「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(98ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a temperature test system for an electronic apparatus by which a temperature test corresponding to each apparatus to be tested is executed regarding the temperature test of the electronic apparatus, and by which a temperature is tested and controlled by type and by apparatus.例文帳に追加

電子機器の温度試験に関し、個別の被試験装置に対応する温度試験を実行して機種別、号機別に温度試験管理を実現する電子機器の温度試験システムを提供する。 - 特許庁

A test pattern TPa and a comparing pattern CPa are outputted from a test circuit 50 to the integrated circuit 63, and CPU 67 or the like of the integrated circuit 63 operates based upon the test pattern TPa.例文帳に追加

テストパターンＴＰａと比較用パターンＣＰａとがテスト回路５０から集積回路６３に出力され、集積回路６３のＣＰＵ６７等でテストパターンＴＰａに基づいて動作が行われる。 - 特許庁

To solve a problem that the output timing of effective output data is not constant for every test in a test employing automatic test equipment (ATE) for a data output circuit in an LSI (large scale integrated circuit) comprising a PLL (phase locked loop) circuit or the like.例文帳に追加

ＰＬＬ回路等を含むＬＳＩ中のデータ出力回路に対する自動テスト装置（ＡＴＥ）を用いたテストでは、有効な出力データの出力タイミングがテスト毎に一定でない。 - 特許庁

A thermo-element 210 for heating the circuit element 202 up to the test temperature by thermoelectric effect is installed, and when a life test is executed, the circuit element 202 is heated up to the test temperature by thermoelectric effect of the thermo-element 210.例文帳に追加

回路要素２０２を熱電効果により試験温度とする熱電素子２１０を設け、寿命試験を実行するときは熱電素子２１０の熱電効果で回路要素２０２を試験温度とする。 - 特許庁

A person in charge in the medical institution 9 refers to test item data 28 from a computer 33, inputs the test to be requested to the electronic form 26 of a test request and transmits it to a WWW server 21.例文帳に追加

医療機関９の担当者は、コンピュータ３３から検査項目データ２８を参照して、検査依頼の電子フォーム２６に依頼する検査を入力し、ＷＷＷサーバ２１に送信する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test apparatus and a method therefor capable of accurately and meticulously applying conforming article/nonconforming article discrimination to semiconductor chips formed on a substrate, which cannot be attained only by an electric selection test for discriminating whether or not a test specification is satisfied.例文帳に追加

基板に形成された半導体チップについて、試験スペックを満たすか否かを判定する電気的選別試験のみでは得られない正確且つきめ細かな良品／不良品判定を行う。 - 特許庁

The personal computer reads test data of a test piece being a failure detection subject, and executes various operations to determine a failure for the test data, by applying the set failure detection rule.例文帳に追加

パーソナルコンピュータは、異常検出対象となる試験片の試験データを読込み、その試験データに対して、設定した異常検出ルールを適用して異常判定の各種演算を実行する。 - 特許庁

To provide a software automatic test system which can perform automatic test even about software composed of image data including variable image data and with which artificial mistakes are reduced and a test time is shortened.例文帳に追加

可変イメージデータを含むイメージデータからなるソフトウエアについても自動テストを行うことができ、かつ、人為的なミスを削減し、テスト時間を短縮するようにしたソフトウエア自動テストシステムを提供する。 - 特許庁

To perform a logic test without providing an external clock terminal exclusive for test in a test mode of a semiconductor integrated device operating in an internal oscillation circuit.例文帳に追加

内部発振回路で動作する半導体集積装置のテストモードにおいて、テスト専用の外部クロック端子を設けることなく、ロジックテストを行うことができる半導体集積装置を提供する。 - 特許庁

The layout of the test pattern is optimized such that the print medium may be consumed at the minimum when printing the test pattern or the maximal measurement precision may be obtained from the test pattern.例文帳に追加

テストパターンのレイアウトはテストパターンのプリントで可能な限り少ない量のプリント媒体しか消費しないように、あるいはテストパターンから得られる測定結果の精度を最大にするように最適化する。 - 特許庁

A tensile test is performed to a tensile test piece made of a metal material where hydrogen has penetrated, and destruction with a nonmetal inclusion affected by hydrogen as a starting point is generated in the tensile test piece.例文帳に追加

水素を侵入させた金属材料製の引張試験片に対して引張試験を行い、水素の影響を受けた非金属介在物を起点とする破壊を引張試験片に生じさせる。 - 特許庁

By this constitution, data writing and reading are continuously conducted with a plurality of test patterns by only dynamically changing input data for testing and conducting test mode entry for test performing.例文帳に追加

このような構成によって、試験のための入力データを動的に変更させ、試験を行うためのテストモードエントリを行うだけで、複数のテストパターンでのデータの書き込みと読み出しが連続して行われる。 - 特許庁

When the capsules 16 are at positions separated by an angle interval of 90° from the air leakage test positions, an helium leakage test is performed for the works put in the capsules 16 by a helium leakage test mechanism 40.例文帳に追加

カプセル１６が上記エアリークテスト位置から９０°の角度間隔だけ離れた位置にある時、カプセル１６に収容されたワークに対して、ヘリウムリークテスト機構４０によりヘリウムリークテストが実行される。 - 特許庁

When the control parameter adjustment device 10 receives the test termination signal from the test monitoring device 20, the control parameter calculated upon receipt of the test termination signal is applied to a control device 6.例文帳に追加

制御パラメータ調整装置１０は、テスト監視装置２０からテスト終了信号を受信した場合、該テスト終了信号受信時に算出された制御パラメータを制御装置６に適用する。 - 特許庁

The main control unit changes test value to be changed shown by information to be changed, associated with the first test value or the second test value in advance, on the basis of the generated expected value changing data.例文帳に追加

主制御部は、第１検査値又は第２検査値に予め対応付けられた変更対象情報が示す変更対象の検査値を、前記生成した期待値変更用データに基づいて変更する。 - 特許庁

When a test resuming order 63 is input, the internal target signal producing circuit 5b is controlled, and the switch 55 is closed so as to resume the test from the target value upon interruption of the test.例文帳に追加

試験再開指令６３が入力されると、試験中断時の目標値から試験が再開されるように、内部目標信号発生回路５ｂを制御するとともに、スイッチ５５を閉じる。 - 特許庁

By giving a test function to the alarm device like this, the test can be executed automatically inside the dwelling unit without executing the test by an inspector by connecting an external tester from the outside of the dwelling unit.例文帳に追加

このように、警報装置に試験機能を持たせることにより、点検員が住戸外から外部試験器を接続して試験を行うことなく、住戸内で自動的に試験を実施することができる。 - 特許庁

To provide a simulator which can achieve an appropriate test to an electronic interlocking device and to achieve a test equivalent to a test performed by use of an actual machine even when the simulator is connected through a transmission path where general purpose high speed communication can be performed.例文帳に追加

電子連動装置に対する適正な試験を実現させるシミュレータを提供し、汎用の高速通信が可能な伝送路で接続した場合でも、実機使用と同等の試験を実現する。 - 特許庁

A plurality of the test patterns for performing correction of a recording position gap of a plurality of items are recorded to front and rear faces of the recording medium.例文帳に追加

複数の項目の記録位置ずれの補正を行うための複数のテストパターンを、記録媒体の表裏面に記録する。 - 特許庁

Based on the test result, the decision of the degree of interest etc. of the examinee becomes possible from the ranking of the order of output time.例文帳に追加

テスト結果に基づいて、各第２画像の出力時間順位から、被験者の関心度等の判定が可能とされている。 - 特許庁

In a test pattern load device 30, the test patterns to be executed are divided into a size storable in the memory 11 for storing the test patterns and stored in parallel and horizontal directions in the memory 11 for storing the test patterns, and test program information indicating the location of storage and division information on the number of divisions etc. are reported to a verification processing part 13.例文帳に追加

テストパターンロード装置３０で、実行すべきテストパターンを、テストパターン格納用メモリ１１に格納可能なサイズに分割してこれをテストパターン格納用メモリ１１の水平方向並列に格納すると共に、その格納位置を表すテストプログラム情報及び分割数等の分割情報を検証処理部１３に通知する。 - 特許庁

The burn-in test of the semiconductor device 302 to be tested is performed by supplying scan-in signals S102, memory test signals S103 and test mode control signals S101 from the test pattern generation means 301 to the semiconductor inspection device 100, time measurement is performed in the time measurement means 305 for the test result and the generation time of a defect/a fault is specified.例文帳に追加

テストパターン発生手段３０１から半導体検査装置１００にスキャンイン信号Ｓ１０２、メモリテスト信号Ｓ１０３、テストモード制御信号Ｓ１０１を供給して被試験半導体装置３０２のバーンイン試験を行い、その試験結果は時間計測手段３０５で時間計測が行われ不良・故障の発生時間を特定する。 - 特許庁

In the house apparatus A, a CPU 21 has a function as a detecting means of detecting whether the test means 35 receives the test signal within a previously set test time after sending out the test signal, and reporting that a contact of a relay constituting the transmission line to the voice communication device 1 has abnormality when the test signal is not received.例文帳に追加

住戸機Ａは、試験手段３５が試験信号を送出した後、予め設定されている試験時間に試験信号を受信したか否かを検出し、試験信号を受信しなかった場合には、通話装置１との間の伝送線路を構成するリレーの接点に異常があることを通知する検出手段としての機能をＣＰＵ２１に有する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 has auxiliary pattern generating sections 12a-12d for temporarily storing the test pattern P1 generated by the pattern generation section 11, reading the stored test pattern according to individual test states of the devices to be tested 20a-20d, and outputting it as a test pattern used for the test of the devices to be tested 20a-20d.例文帳に追加

この半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を一時的に記憶し、被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの個別の試験状況に応じて、記憶した試験パターンを読み出して被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験に用いる試験パターンとして出力する補助パターン発生部１２ａ〜１２ｄを備えている。 - 特許庁

To provide an insulation test method for a solar battery module and an insulation test apparatus for testing the insulation of the solar battery module easily even in manufacturing test, construction test or after-construction test and capable of specifying any defective position in insulation for the solar battery having defective insulation at a position thereof.例文帳に追加

製造検査時、施工時、施工後のいずれにおいても、太陽電池モジュールの絶縁不良検査を容易に、確実かつ安全に行うことができ、また任意の場所で絶縁不良が発生している太陽電池モジュールにおいても、絶縁不良場所を特定することが可能な太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置を提供する。 - 特許庁

The tester simultaneously generates a plurality of pieces of test data in accordance with all of a plurality of pieces of telemeter data from the each control station to be supervised to thereby simultaneously display test data at the entire telemeter data display positions of the display part.例文帳に追加

試験器は、各被監視制御所からの複数のテレメータデータの全てに対応して複数の試験データを同時に発生させることにより、表示部の全テレメータデータ表示位置に同時に試験データを表示させる。 - 特許庁

A control part 11 acquires behavior of both the knees of the test subject from the positions of both the knees of the test subject detected in each of the taken images obtained by processing a plurality of the taken images by the taken image processing part 12.例文帳に追加

また、制御部１１が、撮像画像処理部１２が複数枚の撮像画像を処理し、撮像画像毎に検出した被検者の両膝の位置から、その被検者の両膝の挙動を取得する。 - 特許庁

The inspection of a test pattern of a nozzle array which discharges at least the thinnest ink among the plurality of inks of similar colors and different concentrations is facilitated by increasing a printing density to thereby raise a density of a test pattern of thin inks.例文帳に追加

同系色で濃度の異なる複数のインクの内、少なくても一番薄いインクを吐出するノズル列のテストパターンを、印字密度をあげることにより薄いインクのテストパターンの濃度を上げて、検査しやすくする。 - 特許庁

The general field of this invention relates to the optical test of a telescope type optical instrument.例文帳に追加

本発明の全般的分野は、望遠鏡タイプの光学器械の光学的検査に関する。 - 特許庁

To perform easily automatic self-test and diagnosis of an electromechanical type lock device without operation of an operator.例文帳に追加

オペレータの介入なしに電気機械式ロック装置の自動自己試験及び診断を容易にする。 - 特許庁

To decide presence/absence of an abnormality of an image processing circuit itself without printing a test pattern on paper.例文帳に追加

テストパターンを用紙にプリントすることなく、画像処理回路自体の異常の有無を判断する。 - 特許庁

The measured frequency characteristics of the test signals are transmitted to the facsimile machine of the calling side.例文帳に追加

このテスト信号の測定された周波数特性が発呼側のファクシミリ装置へと伝送される。 - 特許庁

Moreover, respective items of an intermediate decoded test are constituted of error-correcting coded words by encoding the divided plain texts.例文帳に追加

分割平文を符号化して、中間復号文の各項を誤り訂正符号語で構成する。 - 特許庁

To precisely set a product at the time of a leak test and to prolong the life of an O ring.例文帳に追加

リークテスト時に、製品を精度良くセットできるようにし、しかもＯリングの寿命を延ばす。 - 特許庁

To provide an one time PROM in which there is not the possibility of that data is written in a main memory cell at the time of test.例文帳に追加

試験時に本メモリセルにデータを書き込むおそれがないワンタイムＰＲＯＭを提供する。 - 特許庁

ADMINISTRATION METHOD AND ADMINISTRATION DEVICE OF FLUID INTO RECEPTACLE CHANNEL OF TEST ELEMENT FOR BODY FLUID ANALYSIS例文帳に追加

流体を体液分析用のテストエレメントの受承流路内に投与する方法および投与装置 - 特許庁

METHOD FOR GENERATING TEST SIGNAL FOR TESTING ACCURACY OF CINR MEASUREMENT OF SUBSCRIBER STATION THROUGH BASE STATION EMULATOR例文帳に追加

基地局エミュレータによる端末のＣＩＮＲ測定精度試験用テスト信号の生成方法 - 特許庁

To prevent burning of the primary coil due to surge-voltage spark in a transient test of a power transformer.例文帳に追加

電源トランスのトランジェント試験でサージ電圧のスパークによる一次コイルの焼損を防止する。 - 特許庁

A function library storage memory 212 stores calculation expressions corresponding to each of algorithms of a memory test.例文帳に追加

関数ライブラリ格納メモリ２１２は、メモリ試験の各アルゴリズムに対応する各計算式を記憶する。 - 特許庁

To provide a gripper capable of easily mounting an end of a test piece to a drum member.例文帳に追加

試験片の端部を容易にドラム部材に装着することが可能なつかみ具を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of executing efficiently a delay test of a boundary domain.例文帳に追加

境界領域の遅延テストを効率的に実行する半導体集積回路を提供すること。 - 特許庁

To perform aseismatic test of a large scale sample utilizing the size of a vibration table sufficiently.例文帳に追加

振動台の大きさを十分に活用した大型の供試体による耐震試験を可能にする。 - 特許庁

To easily and speedily perform a test about a plurality of combinations of an engine and a transmission.例文帳に追加

エンジンとトランスミッションとの複数の組み合わせについての試験を簡単にかつ短時間で行う。 - 特許庁

In an operation test of a plurality of memory cells, the bank decoder simultaneously selects the first bank and the second bank.例文帳に追加

複数のメモリセルの動作テスト時に、バンクデコーダは第１バンクと第２バンクを同時に選択する。 - 特許庁

Thereby, a test time of the semiconductor memory can be shortened without increasing quantity of current consumption.例文帳に追加

これにより、電流消耗量の増加無しに半導体メモリ装置のテスト時間を短縮しうる。 - 特許庁