「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(91ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a testing device for a control device capable of easily performing rearranging work of a needed test circuit in the case of performing a confirmation test for a control device housed in a control panel and appropriately performing test data collection and decision work.例文帳に追加

制御盤に収納された制御機器の確認試験を行う際に必要な試験回路の組替え作業を容易に行え、試験データの採集や判定作業を適切に行える制御機器試験装置を得ることである。 - 特許庁

First, a test (20) is performed of items which are assumed to be unrepairable and to be unrecoverable to normal one even if switched over to a redundant cell including the test of circuit current with power supply applied, and a test (30) of a circuit current after writing '0' to all cells is performed.例文帳に追加

まず、セルの切り替えにより修復し良品化することが出来ない項目を電源投入時の回路電流を含んで検査（２０）し、パス品に対して、全セルに「０」を書き込み後の回路電流の検査３０を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus whose timing of application of a test pattern waveform common to each DUT by a test waveform application circuit is not different from those of individual test pattern waveforms, and whose circuit scale has been reduced.例文帳に追加

試験波形印加回路が、各々のＤＵＴへ共通な試験パターン波形を印加する場合と個別の試験パターン波形を印加する場合とで印加タイミングのずれがなく、回路規模を縮小した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A target test piece is fixed, and a flight member is discharged at a predetermined speed from a high-precision flight member discharging device which is to collide with the test piece for measuring the time history of the deformation quantities of the respective parts of the test piece at collision.例文帳に追加

対象とする試験片を固定し、飛翔体を高精度飛翔体発射装置から前記試験片に所定速度で発射して衝突させ、衝突時の試験片各部の変形量の時刻歴を計測する。 - 特許庁

To support the creation of error-free test data by detecting the presence or absence of description errors and shaping test data so that the place of description errors can be identified in test data which can describe block structures in a free format.例文帳に追加

フリーフォーマットによりブロック構造を記述できるテストデータにおいて、記述ミスの有無を容易に検出でき、記述ミスの箇所を特定できるようにテストデータを整形することで、記述ミスのないテストデータを作成できるよう支援する。 - 特許庁

The lighting device can be set to a test mode by one operation of a switch 25b at the time a test is performed such as on a range of an object sensor 26a and a lighting retention time at the time of adjustment at installation or after installation, thereby, the test can be performed easily.例文帳に追加

設置時や設置後の調整時に物体センサ２６ａの範囲や点灯保持時間等のテストを行う際に、スイッチ２５ｂ一つの操作でテストモードにすることができるので、容易にテストを行うことができる。 - 特許庁

To provide a frame transmission apparatus including a line test function capable of remotely controlling an opposite transmission apparatus within a test object frame transmission interval by means of a simple means and of preventing a test frame from being externally leaked.例文帳に追加

回線試験機能を有するフレーム伝送装置に関し、試験対象のフレーム伝達区間の対向伝送装置に対して簡易な手段で遠隔から制御を行うことができ、かつ試験フレームが外部へ流出するのを防止する。 - 特許庁

To conduct a test from an arbitrary station by using a test use maintenance terminal, such as a conventional subscriber telephone set and a personal computer, without the use of a special device exclusively for test and maintenance with respect to acoustic equipment test system for exchange.例文帳に追加

交換機の音声系機器の試験システムに関し、試験保守専用の特殊な装置を使用せず、通常の加入者電話機とパーソナルコンピュータ等のような試験用保守端末を使用して任意の局から試験を行えるようにする。 - 特許庁

A second data analyzing part 106 performs parameter setting and parameter checking which correspond to the conditions from test data 3, generates a test code that makes processing not included in the test range a stub, and also generates test data for achieving a function of the stub.例文帳に追加

第２のデータ解析部１０６は、テストデータ３より、条件に応じたパラメータ設定やパラメータチェックを行い、また、試験範囲に含まれない処理をスタブとするテストコードを生成すると共に、スタブの機能を実現するためのテストデータを生成する。 - 特許庁

The apparatus generates a test model that conducts circuit tests on the basis of circuit descriptions and the test conditions when the circuit descriptions for the test described by a hardware describing language and the test conditions are specified.例文帳に追加

この発明は、テスト対象とするハードウェア記述言語で記述された回路と、上記回路のテスト条件が指定されると、上記回路の記述内容と上記テスト条件とに基づいて、上記回路をテストするテストモデルを生成するようにしたものである。 - 特許庁

To provide an automatic software test device and an automatic software test method that securely conduct an automatic test in which an operation procedure by an operator on an operation window of man-machine software is reproduced to the end, and shorten the test time.例文帳に追加

マンマシンソフトウェアの操作画面におけるオペレータの操作手順を再現する自動試験を最後まで確実に実施すると共に、試験時間を短縮することが可能なソフトウェア自動試験装置及びソフトウェア自動試験方法を提供する。 - 特許庁

Then, the results of the determination by the test result determination means 1c are correlated with the hash values 7 transmitted from the server 3 for testing by a test result recording means 1e to store them, as the test execution log 1g, in a test execution log storage means 1f.例文帳に追加

そして、テスト結果記録手段１ｅにより、テスト結果判定手段１ｃによる判定結果とテスト用サーバ３から送信されたハッシュ値７とが関連づけられ、テスト実施ログ１ｇとしてテスト実施ログ記憶手段１ｆに格納される。 - 特許庁

A short circuit plate equipped with a short circuit contact for using at the withstand voltage test is fitted to the wire connection device, and a contact capable of easily attaching and detaching a test wire for using at the electrical circuit verification test (sequence test) is fitted to the wire connection device.例文帳に追加

耐電圧試験実施時に使用する短絡接触子を備えた短絡板が結線装置に設けられ、そして、電気回路検証試験（シーケンス試験）時に使用する試験配線が容易に着脱できる接触子を結線装置に備える。 - 特許庁

In a status transition table design support portion 230, a test path generation portion 232 generates a test path including a series of test cases to be executed as a status transition test, based on information accepted by an operation specification information input acceptance portion 231.例文帳に追加

状態遷移表設計支援部２３０では、動作特定情報入力受付部２３１が受け付けた情報に基づいて、状態遷移テストとして実行されるべき一連のテストケースからなるテストパスがテストパス生成部２３２によって生成される。 - 特許庁

This instrument is equipped with a standard test-piece 23 and has a correcting mechanism 14 which performs correction by using this standard test-piece, and the correcting mechanism is equipped with a standard test-piece temperature controller which controls the temperature of the standard test-piece to hold constant temperature.例文帳に追加

標準試験片２３を備え、この標準試験片を用いて校正する校正機構１４を有し、前記校正機構が標準試験片を温度調節して常に一定の温度を保つ標準試験片温度調節器を備える。 - 特許庁

To satisfy a specification and to reduce test time of an substandard special test by singly setting a multi-bit mode standardized by JEDEC (Joint Electron Device Engineering Council) so as to simultaneously set a special test mode whicn is not standardized by JEDEC and this multi-bit test mode.例文帳に追加

JEDEC で標準化されているマルチビットテストモードを単独で設定でき、JEDEC で標準化されていない特殊テストモードとこのマルチビットテストモードを同時に設定できるようにして規格を満たすと共に規格外の特殊テストのテスト時間の短縮を図る。 - 特許庁

In this frame relay line test method, a test packet generated by an identification code, a sequence number, and test data by a different pattern is outputted to one end line 2a test data of this output packet and the sequence number are stored.例文帳に追加

試験用パケットであることを示す識別コード、シーケンス番号、異なるパターンの試験用データによって生成した試験用パケットを一方の末端回線２ａに出力するとともに、この出力パケットの試験用データとシーケンス番号とを記憶する。 - 特許庁

To provide an LSI test program generating method and system for realizing optimization by easily changing a series of LSI test programs to be used for an electrical function test, in an LSI tester (probe tester) in matching to a test environment.例文帳に追加

ＬＳＩテスタ（プローブテスタ）において電気機能試験に用いられる一連のＬＳＩテストプログラムをテスト環境に合わせて容易に変更でき、最適化を実現できるようにしたＬＳＩテストプログラム生成方法およびそのシステムを提供することにある。 - 特許庁

A sheet wave is formed in the test target 100 by transmitting an ultrasonic wave to the test target 100 from a transmitter 20 and the test target in the propagation route of the sheet wave is tested by receiving the sheet wave propagated through the test target by a receiver 30.例文帳に追加

送信子２０から超音波を試験体１００に送信することにより試験体に板波を発生させ、試験体を伝搬する板波を受信子３０で受信することにより板波の伝搬経路における試験体を試験する。 - 特許庁

The display control device 214 transmits a command exclusive to the test which is ineffective in the control to the sound lamp control device 272, and a test substrate device 280 receives the command exclusive to the test so that shooting of game balls is suspended when the live-shooting test is implemented.例文帳に追加

表示制御装置２１４は音声ランプ制御装置２７２に対して制御上無効な試験専用コマンドを送信し、実射試験時には、試験基板装置２８０が試験専用コマンドを受信することで遊技球の発射停止を実施する。 - 特許庁

An information terminal machine 4 of an examinee 3 starts test problems from an examinee problem information database 10 to display a test start screen 20 and a test screen 25, solves the problems, scores the test, and displays a score screen 35 as the scoring result.例文帳に追加

受講者３の情報端末機４は、受講者問題情報データベース１０より試験問題を起動し、試験開始画面２０、試験画面２５を表示し、問題を解き、採点を行い、採点結果である採点画面３５を表示する。 - 特許庁

A glide test and a certification test are simultaneously conducted by simultaneously moving a certification test head and a glide test head equipped with a thermal deformation using mechanism (micro thermal actuator) along a recording surface of a magnetic disk which is rotating at a predetermined rotational frequency.例文帳に追加

所定の回転数で回転中の磁気ディスクの記録面に沿って、サーティファイテスト用ヘッドと熱変形利用機構（マイクロ熱アクチュエータ）を備えたグライドテスト用ヘッドとを同時に移動させることによって、グライドテストとサーティファイテストを同時に行なう。 - 特許庁

Then a correction table is generated based upon monochromatic read image data generated by reading the monochromatic test pattern of the test image, multicolor read image data generated by reading the multicolor test pattern, and the stored test image data.例文帳に追加

そして、このテスト画像の単色のテストパターンが読み取られて生成された単色読み取り画像データ、多次色のテストパターンが読み取られて生成された多次色読み取り画像データ、及び記憶するテスト画像データに基づいて、補正テーブルを生成する。 - 特許庁

The test code generator prepares the test code from the test code model information by replacing each variable part in the test code model information for a value of an item in agreement with the variable part in a design information object.例文帳に追加

実施形態のテストコード生成装置は、テストコード雛形情報内の各々の変数部分を設計情報オブジェクト内で当該変数部分に一致する項目の値に置換することにより、テストコード雛形情報からテストコードを生成する。 - 特許庁

A light receiving/emitting sensor 76 is disposed below a detection window 74, and receives light reflected from the test piece disposed opposite to the detection window after the light is projected to the test piece and measures the color tone of color development of the test piece on the basis of the intensity of the reflection light.例文帳に追加

また、検出窓７４の下側には、その位置に対向して配置される試験片に光を入射し、反射した光を受光し、その反射強度から、試験片の発色の色調を計測する受発光型センサ７６が配置される。 - 特許庁

To provide a high-speed tension tester capable of applying an impactive tensile load to a test piece under an intended speed, and capable of preventing observation of a state of the test piece during a test by a high-speed camera or the like from being disturbed.例文帳に追加

試験片に対して意図する速度のもとに衝撃的引張荷重を加えることができ、また、試験中における試験片の様子を高速度カメラ等により観察することを妨げることのない高速引張試験機を提供する。 - 特許庁

This is particularly useful in the present case of combined functional logic and flash EEPROM, where three probings are generally required for the flash test of EEPROM, the digital test of the functional logic circuit and the analog test of the circuit.例文帳に追加

これはＥＥＰＲＯＭのフラッシュ試験、機能的論理回路のデジタル試験、および同回路のアナログ試験に３回のプローブ作業が一般的に必要な機能的論理回路とフラッシュＥＥＰＲＯＭが組み合わされた本件には特に有用である。 - 特許庁

A test signal is added to a spare area continuing to the end of the PCA area at a plurality of types of laser power values that are lower than the maximum value of laser power used in a recording test after carrying out the recording test in the PCA area.例文帳に追加

ＰＣＡ領域にて記録テストを実行した後、前記記録テストで使用するレーザーパワーの最大値より低い複数種類のレーザーパワー値にて、前記ＰＣＡ領域の終端に連続する予備エリアへテスト信号を追記するようにした。 - 特許庁

When a plurality of test light cutoff filters with different cutoff wavelengths can be arranged, existence/absence of the test light cutoff filter and its type are determined on the basis of the reflected light strength relationship of the test wavelength matching each cutoff wavelength.例文帳に追加

さらに、遮断波長の異なる試験光遮断フィルタが複数設置され得る場合には、各遮断波長に対応する試験波長の反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定する。 - 特許庁

Next, the test disk 30 is mounted in a test object drive, and a testing device inquires of the test object drive, a start position of the middle area, a recording end position of file data, a recordable start position of the disk and a recordable capacity (spare capacity).例文帳に追加

このテストディスク３０を検査対象ドライブに装着し、ミドルエリアの開始位置、ファイルデータの記録終了位置、当該ディスクの追記開始位置および追記可能容量（空き容量）を、検査装置から検査対象ドライブに問い合わせる。 - 特許庁

To provide a method of a hydraulic pressure test and a hydraulic pressure test device capable of performing a hydraulic pressure test when a power generation plant is newly built, regardless of an installation time period of a pure water device and a water softening treatment device, and preventing a boiler from corrosion and rusting.例文帳に追加

純水装置や軟水処理装置の設置時期に関わらずに発電プラントの新規建設時で水圧試験を実施可能とするとともに、ボイラの防食、防錆を行う水圧試験方法及び水圧試験装置を提供する。 - 特許庁

When the start key of a final control element 16 is operated, set in a mode for recording a test pattern, the image data of a test pattern stored in an image memory 18 are read out, and the image data of the test pattern are recorded in two sheets of recording paper 73 and 74 in a recorder 15.例文帳に追加

テストパターンを記録するモードに設定されて、操作部１６のスタートキーが操作されると、画像メモリ１８に記憶しているテストパターンの画データが読み出されて、そのテストパターンの画データが記録部１５で記録紙７３，７４に記録される。 - 特許庁

To obtain an automatic device for automating a work processing to insert/remove terminal devices from RF connectors of a test specimen in the test specimen having a large number of RF connectors and of shortening time required for manual work in an electrical characteristic test of RF signals.例文帳に追加

多数のＲＦコネクタを有した供試体において、供試体のＲＦコネクタから終端器を抜き差しする作業処理を自動化し、ＲＦ信号の電気特性試験における手作業の所要時間を短縮する自動装置を得る。 - 特許庁

In the case of the marginless recording, a detection of the ink ejection status is performed from the test pattern with respect to the ejection ports that perform recording at a region between both ends of the marginless test pattern, and that eject the ink forming the pixels of the marginless test pattern.例文帳に追加

また、縁無し記録の際には、縁無しテストパターンの両端部の間の領域に記録され、縁無しテストパターンにおける画素を形成するインクを吐出する吐出口について、テストパターンからインクの吐出状態の検出を行う。 - 特許庁

To provide a dynamic horizontal loading test method and device for a pile capable of carrying out a test by the reduced number of persons, capable of obtaining a great energizing force by the compact device, and capable of regulating an impact force in the dynamic horizontal loading test using a weight and rails.例文帳に追加

重錘とレールを用いた動的水平載荷試験において、少人数で試験を行うことができ、コンパクトな装置で大きな加振力が得られ、打撃力の調整も可能な杭の動的水平載荷試験方法・装置を提供する。 - 特許庁

The method for screening a test material changing or reducing the activities of an autotoxin comprises measuring the activities of the autotaxin in the presence of the test material, and assaying whether the test material changes or reduces the activities of the autotaxin or not.例文帳に追加

被試験物質の存在下でオートタキシンの活性を測定し、前記被試験物質がオートタキシンの活性を変化させるか、低下させるか否かを検定することを含むオートタキシンの活性を変化させるか、低下させる被試験物質のスクリーニング方法。 - 特許庁

The test piece 7 is retreated from the opening 4 and the auxiliary valve 5 with the valve element 51 closed, the deterioration state of the test piece 7 is visually confirmed, and the deterioration state of the inside of the valve casing 1 is grasped from the deterioration state of the test piece 7.例文帳に追加

また、弁体５１の弁閉状態で試験片７を開口４と補助弁５から退避させて、試験片７の劣化状況を目視により確認し、試験片７の劣化状況から弁箱１内部の劣化状況を把握する。 - 特許庁

In the case of the margined recording, a detection of the ink ejection status is performed from the test pattern with respect to ejection ports that perform recording at a region between both ends of the margined test pattern, and that eject the ink forming the pixels of the margined test pattern.例文帳に追加

縁有り記録の際には、縁有りテストパターンの両端部の間の領域に記録され、縁有りテストパターンにおける画素を形成するインクを吐出する吐出口について、テストパターンからインクの吐出状態の検出が行われる。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device in which cause of 'error' of rewritten data is easy to specify, a test of page-latch and a test of a read-out circuit can be completed in a short time.例文帳に追加

書き換えたデータの“誤り”の原因を特定し易く、かつページラッチの試験や、読み出し回路の試験を、短時間で完了させることが可能な半導体記憶装置を提供すること。 - 特許庁

Each of the plurality of data holding circuits holds, as a test result, a signal output from the other end of corresponding one of the respective peeling reinforcement blocks in response to the test signal.例文帳に追加

前記複数のデータ保持回路の各々は、対応する前記各剥離補強ブロックの他端から前記テスト信号に応じて出力される信号をテスト結果データとして保持する。 - 特許庁

The selector is controlled to select, for execution of the scan test, the input signal 4 of the non-scan block and select, for non-execution of the scan test, the output signal of the non-scan block.例文帳に追加

セレクタは、スキャンテストを行なう場合は非スキャンブロックの入力信号４を選択し、スキャンテストを行なわない場合は非スキャンブロックの出力信号を選択するように制御される。 - 特許庁

To find bonding strength of a semiconductor bump electrode by replacing the attachment for fixing a sample of a bonding strength testing device, which makes full test of a wire bonding and the share test of the wire bonding.例文帳に追加

半導体バンプ電極のボンディング強度を、ワイヤボンディングのプルテスト及びシェアテストを行うボンディング強度試験装置の試料固定用アタッチメントを付け替えることによって可能にする。 - 特許庁

To provide a test circuit of a semiconductor integrated circuit and a test method which can collectively measure the resistances of transistors of a plurality of output buffers connected to the same power source.例文帳に追加

同一電源に接続された複数の出力バッファのトランジスタの抵抗値を一括して測定することができる半導体集積回路のテスト回路及びテスト方法を提供すること。 - 特許庁

The inkjet recording device records test patches 13 in a plurality of positions in the main scanning area of the carriage and measures a dislocation of dot recording position corresponding to each of the position from the test patches 13.例文帳に追加

キャリッジの主走査領域内の複数の位置でテストパッチ１３を記録させ、このテストパッチ１３から、それぞれの位置に対応したドットの記録位置ずれ量を測定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of detecting generation of a glitch noise, using a scanning test circuit, irrespective of a timing window of a flip-flop in the scanning test circuit, and a testing method therefor.例文帳に追加

スキャン試験回路のフリップフロップのタイミングウインドウに関係なく、スキャン試験回路を用いてグリッチノイズの発生を検出する半導体集積回路及びその試験方法を提供する。 - 特許庁