| 意味 | 例文 |
OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
METHOD OF GENERATING DELAY TROUBLE TEST PATTERN FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF INSPECTING DELAY TROUBLE THEREFOR例文帳に追加
半導体集積回路の遅延故障テストパターン生成方法および遅延故障検査方法 - 特許庁
To provide a measuring apparatus capable of accurately measuring 3 dimensional configuration of a test object.例文帳に追加
被検物の立体形状を正確に計測することができる計測装置を提供すること。 - 特許庁
To expand an arrangement space of components mounted on a performance board, in the test head of an IC tester.例文帳に追加
ICテスタのテストヘッドにおいて、パフォーマンスボードに実装される部品の配置空間を拡充する。 - 特許庁
To provide an impulse voltage testing apparatus capable of properly detecting even fine abnormality of a test object.例文帳に追加
試験対象の微小異常をも適切に検出できるインパルス電圧試験装置提供する。 - 特許庁
TEST OF TESTED DEVICE BY SAMPLING CLOCK AND DATA SIGNAL OF TESTED DEVICE例文帳に追加
被試験デバイスを、被試験デバイスのクロック及びデータ信号をサンプリングすることによって試験すること - 特許庁
To provide a friction tester capable of improving convenience, and also improving accuracy of a friction test.例文帳に追加
利便性を向上するとともに摩擦試験の精度を向上できる摩擦試験機を提供する。 - 特許庁
To control the temperature of a test piece with good accuracy in the case of testing while the temperature is controlled.例文帳に追加
温度制御しながら試験を行う場合に試験片の温度を精度よく制御する。 - 特許庁
The semiconductor device shifts the level of a test signal by a level shifter 130 and generates a signal with an amplitude of 5 V.例文帳に追加
テスト信号をレベルシフタ130にてレベルシフトし、5Vの振幅を有する信号を生成する。 - 特許庁
To appropriately set a generation timing of a strobe signal in operation test of a semiconductor memory device.例文帳に追加
半導体記憶装置の動作テストに際し、ストローブ信号の発生タイミングを適切に設定する。 - 特許庁
CONTROL SYSTEM AND TEST FOR MEDICAL TECHNOLOGY AND/OR METHOD OF OPERATION OF TREATMENT APPARATUS例文帳に追加
医療技術の制御システムおよび医療技術の検査および/または治療装置の操作方法 - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING COMPONENT INCLUDING HEAD ELEMENT PART, ITS TEST DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加
ヘッド素子部を備える部品の製造方法、そのテスト装置及び電子機器の製造方法 - 特許庁
Side faces 1a, 1a of test pieces 1, 1 consisting of austempered spheroidal graphite cast iron are butted to each other.例文帳に追加
オーステンパ球状黒鉛鋳鉄からなる試験片1,1の側面1a,1aを突合せた。 - 特許庁
CAPILLARY IMPLEMENT PROVIDED WITH ENZYME TEST PAPER USED FOR ANALYSIS OF VERY SMALL AMOUNT SPECIMEN AND METHOD OF MEASUREMENT例文帳に追加
微量検体の分析に用いる酵素試験紙を配設したキャピラリー用具、および測定方法 - 特許庁
The text of the test extends to the end of the line; no characters are required to isolate it. 例文帳に追加
評価文のテキストは行の最後までです。 これを分離するには文字は必要ありません。 - JM
In the blood test of the jersey species milking cow, especially high levels of vitamins D_3 and E are confirmed.例文帳に追加
ジャージー種の乳牛の血液検査では、ビタミンD_3、Eに特別に高い値が確認された。 - 特許庁
In a test on March 20, 1963, a train of 1000-type B-organization achieved the fastest speed in Japan of 256 km/h. 例文帳に追加
試験中の1963年3月20日、1000形B編成は256km/hの国内速度記録を達成している。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
To design immersion medium which makes the implementation of a long term test possible and which has the optical property of water.例文帳に追加
長期検査の実施を可能にし、水の光学的性質を有する浸漬媒質を設計する。 - 特許庁
To perform an open test of a semiconductor chip without increasing the number of terminals.例文帳に追加
端子数を増やすことなく、半導体チップのオープンテストを実現することができるようにする。 - 特許庁
ALTERNATIVE EVALUATION METHOD OF SCRATCH HARDNESS IN PLACE OF PENCIL HARDNESS TEST PRESCRIBED BY JIS K 5600例文帳に追加
JISK5600で規定される鉛筆硬度試験に代わる引っかき硬度の代替評価方法 - 特許庁
Selection, activation, and result output of the test are provided by using several terminals of the ASIC.例文帳に追加
テストの選択、活性化、結果出力は、ASICの幾つかの端子を用いて提供される。 - 特許庁
As for working examples supporting the medicinal use, a description of the result of the pharmacological test is usually required. 例文帳に追加
医薬用途を裏付ける実施例として、通常、薬理試験結果の記載が求められる。 - 特許庁
To efficiently perform the performance test of a system concerning the communication system of message communications between objects.例文帳に追加
オブジェクト間のメッセージ通信の通信方式に関するシステムの性能テストを効率的に行う。 - 特許庁
To shorten the time for testing of a semiconductor device requiring frequent changes of test conditions.例文帳に追加
試験条件をしばしば変更する必要がある半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁
To test and remove the residue of a thermosetting resin or photocurable resin of a nano-imprint lithography mold.例文帳に追加
ナノインプリントリソグラフィーのモールドの熱硬化樹脂または光硬化樹脂残渣を検出し除去する。 - 特許庁
According to this, the failure on software configuration of the system of the test object can be easily detected.例文帳に追加
これにより、試験対象のシステムのソフトウェア構成上の不具合を容易に検出できる - 特許庁
(e) Methods of handling, maintenance, and test of machine instrument, electric instrument, gyroscopic instrument, and electronic instrument 例文帳に追加
ホ 機械計器、電気計器、ジャイロ計器及び電子計器の取扱い、整備方法及び検査方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム
(f) Methods of handling, maintenance, and test of electronic accessory, electric accessory, and radio communication device 例文帳に追加
ヘ 電子装備品、電気装備品及び無線通信機器の取扱い、整備方法及び検査方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム
To reduce the current consumption of the whole system when an automatic test of a fire sensor is conducted.例文帳に追加
火災感知器の自動試験実施時におけるシステム全体の消費電流を減少させる。 - 特許庁
To provide a method of characterizing of an SOI wafer without forming any physical test structure.例文帳に追加
物理的なテスト構造を形成せずに、SOIウエハの特性を決定する方法を提供。 - 特許庁
The measured data of a new test pattern for a testing mask are obtained by measuring the line width of each gate pattern.例文帳に追加
テスト用マスクの新規テストパターンの実測データは、各ゲートパターンの線幅について測定される。 - 特許庁
To provide a method for facilitating test printing of the same data in a plurality of print methods.例文帳に追加
複数の印刷方法で同一データの試し刷りを容易に行える方法を提供する。 - 特許庁
Preferably, the width of the protrusion is smaller in comparison with the width of the lateral groove in the test method.例文帳に追加
好ましくは、この試験方法では、上記凸条の幅は、上記横溝の幅に比して小さい。 - 特許庁
To provide a simple method for knowing an amount of radical irradiation onto a surface of a test object.例文帳に追加
試験対象物表面へのラジカルが照射量を簡便に知る方法を提供すること。 - 特許庁
To flexibly allocate a measuring port of VNA (vector network analyzer) to a device port of an adapter and a DUT (device under test).例文帳に追加
アダプタ及びDUTの装置ポートに対するVNAの測定ポートを柔軟に割り当てる。 - 特許庁
To facilitate the test evaluation of an internal system of a device such as a copying machine to be tested.例文帳に追加
試験評価の対象となる複写機等の装置の内部システムの試験評価を容易にする。 - 特許庁
To provide a probe test apparatus capable of easily correcting a probe needle of a probe card.例文帳に追加
プローブカードのプローブ針を容易に修正することを可能とするプローブ検査装置を提供する。 - 特許庁
When the etching residue of the test pattern region is eliminated, velocity of film reducing amount changes markedly.例文帳に追加
テストパターン領域のエッチング残渣が除去された時点で膜減り量の速度が顕著に変化する。 - 特許庁
To provide a circuit board whose area of circuit pattern of boundary scan test is reduced.例文帳に追加
バウンダリスキャンテストの回路パターンの面積を縮小した回路基板を提供することである。 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR INSULATING OIL, TEST METHOD OF INSULATING OIL, AND MAINTENANCE CONTROL METHOD OF TRANSFORMER例文帳に追加
絶縁油の試験装置及び絶縁油の試験方法ならびに変圧器の保守管理方法 - 特許庁
To reduce learning and training of a user concerning only a specific testing step of a load test.例文帳に追加
負荷試験の特定の試験段階のみに関与するユーザの学習及びトレーニングを減らす。 - 特許庁
To properly execute a test of a memory part, in the actually using state of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加
メモリ部のテストを半導体集積回路の実使用状態で適切に行えるようにする。 - 特許庁
A decision circuit 23 decides a maximum operation state of the microprocessor based on test results of the CPO.例文帳に追加
CPOのテスト結果に基づいて決定回路でマイクロプロセッサの最大動作状態を決定する。 - 特許庁
To provide a bearing test apparatus capable of accurately evaluating the characteristics of differential contra-rotating bearings.例文帳に追加
差動反転軸受の特性を正確に評価することのできる軸受試験装置を提供する。 - 特許庁
To realize a more accurate test of communication trouble of a packet corresponding to a video application.例文帳に追加
映像アプリケーションに該当するパケットの通信障害についてより的確な試験を実現する。 - 特許庁
To provide test paper capable of measuring a small amount of specimen accurately and quickly.例文帳に追加
少ない検体量で、正確かつ迅速に測定を行うことができる試験紙を提供する。 - 特許庁
First, the inking behavior of the printing unit of a multicolor printing rotary press is investigated by using the test plate.例文帳に追加
まず、テスト版を用いて、多色刷り輪転印刷機の印刷ユニットのインキ着け挙動を調べる。 - 特許庁
To increase the number of samples in a test device and to measure the service life of each sample at low cost.例文帳に追加
試験装置内のサンプル数を増やし、かつ各サンプルの寿命の測定を低コストで実現する。 - 特許庁
To enable a direct-current test of an external terminal without taking the constitution of an LSI logic circuit into consideration.例文帳に追加
LSIの論理回路の構成を意識せずに外部端子の直流テストを可能とする。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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