「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(105ページ目) - Weblio英語例文検索

By this means, the electronic components arranged in the vicinity of the lower surface (111) of the needle head (1) come into direct contact with medium giving test environment during the test of the electronic components.例文帳に追加

この手段によって、ニードルヘッド（１）の下面（１１１）の下の近いところに配置された電子部品が、電子部品のテスト中、テスト環境を与える媒体に直接触れさせられる。 - 特許庁

To provide a loading and heating apparatus for a concrete test body capable of stably heating the concrete test body and uniforming the distribution of heating temperature in order to precisely evaluate high temperature properties of concrete.例文帳に追加

コンクリートの高温特性を精密に評価するため、コンクリート試験体を安定的に加熱し、加熱温度分布を均等にし得るコンクリート試験体の載荷加熱装置を提供する。 - 特許庁

A loading part 10 and unloading part 20 of semiconductor element to be tested, a test tray T provided with a plurality of carriers for temporarily fixing the semiconductor element and a moving unit of the test tray are provided.例文帳に追加

被テスト半導体素子のローディング部１０、アンローディング部２０、半導体素子を一時的に固定する複数のキャリアを備えたテストトレイＴ、テストトレイの移動ユニットを備える。 - 特許庁

A density difference between the measured density value of each patch of a test chart image recorded on photosensitive material by an automatic calibrator and the target density of each patch based on test chart image data is calculated.例文帳に追加

オートキャリブレータによる感光材料に記録されたテストチャート画像の各パッチの測定濃度値と、テストチャート画像データに基づく各パッチの目標濃度との濃度差を算出する。 - 特許庁

To provide a method of exactly and rapidly evaluating the effectiveness (hair quality improving effect) as a hair quality improving agent of a test agent from information on hair lipid composition before and after use of the test agent.例文帳に追加

被験剤使用前後の毛髪脂質組成の情報から、被験剤の髪質改善剤としての有効性（髪質改善効果）を的確且つ迅速に評価する方法を提供する。 - 特許庁

The radioactive source and the image detectors perform a plurality of parallel linear scans over all areas of the test object to acquire the images of the test object under different viewing angles.例文帳に追加

放射線源および影像検出器は、試験物体の全領域に亘り複数の平行な線形走査を実行して、異なる視角のもとでの試験物体の影像を獲得する。 - 特許庁

To provide a driving device of an elevator governor for easily conducting an operation test of the elevator governor and suppressing cost required for the operation test of the elevator governor to be inexpensive.例文帳に追加

エレベータ調速機の動作試験を容易に行うことができ、また、エレベータ調速機の動作試験に要する費用を安く抑えることができるエレベータ調速機の駆動装置の提供。 - 特許庁

Instruments executing required processes of the leakage test of test target 20 housed in the chambers along the conveying passages are installed to inspect leakage during moving of the chambers.例文帳に追加

移送路に沿ってチャンバ内に収容される検査対象物２０の漏れ検査の所要の工程を実施するための機器が設けられていて、チャンバの移動中に漏れ検査が行われる。 - 特許庁

The system for testing the semiconductor device comprises the steps of referring to a table 710 of a test pattern signal, by using a test result of a sample testing unit 110, and outputting testing conditions to a wafer level burn-in testing unit 210.例文帳に追加

サンプルテスト試験装置１１０の試験結果を用いて、テストパターン信号のテーブル７１０を参照し、テスト条件をウェハレベルバーンインテスト試験装置２１０に出力する。 - 特許庁

Alternatively, the color distribution of the test pattern is automatically discriminated on the basis of image data (step S7), and calculation methods and parameters are changed in accordance with the discriminated color distribution of the test pattern (step S8).例文帳に追加

或いは、画像データに基づいてテストパターンの色分布を自動的に判別し（ステップＳ７）、判別されたテストパターンの色分布に応じて計算方法及びパラメータを変更する（ステップＳ８）。 - 特許庁

When a test of the Disturb state is performed, the Disturb state can be surely verified by further adding delay of Δα to the test circuit being an object of verification.例文帳に追加

Ｄｉｓｔｕｒｂ状態のテストの際、検証の対象となるポートのテスト回路には更にΔαの遅延を加えることで、確実にＤｉｓｔｕｒｂ状態の検証が可能となる。 - 特許庁

The burn-in test of wiring of a peripheral circuit is conveniently achieved by burning-in the address lines RAD, CAD with the address latch circuits 18A, 18B on the basis of the test signal AD0-2.例文帳に追加

試験信号ＡＤ０−２に基づいてアドレスラッチ回路１８Ａ、１８Ｂによりアドレス線ＲＡＤ、ＣＡＤをバーインすることで、周辺回路の配線のバーイン試験を簡易に実施できる。 - 特許庁

To provide a novel technique capable of testing the slipperiness of a container under a test condition close to holding by fingers and utilizing the data of the test as highly reliable data.例文帳に追加

人指による把持に近い試験条件で容器の滑り性を試験することができ、かつ、その試験のデータを信頼性の高いデータとして利用すること可能な新規な技術を提案する。 - 特許庁

To perform a simple and efficient test by facilitating formation of a test vector, when testing the operation state of an electronic control system having a plurality of electronic control units.例文帳に追加

複数の電子制御装置を有する電子制御システムの動作状態を試験するにあたり、テストベクタの作成を容易なものとして、簡便且つ効率的に試験を行えるようにする。 - 特許庁

The test machining is performed by converging a laser beam at least on four corners of a machining region of a workpiece for the test, so that measurement is done on the coordinate of the four corners actually machined.例文帳に追加

テスト用の加工対象物に対し加工領域の少なくとも４隅にレーザ光を集光させてテスト加工を行って、実際に加工がされた４隅の座標を計測する。 - 特許庁

One radio base station transmits a test connection request together with information of an adjacent base station to be a test target to a mobile terminal existing in the area of a radio propagation section of the radio base station.例文帳に追加

一の無線基地局からその無線基地局の無線伝播区間に在圏する移動端末に、試験対象とする隣接基地局の情報とともに試験接続要求を送る。 - 特許庁

To provide the test system of a game machine and the game machine capable of considering even the operation pattern of the game machine and easily performing a test before an operation without performing a manual operation.例文帳に追加

人手による操作をすることなく、遊技機の操作パターンをも考慮して稼動前の試験を容易に行うことができる遊技機の試験システム及び遊技機を提供する。 - 特許庁

To provide a contact and a socket for electric test of semiconductor devices which adapt to a narrow pitch of semiconductor devices, extends the life of the contact, and improves reliability in electric test.例文帳に追加

半導体デバイスの狭ピッチに対応でき、接触子の寿命が長く、かつ、電気テストの確実性が向上した半導体デバイスの電気テスト用接触子およびソケットを提供すること。 - 特許庁

To efficiently verify a peripheral device by varying the number of test processes on the basis of the capacity of an external storage device, and a given test time or a maximum data transfer amount.例文帳に追加

外部記憶装置の容量と与えられた試験時間または最大データ転送量とにより試験を実施するプロセスの数を変動させ、周辺装置の検証を効率的に行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor device that executes burn-in test, and facilitates specifying the time of execution of burn-in test, information indicating the quality of a local host.例文帳に追加

バーンイン試験が実施される半導体装置であって、自装置の品質を表す情報であるバーンイン試験の実施時間を特定することが容易な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To simplify a noise test capable of preventing surely breakage of an internal unit even when insulation between a noise application terminal of a device to be tested and the internal unit is imperfect, and having many test patterns.例文帳に追加

被試験装置のノイズ印加端子と内部ユニットとの間の絶縁が不完全な場合にも内部ユニットの破損を確実に防止でき、しかも試験パターンの多いノイズ試験を簡易にする。 - 特許庁

The receiver test circuit 30 has resistor circuits 31a, 31b, 32a, 32b generating the pair of differential voltage signals of a potential difference necessary for the sensitivity test of the receiver 15.例文帳に追加

受信用レシーバテスト回路３０は、受信用レシーバ１５の感度テストに必要な電位差の１対の差動電圧信号を発生させる抵抗回路３１ａ、３１ｂ、３２ａ、３２ｂを有する。 - 特許庁

The invention eliminates the necessity of the dedicated diagnosis circuit by using one of two semiconductor test circuits as a circuit to be diagnosed, and using the other of two semiconductor test circuits as the diagnosis circuit.例文帳に追加

本発明は、２台の半導体試験回路を一方を被診断回路、もう一方を診断回路とすることにより専用の診断回路を不要としたことを特徴とする。 - 特許庁

To provide an examination table for a magnetoencephalograph allowing simultaneous digitization of positions of markers for the magnetoencephalograph and positions of electroencephalographic electrodes stuck to a test subject in a state (a spine position) that the test subject lies down.例文帳に追加

被験者に貼り付けた脳磁計用マーカーの位置と脳波電極の位置を、被験者が寝た状態（仰臥位）で同時にデジタイズできる脳磁計の検査テーブルを実現する。 - 特許庁

The high voltage test device 10 having the authorization of a high voltage test laboratory of JAB in accordance with the guide of ISO and an engine power generator 11 are loaded on a running mobile vehicle 9.例文帳に追加

走行移動車９に、ＩＳＯのガイドに準拠したＪＡＢの高電圧試験所認定を受領した高電圧試験装置１０と、エンジン発電機１１とを搭載する。 - 特許庁

To provide a bending test device of a wire harness, capable of executing proper evaluation of the bending test relative to the wire harness laid on a driver's seat having plural movable parts.例文帳に追加

複数の可動部位を有する運転シートに敷設されるワイヤーハーネスに対して、適切な屈曲試験の評価を行うことができるワイヤーハーネスの屈曲試験装置を提供すること。 - 特許庁

The optical unevenness inspection device captures an image corresponding to a transmitted beam of a test object 3 and detects optical unevenness of the test object 3 based on a luminance change of the image.例文帳に追加

この発明は、検査対象３の透過光に応じた画像を撮像し、その画像の輝度変化に基づいて検査対象３の光学ムラを検出する光学ムラ検査装置である。 - 特許庁

During a series of test pattern cycles, scanning with a probe pulse 609 of the test pattern is performed so that it is vertical to an equivalent time sampling for re- configuration of DUT waveform.例文帳に追加

一連のテストパターンサイクルの期間中にテストパターンのプローブパルス６０９による走査をＤＵＴ波形の再構成のために等価時間サンプリングと垂直になるように行う。 - 特許庁

An operation rate calculation test pattern generating means prepares the operation rate calculation test pattern of the gate from the 0/1 probability data of each register and the operation rate data of each register in the logic circuit.例文帳に追加

動作率算出用テストパタン生成手段は、論理回路中のレジスタ毎の０／１確率データとレジスタ毎の動作率データからゲートの動作率算出用テストパタンを作成する。 - 特許庁

To provide a component testing device capable of improving throughput on a test of an electronic component by shortening a time followed by exchange of the electronic component into a test socket.例文帳に追加

電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting semiconductor integrated circuit achieving a significant reduction of the test time and a highly precise test regardless of the measuring accuracy of a judging module.例文帳に追加

判定モジュールの測定精度に関わらず、テスト時間の大幅な削減と高精度な試験を実現する半導体集積回路の検査方法及びその検査装置を提供する。 - 特許庁

To obtain an ultrasonic flaw detector constituted so as to measure the corrosion amount of the boundary part of a test object and a solid, even in a state with the periphery of the test object being solidified by the solid, such as concrete or the like.例文帳に追加

試験体の周囲がコンクリート等の固体で固められた状態においても、試験体と固体との境界部分の腐食量を計測できる超音波探傷装置を得る。 - 特許庁

To always perform an accurate and reliable frictional abrasion test by constant pressure contact force without being affected by difference of a shape or an area of the measuring region of a test piece.例文帳に追加

試験片の測定部位の形状や面積の違いに何ら影響を受けることなく常に一定の圧接力によって正確で信頼性のある摩擦摩耗試験を行えるようにする。 - 特許庁

The polyester elastomer has (A) a surface hardness of ≥90A, (B) an abrasion of ≤3 mg by Suzuki's thrust-type abrasion test and (C) a volume swelling ratio of ≤20% by a grease-resistance test.例文帳に追加

（Ａ）表面硬度９０Ａ以下、（Ｂ）鈴木式スラスト摩耗試験による摩耗量３ｍｇ以下、（Ｃ）耐グリース試験における体積膨潤率２０％以下であるポリエステルエラストマー樹脂組成物。 - 特許庁

All the secondary electrons having an initial speed of 2 eV or less emitted from the test piece surface in the direction of an angle 90°C or less against normal of the test piece surface are made to pass the secondary optical system.例文帳に追加

試料面から試料面の法線に対して９０°以下の角度の方向へ放出される２ｅＶ以下の初速度を持つ二次電子がすべて二次光学系を通される。 - 特許庁

To provide a microscope measuring apparatus capable of accurately setting a spectroscopic measuring area of a test object such as a color filter or the like, and accurately grasping spectroscopic information of the test object.例文帳に追加

カラーフィルタなどの被検体の分光計測領域を正確に設定することが可能で、被検体の分光情報を正確に把握できる顕微鏡測定装置を提供する。 - 特許庁

A temperature sensor 24 is provided with a sensor contact section 25 at the center of a surface of the pressing element 22 contacting the test device 30, and detects the surface temperature of the test device 30 on the sucked and fixed side.例文帳に追加

温度センサ２４は、テストデバイス３０と接する押圧子２２の面の中央部にセンサ接触部２５が設けられ、吸引固定された側のテストデバイス３０の表面温度を検知する。 - 特許庁

An image processing device 4 acquires the silhouette image of the test object component 2A by irradiation from the fluorescent screen 7 by a CCD image sensor, and performed measurement processing of the outer diameter of the test object component 2A.例文帳に追加

画像処理装置４はＣＣＤイメージセンサで蛍光板７からの照射により検査対象部品２Ａのシルエット画像を取得し、検査対象部品２Ａの外径を計測処理する。 - 特許庁

A referring address of a test pattern 114 is registered in a test vector table 115 to be correlated with the core number and the version number of the IP used in the LSI of an inspection object.例文帳に追加

検査対象のＬＳＩに利用されているＩＰのコア番号及びバージョン番号とに対応付けられたテストパタン１１４の参照先がテストベクタテーブル１１５に登録されている。 - 特許庁

To provide an apparatus which image-processes a water quality inspection test paper on the basis of imaged color information by using a color imaging part and displays numerically the degree of reaction colors of the water quality inspection test paper.例文帳に追加

カラー撮像部を用いて、水質検査試験紙を撮像した色情報に基づいて画像処理し、その反応色の度合いを数値表示させる装置を提供する。 - 特許庁

To solve such problems that, for improving the accuracy of a determination of test paper by a light scanning method, most of test paper scanning machines have a large volume, are expensive and have low convenience and diffusion property.例文帳に追加

光走査方式による試験紙の判定は、判定の正確性を高めるため、試験紙走査機の多くは、体積が大きい上、価格も高いため、利便性及び普及性が低い。 - 特許庁

The test results inputted from an input section 1 under the control of a control section 4 are registered in a test result DB 6 and the number of correct answers by fields is registered into the number-of-correct-answer-by-field DB 10.例文帳に追加

制御部４の制御下、入力部１より入力された試験結果は試験結果ＤＢ６に登録され、分野別正解数が分野別正解数ＤＢ１０に登録される。 - 特許庁

A test information communication unit, which transmits test signals to a server 10 at a prescribed interval so as to check the state of communications between the communication equipment 1 of a subscriber's home and the server 10, is provided to the communication equipment 1 of a subscriber's home.例文帳に追加

顧客宅側の通信機器１に、サーバー１０との通信状況を調べるため、テスト情報通信部からサーバー１０に対して所定の間隔でテスト信号を送信する。 - 特許庁

A semiconductor memory device includes a plurality of RAM-macro RAM1 to RAM7 and a test control circuit corresponding the plurality of RAM-macro RAM1 to RAM7 to a plurality of memory test execution period.例文帳に追加

複数のＲＡＭマクロＲＡＭ１〜ＲＡＭ７と、複数のＲＡＭマクロＲＡＭ１〜ＲＡＭ７を複数メモリテスト実施期間に対応付けるテスト制御回路とを備えている。 - 特許庁

To achieve a semiconductor integrated circuit and its test method which can facilitate the decision of the quality of an analog integrated circuit in a test of the semiconductor integrated circuit including the analog integrated circuit.例文帳に追加

アナログ集積回路を含む半導体集積回路において、アナログ集積回路の良否の判定を容易化できる半導体集積回路およびその検査方法を実現する。 - 特許庁