「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(100ページ目) - Weblio英語例文検索

A material made of concrete constituting a building frame of a channel is used for the test pieces T1-T6.例文帳に追加

試験体Ｔ１〜Ｔ６には、水路の躯体を構成するコンクリート製材料が用いられる。 - 特許庁

To enable precise measurement of an access time in a test mode of a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体記憶装置のテストモードにおいて正確なアクセスタイムを測定できるようにすること。 - 特許庁

To improve test efficiency of software and quality of the software in an image display device.例文帳に追加

画像表示機器におけるソフトウェアのテストの効率とそれらソフトウェアの品質とを向上させる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated device capable of performing a scan test of confidential data reliably.例文帳に追加

機密データのスキャンテストを安全に行うことが可能な半導体集積装置を提供すること。 - 特許庁

To enable the test of a scenario to be performed on the screen of a scenario editor for generating the scenario.例文帳に追加

シナリオを生成するシナリオエディタの画面上で、シナリオの試験を行うことができるようにする。 - 特許庁

The result gathering part (13) gathers a first result (5) of a test of the user (B) from a terminal (2).例文帳に追加

結果収集部（１３）は、ユーザ（Ｂ）のテストの第１結果（５）を端末（２）から収集する。 - 特許庁

LEVEL SHIFTER CIRCUIT, DRIVE CIRCUIT OF DISPLAY DEVICE, DISPLAY DEVICE AND STRESS TEST METHOD OF GRADATION SELECTION CIRCUIT例文帳に追加

レベルシフタ回路、表示装置の駆動回路、表示装置、及び階調選択回路のストレステスト方法 - 特許庁

TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING DEVICE例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置およびそれを用いた半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

As for freestyle kumite, only a sort of street fighting called 'kake-dameshi' (test of strength) existed. 例文帳に追加

さらに自由組手にいたっては、掛け試しと呼ばれる一種の野試合が存在するだけであった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

The t-test does not form the basis of the determination of impairment, but tightens the conditions for a genuine exceedance.例文帳に追加

t検定は，損傷決定の根拠にならないが，純粋な超過の状態を確かめられる。 - 英語論文検索例文集

these studies test new methods of screening, prevention, diagnosis, or treatment of a disease. 例文帳に追加

これらの研究によって、スクリーニング、予防、診断、疾患の治療などの新しい方法を試験する。 - PDQ®がん用語辞書 英語版

To improve manufacturing efficiency of a fuel cell through efficient performance of a leak test.例文帳に追加

漏洩試験を効率的に行うことにより、燃料電池の製造効率を向上させる。 - 特許庁

To reduce the number of test pattern gray scales and to positively reduce banding of gray scales sensitive to vision.例文帳に追加

テストパターン階調数を減らし、視覚に敏感な階調のバンディングを積極的に低減する。 - 特許庁

TEST METHOD OF LOAD CONNECTION OF SERVER AND RECORD MEDIUM RECORDING PROGRAM USING FOR THE METHOD例文帳に追加

サーバの接続負荷テスト方法及びこの方法に使用されるプログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁

To provide test equipment and a testing method for a signal processor for shortening of the amount of testing time.例文帳に追加

テスト時間を短縮するための信号処理装置のテスト装置及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

To grasp contents of defect later when a SRAM is defective as a consequence of a test.例文帳に追加

テストの結果、ＳＲＡＭが不良であった場合に、不良内容を後に把握できるようにする。 - 特許庁

To confirm the presence/absence of disconnection of a fire indication control wire by an indicating lamp lighting test.例文帳に追加

表示灯点灯試験によって、火災表示制御線の断線の有無を確認すること。 - 特許庁

To provide a more improved test device for quantitatively measuring the amount of tear meniscus of tear liquid.例文帳に追加

涙液メニスカス涙液量を定量測定するより改良された検査用具を提供する。 - 特許庁

To provide a waterproof test device capable of testing the waterproof performance of a waterproof case at low cost.例文帳に追加

防水ケースの防水性能試験を低コストで行える防水試験装置を提供する。 - 特許庁

utility meters by state approved test laboratories under supervision of the verification authorities of the states 例文帳に追加

ユーティリティ・メータは，州の検定当局の監督の下に州承認の試験所によって行われる - 経済産業省

The calculating means calculates the amount of relative recorded position shift of the pair of test patterns 312, 314 based on the mutual relationship of the density data of the pair of test patterns 312, 314, and then calculates the amount of shifted angle of the recording head based on the amount of relative recorded position shift.例文帳に追加

前記算出手段は、一対のテストパターンの濃度データの相互の相関に基づいて、一対のテストパターンの相対的な記録位置ずれ量を算出し、前記記録位置ずれ量に基づいて記録ヘッドの角度ずれ量を算出する。 - 特許庁

The test handler includes the test tray on which a plurality of inserts are arrayed for loading at least one semiconductor element, at least one opening unit for simultaneously opening the plurality of inserts which are arrayed on one part of the test tray, and a test tray transfer apparatus for allowing the opening unit to simultaneously open the plurality of inserts which are arrayed on another part of the test tray as the test tray is transferred.例文帳に追加

それぞれ少なくとも一つの半導体素子を積載することができる複数のインサートが配列されたテストトレイと、前記テストトレイの一部領域に配列された複数のインサートを同時に開放することができる少なくとも一つの開放ユニットと、前記テストトレイを移動させることで、前記開放ユニットが前記テストトレイの他の一部領域に配列された複数のインサートを同時に開放することを可能にするテストトレイ移送装置と、を包含してテストハンドラーを構成する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which has the test waveform creating part 3 for creating the waveforms for the test to be fed to a semiconductor to be tested 1, is provided with a test log circuit 6 for extracting an internal signal created at a midpoint in a process in which the test waveform creating part 3 creates a final waveform for the test and outputting the internal signal to the outside of the test waveform creating part 3.例文帳に追加

被試験半導体１に送り込むための試験用波形を生成する試験用波形生成部３を有する半導体試験装置に、前記試験用波形生成部３が最終的な試験用波形を生成する過程の途中で生成する内部信号を取り出し、前記試験用波形生成部３の外部へ出力するテストログ回路６を設けた。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device making burn-in test or test by means of a tester more accurate and easier.例文帳に追加

バーンイン試験又はテスタによる試験の高精度化と容易化とを図ることができるようにした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

In this friction testing device, two of four regular prism type test pieces are paired, and held in the test piece fixing means respectively so as to be tested.例文帳に追加

この摩擦試験機では、４つの正四角柱状の試験片の２つを一組とし、それぞれ試験片固定手段に保持し、試験する。 - 特許庁

To provide a cold impact test device capable of minimizing a period required for defrosting operation in a cold impact test.例文帳に追加

冷熱衝撃試験において除霜運転に要する期間を最小限に抑制可能な冷熱衝撃試験装置の提供を目的とする。 - 特許庁

To allow operation check of a test rule for a black box test for a network application by using mockup only from a client side.例文帳に追加

ネットワークアプリケーション向けブラックボックステスト用テストルールの動作確認をモックアップを用いて行う場合に、クライアント側のみからの操作により実現する。 - 特許庁

The test image forming means forms the test image for each color in order of the fact that the printing ratio for each color is a prescribed value or less.例文帳に追加

また、上記試験画像形成手段は、色毎の試験画像を、この色毎の印字率が規定値以下となった順に形成するようにする。 - 特許庁

The spattering preventing member 1 comprises a cylindrical coating member 2 which covers the perimeter of a test piece 100 at tensile test.例文帳に追加

本発明の飛散防止部材１は、引張試験時に試験片１００の周囲を覆うように筒状に形成された被覆部材２を備えている。 - 特許庁

The testing method is constituted for changing the restraint, by making the test body holding means 4 stop in the middle of testing by the test body restraining control means 6.例文帳に追加

試験途中に試験体拘束制御手段６により試験体保持手段４を停止させ、拘束状態を変更する試験方法。 - 特許庁

Before characteristics of an optical path are examined, a test light cutoff filter existence/absence determining device 31 determines whether there is a test light cutoff filter 8 or not.例文帳に追加

光線路の特性試験を行う前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１により、試験光遮断フィルタ８の有無を判定する。 - 特許庁

To provide an acceptance-testing terminal device, an acceptance test support system, and a program, allowing an easy acceptance test of a component incorporated in a commodity.例文帳に追加

商品に組み込まれた部品を容易に検収することができる検収用端末装置、検収支援システム及びプログラムを提供する。 - 特許庁

Thus, only the subscriber test unit 7 at the POTS side exchange facility can conduct the subscriber line test of the xDSL subscriber circuit 9.例文帳に追加

このため、ＰＯＴＳ側交換設備の加入者試験装置７のみでｘＤＳＬ加入者回路９の加入者線試験ができる。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TEST FACILITATING DESIGN OF LSI CIRCUIT AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WHERE TEST FACILITATING DESIGN PROCESSING PROGRAM IS RECORDED例文帳に追加

ＬＳＩ回路のテスト容易化設計方法および装置ならびにテスト容易化設計処理プログラムを記録したコンピュータ読取り可能な記録媒体 - 特許庁

To prevent both controllability and observability from being lowered in a scanning test, and to prevent a loop of test signals from being generated caused by a bidirectional terminal.例文帳に追加

スキャンテスト時に制御性および観測性の双方の低下がない上に、双方向端子に起因するテスト信号のループの発生がないこと。 - 特許庁

The test pattern image to be projected to the projection surface 400 has a distortion in a direction opposite to that of the lens used for imaging the test pattern image.例文帳に追加

投写面４００上に投写されるテストパターン画像は、テストパターン画像の撮像に用いるレンズとは逆方向の歪みを有する。 - 特許庁

The third test tube T3 having a narrower outer diameter and a longer shape than the second test tube T2 is inserted and held on the bottom 21a of the fitting hole 21.例文帳に追加

第２の試験管Ｔ２よりも外径が細く、且つ長い第３の試験管Ｔ３を挿通させて嵌挿穴２１の底２１ａで保持する。 - 特許庁

A test signal from a test signal generating part 103 is recorded on plural tracks by changing the amount of offtrack in an offset amount impressing part 113.例文帳に追加

オフトラック量印加部１１３にてオフトラック量を変化させて、複数のトラックにテスト信号発生部１０３からのテスト信号を記録する。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit in which the BIST (built in self test) can be performed in a short period of time with respect to a storage section such as a memory or a register.例文帳に追加

メモリやレジスタ等の記憶部に対してＢＩＳＴ（Built In Self Test）を短時間に行うことが可能な半導体集積回路を実現する。 - 特許庁

To automatically apply a continuously changing shear test load and bending test load to the mesh part of commercially available sleeve and center member.例文帳に追加

市販のスリーブおよびセンター部材の噛合部に対して連続的に変化する剪断試験荷重および曲げ試験荷重を自動的に付与可能にする。 - 特許庁

To provide an automatic temperature impact test system having simple conveyance operation and high reliability, capable of performing a low-temperature test for a long period.例文帳に追加

搬送動作が単純で信頼性が高く、更には長時間に渡る低温試験を行うことができる、自動温度衝撃試験システムを得る。 - 特許庁

To provide a crash testing device and a crash test method for an automobile body capable of performing a crash test while measuring acceleration applied to a vehicle compartment at a collision time.例文帳に追加

衝突時の車室に作用する加速度を計測しながら衝突試験を行うことができる衝突試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for a jitter test which enable execution of a high-reliability jitter test, in a short time.例文帳に追加

本発明は、短時間で信頼性の高いジッタ試験を行うことのできるジッタ試験装置及びジッタ試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

Then, the test signal T is reproduced from the test area when a predetermined time has passed, to calculate the quality degradation of the user data U from the evaluation result.例文帳に追加

所定の時間経過した時点で、テスト領域のテスト信号Ｔを再生し、その評価結果からユーザデータＵの品質劣化を推定する。 - 特許庁

The test circuit tests the electric circuit or device by using a plurality of universal interface channel circuits 210 in a single automated test system.例文帳に追加

試験回路は、単一の自動試験システム内の複数のユニバーサルインタフェースチャネル回路２１０を用いて、電子回路又は装置を試験を行う。 - 特許庁