「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(110ページ目) - Weblio英語例文検索

To properly conduct a sound pressure measuring test of a speaker giving a sound alarm.例文帳に追加

音声警報を行うスピーカの音圧測定試験が適切に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device of which the connection test is facilitated.例文帳に追加

接続試験を容易化できる半導体装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

In a step S4 the continuity test is conducted on each of the pressure contact connector and pressure contact distribution board.例文帳に追加

ステップＳ４で圧接コネクタと圧接配線盤毎に導通検査が施される。 - 特許庁

To provide a method for easily predicting the carcinogenicity of a test substance in a short period.例文帳に追加

短期間で容易に被検物質の発がん性を予測する方法を提供する。 - 特許庁

LOAD IMPARTING METHOD AND DEVICE AT OPERATION TEST OF LIFEBOAT例文帳に追加

救命艇作動試験時における積載荷重付与方法及び積載荷重付与装置 - 特許庁

To shorten test time of semiconductor integrated circuits in which voltage regulator are built.例文帳に追加

電圧レギュレータを内蔵した半導体集積回路のテスト時間を短縮する。 - 特許庁

To provide an efficient method etc. for setting up a test instrument of an integrated circuit.例文帳に追加

集積回路の効率的な試験装置をセットアップする方法等を提供する。 - 特許庁

To provide an eddy current probe for nondestructive test of electrically conductive materials.例文帳に追加

本発明は、導電性材料の非破壊試験のための渦電流プローブに関する。 - 特許庁

To display a test pattern corresponding to a wide color gamut on a display part of a display device.例文帳に追加

広色域に対応したテストパターンを表示装置の表示部に表示すること。 - 特許庁

To control vehicle travel not to depart from allowable range of travel test pattern.例文帳に追加

走行テストパターンの許容範囲を外れないように、車両の走行を制御する。 - 特許庁

The scanner reads the test pattern by a resolution which is lower than the resolution of a recording head.例文帳に追加

スキャナは、記録ヘッドの解像度よりも低い解像度でテストパターンを読み取る。 - 特許庁

The CPU 11 requests the side of the body part 1 to conduct a test via the network 3.例文帳に追加

ＣＰＵ１１は、本体部１側にネットワーク３を介してテストを要求する。 - 特許庁

TOLL COLLECTION SYSTEM, PORTABLE TERMINAL, AND METHOD FOR MAINTENANCE TEST OF TOLL COLLECTION SYSTEM例文帳に追加

料金収受システム、携帯端末、および料金収受システムの保守テスト方法 - 特許庁

To prevent a malfunction due to an IR drop in a scanning test of a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路スキャンテスト時のＩＲドロップによる誤動作を防止する。 - 特許庁

SELF ERASE/WRITE DEVICE OF SEMICONDUCTOR MEMORY AND SELF BURN-IN TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

半導体メモリのセルフイレース・ライト装置および半導体メモリのセルフバーンインテスト方法 - 特許庁

ABERRATION MEASURING METHOD, FOCUS MEASURING METHOD, AND MASK FOR TEST OF PROJECTION OPTICAL SYSTEM例文帳に追加

投影光学系の収差測定方法とフォーカス測定方法及びテスト用マスク - 特許庁

To provide a printing apparatus capable of altering printing test patterns arbitrarily and readily.例文帳に追加

印刷するテストパターンを任意かつ容易に変更できる印刷装置を提供する。 - 特許庁

FLATTENING SHAPE CORE USED FOR AIR LEAKAGE TEST AND MANUFACTURE OF FLATTENING CORE例文帳に追加

空気洩れ試験に用いる倣い形状中子及び倣い形状中子製造方法 - 特許庁

To attain a higher trouble coverage with a shorter test length by reducing the number of necessary hardwares.例文帳に追加

必要なハードウェアが少なく、短いテスト長で高い故障カバレージを達成する。 - 特許庁

To eliminate backlash resulting from a slide generated in a gripper during a test of a material.例文帳に追加

材料試験中につかみ具内で発生するすべりに起因するガタを無くす。 - 特許庁

PROCESSING METHOD AND SYSTEM OF INFORMATION ON MEDICAL TEST ELEMENT AS MEDIUM例文帳に追加

医療検査素子を媒体とする情報の処理方法、及び情報の処理システム - 特許庁

When the test piece is removed from the measuring device, the power of the measuring device is turned off.例文帳に追加

測定装置から、試験片を取り除くと測定装置の電源は落とされる。 - 特許庁

To solve the problem that it is not easy to correctly perform the test of a parameter or the like to be corrected.例文帳に追加

修正対象のパラメータなどのテストを正確に行うのは容易でない。 - 特許庁

This failure inspection apparatus performs the failure inspection of an integrated circuit by using test patterns.例文帳に追加

故障検査装置は、テストパターンを用いて集積回路の故障検査を行う。 - 特許庁

To test operation corresponding to a fast clock only by input of a slow clock.例文帳に追加

低速クロックの入力のみで高速クロック相当の動作のテストを行うこと。 - 特許庁

a prenatal test to detect birth defects at an early stage of pregnancy 例文帳に追加

妊娠初期に行う先天的欠損症を発見するための出生前診断 - 日本語WordNet

when the test was stolen the professor had to make a new set of questions 例文帳に追加

テストが盗まれたとき、教授は、新しい質問を作らなければならなかった - 日本語WordNet

To realize a gas leakage test when providing a metal seal in a lid of a cask.例文帳に追加

キャスクの蓋に金属シールを設けた場合のガス漏洩試験を実現すること。 - 特許庁

To provide a test system capable of outputting high-speed CDS waveforms.例文帳に追加

高速なＣＤＳ波形を出力できるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

APPARATUS AND METHOD FOR MONITORING AUTOMATIC TEST OPERATION OF GAS CENTRAL HEATING SYSTEM例文帳に追加

ガスセントラルヒーティングシステムの自動試運転モニター装置及び自動試運転モニター方法 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR ANALYZING CARBON COMPONENT IN STEEL BY IMAGE PROCESSING OF SPARK TEST例文帳に追加

火花試験の画像処理による鋼の炭素成分分析装置及びその方法 - 特許庁

TEST METHOD FOR ESTIMATING UNIT WATER AMOUNT OF CONCRETE AND TESTING MACHINE USING IT例文帳に追加

コンクリートの単位水量推定試験方法および同方法に用いる試験装置 - 特許庁

This latch enables only part of the eFuse to be programmed during each test stage.例文帳に追加

このラッチは、各テスト・ステージ中、eFuse の一部分だけをプログラムすることを可能にする。 - 特許庁

A densitometer 23 detects the density of an image formed by a test exposure.例文帳に追加

テスト露光により形成された画像の濃度を濃度計２３によって検出する。 - 特許庁

(2) The test piece is suspended from a load meter with the protruding side of the fiber bundle oriented downward.例文帳に追加

（２）試験片を荷重計に繊維束の突き出た方を下にして吊り下げる。 - 特許庁

NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE, AND TEST METHOD OF NONVOLATILE SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

不揮発性半導体記憶装置及び不揮発性半導体記憶装置のテスト方法 - 特許庁

Since reverse withstand-voltage of a diode 20 is higher than the test voltage, the diode is not electrified.例文帳に追加

ダイオード２０の逆耐圧はこのテスト電圧よりも高いので通電しない。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of shortening a test time.例文帳に追加

試験時間を短縮することができる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of setting plural test modes arbitrarily.例文帳に追加

任意に複数のテストモードを設定することが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

After that, the endurance test is performed again, and the durability of the covering layer is confirmed.例文帳に追加

その上で、耐久試験を再度実施し、被覆層の耐久性を確認する。 - 特許庁

The selection circuit 2a includes a plurality of test input terminals 3a_1 to 3a_n.例文帳に追加

選択回路２ａは、複数のテスト入力端子３ａ_１〜３ａ_ｎを備えている。 - 特許庁

TEST METHOD FOR VIBRATION RESISTANCE OF PHOTO SPACER AND LIGHT CURING RESIN FOR PHOTO SPACER例文帳に追加

フォトスペーサの耐振動性試験方法及びフォトスペーサ用光硬化性樹脂組成物 - 特許庁

To test the durability of a pickup apparatus using a machine for testing a pickup apparatus.例文帳に追加

ピックアップ装置の試験機を用いてピックアップ装置の耐久試験を実行させる。 - 特許庁

TEST OF SEMICONDUCTOR DEVICE DEPENDING ON TEMPERATURE AND CIRCUIT DEVICE HAVING REPAIR LOGIC例文帳に追加

温度に依存した半導体素子のテストおよび修復ロジックを有する回路装置 - 特許庁

SEPARATION MEMBRANE MODULE AND ITS PRODUCTION METHOD, AND AIRTIGHT TEST METHOD OF SEPARATION MEMBRANE MODULE例文帳に追加

分離膜モジュールとその製造方法並びに分離膜モジュールの気密検査方法 - 特許庁