「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(96ページ目) - Weblio英語例文検索

The test program 200 executes processing for testing an operation of a communication device 125.例文帳に追加

テストプログラム２００は、通信デバイス１２５の動作をテストする処理を実行する。 - 特許庁

Data for which the substitution of characters is ended is outputted as the test data file.例文帳に追加

文字の置換が終了したデータはテスト用データファイルとして出力される。 - 特許庁

To set accurate test force, according to the hardness of a material estimated by a user.例文帳に追加

ユーザが推定した試料の硬さに応じた正確な試験力を設定する。 - 特許庁

1. The technical test of the plant variety shall be performed in the nearest suitable time for germination.例文帳に追加

(1) 植物品種の技術テストは，直近の発芽に適した時期に行う。 - 特許庁

When the parameter is reset, the test operation of the work flow is started again.例文帳に追加

前記パラメータが再設定されると、再度ワークフローのテスト動作が開始される。 - 特許庁

1 Handling and test methods of airframe, engine, propeller, and other accessories 例文帳に追加

一　機体及び発動機、プロペラその他の装備品の取扱及び検査の方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(a) Knowledge necessary for structure, function, maintenance, remodeling, and test of radio communication device 例文帳に追加

イ　無線通信機器の構造、機能、整備、改造及び試験に必要な知見 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To stabilize power supply voltage when simultaneously measuring a plurality of devices under test.例文帳に追加

複数の被試験デバイスを同時測定する際に、電源電圧を安定化する。 - 特許庁

Result of the test is transmitted from a data transmitting/receiving section 32 to the management server 10.例文帳に追加

テスト結果は、データ送受信部３２から管理サーバ１０に送信される。 - 特許庁

The test terminals 13 consist of a conductor such as a platinum film.例文帳に追加

検査端子１３は、例えば白金膜等の導電体から構成されている。 - 特許庁

To provide a test equipment for a memory device testing a memory device of a packet type.例文帳に追加

パケット方式のメモリデバイスを試験するメモリデバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF PURIFYING TEST BODY OR THE LIKE IN HIGH TEMPERATURE HIGH PRESSURE LOOP, AND APPARATUS FOR THE SAME例文帳に追加

高温高圧ループにおける試験体等の純化方法及びその装置 - 特許庁

HYDRAULIC TESTER OF STEEL PIPE AND METHOD FOR MEASURING PIPE LENGTH AFTER STEEL PIPE HYDRAULIC TEST例文帳に追加

鋼管の水圧試験機及び鋼管水圧試験後の管長計測方法 - 特許庁

Only the logic circuits 22, 24, 26 are supplied the first potential at the time of test.例文帳に追加

試験時には論理回路２２，２４，２６のみに第１の電位が供給される。 - 特許庁

TEST PIECE AND METHOD FOR MEASURING INTERNAL STRESS OF COATING例文帳に追加

被膜の内部応力測定用試験片および被膜の内部応力測定方法 - 特許庁

The recording belt 16 is mounted to a test head of this magnetic flaw detection device.例文帳に追加

そして、この磁気記録ベルト１６を磁気探傷装置のテストヘッドに装着する。 - 特許庁

A second lighting unit 52 illuminates the test contact point 16 of the socket 18.例文帳に追加

第２の照明装置５２は、ソケット１８の試験用接点１６を照射する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus for detecting a fail of built-in memory.例文帳に追加

内蔵メモリのフェイルを検出するための半導体テスト装置を提供する。 - 特許庁

TEST PIECE FOR EVALUATING INNER LAYER CIRCUIT OF PRINTED WIRING BOARD, AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

プリント配線板の内層回路評価用試験片及びその作成方法 - 特許庁

To inexpensively perform a load test with an equipment playing the role of a server device.例文帳に追加

サーバ装置の役割を果たす機器に対する負荷テストを、低コストで実現する。 - 特許庁

The connection connector 3 is connected to a tip part of the cable 30 for the test.例文帳に追加

試験用ケーブル３０の先端部には接続コネクタ３が接続されている。 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR FOCUS TEST OF LITHOGRAPHIC APPARATUS AND METHOD FOR MANUFACTURING DEVICE例文帳に追加

リソグラフィ装置の焦点試験方法およびシステム、およびデバイス製造方法 - 特許庁

AUTOMATIC FAILURE TESTING OF LOGICAL BLOCK USING INTERNAL AT-SPEED LOGIC BUILT IN SELF TEST例文帳に追加

内部アットスピード論理ＢＩＳＴを用いた論理ブロックの自動故障試験 - 特許庁

SYSTEM, METHOD AND APPARATUS FOR COMPLETING GENERATION OF TEST RECORD AFTER ABORT EVENT例文帳に追加

中断イベント後に試験記録の生成を完成するシステム、方法、及び装置 - 特許庁

A small amount of water 12 is dripped onto pH test paper 14 for inclusion (Fig. (1)).例文帳に追加

ｐＨ試験紙１４に少量の水１２を滴下して含ませる（図１（１））。 - 特許庁

A call processing test suspension means 109 suspends the connection or the release of the call.例文帳に追加

呼処理試験停止手段１０９は、呼の接続又は解放を停止する。 - 特許庁

To relieve a load on a person generating test data in the case of testing a communication terminal.例文帳に追加

通信端末を試験する際にテストデータの作成者の負担を軽減する。 - 特許庁

To simply test the characteristic of a device provided with an IC.例文帳に追加

ＩＣを有するデバイスの特性を簡易的にテストすることができるようにする。 - 特許庁

To improve the precision of soil compensation owing to sensitivity correction using test light.例文帳に追加

試験光を用いた感度補正による汚れ補償の精度向上を図る。 - 特許庁

To test fatigue strength for a ring of an endless metal belt used for a CVT.例文帳に追加

ＣＶＴに用いられる無端金属ベルトのリングの疲労強度を試験する。 - 特許庁

radioactive iodine test that measures the amount of radioactive iodine excreted in the urine 例文帳に追加

尿に排泄される放射性ヨードの量を計測する放射性ヨード検査 - 日本語WordNet

The test is performed, while the plurality of semiconductor devices are electrically connected together.例文帳に追加

複数の半導体装置に電気的な接続を行ないながら試験を行なう。 - 特許庁

Its output is stored in the test image (1) storage part 13b of the image memory 13.例文帳に追加

その出力をイメージメモリ１３のテストイメージ（１）記憶部１３ｂに格納する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a semiconductor device capable of shortening the test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁

The technique adopts a test circuit related to each row driver of the detector.例文帳に追加

本技法は、検出器の各行ドライバと関連する試験回路を採用する。 - 特許庁

To test jitter resistance of a data extraction circuit inside a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の内部でデータ抽出回路のジッタ耐性をテストする。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DESIGNING LAYOUT OF TEST- FACILITATED SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

テスト容易化半導体集積回路のレイアウト設計方法および設計装置 - 特許庁

To achieve execution of test mode to a specific chip on a module substrate.例文帳に追加

モジュール基板上の特定のチップに対してテストモードの実行を可能とする。 - 特許庁

To enable decision on quality of an overcurrent detection function in a wafer test process.例文帳に追加

ウエハテストの工程で過電流検出機能の良否判定を可能にする。 - 特許庁

TEST METHOD AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE, AND SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

半導体記憶装置のテスト方法及び製造方法並びに半導体ウェハ - 特許庁

A test pad P13 is provided on one end of the breakage detection wiring 12.例文帳に追加

そして、破損検出用配線１２の一端に、テスト用パッドＰ１３を設ける。 - 特許庁

The delay circuit for writing generates a plurality of writing test clock signals.例文帳に追加

前記書き込み用遅延回路は複数の書き込みテストクロック信号を生成する。 - 特許庁

A safe haven to develop the weapon and an endless supply of victims to test it on.例文帳に追加

武器開発の安全と人体実験につかう 被験者を供給すること - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

He's the son of the late martin jordan who was killed in his own illfated test flight back in 1993.例文帳に追加

父親の故マーティン・ ジョーダンは 1993年の不運な 試験飛行で死亡しました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

The calculation of the t-test showed that this change was not statistically significant at the p = 0.05 level例文帳に追加

t検定の計算によれば，この変化は，p＝0.05レベルで，統計的に有意でない。 - 英語論文検索例文集