「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(88ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for measuring the inner size of a test object, capable of accurately measuring the size of a measurement object, even if the measurement object inside the test object is large.例文帳に追加

被検体内部における測定対象が大きくても精度良く測定対象の寸法を測定することを可能な被検体の内部寸法測定方法を提供する。 - 特許庁

This memory is provided with monitor terminals for test 1, 2, 3, 4 connecting directly output signals of a plurality of sense amplifiers 7 performing read operation of each memory array 8 to a test circuit 16.例文帳に追加

各メモリアレー８の読み出し動作を行う複数のセンスアンプ７の出力信号を直接検査回路１６へ接続する検査用モニター端子１、２、３、４を設ける。 - 特許庁

To provide a printer which enables a manufacturer of the printer or the like to easily collect a large amount of data on environments and densities of test images when the test images are formed.例文帳に追加

試験画像を形成する際の環境と試験画像の濃度とを、印刷装置の開発メーカ等が容易に多数収集することができる印刷装置を提供する。 - 特許庁

A pattern generator PG generates test patterns S_PTN that describe test signals S_TEST to be supplied to each of the input/output terminals P3 of the plurality of DUTs 1.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、複数のＤＵＴ１の各入出力端子Ｐ３に供給すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮを生成する。 - 特許庁

To provide a game device allowing an operator to grasp the result of a test for action of an analog control means intuitively and a method of displaying the test result in the game device.例文帳に追加

アナログ的な操作手段の動作をテストするときに、テスト結果を直感的に把握できるゲーム装置、およびゲーム装置のテスト結果表示方法を提供する。 - 特許庁

A test processor 1 of the memory testing device is capable of simultaneously writing, reading, or erasing a test signal for each memory block with respect to a plurality of devices (DUT) to be tested.例文帳に追加

メモリ試験装置のテストプロセッサ１は、複数の被試験デバイス（ＤＵＴ）に対して同時に、メモリブロック単位で試験信号を書き込み、読み出し、あるいは消去が可能である。 - 特許庁

To provide a test method of semiconductor device which reflects possibility of having potential defect in test result of a bit line pair which can be a defect, and the semiconductor device.例文帳に追加

不良となり得るビット線対のテスト結果に、潜在的な不良を有する可能性を反映する半導体装置のテスト方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide an environment testing device, capable of enhancing the acceleration properties of a test while ensuring the reproducibility of trouble produced in a test specimen under an actual use state.例文帳に追加

実際の使用状況下で試験体に生じる不具合の再現性を確保しつつ、試験の加速性を向上することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of accurately performing image density correction by lessening influence of flare from a white part or the like on the outside of a test pattern to the test pattern.例文帳に追加

テストパターンに対するテストパターン外部の白地部等からのフレアーの影響を小さくし、画像濃度補正を精度良く実行可能な画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The printing data generating part has a test pattern output mode for outputting a plurality of test patterns for each of the plurality of control contents by using the same input image.例文帳に追加

印刷データ生成部は、同一の入力画像を用いて複数の制御内容毎に複数のテストパターンを出力させるテストパターン出力モードを有する。 - 特許庁

To provide a bead acceleration test device capable of performing a test for promptly reproducing a failure of the bead, and raising a temperature of the bead under given conditions.例文帳に追加

ビード部の故障を早期に再現する試験を行わせることができ、しかも、ビード部の温度を一定条件で昇温すことのできるビード部加速試験装置を提供する。 - 特許庁

At least one test connections is directed into the units of testing side loaded with the new piece of software in order to be able to test the new piece of software.例文帳に追加

当該ソフトウェアの新たな断片をテストできるようにするために、ソフトウェアの新たな断片がロードされたテスト側のユニットに向けられる１つ以上のテスト接続を備える。 - 特許庁

To provide a test plan preparation device capable of preparing and changing the test plan of software in which a release schedule of each function is different with little labor and time.例文帳に追加

機能毎のリリース日程が異なるソフトウエアのテスト計画を、少ない労力と時間で作成および変更することができるテスト計画作成装置を提供する。 - 特許庁

To carry out test pattern printing at a plurality of times on one sheet of paper, and prevent printing of a test pattern on unused paper which occurs by forgetting to feed the printed paper again.例文帳に追加

一枚の用紙で複数回のテストパターン印刷を実施し、かつ印刷し終えた用紙の入れ直し忘れによる未使用の用紙へのテストパターンの印刷を防止する。 - 特許庁

A control part of the image forming apparatus allows an image forming section or the like to perform the output operation of the test image based on the output instructions of the test image from the command section (#12).例文帳に追加

画像形成装置の制御部は、指令部からの試験画像の出力指示に基づき、試験画像の出力動作を画像形成部等に行わせる（♯１２）。 - 特許庁

Plane strain of the test object is detected by disposing the strain detecting section along the surface of the test object 22 and detecting electrical resistance between each of the electrodes and another.例文帳に追加

上記歪み検出部を上記試験体２２の表面に沿って配置し、各電極間の電気抵抗を検出することで、上記試験体の面歪みを検出する。 - 特許庁

A metal layer (Pt-plated layer 13) being a barrier to Au is formed on the surface of a test electrode 3 of a test socket 1, which comes into contact with an electrode terminal 24 of the package 21.例文帳に追加

パッケージ２１の電極端子２４と接するテストソケット１のテスト電極３の表面に、Ａｕに対するバリアとなる金属層（Ｐｔメッキ１３）を形成する。 - 特許庁

In the middle of reciprocating liquid feed, the test liquid is resonated by vibration of the oscillator 28 at the storage section 21 for stirring and mixing to unify the concentration of the test substance.例文帳に追加

往復送液の途中において、試験液は貯留部２１で振動子２８の振動にて共振し、試験物質の濃度が均一化するように攪拌混合される。 - 特許庁

The bulk control section 106 transmits a test pattern PB to each of plural lines which are under the control of the control section 101 at communication start or reception of the test pattern PB.例文帳に追加

制御部１０１の制御下で、バルク制御部１０６は、通信起動時もしくはテストパターンＰB受信時に、前記複数回線各々にテストパターンＰBを送出する。 - 特許庁

Also, these two kinds of methods can be applied to the surface of a hardened test piece or a coated surface as long as the magnet is separated from the surface of the test piece by a specified distance.例文帳に追加

なお、これらの２種の方法はマグネットを試料表面から一定の距離だけ離せば、硬化試料の表面、あるいは塗装面に対しても適用できる。 - 特許庁

A deviation value of the position of test image in the image data of test original supplied from the read unit 31 from a predicted position in the sub-scanning direction is detected.例文帳に追加

読取ユニット３１から与えられたテスト原稿の画像データ中におけるテスト画像の位置の想定された位置からの副走査方向に対するずれ量を検出する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test circuit for a semiconductor memory device in which the number of test patterns being performable can be increased in spite of a simple constitution of the device.例文帳に追加

簡易な装置構成でありながら、実行可能な試験パターン数を増加させることが可能な半導体記憶装置に対する半導体試験回路を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of a Coriolis mass flowmeter capable of performing a functional test regardless of a medium flowing through a measuring tube.例文帳に追加

本発明の目的は、測定チューブを流れる媒体に無関係に、機能的テストを実行することできるコリオリ質量流量計のテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

April 8, 1997: Model 800 cars commenced test operation, running into the Kyoto Municipal Subway Tozai Line, and the test operation of all of 32 cars was conducted by the end of July. 例文帳に追加

1997年（平成9年）4月8日-800系が京都市営地下鉄東西線に乗り入れての試運転を開始、7月末までに全車32両が東西線での試運転を行う。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a buckling resistance evaluation method of a conveyor belt constituted so as to simply evaluate the buckling resistance of the conveyor belt without performing the bending test or the like of a test sample.例文帳に追加

試験サンプルの屈曲試験等を行なうことなく、簡便にコンベヤベルトの耐座屈性を評価できるようにしたコンベヤベルトの耐座屈性評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a pile driver equipped with a dynamic load test device capable of performing a load test within a short time and improving efficiency as well as the reduction of a cost by using a function of a pile driver body.例文帳に追加

杭打ち機本体の機能の利用により、載荷試験を短時間に行い、能率向上とコストダウンを図った動的載荷試験装置を備えた杭打ち機の提供。 - 特許庁

To facilitate finding of a wiring connection error of a test board, shorten a test time, and thereby reduce the load of a testing person.例文帳に追加

本発明の課題は、テストボードの配線接続違いの発見を容易にし、また、試験時間を短縮することによって試験する者の負担を軽減することである。 - 特許庁

To provide a scanning test circuit capable of easily improving a failure detection rate of a combinational circuit, and reducing the pattern length, while suppressing increase of a test circuit scale.例文帳に追加

テスト回路規模の増大を抑えながら、組合せ回路の故障検出率を容易に向上させ、かつパタン長を削減することができるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

Each most suitable irregularity form has various conditions such as an application, a state of operation and surface quality of a material of the object, and should be found by the air channel test and a water tank test.例文帳に追加

それぞれの最適凹凸形態はその物体の用途、運行状態、表面材質等様々な条件があり、風洞試験、水槽試験で見出すべきである。 - 特許庁

Since the test pattern 362 is removed completely by forming the groove 363, generation of fragments of the test pattern 362 is prevented at the time of cutting the wafer.例文帳に追加

このようにすると、凹溝３６３の形成によってテストパターン３６２は完全に除去されるので、ウエハ切断時にテストパターン３６２の破片が発生することが防止される。 - 特許庁

To provide a large-size tested object test device capable of measuring a maximum surface temperature of a large-size tested object, in an environment temperature test of an optical module.例文帳に追加

光モジュールの環境温度試験において、大型の被試験物の最高表面温度を測定できることができる大型の被試験物試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a non-volatile memory which can test the continuity of a bit line and to realize surely a test for the discontinuity of a bit line of a non-volatile memory.例文帳に追加

ビット線の断線の有無の検査が可能となる不揮発性メモリの提供と、その不揮発性メモリのビット線の断線の有無の検査を確実に実現すること。 - 特許庁

This has no need of providing any separate test terminal but only needs to connect an input/output contact 13a of the apparatus 4 under test to connection terminals 13 of the bridge circuit 2.例文帳に追加

さらに、診断対象機器４の入出力接点１３ａをブリッジ回路２の接続端子１３に接続するのみで、別途試験端子を設ける必要がない。 - 特許庁

To provide a test jig capable of enhancing rigidity by the application of load and capable of easily adjusting the clearance between a load acting point and a test piece.例文帳に追加

荷重の負荷により剛性を向上させることができ、しかも、荷重の作用点と試験片との間のクリアランスを容易に調整することのできる、試験治具を提供する。 - 特許庁

When the control section corrects the density of a test image, it instructs the density sensor to emit the quantity of light to be produced and then detect the density of the test image (SA6).例文帳に追加

制御部が、テスト画像の濃度を補正する際には、発光量の光を発光するように濃度センサに指示し、テスト画像の濃度を検出させる（ＳＡ６）。 - 特許庁

An input/output means 6 for redundant memory cell being exclusive for input/output of data of a redundant memory cell space at the time of a test mode is provided in an input/output circuit 5 for test.例文帳に追加

テスト用入出力回路５に、テストモード時に冗長メモリセル空間のデータ入出力専用の冗長メモリセル用入出力手段６を設ける。 - 特許庁

To improve the efficiency in test process control by consistently and continuously executing the work from the preparing and approving work of a test specification to the control of a schedule and the registration of a result.例文帳に追加

テスト仕様書の作成・承認作業からスケジュール管理、成果物の登録に至るまでを一貫性をもって連続的に行ない、テスト工程管理の効率化を図る。 - 特許庁

To provide a sobriety test device capable of accurately detecting an alcohol drinking of divers and reducing a burden of the driver during sobriety test.例文帳に追加

精度良く運転者の飲酒を検知することができると共に、飲酒検知時における運転者の負担を低減させることができる飲酒検知装置を提供する。 - 特許庁

A lamp 11 for illuminating a periphery when a power failure occurs, and a test switch 12 for carrying out a lighting test of the lamp 11 are exposed from an aperture 5 of a lid 6 of a distribution board 7.例文帳に追加

停電時に周囲を照らすためのランプ１１と、ランプ１１の点灯テストを行うためのテストスイッチ１２は分電盤７の蓋体６の窓孔５から露出する。 - 特許庁

The member 16 to be treated is separated from the pH test paper, and the color of a discoloration part 18 of the pH test paper 14 is compared with a reference color to determine the pH value of the water 12.例文帳に追加

被処理部材１６をｐＨ試験紙から離し、ｐＨ試験紙１４の変色部１８の色を基準の色と比較して水１２のｐＨ値を求める。 - 特許庁

The test pattern 33 is read out by means of a scanner 31, and an arithmetic unit 32 measures the luminance of three colors RGB for each dot in the line width direction of the test pattern 33 thus read out.例文帳に追加

スキャナ３１でテストパターン３３を読み取り、演算装置３２で読み取ったテストパターン３３のライン幅方向の１ドット毎にＲＧＢ３色の輝度を測定する。 - 特許庁

To provide a measurement device for an immunochromatography test piece, capable of certainly detecting a colored part of the test piece, without having to enlarge size of the device.例文帳に追加

装置を大型化することなく、免疫クロマト試験片の呈色した部分の検出を確実に行うことが可能な免疫クロマト試験片の測定装置を提供すること。 - 特許庁

Based on a reading image of a test chart obtained by printing image data of the test chart by a specified printing apparatus, the widths of the bar and the space for the bar code are measured.例文帳に追加

テストチャートの画像データを特定の印刷装置で印刷して得られたテストチャートの読取イメージに基づいて、バーコード用のバーおよびスペースの幅を測定する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor integrated circuit capable of improving operability and convenience of a BOST device, and shortening a test time.例文帳に追加

ＢＯＳＴ装置の操作性、利便性を向上すると共に、試験時間を短縮することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

This invention solves the problem that the relative positions of elements of a test pattern dynamically change depending upon the measured size of the pint medium on which a user tries to print the test pattern.例文帳に追加

ユーザがテストパターンをプリントしようとするプリント媒体の測定されたサイズに依存して、テストパターンの複数の要素の相対位置が動的に変化し問題となる。 - 特許庁