| 意味 | 例文 |
OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
To provide a fatigue tester having a simple structure, easy to set a test piece and capable of performing a high-speed and high-precision fatigue test.例文帳に追加
簡素な構造で供試体のセッティングが容易であり、高速且つ高精度の疲労試験を行うことができる疲労試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a protocol test device capable of testing a network using an optional protocol and to provide a protocol test method.例文帳に追加
本発明は、任意のプロトコルを用いてネットワーク試験を行うことができるプロトコル試験装置又はプロトコル試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit in which a flash EEPROM capable of executing efficient burn-in test is built and provide its burn-in test method.例文帳に追加
効率のよいバーインテストを実施可能なフラッシュEEPROMを内蔵する半導体集積回路、及び、そのバーインテスト方法の提供。 - 特許庁
ID information such as the sample donor name of the chip 7, the test data and the test result can be read by the dot marks M.例文帳に追加
これらのドットマークMにより、同チップ(7) の試料提供者名、試験日時、試験結果などのID情報などを読み取れるようにする。 - 特許庁
A test circuit conducting the starting test of the oscillation circuit where a quartz oscillator is oscillated is provided with an oscillator to be tested, and a control unit.例文帳に追加
これは発振器の起動試験装置のON−OFF回路が遅いため、規定された試験回数を行うのに時間がかかる問題があった。 - 特許庁
To provide a high throughput test system having a small size, with saving cost, being not so complicated and more suitable for sample test companies of a small-to-medium scale.例文帳に追加
小型で、費用がかからず、あまり複雑でなく、中小規模の試料試験企業により適した、高スループット試験システムの提供。 - 特許庁
The flicker noise test system has a guarded signal path and an unguarded signal path selectively connectable to respective terminals of a device under test.例文帳に追加
被試験装置の各端子にそれぞれ選択的に接続しうる保護された信号経路及び保護されていない信号経路を有している。 - 特許庁
Since the function (6W/2W conversion circuit 32) of the repeater system is incorporated in the test telephone set 20, an efficient test is made possible.例文帳に追加
試験用電話機20にレピータ装置の機能(6W/2W変換回路32)が内蔵されているので、効率的な試験が可能となる。 - 特許庁
The secure circuit 20 performs a self-diagnostic test of the secure circuit 20 according to a self-diagnostic test start instruction signal TEST_S from a CPU 18.例文帳に追加
セキュア回路20が、CPU18からの自己診断テスト開始指示信号TEST_Sに応じて、セキュア回路20の自己診断テストを行う。 - 特許庁
A base end 7 of the test piece 1 displaces relatively in the vertical direction with respect to the abutting section 5, thereby putting the test piece 1 into the bent state.例文帳に追加
試験片1の基端部7が当接部5に対し上下方向に相対的に変位することにより、試験片1は曲げ状態となる。 - 特許庁
Water-sensitive paper discolored to a density different, corresponding to the adhesion amount of water droplets, is mounted on test pieces different in dimensions to perform impingement test.例文帳に追加
水滴の付着量に応じて異なる濃度に変色する感水紙を、寸法の異なる供試体に装着して衝突試験を行う。 - 特許庁
To provide a testing method for a liquid crystal device with which positioning is excellently performed when performing an acceleration test and reliability of a test result can be maintained.例文帳に追加
加速試験する際の位置決めを良好に実行して、試験結果の信頼性を維持できる液晶装置の試験方法を提供する。 - 特許庁
To reduce a test element formation region by reducing kinds and quantity of test elements used in a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加
本発明は、半導体集積回路で使用するテスト素子の種類、数量を減らし、テスト素子形成領域を減少させることを目的とする。 - 特許庁
To provide a scoring test device and a scoring test method capable of testing whether a screw scores in a vacuum environment.例文帳に追加
真空環境下において螺子がかじるかどうかの試験を行うことが可能なかじり試験装置及びかじり試験方法を提供する。 - 特許庁
To improve feeling of presence while travel test is performed by reproducing a real road when performing the travel test in which the real road is reproduced on a chassis dynamo.例文帳に追加
シャシーダイナモ上で実路を再現した走行試験を行う際、実路を再現して走行試験を行っている臨場感を向上させる。 - 特許庁
To accurately measure the temperature of a battery to be tested when a test board mounting the battery to be tested is inserted in a casing to perform charge and discharge test.例文帳に追加
被験電池を載せた試験基板を筐体の中に差し入れて充放電試験を行う際、被験電池の温度を正確に測定する。 - 特許庁
To provide a device for judging the danger of geriatric syndromes, in particular, a gait speed measuring meter, a grip strength test meter and a single-leg standing test meter.例文帳に追加
老年症候群の危険性の判定用装置、特には、歩行速度測定計、握力検査計、片足立ち検査計を提供する。 - 特許庁
Based on the measuring results with the first temperature sensor 11 and the second temperature sensor 12, the temperature of a test liquid in the test vessel 5 is calculated.例文帳に追加
第1温度センサ11及び第2温度センサ12による測定結果に基づいて、試験容器5内の試験液の温度を算出する。 - 特許庁
To perform a voltage applying current measurement test and a current applying voltage measurement test simultaneously for the I/O pins of an electronic device.例文帳に追加
電気部品16が有する入出力ピンに対して、同時に電圧印加電流測定試験または、電流印加電圧測定試験をする。 - 特許庁
To provide a circuit test tool and a circuit testing method capable of stably performing a test using metal pogo pins.例文帳に追加
金属ポゴピンを使用して行う試験を安定した状態で行なうことができる回路試験用治具および回路試験方法を提供する。 - 特許庁
In order to test the continuity of the wire harness manufactured on an assembly diagram board 20, a continuity test unit 33 is connected with the wire harness.例文帳に追加
組立図板20で製造されるワイヤーハーネスの導通を検査するためにワイヤーハーネスと接続される導通検査ユニット33を設ける。 - 特許庁
To easily and accurately perform the call processing test of communication equipment at a low cost without having a user prepare a special environment for the test.例文帳に追加
ユーザが試験のための特別な環境を用意することなく、安価で簡単かつ正確に通信装置の呼処理試験を行えるようにする。 - 特許庁
The test circuit preferably supplies the test signal to the circuit to be tested when the charge of the prescribed amount is accumulated in the power source capacitor.例文帳に追加
テスト回路は、電源用キャパシタに所定量の電荷が蓄積されたときに、テスト信号を被テスト回路に供給することが好ましい。 - 特許庁
To save space by unitizing the centering of a test tube and a chuck when automatically attaching a bar code label to the test tube.例文帳に追加
試験管にバーコードラベルを自動的に貼付けるバーコードラベル貼付け装置において、試験管の芯出しとチャックを同一ユニット化し省スペース化する。 - 特許庁
To provide a semiconductor test device in which a test time can be shortened by improving transfer efficiency of fail information.例文帳に追加
主として、フェイル情報の転送効率を改善することで試験時間の短縮を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
However, many interfaces are optional and there are feature test macros to test the availability of interfaces at compile time, and functions sysconf (3), 例文帳に追加
しかし、多くのインタフェースは選択可能であり、コンパイル時にインタフェースが使用可能かをテストする機能テストマクロと、実行時にテストする関数sysconf (3), - JM
The test strip for detecting Mycobacterium tuberculosis and a nucleotide amplification product of nontuberculous mycobacteria, includes (a) an avidin gold open region and (b) a test band.例文帳に追加
ヒト結核菌と非結核性抗酸菌のヌクレオチド増幅産物を検出するテストストリップは、(a) アビジンー金開放領域と、 (b) テストバンドと、からなる。 - 特許庁
To provide a method which enables the simple and early acquisition of test results in a dyeing fastness test, and a testing machine therefor.例文帳に追加
染色堅ろう度試験において、簡易、かつ、早期に試験結果を得ることができる方法及びその試験機を提供することを課題とする。 - 特許庁
Further, the mobile terminal detects the existence/nonexistence of an answer from the adjacent radio base station to be a test target for the test connection.例文帳に追加
さらに前記試験接続に対する前記試験対象とする隣接無線基地局からの応答の有無を前記移動端末で検知する。 - 特許庁
To provide a specific structure of a combined degradation accelerator used in common for weather resistance and corrosion resistance test or for heat resistance and water resistance test.例文帳に追加
耐候耐食性試験や耐熱耐水性試験に共通して利用し得る複合劣化促進装置の具体的な構成を提供する。 - 特許庁
To provide a sheet for patch test through which the state of skin is visually recognizable even in the case that it is pasted to the skin for the patch test.例文帳に追加
パッチテストを行うために肌に貼り付けている場合でも、それを透かして肌の状態を視認可能なパッチテスト用シートを提供する。 - 特許庁
The pattern generating means generates a test pattern signal used to form a test pattern including a plurality of gradation patches differing in gradation from each other.例文帳に追加
パターン生成手段は、それぞれ階調が異なる複数の階調パッチを含むテストパターンを形成するためのテストパターン信号を生成する。 - 特許庁
To provide a test circuit having an effect for suppressing the cost of LSI production by eliminating a LSI test pin unnecessary for a normal operation.例文帳に追加
通常動作に不要であるLSIテストピンを削除し、LSI製造コストの増加を押さえる効果を持つ、テスト回路を提供することを目的とする。 - 特許庁
When the recording linear velocity of the disk becomes to be equal to or faster than the fixed volocity, the processing part can perform high-speed test writing easily using the outer periphery-side test writing area.例文帳に追加
一定速度以上の記録の際には、外周側の試し書領域を用いて、容易に高速の試し書きを行うことができる。 - 特許庁
The contacts 13 and 14 are turned according to the material and shape of the test piece, to select contact surface for the test piece and to obtain an optimal sandwiching force.例文帳に追加
試験片の材質や形状に応じて、接触子を回動し、試験片に対する接触面を選択して最適な挟持力を得る。 - 特許庁
To provide the constitution of a test interface circuit which can perform a direct memory access test with an actual operation frequency even if a low speed memory tester is used.例文帳に追加
低速メモリテスタを用いても実際の動作周波数でのダイレクトメモリアクセステストを実行可能なテストインターフェイス回路の構成を提供する。 - 特許庁
To provide a magnetic deformation transducer for generating a torsion wave on a prescribed cross-section of a test object to receive the torsion wave advanced toward the test object.例文帳に追加
試験体の所定の断面にねじり波を発生させ、試験体に進むねじり波を受信する磁気変形トランスデューサを提供する。 - 特許庁
A method for judging the sugar level in the urine by dipping the test strip in the collected urine sample, and comparing the color of the test strip with the colors on the color chart 例文帳に追加
採取した尿に試験紙を浸漬し、呈色した試験紙の色と色調表とを比較し、尿糖の量を判定する方法。 - 特許庁
A power supply interruption signal generating circuit 40 generates a power supply interruption signal CUT of "H" level in response to a test mode signal TEST.例文帳に追加
電源遮断信号発生回路40は、テストモード信号TESTに応答して「H」レベルの電源遮断信号CUTを発生する。 - 特許庁
To provide a unit for substrate connection test which is easy in a check of connection state, and enables a substrate connection test at a substrate center.例文帳に追加
接続状態のチェックが容易であると共に、基板中央部での基板接続試験の可能な基板接続試験用ユニットを提供すること。 - 特許庁
The transmission unit 3 can transmit a radio wave by switching an operation wave used for normal operation and a test wave used for a test of the wireless device 2.例文帳に追加
送信部3は、通常の運用に使用する運用波と、無線装置2の試験に使用する試験波とを切り替えて送信可能である。 - 特許庁
In the case of a test, the prize ball count signal outputted from the AND circuit 376 is outputted toward a test terminal board via a connector.例文帳に追加
試験時であれば、AND回路376から出力された賞球カウント信号は、コネクタを介して試験端子基板に向けて出力される。 - 特許庁
The read circuit 110 allows an external device (e.g. a memory tester) to supply test clock pulses to an input of the digital counter during the test mode.例文帳に追加
該読み出し回路110は、テストモード中に外部装置(例えばメモリテスタ)がディジタルカウンタの入力にテストクロックパルスを供給することを可能にする。 - 特許庁
To reduce the size of a burn-in system used for performing a burn-in test on a semiconductor wafer, and to shorten the time required for the test.例文帳に追加
半導体のウエハにバーンインを実施するための半導体装置において、バーンイン装置の小型化、実施時間の短縮を目的とする。 - 特許庁
A test data generation part 6 generates test data of a system which can be inputted to a simulator, based on information generated in the pattern generation part 5.例文帳に追加
テストデータ生成部6はパターン生成部5で生成された情報等を元に、シミュレータへ入力できる形式のテストデータを生成する。 - 特許庁
To enable high-precision leak detection by a differential pressure type air leak test device while reducing the capacity of master-side and work- side two test pressure closure systems.例文帳に追加
差圧型エアリークテスト装置において、マスタ側,ワーク側の2つのテスト圧閉鎖系の容積を減少させて、高精度の漏れ検出を行う。 - 特許庁
To provide a control method and system for a controlling element in a vehicle that make an automatic test preannouncement prior to an automatic test of a controlling element.例文帳に追加
調節要素の自動テストの前に自動テストの予告が行われる、車両内の調節要素の制御方法および装置を提供する。 - 特許庁
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| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
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| Copyright (c) 2001 Robert Kiesling. Copyright (c) 2002, 2003 David Merrill. The contents of this document are licensed under the GNU Free Documentation License. Copyright (C) 1999 JM Project All rights reserved. |
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