「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(93ページ目) - Weblio英語例文検索

The method includes (A) a step of inserting a test point into an object node in a designed circuit, (B) a step of specifying a delay time for a path (test point path) connecting with the test point, and (C) a step of laying out the designed circuit so that the delay time of the test point path is the specified delay time.例文帳に追加

その設計方法は、（Ａ）設計回路中の対象ノードに対してテストポイントを挿入するステップと、（Ｂ）そのテストポイントにつながるパス（テストポイントパス）に対して遅延時間を指定するステップと、（Ｃ）そのテストポイントパスの遅延時間が上記指定された遅延時間になるように、設計回路のレイアウトを行なうステップと、を有する。 - 特許庁

To provide a compression test device for stably arranging a pedestal member used as the base of a test piece, obtaining a more reliable test result, easily and surely adjusting the position of the pedestal member in a preliminary test, and reducing the workload of a person in charge of testing.例文帳に追加

試験体の土台として使用される台座部材を下部ロッド上に安定配置し得、より信頼性の高い試験結果が得られると共に、予備試験における台座部材の位置調整を容易且つ確実に行うことができ、試験担当者の負担軽減を図り得る圧縮試験装置を提供する。 - 特許庁

The mixed signal processing circuit is integrated with the test interface, especially the mixed signal processing circuit is integrated with the test interface of a probe card or a device under test, moreover the mixed signal processing circuit is integrated with the pin electric channel of the testing device, and the motion process of the mixed signal process circuit is integrated with the system software of the test device.例文帳に追加

混合信号処理回路をテストインターフェースに統合し、特に混合信号処理回路をプローブカードまたは被試験素子カードのテストインターフェースに統合し、かつ混合信号処理回路と試験機のピン電気チャンネルを統合し、混合信号処理回路の動作プロセスを試験機のシステムソフトウェアに統合する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.例文帳に追加

テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

One routing processor or more is assigned to a test router among the routing processors, and a test program working on the routing processor assigned to the test allows one router to realize functions of a conventional network test tool, such as generation of transmission packets, checking of reception packets, and transmission of error packets or the like.例文帳に追加

複数のルーティングプロセッサの内、一つ又は、一つ以上のルーティングプロセッサをテスト用として割り当て、これらテスト用に割り当てられた、ルーティングプロセッサ上で動作するテストプログラムにより、送信パケットのジェネレート、受信パケットのチェック、エラーパケットの送信など、汎用的なネットワークテストツールの機能を一つのルータ装置で実現した。 - 特許庁

Upon completing test of programmable routing resources in one self test area, an FPGA 10 is reconfigured such that a part of work area during normal system operation becomes a following self test area and at least a part of first self test area is replaced by that part of the work area.例文帳に追加

最初の自己試験区域の１つでのプログラム可能経路指定資源の試験の完了後、ＦＰＧＡ１０は、通常システム動作中の作業区域の一部が後続の自己試験区域になり、また、最初の自己試験区域の少なくとも一部が作業区域のその部分と置き換えられるように再構成される。 - 特許庁

In the COF substrate, the shape of a corner portion connecting the test pad TP to the wiring L is formed so that the arc of a circle having a larger distance as a radius, out of a distance between adjacent test pads TP and TP and a distance between the wiring L and the test pad TP, may contact the test pad TP and a straight line portion of the wiring L.例文帳に追加

テストパッドＴＰと配線Ｌをつなぐコーナー部の形状を、隣接するテストパッドＴＰ，ＴＰ間の間隔または配線ＬとテストパッドＴＰとの間の間隔のうちの、大きい方の間隔を半径とする円の円弧が、テストパッドＴＰ及び配線Lの直線部と接するように、形成したことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method of evaluating groove bottom crack resistance performance of a tread groove by using a test piece of a simple structure.例文帳に追加

構造が簡単な試験片を用いて、トレッド溝の耐溝底クラック性能を評価するための方法。 - 特許庁

To obtain the accurate viscoelastic characteristic value of a test piece itself in consideration of the viscoelastic characteristics of a stress rod.例文帳に追加

応力棒の粘弾性特性を考慮して、試験片そのものの正確な粘弾性特性値を得る。 - 特許庁

The turnover of the test subject is decided on the basis of a correction value ΔZ1 of the vertical displacement ΔZ.例文帳に追加

そして、この鉛直変位ΔＺの修正値ΔＺ１に基づいて被験者の転倒を判定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of shortening testing time of scan test without increasing circuit scale of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の回路規模を増大させずにスキャン試験の試験時間を短縮する。 - 特許庁

METHOD FOR PREVENTING ADHESION OF RESIST TO BACKSIDE OF TEST SAMPLE AND CHUCKING DEVICE OF SAMPLE USED FOR SAME METHOD例文帳に追加

試料裏面に対するレジストの付着防止方法及び同方法に使用する試料のチャック装置 - 特許庁

To provide an eddy current flaw test device capable of improving an accuracy of detecting a flaw of a cold-rolled steel pipe.例文帳に追加

冷間圧延された鋼管のきず検出精度を向上できる渦流探傷装置を提供する。 - 特許庁

To provide a corrosion testing device that improves precision of the amount of adhered salt content and has a small dispersion of test results.例文帳に追加

付着塩分量の精度を高め試験結果のバラツキが小さい腐食試験装置を提供する。 - 特許庁

The widths of black bars and white bars of a barcode are measured based on the image of the printed test chart.例文帳に追加

印刷されたテストチャートのイメージに基づいて、バーコード用の黒バーおよび白バーの幅を測定する。 - 特許庁

To change setting of pin arrangement in a test of a plurality of devices to be tested having the same pin arrangement.例文帳に追加

同一のピン配置を有する複数の被試験デバイスの試験において、ピン配置の設定を変更する。 - 特許庁

To provide a device allowing individual test of each layer of thin membrane of an integral multi-layered device.例文帳に追加

一体式の多層装置の薄膜の各層を個々に試験することを可能にする装置を提供する。 - 特許庁

This food for the food test consists of 3 kinds of foods having different physical properties of a pudding, liquid state food and porridge.例文帳に追加

プリン、液状食品及び粥の３種類の物性の異なる食品よりなるフードテスト用食品。 - 特許庁

The method for screening the remedy of the multiple system atrophy includes dosing a test substance to a medium spiny neuron of corpus striatum in a nonhuman animal having deficient function of tubulin γ2 gene, and selecting the test substance by using one of the influences of the test substance on the shape of a mitochondrion of the neuron, the released amount of a GABAergic neurotransmitter, and the content of ATP as an index.例文帳に追加

チューブリンγ２遺伝子の機能が欠失した非ヒト動物の線条体中型有棘神経細胞に被検物質を投与し、被検物質の該ニューロンのミトコンドリアの形状、ＧＡＢＡ性神経伝達物質放出量、ＡＴＰ含有量への影響のうちいずれか1つ以上を指標ととして選択する。 - 特許庁

One mode among a plurality of kinds of the test modes is started on the basis of the counted number (S4-S7).例文帳に追加

そして、このカウント数に基いて、複数種類のテストモードのうち、１つのモードを起動させる（Ｓ４〜Ｓ７）。 - 特許庁

Figure 2 represents the result of a moisture absorption test of the coating composition for controlling the termites as an example representing a humidity control effect of the coating composition for controlling the termites.例文帳に追加

同図における符号Ａが、当該シロアリ防除用コーティング組成物によるものである。 - 特許庁

To provide a testing system capable of carrying out a motion test of a relief valve of a pressure rise supply device.例文帳に追加

昇圧供給装置のリリーフ弁の動作試験を行うことができる試験システムを提供すること。 - 特許庁

a heavy wooden pole (such as the trunk of a young fir) that is tossed as a test of strength (in the Highlands of northern Scotland) 例文帳に追加

強度の試験として投げられる重い木の棒（例えば若いモミの幹）（北スコットランドの高地で） - 日本語WordNet

To suppress increase of area of a test circuit in a semiconductor chip and to increase kinds of tests.例文帳に追加

半導体チップに占める試験回路の面積の増加を抑制し、かつ、試験の種類を増やすこと。 - 特許庁

To improve accuracy of verification of a circuit when simultaneously operating a plurality of test scenarios in parallel.例文帳に追加

複数のテストシナリオを同時並行的に動作させる際に、回路の検証の精度を向上させる - 特許庁

The Cu contamination is quantitatively evaluated by a degree of surface roughness of the a-Si film 3 of the test wafer.例文帳に追加

このテストウェハのａ−Ｓｉ膜３の表面の荒れ具合からＣｕ汚染を定量的に評価する。 - 特許庁

Magnification ratio of the test lens 12 at the angle of view θ is obtained on the basis of the first and second images.例文帳に追加

第１および第２撮像画像に基づいて、画角θにおける被検レンズ１２の倍率を求める。 - 特許庁

In a normal state of the test piece, the hole of the lid member and the holes of the vessel are positioned to be mutually exposed in the axial direction, whereas, when the test piece is bent, the lid member slides in the vertical direction following the test piece and shields the hole of the load applying part side of the vessel.例文帳に追加

蓋部材の孔と容器の孔とは試験片が正常な場合には互いに軸方向に覗くように位置決めされ、試験片が曲げられたときには蓋部材が試験片に従って鉛直方向にスライドして容器の荷重付加部側の孔を遮蔽する。 - 特許庁

In a nonspecific immunity test, continuation of six weeks, the administration test of the test substance to BALB/c mouse is performed, the promotion of peritoneal macrophage activity, the regulating of hormonal secretion of an antitumor cell, and the immunity regulation function which promotes serum antibody preparation are measured.例文帳に追加

非特異的免疫試験では、ＢＡＬＢ／ｃマウスに連続６週間、試験物質の投与試験を行い、腹腔マクロファージ活性の促進、抗腫瘍細胞のホルモン分泌の調節、および血清抗体生成を促進する免疫調節機能を測定。 - 特許庁

Then, density information of the plurality of test patches is detected by a density sensor 41, and the phase of the density unevenness is obtained based on detection results (density information) of the plurality of test patches as well as based on a phase difference corresponding to a test patch whose density unevenness is a predetermined value in amplitude.例文帳に追加

そして濃度センサ４１による複数のテストパッチの濃度情報を検出し、複数のテストパッチの検出結果（濃度情報）と、そのうち濃度ムラの振幅が所定の振幅であるテストパッチに対応する位相差と、に基づき濃度ムラの位相を求める。 - 特許庁

Determination of a test light power for trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and operation of an actual recording power in each zone of the magneto-optical disk 2, based on the test light power are executed by the control of the drive controller 11 in a recording power operation circuit 13.例文帳に追加

ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行する。 - 特許庁

Determination of a test light power for trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and operation of an actual elimination power in each zone of the magneto-optical disk 2, based on the test light power are executed by the control of the drive controller 11 in a power operation circuit 13.例文帳に追加

ドライブコントローラ１１の制御によりパワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の消去パワーの演算とを実行する。 - 特許庁

To provide a test device capable of very efficiently recording log data which show the state of device and state of test, etc., before/after the time when abnormality occurs, by effectively utilizing a limited memory capacity, and to provide a recording method of the log data of the test device.例文帳に追加

限られたメモリ容量を有効に活用し、異常発生時前後の装置状態と試験状態等を示すログデータを極めて効率的に記録することが可能な試験装置と試験装置のログデータ記録方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

Determination of a test light power for trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and operation of an actual recording power in each zone of the magneto-optical disk 2 based on the test light power are executed by the control of the drive controller 11 in a recording power operation circuit 13.例文帳に追加

ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行する。 - 特許庁

In a recording power arithmetic circuit 13, the decision of the test write power for the trial writing in a test track of a magneto-optical disk 2 and the calculation of the actual recording power in each zone of the magneto-optical disk 2 based on the test write power are carried out by the control of a drive controller 11.例文帳に追加

ドライブコントローラ１１の制御により記録パワー演算回路１３では、光磁気ディスク２のテストトラックにおける試し書き用のテストライトパワーの決定と、テストライトパワーに基づく光磁気ディスク２の各ゾーンにおける実際の記録パワーの演算とを実行する。 - 特許庁

A test device of testing a device under test includes: a plurality of capacitors charged at predetermined respective prescribed voltages; a switching part for performing the switching from which of the capacitors charged at the prescribed voltages the power source voltage is to be supplied to the device under test; and a determination part determining the quality of the device under test on the basis of the operation result of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ予め定められた所定の電圧で充電される複数のコンデンサと、所定の電圧に充電されたコンデンサのうち、いずれから被試験デバイスに電源電力を供給するかを切り替える切替部と、被試験デバイスの動作結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

In the ozone exposure test method, the flow rate of air is measured during an ozone exposure test, for example, by a flowmeter 2 to control a blower 3 and the flow rate per minute of air circulating through a test tank 1 is set to more than 5% of the inner volume of the test tank 1 and the fluctuation width of the flow rate is controlled to 10% or less of the set value.例文帳に追加

オゾン暴露試験中、例えば、流量計２により流量を測定して、送風機３を制御して、試験槽１内を循環する気体流量が、毎分の流量を試験槽１の内容積の５倍以上に設定し、その流量変動幅を設定値の１０％以内に制御することを特徴とするオゾン暴露試験方法である。 - 特許庁

A printed circuit board 422 of the test device 420 includes a plurality of shared patterns CPATk for holding at least two or more of the corresponding test channels CHk, out of the plurality of test channels CHk for connecting an input terminal ITERMk to a test pin, in common with the corresponding one input terminal ITERMk out of the input terminal ITERMk.例文帳に追加

テスト装置４２０の印刷回路基板４２２は、入力端子ＩＴＥＲＭｋとテストピンとを連結する複数のテストチャンネルＣＨｋのうち、対応する少なくとも二つ以上のテストチャンネルＣＨｋを、入力端子ＩＴＥＲＭｋのうち、対応する一つの入力端子ＩＴＥＲＭｋに共有させる共有パターンＣＰＡＴｋを複数個備える。 - 特許庁

To provide a testing apparatus for a vehicle which is capable of improving reliability of test results and ensuring safety by confirming fixed state of a test vehicle set on a chassis dynamometer, detecting it when the preparation of test is incomplete or insufficient, and disturbing the continuation of the improper test due to carelessness of workers.例文帳に追加

シャシダイナモメータ上にセットする試験車両の固定状態を確認して、試験の準備が未完または不十分である場合にはこれを検知して、作業者の不注意による不適切な試験の続行を阻止することにより、試験結果の信頼性を向上させると共に安全性を確保できる車両の試験装置を提供する。 - 特許庁

The arranging positions of a cell constituting a test objective circuit, and a non-connected cell prepared for the constitution of the test circuit, are determined and, thereafter, the connecting relation of the non-connected cell prepared for the constitution of the test circuit is determined based on these arrangement informations to constitute the test circuit, whereby the semiconductor integrated circuit is provided as equipped with the test circuit.例文帳に追加

テスト対象回路を構成しているセルおよびテスト回路を構成するために準備された未接続セルの配置位置を決定した後に、それらの配置情報に基づいて、テスト回路を構成するために準備された未接続セルの接続関係を決定し、テスト回路を構成することによりテスト回路を備えた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

For instance, the apparatus is a test system provided with: a tester configured to test a set of components and generate test data for the set of components, wherein the components are manufactured based on a manufacturing process; and a diagnostic system configured to receive the test data from the tester, and identify the characteristic of the manufacturing process of the components by automatically analyzing the test data.例文帳に追加

例えば、一組のコンポーネントを試験し、該一組のコンポーネントに対する試験データを生成するように構成されたテスターであって、該コンポーネントは製造プロセスに基づいて製造される、テスターと；該テスターから該試験データを受け取り、該試験データを自動的に分析することによって、該コンポーネントの該製造プロセスの特徴を識別するように構成された診断システムと、を備える、試験システム。 - 特許庁

The semiconductor test device 100 measures the matching time of each DUT and performs processing calculating test efficiency values at each matching time by performing processing which takes the statistics of the distribution of the yield of DUT in a function test of a prescribed time out of multiple times.例文帳に追加

半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、各ＤＵＴのマッチ時間を計測し、ＤＵＴの収量の分布を統計する処理を行い各マッチ時間ごとに試験効率値を算出する処理を行う。 - 特許庁

Storing a data state before and after the update of a data base as history information facilitates automatic creation of the test data creation suitable for the test case and execution of the test, regardless of the existence or nonexistence of the past input online journal and regardless of the change in data layout.例文帳に追加

データベースの更新前後のデータ状態を履歴情報として格納しておくことにより、過去の入力オンラインジャーナルの有無に関わらず、かつ、データのレイアウト変更に関わらず、テストケースに適合したテストデータ作成を自動的に生成してテストを実行することを可能にする。 - 特許庁

To provide an regulation processing system for deciding the order of priority in regulation of an information processing system to reduce load in an operation test of business regulation when a result of the operation test of the regulation to the information processing system is used in the operation test of business regulation.例文帳に追加

情報処理システムに対する統制の運用テストの結果を業務統制の運用テストに用いる場合に、業務統制の運用テストにおける負担を軽減させる前記情報処理システムの統制の優先順位を決定する統制処理システムを提供する。 - 特許庁

Then, a test chart CB in which test images of each color is formed by a printer 20 is read as a color image of RGB by the scanner 10 and printer compensation LUTs of each color in the printer 20 are created based on results by compensating reading results of test images of each color by the scanner compensation LUTs of each color.例文帳に追加

そして、プリンタ２０で各色テスト画像が形成されたテストチャートＣＢを、スキャナ１０でＲＧＢのカラー画像として読み取り、各色テスト画像の読み取り結果を各色のスキャナ補正ＬＵＴで補正した結果に基づき、プリンタ２０における各色のプリンタ補正ＬＵＴを作成する。 - 特許庁