であったことがt検定の計算によって確証された。 - 英語論文検索例文集