「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(107ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an elution test method of medical drugs suitable for evaluating the quality of the medical drugs inexpensively and simply, and a bag material for the elution test.例文帳に追加

安価で、簡便に医薬品製剤の品質評価を行なうに適した、医薬品製剤の溶出試験方法および試料充填用バッグ材料を提供する。 - 特許庁

A test chart is displayed on the monitor 50 of the personal computer 16 and the image of the test chart photographed by the AF CCD 20 is taken into the personal computer 16 at the time.例文帳に追加

パソコン１６では、モニタ５０にテストチャートが表示されると共に、そのとき、ＡＦ用ＣＣＤ２０により撮影されたそのテストチャートの映像が取り込まれる。 - 特許庁

In an airtightness test, the measurement object 1 is brought into contact with the base plates after deforming the seals, whereby change in internal capacity of the measuring object can be prevented to enhance the reliability of the airtightness test.例文帳に追加

気密試験時、被測定物（1）は、シールを変形させた後ベース板と接触することで内容積の変化を防ぎ、信頼性の高い気密試験を実施できる。 - 特許庁

Absorbance measurement is done twice for each test solution; one immediately after mixing a test reagent or a diluent with the sample and the other after occurring of the large scale of binding.例文帳に追加

試験溶液につき２回の吸光度測定を行い、１回は試薬／希釈剤と試料との混合直後に行い、他の１回は著量の結合が生じた後に行う。 - 特許庁

If the number of the semiconductor devices under test is larger than the residual nominal value, testing of the semiconductor devices under test mounted on the buffer tray is proceeded, while being stopped if smaller.例文帳に追加

被検査半導体素子の数が残余基準値より大きければ、バッファトレイに搭載された被検査半導体素子の検査を進行し、小さければ中止する。 - 特許庁

To provide a Weibull slope in a safe and proper range, even for few number of test times, when determining a result value of the Weibull slope in order to design or interpret a lifetime test.例文帳に追加

寿命試験の設計や解釈を行うためにワイブルスロープの実績値を求めるにつき、試験回数が少なくても、安全で適切な範囲のワイブルスロープを提供。 - 特許庁

To provide an image reading apparatus capable of easily creating calibration data of a correction circuit only by setting a test chart to a device even in any sized test chart.例文帳に追加

どのようなサイズのテストチャートであっても、単にテストチャートを機器にセットするのみで容易に補正回路の較正データを作成することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring apparatus for an immunochromatographic test piece, with which the degree of the coloration of the immunochromatographic test piece can be measured with satisfactory accuracy without making the apparatus large.例文帳に追加

装置を大型化することなく、免疫クロマト試験片の呈色の度合いを精度よく測定することが可能な免疫クロマト試験片の測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a technique with which a test of a next wafer to be tested is prepared by conveying and aligning the wafer to be tested during a test of a wafer to be tested.例文帳に追加

被試験ウェハの試験を行っている最中に、被試験ウェハの搬送、アライメントを行って次の被試験ウェハに対する試験の準備を行う技術の提供。 - 特許庁

To reduce the man-hours for test and to secure collected/stored data in a verification test of a measurement data collecting function of a monitor system which collects and stores measurement data.例文帳に追加

計測データを収集・蓄積する監視システムの計測データ収集機能検証試験において、試験工数の短縮と、収集・蓄積データの保証とを可能とする。 - 特許庁

In addition, the provision of the selector in which the ratio between the signal wire and the test stub wiring is N:1 enables obtaining a laminated semiconductor device in which the number of test signal pins is reduced.例文帳に追加

さらに信号線とテスト用スタブ配線との比をＮ：１とするセレクタを設けることでテスト用信号ピンを削減した積層半導体装置が得られる。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reliably and easily confirming the operations in a low-speed operation and high-speed operation of a test waveform creating part for outputting waveforms for test.例文帳に追加

試験用波形を出力する試験用波形生成部の、低速動作や高速動作における確実な動作の確認が容易な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a reference voltage generation circuit and a semiconductor storage apparatus using the same which are capable of performing a sufficient burn-in test in a whole temperature range of acceleration test.例文帳に追加

加速試験の全温度範囲において十分なバーンインテストを実施することができる参照電圧発生回路およびそれを用いた半導体記憶装置を実現する。 - 特許庁

An input selecting circuit selects one of test data of the scan path test and the data on the internal state read from the memory circuit, and supplies the selected data to the scan chain.例文帳に追加

入力選択回路は、スキャンパステストのテストデータと、メモリ回路から読み出した内部状態を示すデータとのうちの一方を選択してスキャンチェーンに供給する。 - 特許庁

A test artifact 16 is displaced within an object plane 44 through increments of measured distances and the corresponding displacements of the test artifact 16 within an image plane are recorded within the pixel array.例文帳に追加

対物面上においてテスト・アーチファクトを一定距離ずつ漸進的に変位させ、対応するテスト・アーチファクトの映像面における変位をピクセル・アレイに記録する。 - 特許庁

After correction, the lens shape measuring device 1 scans the surface and the back of the test lens 20 with laser light, and measures the external shape of the test lens 20.例文帳に追加

そして、レンズ形状測定装置１は、この補正の後、被検レンズ２０の表面、および裏面をレーザ光で走査し、この被検レンズ２０の外形形状を測定する。 - 特許庁

To provide system and method which can generate signals for testing optical device at a time in a plurality of remote test stations to simultaneously test a plurality of optical devices.例文帳に追加

遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験することができるようにする。 - 特許庁

To provide a vehicle test system capable of performing each of vehicle tests in an environmental test room and sealed measurement room efficiently and without causing trouble.例文帳に追加

環境試験室及び密閉測定室における各車両試験を、不具合を招くことなく効率的に行うことのできる車両試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a method, capable of performing an input level test by one function test and capable of inspecting an electronic circuit, without being affected by hysteresis characteristics.例文帳に追加

１回のファンクションテストで入力レベルテストを行うことができ、しかもヒステリシス特性に影響されないで電子回路を検査することができる方法等を提供する - 特許庁

A leak test device 50 having a plurality of workpiece capsules 52, and a tracer gas detector connected to the workpiece capsules performs a fine leak test of workpieces in the workpiece capsules 52.例文帳に追加

リークテスト装置５０は、複数のワークカプセル５２と、これらワークカプセルに接続されるトレーサーガス検出器を有し、ワークカプセル５２内のワークの微小漏れ検査を行う。 - 特許庁

To provide a Pachinko game machine of third class which can output a test signal so that the operation of the game machine can correctly be confirmed in a test device, or the like.例文帳に追加

試験装置等において正確に遊技機の動作確認を行えるように試験信号を出力することができる第３種パチンコ遊技機を提供する。 - 特許庁

To smoothly input a work to prepare a test sequence to operate the test of an objective system without any error at the time of developing software.例文帳に追加

ソフトウェア開発において、対象システムのテストを行なうためのテストシーケンスを作成する作業を、誤りなくスムーズに入力することを可能とすることを課題としている。 - 特許庁

Further, at least a drawing of the sheath test showing in a diagram of an inspection object, an inspection item and an inspection standard to be used for the sheath test is pasted on the surface.例文帳に追加

また、表面には、少なくとも外装検査において使用される、検査対象、検査項目及び検査基準を図式化して表す外装検査図が貼り付けられている。 - 特許庁

To provide an air pipe type differential distributed sensor, with which the attachment/detachment of an air pipe for a test is unnecessitated and the injection spot of test air can be fixed.例文帳に追加

試験のための空気管の着脱を不要とし、また試験空気の注入箇所の定位置化を図ること等のできる空気管式差動式分布型感知器を提供する。 - 特許庁

An environment adjusting means 13 for adjusting the surrounding environment of the test piece 3 and a measurement means 18 for measuring displacement of the indenter 4 relative to the test piece 3 are installed.例文帳に追加

試験体３の周囲環境を整備するための環境整備手段１３、インデンター４の試験体に対する変位を計測するための計測手段１８を備える。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit device is provided with a cache BIST controller 204 for performing the function test of a cache memory including a function test unique to a cache memory, and for diagnosing the defective part of the cache memory 202.例文帳に追加

キャッシュメモリ固有の機能テストを含めたキャッシュメモリの機能テストを実行しキャッシュメモリ２０２の不良個所を診断するキャッシュＢＩＳＴコントローラ２０４を設ける。 - 特許庁

Under the control of the control part 101, upon activating the communication or upon receiving a test pattern PB, the bulk control part 106 sends out the test pattern PB to the plurality of lines, respectively.例文帳に追加

制御部１０１の制御下で、バルク制御部１０６は、通信起動時もしくはテストパターンＰB受信時に、前記複数回線各々にテストパターンＰBを送出する。 - 特許庁

This diagnostic kit for measuring the characteristic of the fluid sample is provided with a device for measuring a test strip and a characteristic of the test strip.例文帳に追加

一定の流体サンプルの特性を測定するための一定の診断キットが一定の試験片および当該試験片の一定の特性を測定するための装置を備えている。 - 特許庁

To periodically test performance of cores in a many-core processor during the lifetime of the many-core processor, and use the obtained test data to improve performance for applications.例文帳に追加

多コア・プロセッサの寿命の間に、多コア・プロセッサ中のコアのパフォーマンスを定期的に試験し、得られた試験データを、アプリケーションのパフォーマンスを改善するするために使う。 - 特許庁

To provide a test device for a storage device for suppressing area increase of the test device, by reducing flip-flop, even when the number of the storage device is large.例文帳に追加

記憶装置の個数が多い場合でも、フリップフロップを削減することができ、テスト装置の面積増加を抑制することができる記憶装置用テスト装置を提供する。 - 特許庁

Execution results of test #1 are written in a high speed fail memory system 4 and transferred to a low speed fail memory system 5 upon finishing execution of test #1.例文帳に追加

高速フェイルメモリシステム４には試験＃１の実行結果が書込まれ、その実行結果を試験＃１の実行が終了した段階で低速フェイルメモリシステム５に転送する。 - 特許庁

To provide a test method for an integrated circuit with a memory cell arranged in a circumference of a core that a conditional blocking in a test mode is applied to a clock input of the core.例文帳に追加

テストモードにおける条件付き抑止がそのクロック入力に適用されるコアの周りに配列されたメモリセルを有する集積回路のテスト方法を提供する。 - 特許庁

Test bench description 8 is created by a simple text file creation, therefore, jobs are reduced for test-bench creation in order to verify performance of the circuit design of the network equipment, etc.例文帳に追加

簡便なテキストファイルの作成でテストベンチ記述８を作成することで、ネットワーク機器等の回路設計の機能検証を行うためのテストベンチ作成の手間を低減する。 - 特許庁

To produce a mission data test pattern according to a satellite operation schedule of an actual satellite in order to perform a system test for simulating comprehensive real time treatment of a ground system.例文帳に追加

地上システムの総合的なリアルタイム処理を模擬したシステム試験を実施するため、実衛星の衛星運用計画に則したミッションデータ試験パターンを生成する。 - 特許庁

Second/third test flip-flops capture and output the output data of the first test flip-flop while being synchronized with the first/second transition edges of the third clock.例文帳に追加

第２および第３試験フリップフロップは、第３クロックの第１および第２遷移エッジに同期して第１試験フリップフロップの出力データを取り込んで出力する。 - 特許庁

An image of a test pattern for obtaining a concentration distribution in a fundamental image forming part 2 when an additive is used is formed, and the image of the test pattern is read.例文帳に追加

付加材を使用した場合の基本画像形成部２における濃度分布を取得するためのテストパターンの画像を形成し、そのテストパターンの画像を読み取る。 - 特許庁

From the unbalance amounts before and after mounting the test weight and the mounting position and mass of the test weight, the mounting position and mass of an additional weight is indicated to an operator.例文帳に追加

そして、試しおもりを取り付ける前後のアンバランス量と、試しおもりの取付位置および質量とから、追加おもりの取付位置と質量を作業者に指示する。 - 特許庁

To provide a sound output confirmation test system in a time signal guide system that can quickly confirm and test a sound output of a time signal guide service in spite of an inexpensive configuration.例文帳に追加

時報案内サービスの音声出力を安価な構成で迅速に確認試験できる時報案内サービスシステムにおける音声出力確認試験方式を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for a leak test in which a reinforcing member is not required during the leak test, and in which the monitoring of the pressure difference between the inside and the outside of a work is not required.例文帳に追加

漏洩試験に際して補強部材を不要とし、ワークの内外圧力差を監視する必要がない漏洩試験方法及び漏洩試験装置を提供する。 - 特許庁

An alignment test signal having an alternating pattern of frequencies is generated and transmitted over a communication link that carries the alignment test signal in a sequence of frames.例文帳に追加

周波数の交互パターンを持つ位置調整検査信号が生成され、フレームのシーケンスで位置調整検査信号を搬送する通信リンクを通じて送信される。 - 特許庁

To provide a magnetic storage apparatus which reduces influence of side erase in writing a read data pattern in measurement of side erase, to provide a head test method, and a head test apparatus.例文帳に追加

サイドイレーズに関する測定においてリード用データパターンのライトによるサイドイレーズの影響を低減する磁気記憶装置、ヘッド試験方法、ヘッド試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of developing a pattern for a connection test between logic blocks in a logic circuit with less man-hours, and in which an increase of a chip area is suppressed.例文帳に追加

論理回路における論理ブロック間の接続テスト用パターンをより少ない工数で開発でき且つチップ面積の増大を抑えたテスト回路を提供する。 - 特許庁

When washing of a paint film test piece 41 by the rotating test brush 24 is executed, washing water, in which minute abrasive grains having grain sizes of 5 μm or less are mixed, is supplied.例文帳に追加

回転される試験用ブラシ２４による塗膜試験片４１の洗浄を行うとき、５μｍ以下の微細砥粒が混在された洗浄水が供給される。 - 特許庁

To provide a fill-test method, a fill-test apparatus and a fill-control apparatus, capable of checking whether or not a sliced part of a roll bread is appropriately filled up with a filling.例文帳に追加

ロール状のパンのスライス部にフィリングが適切に充填されているか否かを確認できる充填検査方法、充填検査装置、充填制御装置を提供する。 - 特許庁

Accordingly the LFSR 100 can output the test pattern in consideration of matching with log_24 a test pattern automatically generated from ATPG by a smaller number of clocks.例文帳に追加

これにより、ＬＦＳＲ１００は、ＡＴＰＧから自動生成されたテストパターンとのマッチングを考慮したテストパターンを、より少ないクロック数で出力することができる。 - 特許庁