「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(113ページ目) - Weblio英語例文検索

The analyte test strip employed in the method includes a first port in fluidic communication with the sample-receiving chamber and proximate a platform portion of the analyte test strip.例文帳に追加

この方法に使用される検体試験片は、サンプル受容チャンバと流体連絡し、検体試験片のプラットフォーム部に近接する第１のポートを備える。 - 特許庁

To minimize wirings used exclusively to test between the physical layers, when designing a test circuit for a single unit of function blocks to be built, in an integrated semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵する機能ブロックの単体テストのテスト回路設計において、物理階層間のテスト専用配線数を最小にする。 - 特許庁

To reduce a workload for preparing a test case condition corresponding to a system LSI of different specifications by using the existing test items.例文帳に追加

既成の試験項目を用いて、異なる仕様のシステムＬＳＩに対応したテストケース生成条件を作成する作業量を削減することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test specification generation device and a program, generating test specifications of a conversion program executing conversion processing imparted with priority order.例文帳に追加

優先順位を付与した変換処理を実行する変換プログラムのテスト仕様書を生成するテスト仕様生成装置およびプログラムを提供する。 - 特許庁

To settle the defects of conventional soft agar colony forming test methods so as to provide a simple and sure antitumor agent sensibility screening method replacing the conventional test methods.例文帳に追加

従来の軟寒天コロニー形成試験法の欠点を解決し、それに代わる簡便・確実な抗癌剤感受性スクリーニング方法を提供する。 - 特許庁

To partially test software, while examining whether a stub includes a defect deteriorating the reliability of a test result or not.例文帳に追加

スタブがテスト結果の信頼性を損ねるような欠陥を含んでいるかどうかを検証しつつ、ソフトウェアを部分的にテストすることができるようにする。 - 特許庁

The scan pass test circuit having no malfunction and a large operating margin can be made by this configuration, and the instantaneous current consumption at the time of scan test can be reduced.例文帳に追加

この構成により、誤動作のない動作マージンの大きいスキャンパス・テスト回路が可能となり、またスキャンテスト時の瞬時消費電流を削減できる。 - 特許庁

On a TFT array substrate 10 of a liquid crystal device, an N-channel TFT test pattern 130 and a P-channel TFT test pattern 140 are formed.例文帳に追加

液晶装置のＴＦＴアレイ基板１０上に、ＮチャネルＴＦＴテストパターン１３０とＰチャネルＴＦＴテストパターン１４０とが形成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit raised in effect of an accelerated test in a reliability evaluation test while suppressing consumption current in normal operation.例文帳に追加

通常動作時における消費電流を抑えたまま、信頼性評価試験における加速試験の効果が高められた半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The delay test on the output terminal side of the customer-designed circuit 12 is executed by performing the delay test between a scanning flip-flop 18 and a flip-flop 16.例文帳に追加

顧客側設計回路１２の出力端子側の遅延試験をスキャンフリップフロップ１８とフリップフロップ１６との間の遅延試験を行うことで実行する。 - 特許庁

To provide a disk storage which can realize a magnetization test function which automatically performs a test mode to detect the magnetized state of a write head.例文帳に追加

ライトヘッドの帯磁状態を検出するテストモードを自動的に実行する帯磁テスト機能を実現できるディスク記憶装置を提供することにある。 - 特許庁

The input test pattern is inputted into the logic circuit prior to the replacement of the sequence circuit by the combination circuit, thereby generating an expectation value test pattern (step S3).例文帳に追加

そして、順序回路を組み合わせ回路で置換する前の論理回路に上記入力テストパターンを入力して期待値テストパターンを生成する（ステップＳ３）。 - 特許庁

To provide a scenario creation program, a scenario creation device and a scenario creation method which create test data for correctly determining the success/failure of a test.例文帳に追加

テストの合否判定を正しく行うことができるテストデータを作成するシナリオ作成プログラム、シナリオ作成装置およびシナリオ作成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a simple breathing function test device performing a breathing function test in a state without the need of breathing effort, such as a quiet breathing state.例文帳に追加

安静呼吸状態等の呼吸努力を要しない状態で呼吸機能検査を行うことができる簡易な呼吸機能検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a non-volatile semiconductor memory that a leak current is not made to flow in a boosting circuit even if a pad for test is separated after finish of the test.例文帳に追加

テスト用のパッドをテスト終了後に切り離しても昇圧回路にリーク電流が流れないようにした不揮発性半導体メモリを提供する。 - 特許庁

The automated test equipment (ATE) 100 comprises a plurality of hardware components, and at least two among them provide a common test feature.例文帳に追加

自動試験装置（ＡＴＥ）（１００）は、少なくともその中の２つが共通試験機能を提供する複数のハードウェアコンポーネント（１０２〜１０８）を有している。 - 特許庁

To provide an expired gas bag by which the precision of measurement can be improved, operation is efficiently carried out, and a multipurpose test can be realized in an expired gas test.例文帳に追加

呼気ガス検査において、測定精度の向上や、作業の効率化、検査の多目的化を図ることができる呼気ガス収納袋を提供すること。 - 特許庁

It is periodically examined as to whether the first water supply valve 4 and the second water supply valve 5 are functioning normally, by means of the first test switch 12 and the second test switch 13.例文帳に追加

第１のテストスイッチ12および第２のテストスイッチ13で第１の給水弁４および第２の給水弁５が正常に機能するか定期的に確認する。 - 特許庁

To provide a prober capable of conducting an accurate test without reference to variation in test temperature, and a semiconductor wafer testing method using the same.例文帳に追加

検査温度の変化にかかわらず、正確な検査を行なうことが可能なプローブ装置及びそれを用いた半導体ウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁

In this case, the end mark EM is larger than the test pattern TP, so that even when the test pattern TP is printed, the presence of the end mark EM can be detected.例文帳に追加

エンドマークＥＭはテストパターンＴＰよりも大きいため、テストパターンＴＰが印刷されたとしても、エンドマークＥＭの有無を検出することが可能である。 - 特許庁

To automate a unit test and a function test, and to enhance reliability of incorporated software and development efficiency.例文帳に追加

単体テスト，機能テストの自動化を実現し、組み込みソフトウェアの信頼性および開発効率を向上することができる組み込みソフトウェアのテストシステムを提供する。 - 特許庁

An absolute value of a phase difference between the first test sound and the second test sound in an assumed listening position is calculated (step S23).例文帳に追加

これらの検出結果に基づいて、想定聴取位置における第１テスト音声と第２テスト音声との位相差の絶対値を算出する（ステップＳ２３）。 - 特許庁

A test pattern output processing section 109 uses the image data of the density patch in an HDD 105 and outputs a test pattern with the determined density patch arrangement.例文帳に追加

テストパターン出力処理部１０９は、ＨＤＤ１０５にある濃度パッチの画像データを用いて、決定した濃度パッチ配置でテストパターンを出力する。 - 特許庁

To provide a probe card and a test method capable of efficiently executing the successive test, with respect to the chips formed on a wafer.例文帳に追加

ウエハに形成されたチップに対して連続的に行う試験を、効率的に行うことが可能となるプローブカードおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a sensory test device and a sensory test method, which can set an optimum pass/fail determination criterion with the small number of learning samples.例文帳に追加

少ない学習用のサンプルで最適な良否判定基準を定めることを可能とした官能検査装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a block sampling method which enables sampling to be performed without disturbing a test target area of a wide range, and a tracer test method.例文帳に追加

広い範囲の試験対象領域を撹乱することなく採取することができるブロックサンプリング方法およびトレーサー試験方法を提供する。 - 特許庁

The selection unit, when the test block includes a circuit block which has been determined to be faulty operation, divides the test block into a plurality of block groups.例文帳に追加

選択部は、試験ブロックが判定部によって動作不良と判定された回路ブロックを含むとき、試験ブロックを複数のブロック群に振り分ける。 - 特許庁

The breakdown detection part 3 detects the breakdown of the breakdown measurement circuit element 11 and the test voltage determination part 4 determines the voltage as the test voltage.例文帳に追加

ブレークダウン検出部３は、耐圧測定回路素子１１のブレークダウンを検出し、試験電圧決定部４は当該電圧を試験電圧として決定する。 - 特許庁

A test chip is used which includes a signal processing circuit 130 for performing an electric test of a body to be inspected and a circuit 132 for delivering a signal.例文帳に追加

被検査体の電気試験のための信号処理回路１３０と、電気信号の受け渡しをする回路１３２とを含むテストチップを使用する。 - 特許庁

To provide a hardness measuring reagent for efficiently measuring test water, especially, the hardness of unsterilized test water, by using a device having a compact structure.例文帳に追加

検水、特に殺菌処理されていない検水の硬度を、コンパクトな構造の装置を用いて、効率よく測定するための硬度測定用試薬を提供する。 - 特許庁

In the inspection test, therefore, it is not necessary to search for communication cables to be connected to the inspection subject devices, and work of the inspection test is simplified.例文帳に追加

よって、検査試験において検査対象装置に接続される通信ケーブルを探し出す必要がなく、検査試験の作業が簡素化される。 - 特許庁

In addition, the subscriber data management interface part 115 receives a test result according to the test scenario from the applicable mobile station in response to an instruction of outgoing.例文帳に追加

また、該加入者データ管理インタフェース部１１５は、発信の指示に応答して試験シナリオに応じた試験結果を該当する移動局から受信する。 - 特許庁

To make a plurality of judgement results obtainable with a test and reducing the test time.例文帳に追加

一度の試験で複数の判定結果が得られ、試験時間を短縮することのできる半導体試験結果の判定方法及び判定回路を提供する。 - 特許庁

The image display device is provided with a memory part 19 for holding a test pattern image and superimposes the device setting screen signal on a test pattern image signal and performs video processing of the device setting screen signal.例文帳に追加

テストパターン画像を保持するメモリ部１９を備え、機器設定画面信号をテストパターン画像信号に重畳し映像処理される。 - 特許庁

The time from the start of the initial pressure supply to the switching to the test pressure, a pressure difference between the initial pressure and test pressure, etc., are adjusted so as to reduce the differential pressure component which does not change to zero.例文帳に追加

この差圧成分をゼロにするように、初期圧供給開始からテスト圧に切り換えるまでの時間、初期圧とテスト圧との圧力差等を調節する。 - 特許庁

When a register 1 or the like is not operated, an instruction is sent to a test pattern generator 2 from a BIST controller 3, and the test pattern is sent to a circuit of the part that is not used.例文帳に追加

レジスタ１等が動作していない場合、ＢＩＳＴコントローラ３からテストパタン生成器２に指示を送り、テストパタンを未使用部回路に送出する。 - 特許庁

To provide an environmental test apparatus capable of preventing an accident caused by human operation and improving test efficiency by enhancing workability.例文帳に追加

人手によって作業することによる災害の防止と、作業性を高めて試験効率の向上を図ることができる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a high-reliability test result in a load test of a parallel processor device, and to rapidly specify an abnormal part in failure diagnosis.例文帳に追加

並列プロセッサ装置の負荷試験において信頼性が高い試験結果を得るとともに、障害診断において迅速に異常箇所の特定を行うこと。 - 特許庁

A maker B configures a real machine system receiving the system configuration information transmitted, concurrently executes the linkage test, and delivers the system, which has no problem of the linkage test, to the user (S302-S305).例文帳に追加

メーカＢは、これを受信して実機システムを構築するとともに連動テストを行い、該連動テストで問題のない実機システムをユーザに納入する(S302〜S305)。 - 特許庁

Consequently, each of the diagnostic apparatuses 101A and 102B can use test protocols established by the other apparatus besides test protocols established by itself.例文帳に追加

これにより、診断装置１０１Ａ，１０２Ｂ側では、自己の設定した検査プロトコル以外に他装置で設定した検査プロトコルを利用することが可能となる。 - 特許庁

The test of a mobile telephone system having been manually entered and confirmed by human eyes is automated by using a personal computer and a test device.例文帳に追加

パーソナルコンピュータと試験装置を使用することにより人間の手で入力し、人間の目で確認していた携帯電話システムの試験を自動化する。 - 特許庁

To remarkably improve the service life and the high frequency property of a probe used for IC continuity/property test and substrate continuity/ property test devices.例文帳に追加

ＩＣ導通・特性検査や基板導通・特性検査機などに使用されているプローブに関し、使用寿命と高周波特性を飛躍的に向上させる。 - 特許庁

The filter part removes a solid matter and a semisolid matter by passing an extraction reagent formed by mixture of the test body in the test body extraction reagent through it.例文帳に追加

フィルタ部は検体抽出試薬に検体が混ざってできる抽出試薬を通過させることにより固形物及び半流動物を取り除く。 - 特許庁

To enhance efficiency of a test in development or product assurance, trouble analysis in an evaluation environment or market and a test in debugging or fault occurrence.例文帳に追加

開発および製品保証におけるテスト・評価環境、あるいは市場における不具合解析や、デバッグまたは障害発生時のテストの効率化を図ること。 - 特許庁

After that, while rear faces of two fractured test pieces 2 are being illuminated with a first lighting device 30, a CCD camera 20 images the two test pieces 2.例文帳に追加

その後、第一照明装置３０により破断した二つの試験片２の背面を照らしながら、ＣＣＤカメラ２０は二つの試験片２を撮像する。 - 特許庁