「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(102ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor device that allows the performance test of a ZQ calibration circuit without preparing an external resistive element for the performance test.例文帳に追加

動作試験用の外部抵抗素子を用意することなくＺＱキャリブレーション回路の動作試験を行える半導体装置を提供する。 - 特許庁

The delay test on the input terminal side of an IP macro 10 is executed by performing the delay test between a flip-flop 15 and a scanning flip-flop 14.例文帳に追加

ＩＰマクロ１０の入力端子側の遅延試験をフリップフロップ１５とスキャンフリップフロップ１４間の遅延試験を行うことで実行する。 - 特許庁

A waveform generation block generates a test signal output having the amplitude noises in the selected segment of the test signal in response to the digital data.例文帳に追加

波形生成ブロックは、このデジタル・データを受けて、試験信号の選択されたセグメントに振幅ノイズのある試験信号出力を生成する。 - 特許庁

To provide a test circuit on a delay circuit for facilitating a function test for a system including the delay circuit by stabilizing latency of the delay circuit.例文帳に追加

遅延回路のレイテンシを安定化させ、遅延回路を含むシステムのファンクションテストを容易化できる遅延回路のテスト回路を提供する。 - 特許庁

The inspecting apparatus 100 carries out an imaging test of the wafer scale lens 2 arranged between the object for test 101 and the light-receiving section 103 at the wafer level.例文帳に追加

検査装置１００は、被写体１０１と、受光部１０３との間に配置されたウエハスケールレンズ２の撮像テストを、ウエハレベルで行う。 - 特許庁

To perform a function test and a DC test without requiring a new performance board and without increasing the number of terminals.例文帳に追加

新たなパフォーマンスボードを必要とすることなく、また端子数を増大させることなく、ファンクション試験およびＤＣ試験を実施可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of more flexibly setting a terminal for inputting test signal into an internal test circuit.例文帳に追加

内部のテスト回路にテスト用の信号を入力するための端子を、より柔軟に設定することができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The test enable circuit 130 verifies the convergence of variations in the power supply voltage (EV) and then starts prescribed inspections such as speed test etc.例文帳に追加

テストイネーブル回路１３０は、電源電圧（ＥＶ）の変動が収束したことを確認し、その後に速度テスト等の所定の検査を開始する。 - 特許庁

To provide a technique or a device for measuring the input threshold levels of test objects, without requiring synchronization with the signals applied to test objects.例文帳に追加

被測定物に印加される信号との同期を要せず、被測定物の入力閾値レベルを測定する方法または装置を提供する。 - 特許庁

In a test mode where packet loss is simulated, a video signal or audio signal can be specified as a position where a packet of a test medium is dropped.例文帳に追加

パケットロスを模擬する試験モードでは、試験メディアのパケットをドロップさせる位置として、ビデオ信号およびオーディオ信号のいずれかを指定できる。 - 特許庁

Please register to download a free beta version of the e-print Test Suite, that implements the Internet Printing Protocol (IPP), now in it's third beta release. 例文帳に追加

どうぞ登録して,e-print Test Suiteの無料ベータ・バージョンをダウンロードしてください．これはIPP(インターネット・プリンティング・プロトコル)の第3ベータ・リリースを実装しています． - コンピューター用語辞典

Return a suite of all tests cases given a string specifier.The specifier name is a ``dotted name'' that may resolveeither to a module, a test case class, a test method within a testcase class, or a callable object which returns a TestCase or TestSuite instance.例文帳に追加

nameには``ドット修飾名''でモジュールかテストケースクラス、またはTestCaseかTestSuiteのインスタンスを返す呼び出し可能オブジェクトを指定します。 - Python

To lessen anxiety given to a subject under test and to improve the efficiency of photographing by correctly providing instructions to the subject under test.例文帳に追加

被検体へ不安感を与えることを軽減すると共に、被検体への指示を正確に与えることによって、撮影効率を向上させる。 - 特許庁

A guide tube 10 for introducing a test liquid into the chamber 7 and a guide tube 11 for discharging the test liquid are provided in the periphery of the chamber 7.例文帳に追加

チャンバ７の周囲には、チャンバ７に試液を導入する案内管１０及びチャンバ７から試液を排出する案内管１１を設ける。 - 特許庁

The shape of the test surface is further measured by using the output from the sensor and the imaging magnification when the test surface is arranged at the conjugate position.例文帳に追加

さらに、共役位置に被検面を配置したときのセンサからの出力と該結像倍率とを用いて被検面の形状を計測する。 - 特許庁

Test writing data are recorded in an optical disk, the test writing data is reproduced from the optical disk, and magnitude of asymmetry is measured from the reproduced signal.例文帳に追加

そして、光ディスクに試し書きデータを記録し、光ディスクから試し書きデータを再生して、再生信号からアシンメトリの大きさを測定する。 - 特許庁

FIXTURE FOR EXPOSURE TEST PIECE TO GROUND TRANSFORMER AND CORROSION STATE MEASURING METHOD OF GROUND TRANSFORMER USING FIXTURE FOR EXPOSURE TEST PIECE例文帳に追加

地上用変圧器への暴露試験片の取付具と、この暴露試験片の取付具を使用した地上用変圧器の腐食状態測定方法 - 特許庁

A test specification generation part 101 performs generation processing of the design specification 110 using a design specification template corresponding to a test specification generation rule preliminarily registered in a test specification management repository 103, generates a test code 111 and performs generation processing of a test specification 112 according to the test specification generation rule based on design specification information stored in a design specification information repository 104.例文帳に追加

テスト仕様生成部１０１は、テスト仕様管理リポジトリ１０３に予め登録されているテスト仕様生成ルールに対応する設計仕様書テンプレートを用いて設計仕様書１１０の生成処理を行うとともに、設計仕様書情報リポジトリ１０４に格納された設計仕様書情報に基づき、テスト仕様生成ルールに従って、テストコード１１１の生成及びテスト仕様書１１２の生成処理を行う。 - 特許庁

The lifetime acceleration testing method of the polymer electrolyte fuel cell includes a power generation test as well as an open-circuit potential retention test for accelerating degradation of an electrolyte film, a high-voltage retention test for accelerating oxidation corrosion of constituent materials of an electrode, and a potential scanning test for accelerating alleviation of a catalytic activity surface area.例文帳に追加

本発明の固体高分子型燃料電池の寿命加速試験方法は、電解質膜の劣化を加速するための発電試験と開回路電位保持試験、電極の構成材料の酸化腐食を加速するための高電圧保持試験、及び触媒活性表面積の減少を加速するための電位走査試験を含む。 - 特許庁

Also, when the control section generates the screen data, it enlarges or reduces the test pattern to change the size so that the size of the test pattern to be displayed on each the changeover screen has a ratio of 10% to the size of the display screen and sets the driving level of a background region to make the background region of the test pattern have the intensity level corresponding to the test pattern.例文帳に追加

また、画面データを生成する際には、各切替画面において表示するテストパターンのサイズが表示画面のサイズに対して１０％の比率となるように、テストパターンを拡大又は縮小してサイズ変更するとともに、テストパターンの背景領域がそのテストパターンに対応する輝度レベルとなるように背景領域の駆動レベルを設定する。 - 特許庁

To solve such a problems of a conventional radar testing device that a failure detection time is long because the test item order is determined in the descending order of MTBF(Mean Time Between Failure) values of components at the time of a test object design and therefore the test order reflecting a failure record in actual operation of the test body can not be selected.例文帳に追加

従来のレーダ用試験装置では、被試験体設計時の構成品のＭＴＢＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ Ｂｅｔｗｅｅｎ Ｆａｉｌｕｒｅ）値の降順にて試験項目順序を決定しており、被試験体の実運用における故障実績を反映させた試験順序を選択することができないため、故障検出時間が長い。 - 特許庁

A plurality of printers and test images are specified at S80, the test images are printed by the plurality of printers on respective media at S81, generating conditions of a reference image for calibration are specified at S82, the plurality of test images are scanned at S84, and a reference image is generated from the plurality of test images thus scanned at S85 based on the generating conditions.例文帳に追加

Ｓ８０で複数プリンタ及び試験画像を指定し、Ｓ８１で前記複数プリンタのそれぞれにおいて該試験画像を記録媒体上に形成し、Ｓ８２でキャリブレーション用の基準画像の生成条件を指定し、Ｓ８４で該複数の試験画像をスキャンし、Ｓ８５で上記条件に基づいて、スキャンした複数の試験画像から基準画像を生成する。 - 特許庁

To provide a method of wind tunnel test of airfoil which enables more accurate measurement of the aerodynamic properties of a 2-dimensional airfoil cross section.例文帳に追加

２次元翼断面の空力特性をより正確に計測することが可能な風洞試験方法を提供する。 - 特許庁

With this, electric characteristics test of an IC package can be made stably, irrespective of the number of replacement times of the IC socket.例文帳に追加

これにより、ＩＣソケット１の交換回数にかかわらず、ＩＣパッケージの電気的特性試験を安定して行なえる。 - 特許庁

To accurately test the independence of an item in sample data even in the case of the small number of samples of sample data.例文帳に追加

標本データの標本数が少ない場合でも、標本データの中の項目の独立性を精度よく検定する。 - 特許庁

The quality of the row of the memory cells is determined by the agreement/disagreement of the storage data of the deciding memory cells, before and after the test.例文帳に追加

判定用メモリセルの試験前後の格納データの一致／不一致により、該メモリセル行の良否が判断される。 - 特許庁

To prevent an actually operating circuit from being affected by a test circuit at the time of measurement of the propagation delay time of the whole of an LSI.例文帳に追加

ＬＳＩ全体の伝搬遅延時間の測定時にテスト回路が実動作回路に影響を与えないようにする。 - 特許庁

The test writing data consists of a plurality of logical blocks of a file system and is in a data size for one GOP of an MPEG2.例文帳に追加

試し書きデータは、ファイルシステムの複数論理ブロックからなり、且つ、ＭＰＥＧ２の１ＧＯＰ分のデータサイズとされる。 - 特許庁

To provide an evaluation device of a lens capable of performing accurately performance evaluation on the axis and out of the axis of the test lens.例文帳に追加

被検レンズの軸上軸外の性能評価を正確に行なうことができるレンズの評価装置を提供する。 - 特許庁

The names of data items given as the attributes of the data format information 12 of input data are used as the instance values of the test data.例文帳に追加

入力データのデータフォーマット情報１２の属性として与えられるデータ項目名を、テストデータのインスタンス値とする。 - 特許庁

In a disk test apparatus 10, first, format conditions (BPI and TPI) in accordance with a rank of a head incorporated in a disk apparatus 20 to be tested is set initially to the disk apparatus 20, and a disk test including an error rate test and a side erase test is performed.例文帳に追加

ディスク試験装置１０は、先ずは、試験対象であるディスク装置２０に組み込まれたヘッドのランクに応じたフォーマット条件（ＢＰＩおよびＴＰＩ）をディスク装置２０に最初に設定し、エラーレート試験やサイドイレーズ試験などを含むディスク試験を実施する。 - 特許庁

An inter-device test program parallel execution means 24 and a test program manual operation parallel execution means 25 respectively leave start for the test program stored in each device of the test device group 4 together with the required start information.例文帳に追加

装置内連続試験プログラム並列実行手段２３、装置間試験プログラム並列実行手段２４、及び試験プログラム手操作並列実行手段２５はそれぞれ必要な起動情報とともに試験装置群４の各装置に格納された試験プログラムに起動を渡す。 - 特許庁

To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.例文帳に追加

プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁

In1 a test head 18B, semiconductor devices D in odd-numbered rows and odd-numbered column1s among the semiconductor devices D mounted on the test board 1 after the completion of test in the test head 18A, and then semiconductor devices D in odd-numbered rows and even-numbered columns are tested.例文帳に追加

また、テストヘッド１８Ｂにおいて、テストヘッド１８Ａにおける試験が終了したテストボード１に搭載されている半導体装置Ｄのうち奇数列奇数行の半導体装置Ｄの試験をした後に、奇数列偶数行の半導体装置Ｄの試験を行う。 - 特許庁

To provide a friction test device capable of carrying out friction test with ease and high accuracy by simulating the friction test, while using a sample product without making a prototype to be actually used, one by one, when a friction test for a visco-elastic material is carried out.例文帳に追加

粘弾性材料の摩擦試験を行う場合に、実際に使用する製品の試作品を一々作製することなく、製品の試料を用いて摩擦試験をシュミレートさせて容易かつ高精度に行うことができる摩擦試験装置を提供することにある。 - 特許庁

The two test areas that configure the second pair have the same test area consumption direction, which is the direction opposite to the test area consumption direction of the first pair, and the test areas are disposed such that regions to be subsequently used do not easily overlap each other.例文帳に追加

第２ペアを構成する２つのテストエリアは、それぞれテストエリアの消費方向が同一であって、かつ第１ペアのテストエリアの消費方向とは逆方向とされるとともに、各テストエリアは、次に使用する領域が互いに層方向に重なりにくいように配置する。 - 特許庁

When test voting is started, ground stations AP1, AP2,..., transmit a test voting start signal to many terminal devices M11, M12,..., and each terminal device measures a time when the user of the self-device takes time in performing test voting operation and transmits the test voting operation time to its ground station.例文帳に追加

テスト投票を開始すると、地上局AP1,AP2,…から多数の端末装置M11,M12,…にテスト投票開始信号を送信し、各端末装置が自装置の使用者がテスト投票動作に要した時間を計測し、このテスト投票動作時間を地上局に送信する。 - 特許庁

A part in a specified section for performing test recording is given test recording while changing reference recording power, and the other part is given test recording by similar reference recording power to decide the optimum recording power from the result of each test recording.例文帳に追加

テスト記録を行うための特定区間中の一部には基準記録パワーを変更させながらテスト記録を行い、残りの区間には同様の基準記録パワーによりテスト記録を行って、各テスト記録の結果から最適記録パワーを決定する、ことを特徴とする。 - 特許庁

The positional information, which is identified by the GPS receiver 2, is filed as a test data file along with the test data acquired by the penetration test, and processed by a data processing means such as a notebook-size personal computer 30, so that the address of the test location and the like can be automatically obtained.例文帳に追加

そして、このＧＰＳ受信機２の割り出した位置情報を貫入試験によって得られた試験データとともに試験データファイルにファイル化してノート型パソコン３０等のデータ処理手段で処理し、試験地の住所等を自動的に求める。 - 特許庁

To develop an environmental test device capable of reducing the time required for environmental test and obtaining similar effect as in the past, in a short time, by improving an environmental test device wherein a test object, such as electronic equipment, is put in such an environment that humidity changes periodically.例文帳に追加

湿度が周期的に変化する環境に電子機器等の被試験物を置く環境試験装置を改良するものであり、環境試験に要する時間を短縮し、短時間で従来と同様の効果を得ることができる環境試験装置を開発する。 - 特許庁

The tensile testing machine 1 holds the test strip 2 so as to be tensible by using a holding jig, irradiates the part to be observed in the test strip 2 with electromagnetic wave M, detects the electromagnetic wave M passing through the test strip 2 and observes the extended state of the test strip 2.例文帳に追加

延伸観察用引張試験装置１は、試験片２を把持治具により引っ張り可能に保持するとともに、電磁波Ｍを試験片２の被観察部に照射し、試験片２を透過した電磁波Ｍを検出して試験片２の延伸状態を観察する。 - 特許庁

To provide an airtightness test management system, a mobile device for airtightness test, a computer for airtightness test management, and an airtightness test management method, for inhibiting an unjust act from being made by an airtightness inspector to enhance credit worthiness of airtightness inspection results.例文帳に追加

気密検査員による不正行為を抑止することができ、気密検査結果に対する信用度を高めることが可能な気密検査管理システム、気密検査用モバイル装置、気密検査管理用コンピュータ及び気密検査管理方法の提供を目的とする。 - 特許庁

The vehicle test system 1 includes the environmental test room 2 where a performance test of a vehicle M is performed under a predetermined environment, and the sealed measurement room (SHED 3) where a transpiration gas measurement test is performed for measuring the transpiration gas emitted from the vehicle M.例文帳に追加

車両試験システム１は、所定の環境下における車両Ｍの性能試験が行われる環境試験室２と、車両Ｍから蒸散される蒸散ガスを測定する蒸散ガス測定試験が行われる密閉測定室（ＳＨＥＤ３）とを備えている。 - 特許庁

The semiconductor test apparatus comprises a plurality of units for performing a test on a device under measurement, a tester processor 100 for controlling each of the plurality of units, and a local bridge circuit 120 for relaying operation instructions transmitted from the test processor 100 to the plurality of units.例文帳に追加

被測定デバイスに対して試験を行う複数のユニットと、複数のユニットのそれぞれを制御するテスタプロセッサ１００と、テスタプロセッサ１００から複数のユニットに対して送信される動作指示を中継するローカルブリッジ回路１２０とを備えている。 - 特許庁

To provide a noise visualization system which improves the visual recognizability of noise visualization images that display the process of how noises are generated in the image of a test object by combining noise data obtained from the test object and designing date of the test object.例文帳に追加

本発明は、試験対象物から得られたノイズデータと該試験対象物の設計データとを合成し、ノイズ発生経路状況を試験対象物の画像中に表示したノイズ可視化画像の視認性を向上させるノイズ可視化システムを提供する。 - 特許庁