「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(115ページ目) - Weblio英語例文検索

The general purpose register has flags which individually indicate up to n pieces of retrieval results which are carried out matching test simultaneously, and has a representative flag when all test results do not match.例文帳に追加

そして、同時に一致検査されたｎ個までの検索結果を個別に示すフラグを持ち、検査結果がすべて不一致の場合には、代表フラグを持つ。 - 特許庁

To provide a means for ensuring improved electric contact over a long time in a wafer level reliability test, such as an aging breaking test of insulation films.例文帳に追加

経時的絶縁膜破壊試験等のウェーハレベル信頼性試験において、長期にわたって良好な電気的接触を確保する手段の提供。 - 特許庁

To provide an LSI tester and a test system capable of improving an operating rate by forecasting a test ending time on a wafer basis with high accuracy.例文帳に追加

高精度でウェハ単位でのテスト終了時刻予測を行うことにより稼働率を高めることができるＬＳＩテスタおよびテストシステムを提供すること。 - 特許庁

In this case, the logic block 21 outputs data in a built-in register to a test control part 31 based on a control signal of the test control part 31.例文帳に追加

このとき、論理ブロック２１は、テスト制御部３１のコントロール信号に基づいて、内蔵するレジスタのデータをテスト制御部３１に出力する。 - 特許庁

To provide a flat belt type running test device capable of removing deposits such as abrasion powder adhered to a roller while performing a running test.例文帳に追加

走行試験を実行しながらローラに付着した摩耗粉等の付着物を除去することが可能なフラットベルト式走行試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an information terminal test apparatus and an information terminal test system whereby a fault status of an information terminal can be obtained before a person is dispatched to a fault site.例文帳に追加

故障現場へ行く前に情報端末の故障状態を把握できる、情報端末試験装置及び情報端末試験システムを提供する。 - 特許庁

In one embodiment, this method measures a plurality of transient currents by an instrument, electrically connected to an electrochemical test piece by using a test piece.例文帳に追加

一態様において、本方法は、試験片を用いて、電気化学的試験片と電気的に接続した計器により複数の過渡電流を測定する。 - 特許庁

To provide a test pattern-forming apparatus for logic circuits which has a means for enhancing a formation success rate for a test pattern enabling a plurality of target failures to be detected.例文帳に追加

複数個のターゲット故障を検出できるテストパターンの作成の成功率を高める手段を備えた論理回路のテストパターン作成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test pattern for verification generating system that is capable of facilitating a pattern input and generating an easily understood test pattern having excellent visibility.例文帳に追加

容易にパタン入力ができ、視認性の良くて分かり易い検証用テストパタンを生成することができる検証用テストパタン生成システムを提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for setting an inexpensive test environment in which a communication test of mobile communication terminal can be carried out.例文帳に追加

低コストで移動通信端末の通信試験を行うことが可能な試験環境設定装置及び試験環境設定方法を提供すること。 - 特許庁

To efficiently carry out a continuous concentration without allowing any analytic object in a test water to vaporize or change morphologically while suppressing contamination of the test water.例文帳に追加

検水のコンタミネーションを抑制した上で、また検水中の分析対象物質を気散ないし形態変化させることなく、効率的に連続濃縮する。 - 特許庁

To obtain and report the current state of a residence alarm by a real time test by using a checking operation as a trigger for a self-test having a time lag.例文帳に追加

タイムラグを持つ自動試験に対し、点検操作などをトリガに現在の住警器の状態をリアルタイム試験により取得して報知可能とする。 - 特許庁

The generated test image is displayed on a display screen in a display part 34, and the failure of the scan control part 3 is determined by the generated test image.例文帳に追加

そして、表示部３４における表示画面に生成したテスト画像を表示させ、生成したテスト画像からスキャンコントロール部３の不具合を判断する。 - 特許庁

To provide a device capable of performing an environmental test in a more similar state to an actual using environment by reproducing temperature variation generated in a test object.例文帳に追加

被試験物に生じる温度ばらつきを再現し、実際の使用環境により近い状態で環境試験を行うことができる装置を開発する。 - 特許庁

A test image is printed on the printing medium set in the thermal printer, by the first and second thermal heads, and a print density of the test image is detected therein.例文帳に追加

第１又は第２のサーマルヘッドによりサーマルプリンタにセットされた印刷媒体に試験画像を印刷し、この試験画像の印刷濃度を検出する。 - 特許庁

This method for examining the drug sensitivity is provided by dividing a test medium 1 surrounding a filter paper 2 into a multiple number of test areas 3a to 3f having stepwise different distances from the filter paper 2.例文帳に追加

濾紙２の周囲の試験培地１を、濾紙２からの距離が段階的に異なる複数の試験領域３ａ乃至３ｆに分割する。 - 特許庁

A holding member 8 provided with recessed parts (bottom receiving part) 9 for holding the bottom of the test tubes inserted in the test tube holding holes is mounted on the bottom plate part.例文帳に追加

また前記底板部の上に、試験管保持孔に挿通された試験管の底部を保持する窪み（底受け部）９を備えた保持部材８を設ける。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory circuit which incorporates a test circuit having less number of circuits and in which a defective memory cell can be detected surely for a less test time.例文帳に追加

少ない回路数でテスト回路を内蔵して、少ないテスト時間で不良メモリセルを確実に検出できる半導体記憶回路を提供する。 - 特許庁

An analyzer 45 compares the generated verification test result 47 with a predetermined test result to obtain an integrity determination that indicates the integrity of the firmware 14.例文帳に追加

分析器４５は、生成された照合試験結果４７と所定試験結果とを比較し、ファームウェア１４の整合性を示す整合判定を求める。 - 特許庁

This friction tester 10 allows friction test for a multitude of pad test pieces to be performed accurately and efficiently under the same conditions.例文帳に追加

これにより、本実施形態の摩擦試験機１０では、同一条件で多数のパッド試験片の摩擦試験を的確、かつ効率的に行うことができる。 - 特許庁

To speedily and accurately verify phase test by bringing a main circuit into a final state of connection and automating phase test processes.例文帳に追加

主回路を最終の接続状態にした上で検相工程を自動化することにより、検相確認を迅速にかつ正確に行えるようにする。 - 特許庁

To provide an input/output compression circuit for a semiconductor memory device in which a test time can be shortened by decreasing the number of input/output pins for a test.例文帳に追加

テスト用の入出力ピン数を減少させ、テスト時間を短縮させることができる半導体メモリ装置のコンプレス入出力回路提供すること。 - 特許庁

The test writing data is read and one of the designated positions is selected as the focus for writing according to the reproduced test writing data.例文帳に追加

テスト書き込みデータは読み取られ、再生されたテスト書き込みデータにしたがって、所定位置のうちの１つが書き込み焦点として選択される。 - 特許庁

External terminals 10 to 13 and 15 to 20 for test which are electrically connected to test circuit parts 8a, 8b, 9a and 9b are formed in four corners of the transmissive substrate 2.例文帳に追加

また、透明基板２の四隅には、検査回路部８ａ，８ｂ，９ａ，９ｂに電気的に接続される検査用の各外部端子１０〜１３，１５〜２０が形成されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device which can detect efficiently data by decreasing the data of the number which has been determined as being a failure in a test result.例文帳に追加

試験結果でフェイルと判定された個数のデータを少なくして効率的に検出することが可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To shorten the time after a fire test is instructed until fire judgment is obtained and to shorten the time required for the fire test even when the number of lines is large.例文帳に追加

火災試験を指示して火災判定が得られるまでの時間を短縮して回線数が多くとも火災試験に要する時間を短くする。 - 特許庁

To provide a flat display inspecting method capable of performing a visual test and a gross test successively with a single apparatus, and to provide a unit for flat display inspection.例文帳に追加

ビジュアルテスト及びグロステストを一つの装備で順次に行える平板型ディスプレイ検査方法及び平板型ディスプレイ検査用ユニットを提供する。 - 特許庁

To provide a tire testing device which supports a load of a measured tire, constitutes a road face for a flat test, and carries out a test under a condition near an actual road face.例文帳に追加

被験タイヤの荷重を支持できると共に、平坦な試験用の路面を構成でき、実路面に近い状態で試験できるタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁

The test device transmits a command to a bus 30 at a side of a key telephone master set 20 connected to telephone sets 25, 26 and receives its reply to test the master set 20.例文帳に追加

電話機２５，２６に接続されたボタン電話主装置２０側のバス３０にコマンドを送り、それに対する応答を受けて主装置２０を試験する。 - 特許庁

To provide a test cartridge and an analytical system enhanced in flexibility and versatility in execution of an analytical test.例文帳に追加

分析試験の実施における柔軟性及び多様性を高めることを追求して改良された、こうしたテスト・カートリッジ及び分析システムを提供すること - 特許庁

Test vectors from a signal generator 330 heat features of a device under test 305 to produce thermal characteristics useful in identifying defects.例文帳に追加

信号発生器（３３０）からのテストベクタにより、テスト対象デバイス（３０５）の各部分を加熱して欠陥を識別する際に有用な熱特性を生成する。 - 特許庁

A test pattern formed on a test reticle Rt is projected onto a light reception surface 42 of an image pickup mechanism 41 via a projection optical system PLe to be inspected.例文帳に追加

テストレチクルＲｔ上に形成されたテストパターンを、被検投影光学系ＰＬｅを介して撮像機構４１の受光面４２上に投影する。 - 特許庁

First, as shown in Fig. 2 (a), in a step St 11, the analysis of signal data is performed with respect to respective test patterns P_1-P_n contained in a test pattern group 150.例文帳に追加

まず、図２（ａ）に示すように、ステップＳｔ１１において、テストパターン群１５０に含まれる各テストパターンＰ_1〜Ｐ_nについて、信号データの解析を行なう。 - 特許庁

Plural kinds of test elements individually formed conventionally are combined to form one test element structure.例文帳に追加

上記の目的のために本発明では、従来単独で形成していた各種テスト素子を、複数種類組み合わせて一つのテスト素子構造にするものである。 - 特許庁

To automate the process of filling a test gas into an electronic parts and transferring them to a check device, thereby filling the test gas and transferring the electronic parts quickly.例文帳に追加

電子部品へテスト用ガスを充填して検査装置へ移送する過程を自動化し、テスト用ガスの充填と検査装置への移送を速やかに行う。 - 特許庁

The vehicle traction device accelerates the test vehicle 14 by pressing it while a desired posture of the test vehicle 14 is kept with an attachment 16 provided on the arm 15.例文帳に追加

そして、アーム15に設けたアタッチメント16で試験用車両14の所望の姿勢を保持しつつ、試験用車両14を押し出し、加速させることができる。 - 特許庁

To provide a ferroelectric memory device in which test data written are into all memory cells at high speed with write conditions being uniform for all of the memory cells to perform a test.例文帳に追加

全メモリセルに均等な書き込み条件でテストデータを高速に書き込んで試験を行うことを可能とした強誘電体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a tank pipe pressure test method and a tank pipe pressure testing device by a leak test, by filling water requiring only a small load from the viewpoint of cost and processes.例文帳に追加

費用面と工程面の負担が少なくて済む水張り試験によるタンク配管耐圧試験方法とタンク配管耐圧試験装置を提供すること。 - 特許庁

Endless wire ropes 1A, 1B used for pulling respectively test object vehicles 7, 8 are laid on rope grooves of a test course.例文帳に追加

走行路のロープ溝には、被試験対象の車両７，８をそれぞれ牽引するために使用されるエンドレス方式のワイヤーロープ１Ａ，１Ｂが敷設されている。 - 特許庁

Furthermore, each test pad 1 is connected with respective switch circuits 3A-3D of semiconductor chips 10 contiguous to each other while holding each test pad 1 in-between.例文帳に追加

さらに、各テストパッド１に、各テストパッド１を挟んで互いに隣接する半導体チップ１０のそれぞれのスイッチ回路３Ａ〜３Ｄを接続している。 - 特許庁

An operator uses the personal computer to create and store a macro program for processing by a previously set amount of test pieces prior to the test.例文帳に追加

作業者は、試験に先立って、パーソナルコンピュータを使用して、予め設定した数量の試験片ごとに処理するマクロプログラムを作成して記憶する。 - 特許庁

In a test mode where jitters are simulated, the video signal or audio signal can be specified as a position where jitters are inserted into the packet of the test medium.例文帳に追加

ジッタを模擬する試験モードでは、試験メディアのパケットにジッタを挿入する位置として、ビデオ信号およびオーディオ信号のいずれかを指定できる。 - 特許庁

To provide a lightning arrester capable of applying test voltage without doing removal work and performing gas processing even in a withstand voltage test.例文帳に追加

耐電圧試験時においても、取り外し作業およびガス処理を行うことなく、試験電圧を印加することが可能な避雷器を提供することを目的とする。 - 特許庁

Test information is transferred between the devices to perform the test by using the MAC addresses of the terminals and the MAC address for each device is not required.例文帳に追加

この発明では、試験を行なう装置間の試験情報転送を端末のＭＡＣアドレスを用いて行なうもので、各装置毎のＭＡＣアドレスは不要となる。 - 特許庁

The respective density detection sensors 55 read the corresponding test patches at the same time, and output the results (density of test patch) (steps S101 to S103).例文帳に追加

各濃度検知センサ５５は、それぞれに対応するテストパッチを同時に読み取り、その結果（テストパッチの濃度）を出力する（ステップＳ１０１〜Ｓ１０３）。 - 特許庁