「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(97ページ目) - Weblio英語例文検索

SIGNAL INTERRUPTION DEVICE AND TEST METHOD OF RADIO BASE STATION DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

信号遮断装置及びこれを用いた無線基地局装置の試験方法 - 特許庁

To easily perform the calibration of detection sensitivity without using a test inspection objective body.例文帳に追加

試験被検査体を用いずに検出感度の校正を簡単に実施する。 - 特許庁

SEPARATION MATERIAL FOR FITNESS TEST OF DENTURE BASE RELINED WITH SILICONE-BASED SOFT MATERIAL例文帳に追加

シリコーン系軟質材料が裏装された義歯床の適合試験用分離材 - 特許庁

To provide a probe device and a processing apparatus capable of performing an effective wafer probe test.例文帳に追加

効率的なウェハプローブテストが可能なプローブ装置及び処理装置の提供。 - 特許庁

To realize simplifying screening (selection) of a defective memory cell in a probing test.例文帳に追加

プロービングテストにおける不良メモリセルのスクリーニング（選別）の簡便化を実現する。 - 特許庁

TEST METHOD, OPERATING CONDITION SETTING METHOD AND DEVICE CAPABLE OF SETTING OPERATING CONDITION例文帳に追加

試験方法、動作条件設定方法及び動作条件設定可能な装置 - 特許庁

COOLING AND MOISTURE PROOF DEVICE FOR ELECTRICAL CHARACTERISTIC TEST OF FLAT DISPLAY SUBSTRATE例文帳に追加

平板ディスプレイ基板の電気的特性試験のための冷却及び防湿装置 - 特許庁

The test clock pulses can be counted to determine the state of the digital counter.例文帳に追加

該テストクロックパルスをカウントしてディジタルカウンタの状態を判定することができる。 - 特許庁

DIFFERENTIAL SIGNAL OUTPUT DEVICE, TEST METHOD OF DIFFERENTIAL SIGNAL OUTPUT DEVICE, AND TESTER例文帳に追加

差動信号出力装置、差動信号出力装置のテスト方法、および、テスタ - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND TEST DEVICE OF THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路装置及び半導体集積回路装置の試験方法 - 特許庁

To calibrate setup time, hold time, and skew of a test and measurement apparatus 10.例文帳に追加

試験測定機器１０のセットアップ時間、ホールド時間、スキューなどを校正する。 - 特許庁

To provide a memory device in which complete test of a word line can be performed with a low cost.例文帳に追加

低コストでワード線の完全性検査が可能なメモリ装置を提供する。 - 特許庁

To standardize the bond strength test of bonding wire and to improve reliability.例文帳に追加

ボンディングワイヤの接合強度試験の標準化を図り、信頼性を向上する。 - 特許庁

Thereby observation can be realized even with a low performance tester and the cost of the test can be reduced.例文帳に追加

性能の低いテスタでも観測が可能であり、テストコストが削減できる。 - 特許庁

LEAK TEST METHOD OF TESTPIECE GENERATING DEFORMATION IN SHAPE WITH CHANGE IN PRESSURE例文帳に追加

圧力変化に伴って形状変形を生じる試験体のリークテスト方法 - 特許庁

EVALUATION METHOD FOR GLOGGING STATE OF OPEN END PILE TIP USING CONE PENETRATION TEST例文帳に追加

コーン貫入試験を用いた開端杭先端閉塞状況の評価手法 - 特許庁

METHOD OF ENSURING DATE AND TIME ON TEST METER ARE ACCURATE例文帳に追加

検査測定器の日付および時刻が正確であることを確実にする方法 - 特許庁

To measure the receiving performance of a receiving module 2 under test approximately in real time.例文帳に追加

試験対象の受信モジュール２の受信性能をほぼ実時間で測定する。 - 特許庁

On Nov. 13, Japan conducted its first test of a self-driving bus on a public road.例文帳に追加

11月13日，国内で初めて公道で自動運転バスの試運転が行われた。 - 浜島書店 Catch a Wave

To provide a method for test program generation, an apparatus thereof and a test apparatus for semiconductor integrated circuit, equipped with the apparatus capable of efficiently generating a test program, without requiring complex operations.例文帳に追加

煩雑な作業を必要とせず効率的に試験プログラムを生成することができる試験プログラム生成方法及び装置並びに当該装置を備える半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

A self-test corresponding to a security function of an information processor is performed, and a security function for which self-test has failed and a function relating to the security function for which self-test has failed are made unavailable.例文帳に追加

情報処理装置のセキュリティ機能に対応した自己テストを実施し、自己テストに失敗したセキュリティ機能と自己テストに失敗したセキュリティ機能に関連した機能とを利用不可能にする。 - 特許庁

To efficiently recover a slight amount of water bled from a test piece S by pressing the test piece S formed from sampled soil or a soil sample or supplying pressurized water to the test piece S.例文帳に追加

サンプリングした土壌または土質試料から作成した供試体Ｓを加圧し、または加圧水を供給することにより供試体Ｓから染み出させた僅かな水を効率よく回収する。 - 特許庁

To provide an integrated circuit apparatus which has a ferroelectric memory and of which the test time can be shortened, and a test method therefore in a test in which stress voltage is applied to a ferroelectric capacitor.例文帳に追加

強誘電体キャパシタにストレス電圧を与える試験において、試験時間を短縮することができる強誘電体メモリを有する集積回路装置及びその試験方法を提供する。 - 特許庁

The test frame transmission unit generates a test frame having the MAC address of its own device set as a destination address and a transmission source address, and periodically transmits the generated test frame from an arbitrary port.例文帳に追加

試験フレーム送信部は、送信先アドレスおよび送信元アドレスに自装置のＭＡＣアドレスを設定した試験フレームを生成し、生成した試験フレームを任意のポートから定期的に送信する。 - 特許庁

When applied for the extensometer or the width meter, the mark bodies M are bonded to the test piece W, and an error caused by motion from an initial test start of a test piece W is corrected based on the three-dimensional position information.例文帳に追加

伸び計または幅計に応用する場合には、試験片Ｗにマーク体Ｍを貼着し、その３次元位置情報から、試験片Ｗの試験開始当初からの移動による誤差を補正する。 - 特許庁

To provide an electronic component testing apparatus which can correctly control a temperature of an electronic part even when the electronic component generates heat by itself at a test time, and can test the electronic component at a desired test temperature.例文帳に追加

試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができる電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

In a personal computer (PC), when instructions to output a test image is input by a test image forming section (Yes in #1), a command part instructs the output of the test image to an image forming apparatus (#2).例文帳に追加

パーソナルコンピュータ（ＰＣ）は試験画像生成部により試験画像を出力する指示が入力されると（♯１でＹＥＳ）、指令部は試験画像の出力を画像形成装置に指示する（♯２）。 - 特許庁

The apparatus can reduce the time required to manufacture the test piece and can improve uniformity in quality of test piece by directly manufacturing the test piece from the board using the laser beam in am automated manner.例文帳に追加

自動化方式にレーザービームを利用して基板から直接試片を製造することによって、試片製造に必要とする時間を短縮し、試片品質の均一度も向上させることができる。 - 特許庁

The test generator generates a test on the basis of constraints propagated through the diagram (440), determines whether the text should be executed (450), an executes the generated test (460).例文帳に追加

そして、検査生成装置は、線図を通じて伝搬させた制約に基づいて検査を生成し（４４０）、該検査を実行すべきか否かについて判定し（４５０）、生成した検査を実行する（４６０）。 - 特許庁

The test board is provided with a socket for mounting a non-test device, and first and second signal lines connected between an output terminal, an input terminal of the non-test device and a switch, respectively.例文帳に追加

テスト基板には、非テストデバイスを搭載させるソケットと、上記非テストデバイスの出力端子と入力端子とスイッチとの間をそれぞれ接続する第１及び第２信号線が設けられる。 - 特許庁

To improve test efficiency as a whole by detecting early a defective product in a test process in a test method for a system LSI incorporating a plurality of semiconductor memories each having a redundancy relieving function.例文帳に追加

冗長救済機能を有する複数の半導体メモリを混載したシステムＬＳＩの検査方法において不良品を検査工程にて早期に発見し、全体として検査効率を向上する。 - 特許庁

In this device, signal waveforms of a test signal and the response signal are generated and displayed by test signal generation data serving to test signal generation and determination data which is a determination standard for the response signal.例文帳に追加

本発明は、テスト信号の生成に供するテスト信号生成データ、応答信号の判定基準である判定データより、テスト信号、応答信号の信号波形を生成して表示する。 - 特許庁

To execute test processing according to a test signal inputted from a test terminal while providing high security in a memory device for holding data even in case of power cutoff.例文帳に追加

本発明は、電源遮断時にもデータを保持するメモリ装置に関し、高いセキュリティを実現しつつ、テスト端子から入力されるテスト信号に従ってテスト処理を実行できるようにすることを目的とする。 - 特許庁

A circuit 6 for test derives the above-mentioned data for test read from the RAM 5 to the outside and captures data from the outside after the completion of operation corresponding to the above-mentioned test mode.例文帳に追加

テスト用回路６は上記テストモードに対応した動作が終了した後にＲＡＭ５から読み出される上記テスト用データを外部に導出すると共に外部からのデータを取り入れる。 - 特許庁

Patterns of respective test patterns and a pad part are disposed, so that a same probe card is used for measuring the N-channel TFT test pattern 130 and the P-channel TFT test pattern 140.例文帳に追加

ＮチャネルＴＦＴテストパターン１３０とＰチャネルＴＦＴテストパターン１４０の測定には同一のプローブカードが用いられるように、それぞれのテストパターンのパターン及びパッド部が配置されている。 - 特許庁

The test die may be designed, in accordance with a design methodology (100) for a test die and a product die that includes the step of concurrently designing test circuitry (202A, 402, 404) and product circuitry in a unified design (102).例文帳に追加

該テストダイは、テスト回路(202A,402,404)及び製品回路を統合化された設計(102)に同時に設計するステップを含むテストダイ及び製品ダイに関する設計方法論(100)に従って設計可能である。 - 特許庁

To provide an accelerated weathering test system which can compute actual surface temperature of a test piece aiming at accurate and stable weathering test in order to control environmental conditions in a laboratory.例文帳に追加

正確で安定した耐候試験を目的として、試験室内の環境条件を制御する為に、試験片の実際の表面温度を求めることのできる促進耐候性試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a polarizer protection film free from light escaping in a heat test and discoloration in a humidity test, also free from the occurrence of a crack after an endurance test, and having high durability, and to provide a polarizing plate.例文帳に追加

耐熱試験での光抜けや耐湿試験での褪色がなく、しかも耐久試験後にクラックの発生がない、高い耐久性を有する偏光子保護フィルム及び偏光板を提供する。 - 特許庁

A function test information storage part 12 stores function test information showing a procedure of a function test checking whether each module materializing a business step composing a business flow satisfies requirement or not.例文帳に追加

機能テスト情報記憶手段１２は、業務フローを構成する業務ステップを実現する各モジュールが、要求を満たしているか否かをチェックする機能テストの手順を示す機能テスト情報を記憶する。 - 特許庁

To ensure an external terminal required for a test input for inputting a test signal to a functional block so as to test the functional block even if the number of the functional blocks is large.例文帳に追加

機能ブロックの数が多くても、各機能ブロックに対してテストできるように、機能ブロックにテスト信号を入力するために必要なテスト入力用の外部端子を確保することを目的とする。 - 特許庁

Because the test execution part 100 explicitly outputs a path inside the program executed with a test on the basis of the test scenario onto a flow chart, the already tested path can be visually grasped.例文帳に追加

また、試験実行部１００は、試験シナリオに基づいて試験を実行したプログラム中のパスを、フローチャート上に明示して出力するようにしたので、試験済みのパスを視覚的に把握することができる。 - 特許庁

The test mode circuit 280 detects power source voltage Vcc1 having a voltage level at normal operation in accordance with a test mode shift signal MRS1 and generates a test mode signal TM of a L level.例文帳に追加

テストモード回路２８０は、テストモード移行信号ＭＲＳ１に応じて通常動作時の電圧レベルを有する電源電圧Ｖｃｃ１を検出してＬレベルのテストモード信号ＴＭを発生する。 - 特許庁

Then, when the test piece is broken, a tester main body is driven without removing the test piece from the tester main body and the broken surfaces of the broken respective test pieces are abutted to each other (steps S4 and S5).例文帳に追加

そして試験片が破断したならば試験機本体から試験片を取り外すことなく該試験機本体を駆動して、破断した各試験片の破断面が互いに突き合わせる（ステップＳ４,Ｓ５）。 - 特許庁

To provide a test pattern preparation device, a test pattern preparation method, a failure detection rate calculation device, and a failure detection rate calculation method for preparing a test pattern for highly precisely detecting the bridge failure of an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩのブリッジ故障を高精度に検出するテストパターンを作成できるテストパターン作成装置、テストパターン作成方法、故障検出率算出装置故障検出率算出方法を提供する。 - 特許庁

To provide a memory test method for a semiconductor integrated circuit in which a testing cost is reduced without providing an exclusive circuit for a memory test to perform a self-test of a memory incorporated in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたメモリの自己テストのためにメモリテスト専用回路を設けることなく、低コスト化を図った半導体集積回路のメモリテスト方法を提供する。 - 特許庁