「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(108ページ目) - Weblio英語例文検索

When performing the continuity confirmation test, the non-combined portion 5b of the reinforcement sheet 5 is rolled up to insert the probe of a tester in the test point 2a and the probe is brought into contact with the linear conductor 1.例文帳に追加

導通確認テストの際は補強シート５の非固着部分５ｂを捲り上げてテストポイント２ａにテスターのプルーブを挿入して線状導体１に接触させる。 - 特許庁

To provide a device and a method for fabrication of a semiconductor wafer test MAP chart which fabricates a MAP chart by which an user can recognize the test result of a chip on a wafer visually.例文帳に追加

使用者がウエハ上のチップのテスト結果を視覚的に認識できるＭＡＰ図を作成する半導体ウエハテストＭＡＰ図作成装置及び方法を提供する。 - 特許庁

An alignment test signal having an alternating pattern of frequencies is generated and transmitted over a communication link 108 that carries the alignment test signal in a sequence of frames.例文帳に追加

周波数の交互パターンを持つ位置調整検査信号が生成され、フレームのシーケンスで位置調整検査信号を搬送する通信リンク１０８を通じて送信される。 - 特許庁

A logic operation part 4 generates data for test on the basis of an operation control signal generated by the execution of the above-mentioned program for test by the control part 3.例文帳に追加

ロジック演算部４は制御部３が上記テスト用プログラムを実行することによって生成した演算制御信号に基づいてテスト用データを生成する。 - 特許庁

Dispensation of a test body is executed by moving it vertically with respect to a sample table 16 for holding plural test bodies in the circumferential direction, and by oscillatingly rotating the upper surface of a plate table 1.例文帳に追加

検体を周方向に複数保持するサンプルテーブル１６に対して上下移動し、プレートテーブル１上を首振り回転することで検体の分注を行う。 - 特許庁

An MTF for evaluating the imaging performance of the test lens 12 is determined based on an imaging signal obtained by capturing the image of the test chart 29 after the deviation correction.例文帳に追加

ズレ補正後に撮像部２０でテストチャート２９の像を撮像して得られた撮像信号に基づき、被検レンズ１２の結像性能を評価するＭＴＦを求める。 - 特許庁

It is preferable that the total amount of ions extracted in an ion extraction test is 0.1 μg/cm2 or less and that the total amount of outgas in an outgas test is 0.5 μg/g or less.例文帳に追加

好ましくはイオン抽出試験にて抽出されるイオン総量が０．１μｇ／ｃｍ^2 以下であり、アウトガス試験にてアウトガス総量が０．５μｇ／ｇ以下である。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can sufficiently activate the inside of a circuit at burn-in test, and to reduce the overhead of the circuits required for the burn-in test.例文帳に追加

バーンインテスト時に回路内部を十分に活性化させることができる上に、そのバーンインテストに必要な回路のオーバヘッドを小さくできる半導体集積回路の提供。 - 特許庁

A test tone signal is generated by adding a fundamental tone signal and a plurality of harmonic signals and a plurality of test tone signals STC to STRB are generated by making frequency components different.例文帳に追加

基音信号と複数の倍音信号とを加算してテストトーン信号を形成するとともに、周波数成分を異ならせて複数のテストトーン信号ＳTC〜ＳTRBを形成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a test circuit capable of preventing a defective semiconductor device from being determined as a nondefective one in a test, and capable of detecting surely the defective devices.例文帳に追加

不良の半導体装置がテストで良品と判定されることがなく、確実に不良品を検出することができるテスト回路を有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus device capable of enhancing test efficiency by enabling free allocation of logic pins and test pins, and reducing circuit scale.例文帳に追加

論理ピンとテスタピンとの自由な割り付けを可能にすることで試験効率を高めることができ、また、回路規模を削減することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To achieve a test support system capable of displaying, at a fail position on a test result waveform, information in which a series of signal movements with functional meaning are extracted.例文帳に追加

テスト結果波形上のフェイル箇所に、機能的な意味のある一連の信号の動きを抽出した情報を表示することができるテスト支援システムを実現する。 - 特許庁

To increase the number of pads for a wafer test without forming any pad for the wafer test in a scribe area, or increasing the layout area of a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

スクライブ領域にウェハテスト用パッドを形成することなく、かつ半導体集積回路装置のレイアウト面積を増大させることなく、ウェハテスト用パッドの数を増やす。 - 特許庁

To automatically remove test print from a charging object when test print is operated for the maintenance of a printer whose charging processing is automatically performed according to the number of printing.例文帳に追加

印刷枚数に応じて自動的に課金処理されるプリンタの、メンテナンス等のためにテスト印刷がされたとき、これを自動的に課金対象から除外する。 - 特許庁

To provide a probe card capable of implementing normal test measurement and efficient test measurement on semiconductor integrated circuit chips by preventing contact failures of probe needles.例文帳に追加

プローブ針の接触不良を防いで半導体集積回路チップの正常なテスト測定を実現できる共に効率良くテスト測定を行えるプローブカードを提供する。 - 特許庁

The attenuation of the first attenuator 114 is made so that the level of the test carrier signal is a specified level when the test carrier signal reaches the center device 10.例文帳に追加

また、第１アッテネータ１１４の減衰量は、テストキャリア信号がセンター装置１０に到達した時点でのテストキャリア信号のレベルが、規定のレベルとなるようにする。 - 特許庁

The progress degree of discoloration in a resin test piece is analyzed by a color difference meter, after the test piece is exposed to nitrogen oxides of a prescribed concentration at a prescribed temperature for a prescribed time.例文帳に追加

樹脂試験片を所定濃度の窒素酸化物に所定温度で所定時間暴露した後、該樹脂試験片の変色進行度合いを色差計で分析する。 - 特許庁

To provide a test system, a semiconductor integrated circuit, and a test method, capable of easily performing failure analysis of a semiconductor integrated circuit based on a signature.例文帳に追加

シグネチャに基づいて、半導体集積回路の故障解析を容易に行うことができるテストシステム、半導体集積回路及びテスト方法を提供すること - 特許庁

To provide a biological sample preserving test tube, especially a urine examination test tube hard to cause the adsorption of a very small amount of protein or peptide and usable even in proteome analysis.例文帳に追加

微量の蛋白質やペプチドの吸着が起こりにくく、プロテオーム解析にも使用できる生体試料保存用試験管、特に尿検査試験管を提供する。 - 特許庁

The output voltage of the power generator 5 is commonly supplied as the primary side voltage of the test AC voltage generator 1 and the test AC voltage generator 2.例文帳に追加

発電機５の出力電圧は、試験用交流電圧発生装置１および試験用交流電圧発生装置２の１次側電圧として共通に供給する。 - 特許庁

The device for dynamically reconfiguring a test case to be executed according to the state of equipment comprises at least a test application of software, an API module and software.例文帳に追加

本発明は、機器の状態に合わせて実行するテストケースを動的に再構成する、ソフトウェアのテストアプリケーションと、ＡＰＩモジュールと、ソフトウェアとを少なくとも備えて構成される。 - 特許庁

To provide an antenna device used for an EMC test which accomplishes the EMC test with a limited number of antennas, while allowing the miniaturization of the antennas themselves.例文帳に追加

少ない本数のアンテナでＥＭＣ試験を行うことのでき、且つ、アンテナ自体を小型化することのできるＥＭＣ試験に用いるアンテナ装置を提供することが課題である。 - 特許庁

To enable easy observation of a test state from the outside, in a self fault diagnosis test of a semiconductor integrated circuit which houses a self fault diagnosis circuit.例文帳に追加

自己故障診断回路を内蔵した半導体集積回路の自己故障診断テストにおいて、外部からテスト状態を容易に観測することを可能にする。 - 特許庁

To provide an event type test system supplying a test signal to a tested device (DUT) for inspecting an output signal of the DUT at the timing of a strobe signal.例文帳に追加

被試験デバイス（ＤＵＴ）にテスト信号を供給してそのＤＵＴの出力信号をストローブ信号のタイミングで検証するためのイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide an inexpensive fluorescence auxiliary test apparatus with a small size and a simplified structure capable of simultaneously testing a plurality of test objects by adapting a modular structure.例文帳に追加

構造が単純、小型で、モジュラー構造を採用し、複数の試験対象物を同時に試験することができ、かつ、安価である蛍光補助試験装置を提供すること。 - 特許庁

To enable input inspection of a test signal of high frequency in a wafer test by a high-frequency receiving device 21 which is used to receive a high-frequency signal and having circuit integration.例文帳に追加

集積回路化され、高周波信号の受信に用いられる高周波受信装置２１において、ウェハテストでの高周波のテスト信号の入力検査を可能にする。 - 特許庁

To reduce a load of a center control part, while utilizing effectively existing hardware resources; to improve efficiency of a device test; and to reduce test cost.例文帳に追加

本発明の目的は、既存のハードウェア資源を有効利用しつつ中央制御部の負荷を軽減し、デバイス試験の効率を向上し、試験コストの低減を図ることである。 - 特許庁

To provide a synchronization test system for a breaker attaining high reliability and economical efficiency by controlling input of a plurality of breakers by one synchronization test device 700.例文帳に追加

１台の同期検定装置７００で複数の遮断器を投入制御することで、高い信頼性と高い経済性を有する遮断器の同期検定システムを提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit for securing reliability of a register file and to provide a register file having high reliability by improving accuracy of a quality deciding test.例文帳に追加

レジスタファイルの信頼性を確保するためのテスト回路を提供するとともに、良否判定テストの精度を向上させて、信頼性の高いレジスタファイルを提供する。 - 特許庁

To provide a test printing control device which can shorten a working time by raising the efficiencies of test print preparing and executing work for confirming the function of a printing device.例文帳に追加

印刷装置の機能を確認するテスト印刷の準備および実施の作業を効率化して、作業時間を短縮することができるテスト印刷制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a compressor performance testing device to serve for an operating characteristics test of a centrifugal or an axial flow type compressor capable of enhancing the testing accuracy and decreasing the test time.例文帳に追加

遠心力式又は軸流式圧縮機の動作特性試験における試験精度の向上と試験時間の削減を図った圧縮機性能試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test piece by which the corrosion phenomenon of a boiler pipe can be evaluated precisely and to predict the life of a boiler by using the test piece.例文帳に追加

ボイラ配管の腐食現象の評価を正確にできる試験片を提供することと、この発明の試験片を用いて、ボイラの寿命を予測することである。 - 特許庁

To provide an extraction method capable of optimizing a test pattern by increasing the number of don't care values included in an external input value in the test pattern for a logic circuit.例文帳に追加

論理回路に対するテストパターンにおける外部入力値に含まれるドントケア値の数を多くし、テストパターンの最適化を図ることが可能な抽出方法を提供する。 - 特許庁

To normally carry out a test by preventing the operation of vehicular operation equipment, when a vehicle travels on a chassis roller at the time of a test such as an automobile inspection.例文帳に追加

車検等のテスト時にシャシーローラー上で車両を走行させている際、車両の作動機器が作動するのを防いでテストを正常に行えるようにする。 - 特許庁

A detection part 33 detects a curled state of the printing medium to which the test carriage was performed.例文帳に追加

検知部３３は、テスト搬送された印刷媒体のカール状態を検知する。 - 特許庁

To increase the number of semiconductor chips that can be simultaneously measured at a wafer-level test.例文帳に追加

ウェハレベル試験において同時に測定可能な半導体チップの数を増大する。 - 特許庁

MANUFACTURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, TEST METHOD, AND JIG USED THEREFOR例文帳に追加

半導体装置の製造方法とその検査方法、及び、それらの方法に用いる冶具 - 特許庁

DEVICE FOR SUPPORTING CREATION OF TEST SPECIFICATION AND MANUAL, AND SUPPORTING AUTOMATIC TESTING例文帳に追加

試験仕様書作成からマニュアルの作成を支援し自動試験を支援する装置 - 特許庁

To rapidly test defects of terminal connection to a circuit board, using a simple structure.例文帳に追加

回路基板への端子接続の良、不良を簡単な設備で迅速に試験する。 - 特許庁

The system and method for the efficient implementation of a complex exercise test is disclosed.例文帳に追加

複雑なエクササイズテストを効率よく実施するためのシステム及び方法を開示する。 - 特許庁

A BPF 156 extracts a test signal component from an output of the amplifier 148.例文帳に追加

ＢＰＦ１５６はアンプ１４８の出力からテスト信号成分を抽出する。 - 特許庁

LAYOUT EXAMINATION METHOD OF CONTINUITY TEST UNIT AND DUMMY UNIT AND LAYOUT EXAMINATION BOARD例文帳に追加

導通検査ユニットのレイアウト検討方法並びに擬似ユニット及びレイアウト検討台 - 特許庁

To improve the reliability of a laminated type semiconductor device to a heat cycle test.例文帳に追加

積層型半導体装置の熱サイクル試験に対する信頼性を向上させる。 - 特許庁

To provide a wet friction test apparatus such that a single apparatus can conduct plural kinds of friction tests.例文帳に追加

１台で複数種の摩擦試験ができる湿式摩擦試験装置の提供。 - 特許庁

An astigmatism generating lens 44 of multipoles is provided between the extraction electrode 3 and the test piece.例文帳に追加

引出電極３と試料の間に多極子の非点発生レンズ４４を備える。 - 特許庁