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OF testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 23309



例文

To provide a semiconductor device having a liquid crystal driving circuit which further shortens the gradation voltage test time regardless of the increase of gradations of the liquid crystal driving circuit and the number of output terminals, increases the test speed, and reduces the cost, and a test method therefor.例文帳に追加

液晶駆動回路の高階調化ならびに出力端子数の増加に対しても、さらなる階調電圧試験時間の短縮を実現し、試験の高速化、さらには低コスト化を実現することができる液晶駆動回路を有する半導体装置およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

Sample oil 11 is heated for a predetermined time, the cooling oil 16 is circulated, liquid of it is fed, fouling is adhered to the outer surface of the test tube 2, then a fouling amount is determined based on difference from the pre-measured weight of the test tube 2 before the test, and the effect of the fouling inhibitor is evaluated.例文帳に追加

所定時間試料油11の加熱と、冷却油16の循環通液を行い、テストチューブ2外表面にファウリングを付着させた後、予め測定しておいた試験前のテストチューブ2の重量との差からファウリング量を求め、ファウリング防止剤の効果を評価する。 - 特許庁

To provide a component testing device for improving a throughput on a test of an electronic component by shortening a time required for replacement into a test socket of the electronic component, even when a plurality of test sockets having the same function are arrayed along a moving direction of a conveyance hand.例文帳に追加

同一機能のテストソケットが搬送ハンドの移動方向に沿って複数配列される場合であれ、電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁

This device sets a test condition of a signal protection system by a test condition setting means 9 of a display operation part 7 and the set testing condition is input to an instrument status simulation means 11 of a site simulation part 8 to simulate a status of a site instrument 2 based on the test condition.例文帳に追加

表示操作部7の試験条件設定手段9で信号保安システムの試験条件を設定し、その設定された試験条件は現場模擬部8の機器状態模擬手段11に入力され、ここで、その試験条件に基づいて現場機器2の状態が模擬される。 - 特許庁

例文

To surely test a plurality of printed circuit boards connected to a system bus.例文帳に追加

システムバスに接続された複数のプリント基板の試験を確実に行なうことを目的とする。 - 特許庁


例文

The physiologically active material in a test liquid is treated through the use of the capture beads.例文帳に追加

この捕捉ビーズを用いて試験液中の前記生理活性物質の処理を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device which has durability for disturb refresh and of which a test time is short.例文帳に追加

ディスターブリフレッシュに強く、テスト時間が短くて済む半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

METHOD OF ALIGNING WAFER AND PROBE NEEDLE WITH EACH OTHER AND METHOD AND DEVICE FOR PROBE TEST例文帳に追加

ウエーハとプローブ針との位置合わせ方法、プローブ検査方法及びプローブ検査装置 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTING LIQUID ABSORPTION OF TEST LAYER IN ANALYZING例文帳に追加

分析要素における試験層の液体吸収を検査するための方法および装置 - 特許庁

例文

When the equipment 400 receives results of a test, the equipment 400 compares a decision reference value which is variably set on the basis a test condition containing a geographic condition or an environmental condition with the results of the test and decides existence of abnormality.例文帳に追加

また、加入者回線試験・中継装置400は、試験結果を受け取ると、地理的条件あるいは環境的条件を含む試験条件に基づいて可変に設定された判定基準値と試験結果とを比較し異常の有無の判定を行う。 - 特許庁

例文

CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND PICK-UP METHOD OF TEST PIECE USING CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE例文帳に追加

荷電粒子ビーム装置、及び荷電粒子ビーム装置を用いた試料のピックアップ方法 - 特許庁

To provide an IC socket capable of executing an IC test easily in a short time.例文帳に追加

ICのテストを、短時間で容易に行うことができるICソケットを提供すること。 - 特許庁

To shorten a test work time including work time shortening of a quality discrimination process.例文帳に追加

良否分別工程の作業時間短縮も含めて試験作業時間を短縮する。 - 特許庁

To reduce an installation cost for the leakage test of drainage equipment.例文帳に追加

本発明は、排水設備の漏れ試験のための設備コストを低減させることを目的とする。 - 特許庁

To eliminate a directional optical coupler and to reduce the number of test light sources and detectors.例文帳に追加

方向性光結合器を無くし、必要なテスト光源と検出器との数を低減する。 - 特許庁

To improve the precision of a test for verifying whether or not application operates normally.例文帳に追加

アプリケーションが正常に動作するかどうかを検証するテストの精度を向上すること。 - 特許庁

This system is mainly configured of a transmitting mechanism 200, a film attachment device 300 and a test device 400.例文帳に追加

主に伝送機構200、貼膜装置300および検査装置400からなる。 - 特許庁

To detect also failure which is caused by delay failure of a clock supply system in a scanning test.例文帳に追加

スキャンテストにおいてクロック供給系の遅延故障に起因する故障も検出する。 - 特許庁

The terminal table can be brought into contact with the lower surface of the test object through two terminals.例文帳に追加

本端子テーブルは、検査対象の下面側から簡単に2端子で接触可能である。 - 特許庁

To implement a test system capable of precisely measuring output differences between pins.例文帳に追加

ピン間の出力差を精度よく測定できるテストシステムを実現することを目的にする。 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, MONITORING METHOD FOR VOLTAGE OF INTERNAL POWER SOURCE LINE, AND METHOD FOR DISCRIMINATING TEST MODE例文帳に追加

半導体装置、内部電源線の電圧のモニタ方法および試験モードの判別方法 - 特許庁

An address data generating section 5 writes test data in each object address of RAM 1 to 4.例文帳に追加

アドレス・データ生成部5はRAM1〜4の夫々の対象アドレスにテストデータを書き込む。 - 特許庁

From the concentration of Cu in the concentrated nitric acid, a Cu adhesion quantity on the test piece surface is detected.例文帳に追加

濃硝酸中のCu濃度から、テストピース表面のCu付着量を検出する。 - 特許庁

To execute a loopback test for a device to be tested having a transmission part of a light signal.例文帳に追加

光信号の送受信部を有する被試験デバイスのループバック試験を実行する。 - 特許庁

ACOUSTIC TEST METHOD AND APPARATUS OF HARD DISK AND PROGRAM STORING MEDIUM例文帳に追加

ハードディスク音響検査方法およびハードディスク音響検査装置およびプログラム記憶媒体 - 特許庁

To provide a test device which inhibits an object to be tested from being damaged for a long period of time.例文帳に追加

試験対象物の損傷を長期に抑制する試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a test device and a test method with which the increase of temperature of a semiconductor device can be suppressed and test can be performed in short time without using any large scale cooling means even if a semiconductor device to be tested is a semiconductor device of high power.例文帳に追加

試験対象とする半導体装置が高パワー半導体装置であっても、大規模な冷却手段を用いることなく、半導体装置の温度上昇を防ぎ、かつ、短時間で試験を行うことのできる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

A frame identification code embedding unit 3 embeds the QR code in a part of the test video image.例文帳に追加

フレーム識別コード埋込部3は、試験映像の一部分に前記QRコードを埋め込む。 - 特許庁

PROCESS FOR DETERMINATION OF CORRECT FUEL FLOW RATE TO VEHICLE ENGINE FOR CARRYING OUT DIAGNOSTIC TEST例文帳に追加

診断テストのための乗物用エンジンへの燃料の正しい流量の決定方法 - 特許庁

HIGH-TEMPERATURE FATIGUE TEST METHOD CAPABLE OF ACCURATE TEMPERATURE CONTROL AND MEASUREMENT USING SMALL-SIZED FURNACE例文帳に追加

小型加熱炉を用いた正確な温度制御と測定が可能な高温疲労試験法 - 特許庁

To shorten the processing time for ATPG, and to reduce the number of excessive test patterns.例文帳に追加

ATPGの処理時間の短縮化および余分なテストパターン数の削減を図ること。 - 特許庁

To provide a technique capable of enhancing test efficiency in the semiconductor circuit.例文帳に追加

半導体回路におけるテスト効率を向上することが可能な技術を提供する。 - 特許庁

This manipulator 102 is a manipulator for the test head 108 connected to one end part of a cable 104.例文帳に追加

ケーブル104の一端部に接続されたテストヘッド用108のマニピュレータ102である。 - 特許庁

At least two of the semiconductor chips have a connection test circuit and a switch circuit.例文帳に追加

半導体チップの少なくとも2つは、接続試験回路とスイッチ回路とを有している。 - 特許庁

TEST-CONDITION DATA GENERATING METHOD AND TESTING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR-WAFER VISUAL TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体ウエーハ外観検査装置の検査条件データ生成方法及び検査システム - 特許庁

The Institute recently ran the world's first successful test of a battery-powered streetcar. 例文帳に追加

同研究所は先ごろ,電池式の路面電車の実験に世界で初めて成功した。 - 浜島書店 Catch a Wave

A large-scale test of the system was held in Tomakomai, Hokkaido, on Oct. 6. 例文帳に追加

10月6日,北海道苫(とま)小(こ)牧(まい)市で,システムの大規模な試験が行われた。 - 浜島書店 Catch a Wave

It can also be used to train rescue dogs and test the performance of rescue robots. 例文帳に追加

同施設はまた,救助犬の訓練や救助ロボットの性能試験にも活用できる。 - 浜島書店 Catch a Wave

During her test runs, Noguchi checked the route, the condition of the pavement, and the course surroundings. 例文帳に追加

試走の間,野口選手はルートや舗装状態,コースの周辺環境を確かめた。 - 浜島書店 Catch a Wave

On the aluminum oxide film 10, a pair of test terminals 13 are also formed.例文帳に追加

また、アルミニウム酸化膜10上には、一対の検査端子13も形成されている。 - 特許庁

Next, a position of ink reaching the printing surface by the test pattern printing is measured (S5).例文帳に追加

次に、テストパターン印刷によって印刷面に着弾したインクの位置を測定する(S5)。 - 特許庁

Additionally, it is possible to automatically stop a vibrational mechanism of the test device from its result.例文帳に追加

さらに、その結果から自動的に試験装置の振動機構を停止することができる。 - 特許庁

For parameter calibration of a wire bonder 3, a test chip 2 is used together with sensors 5 and 6.例文帳に追加

ワイヤボンダ(3)のパラメータの校正のために、テストチップ(2)が、センサ(5;6)とともに用いられる。 - 特許庁

To provide a test method for slipping off performance of attached pollen.例文帳に追加

本発明は、付着した花粉の脱落性能の試験方法を提供せんとするものである。 - 特許庁

To provide a color image processor capable of obtaining a color test pattern with a simple configuration.例文帳に追加

簡易な構成でカラーテストパターンを得ることのできるカラー画像処理装置を提供する。 - 特許庁

CONTACT BOARD FOR IC TEST DEVICE AND POSITIONING METHOD OF ROBOT FOR CONTACTING AND OPERATING THE SAME例文帳に追加

IC試験装置のコンタクトボード及びこれに接触動作するロボットの位置合わせ方法 - 特許庁

To provide a method and a system with which the test or verification of the software module can be supported.例文帳に追加

ソフトウェアモジュールのテスト又は検証を支援し得る方法及びシステムを提供する。 - 特許庁

To test a connection state between a reinforcement contact of a piezoelectric actuator and a wiring board.例文帳に追加

圧電アクチュエータの補強接点と配線基板との接続状態を検査すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a screening test of a gate insulating film can be readily performed.例文帳に追加

ゲート絶縁膜のスクリーニング試験が容易に行われ得る半導体装置を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a conjugate that can be used for detection of an analyte in a test sample.例文帳に追加

被験試料中の分析物の検出のために使用しうるコンジュゲートを提供する。 - 特許庁




  
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