「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(94ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a bearing testing device capable of reproducing white peeling of a test bearing with high accuracy and in a short time, and reproducing white peeling of any of a rolling element and rolling surface of the test bearing.例文帳に追加

試験軸受の白色はく離再現を短時間で精度良く行えるとともに、試験軸受の転動体、転動面のいずれの白色はく離をも再現できる軸受試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspecting method of a semiconductor integrated circuit capable of easily detecting disconnection failure, capable of reducing input test patterns and capable of reducing test time in the inspecting method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路の検査方法において、断線不良を容易に検出でき、かつ、入力テストパターンを削減し、テスト時間を低減できる半導体集積回路の検査方法を提供する。 - 特許庁

In the compression strength test of concrete, longitudinal strains at a plurality of places in a test piece at the time of loading are measured and the eccentric loading is sensed on the basis of the measured longitudinal strains at a plurality of places to be corrected.例文帳に追加

コンクリートの圧縮強度試験において、載荷時の供試体における複数箇所の縦ひずみを測定し、測定した複数箇所の縦ひずみの差により偏心載荷を感知して修正する。 - 特許庁

An output value of the test circuit 4 is changed by a plurality of combinations by switching setting to each of the plurality of modes, and thereby the input/output characteristics during an AC test time of the buffer circuit 6 can be measured efficiently.例文帳に追加

複数の各モードへの切り替え設定により、テスト回路４の出力値を複数の組み合わせで変更し、バッファ回路６のＡＣテスト時の入出力特性を効率よく測定可能とした。 - 特許庁

To provide a strain gauge type displacement gauge capable of precisely measuring the displacement of a test piece without having any excessive change of a strain gauge even in the increase in nipping angle of both arms by the extension of the test piece.例文帳に追加

試験片の伸長によって両アームの挟む角度が大きくなっても歪ゲージの過大な変化がなく、試験片の変位を精度よく測定できる歪ゲージ式変位計を提供する。 - 特許庁

The random numbers corresponding to the test number of a lot of a level 1 are produced from a certain Weibull distribution, the random number corresponding to the test number of a lot of a level 2 are produced from the same Weibull distribution and the life calculated from the produced random numbers is operated to calculate one set of a life ratio.例文帳に追加

あるワイブル分布から水準１のロットの試験個数分の乱数を発生させ、同じワイブル分布から水準２のロットの試験個数分の乱数を発生させる。 - 特許庁

In the network test system for transmitting a test frame to a frame exchange device and detecting the alteration error, a pseudo random pattern is inserted into the payload part of the test frame and the value of a pseudo random pattern insertion position is added to an additional information part for test.例文帳に追加

試験フレームをフレーム交換装置に送信して改変エラーを検出するネットワーク試験システムにおいて、前記試験フレームのペイロード部に擬似ランダムパターンを挿入し、試験用付加情報部に擬似ランダムパターンを挿入した位置の値を付加したことを特徴とするもの。 - 特許庁

This system further comprises a test work verification display means for verifying whether the execution environment of the executed test is right or not by use of bug slip information related to the test item and the test item information and file information stored in the second storage means, and displaying the verification result.例文帳に追加

また、テスト項目に関連するバグ票情報と前記第２の記憶手段に記録したテスト項目情報およびファイル情報とを用いて、実施されたテストの実行環境が正しいかを検証し、その検証結果を表示するテスト作業検証表示手段とをさらに備える。 - 特許庁

In this method, a test tube group with bar codes stored in the test tube rack is photographed as it is from the oblique upside by a plurality of cameras, relative to each test tube without being interfered by adjacent test tubes, and a plurality of data are synthesized and corrected, to thereby read the bar codes.例文帳に追加

本発明は試験管ラックに収められたバーコード付の試験管群をそのままの状態で、隣接する試験管に妨害されず、斜め上方から試験管一本毎複数のカメラで撮影し、その複数のデータを合成ないし補正して正確に読取る方法である。 - 特許庁

In this semiconductor testing device, the event pulse generating part is provided with an address generating means for generating an event pulse to make a plurality of prescribed test items executable continuously, and the storage memory, in a test execution mode where a test for a DUT is executed in order along the plurality of divided test items.例文帳に追加

ＤＵＴの試験実施が複数の試験項目に分割して順次実施される試験実施形態のとき、イベントパルス発生部は所定複数の試験項目が連続的に実施可能とするイベントパルス発生用のアドレス発生手段と格納メモリとを備える、半導体試験装置。 - 特許庁

Another embodiment is possible in which a test pattern is formed on a recording paper 16 instead of forming a test pattern on the belt 33; the test pattern is read by a test pattern-reading section provided separately from an adsorption belt conveyance section; and the speed variation data of the recording paper 16 is determined from the reading result for storing.例文帳に追加

ベルト３３にテストパターンを形成する代わりに記録紙１６上にテストパターンを形成し、該テストパターンを吸着ベルト搬送部とは別に設けられたテストパターン読取部によって読み取り、その読取結果から記録紙１６の速度変動データを求めて記憶しておく態様も可能である。 - 特許庁

The analyte test strip also includes at least one meter identification mechanism 116a, 116b, and the meter identification mechanism is disposed on the electrical contact pad such that the electrical connector pin of the test meter is moved across the meter identification mechanism during insertion of the analyte test strip into the test meter.例文帳に追加

検体検査ストリップはまた、少なくとも１つの計器識別機構１１６ａ、１１６ｂを有し、その計器識別機構は、検査計に検体検査ストリップを挿入する間に検査計の電気コネクタピンが計器識別機構を横断して移動するように、電気接触パッド上に設けられている。 - 特許庁

When a test switch provided in the emergency warning device is operated, test notification of fire warning is issued by the emergency earthquake news flash device 25, and a device event signal about the test is send to the residential fire alarms 10-1 to 10-6 to carry out the test notification of an emergency earthquake news flash or a tsunami warning.例文帳に追加

緊急警報装置２５に設けた試験スイッチを操作すると、緊急地震速報装置２５で火災警報の試験報知が行われると共に、試験を示す装置イベント信号が警報器１０−１〜１０−６に送られ、緊急地震速報や津波警報の試験報知が行われる。 - 特許庁

Further, a test data selection section 104 is disposed to selectively output one of test data output from the first and second test pattern generation sections 101 and 102 based on the signal value of the second clock CK2, and input it as test data to a memory 105.例文帳に追加

さらに、第１のテストパターン生成部１０１および第２のテストパターン生成部１０２から出力されるテストデータのいずれか一方を、第２のクロックＣＫ２の信号値によって選択的に出力し、メモリ１０５へテストデータとして入力するテストデータ選択部１０４を設ける。 - 特許庁

The printing processing means conserves a test chart in the storage section 36 when the test chart as image data for image quality adjustment of the printing means is inputted from an external device by an input and output section 22 and registers the identifier of the test chart in a test chart list holding section 38.例文帳に追加

印刷処理手段は、外部装置から前記印刷手段の画質調整用の画像データであるテストチャートが入出力部２２により入力された際にその記憶部３６に保存を行うとともに、テストチャートの識別子をテストチャートリスト保持部３８に登録する。 - 特許庁

A black panel assembly for an accelerated weathering test device having the test piece table is provided with a platform having a plurality of support legs and one attaching face and arranged on the test piece table, the plurality of support legs lays the attaching face in an elevated position with respect to the test piece table.例文帳に追加

試験片テーブルを有する促進耐候性試験装置用ブラックパネルアセンブリが、複数の支持脚および１つの取付面を有する、前記試験片テーブル上に配置されたプラットホームを具備し、前記複数の支持脚は、前記試験片テーブルに対して前記取付面を高設する。 - 特許庁

In the test pattern generation supporting device 310, if the acquisition part 311 acquires the connection information 301 of testing circuit 200 and a path exempt out of test, the detection part 312 detects paths between all FFs constituting the test objective circuit 200, and forms the extra test objective path list 400.例文帳に追加

テストパターン生成支援装置３１０では、取得部３１１がテスト対象回路２００の接続情報３０１およびテスト対象外パスが取得された場合、検出部３１２はテスト対象回路２００を構成する全ＦＦ間のパスを検出し、テスト対象外パスリスト４００を作成する。 - 特許庁

In this counter test circuit for testing counters 3, 4 constituted by connecting two four-bit counters longitudinally, a load pulse generating part 2 generates a load pulse of the counters 3, 4 from a test mode signal for showing a test mode of the counters and a counter load pulse test input signal inputted from an external terminal.例文帳に追加

４ビットのカウンタを２個縦列接続して構成したカウンタ３，４をテストするカウンタテスト回路で、ロードパルス生成部２は、カウンタのテストモードを示すテストモード信号と外部端子により入力されるカウンタロードパルステスト入力信号とからカウンタ３，４のロードパルスを生成する。 - 特許庁

All test patterns are sequentially inputted in the logic integrated circuit 3 which is the test target from application software of a test pattern input/output controller 4 composed of a PC, its output is read by the test pattern input/output controller 4, and an output pattern 6 is created.例文帳に追加

ＰＣで構成されたテストパターン入出力制御装置４上のアプリケーションソフトから試験対象となる論理集積回路３に全てのテストパターンを順次入力し、その出力をテストパターン入出力制御装置４に読み出しアウトプットパターン６を作成する。 - 特許庁

A host test interface circuit TICU transmits a test control signal TCMD externally inputted or the like to each of the test interface circuits TIC0-TIC2 or selected one of the test interface circuits TIC0-TIC2 in accordance with a memory core selecting signal MCR <1:0>.例文帳に追加

上位テストインターフェイス回路ＴＩＣＵは、外部から入力されるテスト制御信号ＴＣＭＤ等を、メモリコア選択信号ＭＣＲ＜１：０＞に応じて、テストインターフェイス回路ＴＩＣ０〜ＴＩＣ２の各々、もしくはテストインターフェイス回路ＴＩＣ０〜ＴＩＣ２の選択された１個に対して伝達する。 - 特許庁

To enable sure application of test signals from desired signal levels, even when applying test signals with low amplitude to an object to be tested, by especially applying a test device of integrated circuits formed on a semiconductor wafer, with respect to the test device.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、特に半導体ウエハ上に形成された集積回路の試験装置に適用して、小さな振幅により試験信号を試験対象に印加する場合でも、確実に所望する信号レベルにより試験信号を印加することができるようにする。 - 特許庁

To obtain an expiration test reagent which is safe for human bodies, shortens a time from the administration of the expiration test reagent to the collection of exhaled air, and can clearly discriminate a patient having a liver disease and a healthy person, to provide an expiration test reagent kit, and to provide an expiration test method.例文帳に追加

人体に安全であり、呼気検査試薬の投与から呼気の採取までの時間が短く、健常人と肝臓疾患を有する患者とを明確に判定できる呼気検査用試薬、呼気検査用試薬キット、及び呼気検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To shift to a test mode without providing a terminal for the exclusive use of a test and to prevent shifting erroneously to a test mode at the time of normal operation in a semiconductor memory provided with a test function and a circuit substrate mounting a semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

本発明は、試験機能を備えた半導体記憶装置およびこの半導体集積回路を搭載した回路基板に関し、試験専用の端子を設けることなく試験モードに移行し、かつ通常動作時に誤って試験モードに移行することを防止することを目的とする。 - 特許庁

The method for detecting the residual properties of the test substance in the body comprises (1) detecting the presence of binding properties of the test substance to persistent organic pollutant-binding membrane protein of the small intestine and (2) judging the presence or absence and/or degree of the residual properties of the test substance in the body from the results of detection and thereby detecting the residual properties of the test substance in the body.例文帳に追加

（１）被検物質と小腸の残留性有機汚染物質結合性膜蛋白質との結合性の存在を検出することと、（２）その検出の結果から前記被検物質の体内残留性の有無および／または程度を判定し、それによって被検物質の体内残留性を検出すること、を具備する被検物質の体内残留性を検出する方法。 - 特許庁

To provide a supplementary test tool that makes it possible for any- body to easily test the function of sending and receiving ultrasonic waves of an ultrasonic probe with a plurality of arranged ultrasonic oscillators in relation to a supplementary test tool of supporting the test of the functions of sending and receiving ultrasonic waves of a ultrasonic probe having the plurality of arranged ultrasonic oscillators.例文帳に追加

配列された複数の超音波振動子を有する超音波プローブの、その配列された複数の超音波振動子の超音波送受信機能の試験を補助する試験補助治具に関し、超音波プローブの、配列された複数の超音波振動子の超音波送受信機能の試験が誰にでも簡単に行うことができるよう、その試験を補助する試験補助治具を提供する。 - 特許庁

In an automatic test for a system including a GUI, the automatic test system for performing the automatic test preserves a result (log information) obtained by comparing timing to control the GUI with image information, and a correction tool analyzes the log information and corrects the script of the automatic test system to exclude errors during the test.例文帳に追加

ＧＵＩを有するシステムの自動試験において、自動試験を行うための自動試験システムがＧＵＩを制御するタイミングと画像情報とを比較した結果（ログ情報）を保存し、補正ツールがそのログ情報を解析し、自動試験システムのスクリプトを修正し試験時のエラーを排除する補正機能を持つ自動試験システム。 - 特許庁

An information communication device 10A includes a transmission part 16 for transmitting information to the counterpart side, a test tone generation part 12 for generating a test tone, and a control part 11 that transmits the test tone generated by the test tone generation part 12 to the counterpart side by the transmission part 16 so as to determine a communication state by the return of the test tone.例文帳に追加

本発明は、情報を相手方に伝送する伝送部１６と、テストトーンを発生するテストトーン発生部１２と、テストトーン発生部１２で発生したテストトーンを伝送部１６で相手方に伝送し、そのテストトーンの戻りによって通信状態を判断する制御部１１とを備える情報通信装置１０Ａである。 - 特許庁

To provide a test specification preparation support device and a test specification preparation method, allowing storage/reuse of a test policy to efficiently prepare test specifications by a unified procedure, to provide a test specification preparation program making a computer execute the method, and to provide a construction method for a database used for the method.例文帳に追加

テスト方針の蓄積・再利用を可能にして統一した手順でテスト仕様書を効率的に作成し得るテスト仕様作成支援装置、テスト仕様作成方法、この方法をコンピュータに実行させるテスト仕様作成プログラムおよびこの方法に用いるデータベースの構築方法を提供すること。 - 特許庁

The analysis means analyzes test image data acquired by reading a test image, detects a reference shadow generation region from a test image region that corresponds to the test image data based on the result of analyzing the test image data, and detects reference shadow image data that corresponds to the reference shadow generation region.例文帳に追加

前記解析手段は、テスト画像の読み取りにより得られるテスト画像データを解析し、前記テスト画像データの解析結果に基づき、前記テスト画像データに対応するテスト画像領域から基準影発生領域を検出し、前記基準影発生領域に対応する基準影画像データを検出する。 - 特許庁

The tester comprises: a measurement section for applying a current to an apparatus under test through a mounting test board for mounting the apparatus under test, and measuring a voltage at a predetermined region in the apparatus under test; and a determination section for obtaining a measurement result from the measurement section, and for determining the acceptance of the apparatus under test by comparing the measurement result with a standard value.例文帳に追加

被測定装置が装着された装着テストボードを介して前記被測定装置に電流を印加し、前記被測定装置の所定部位の電圧を測定する測定部と、前記測定部による測定結果を取得し、規格値と比較することにより、前記被測定装置の合否を判定する判定部と、を具備する。 - 特許庁

To prevent the rebounding of a test object colliding with a landing surface not only to enable a certain single impact test but also to automate a repeating test at the same time in a drop tester for performing a drop impact test by dropping the test object on a landing surface in a free fall state.例文帳に追加

試験対象物を自由落下状態で落下させて着地面に衝突させることで落下衝撃試験を行う落下試験装置について、着地面に衝突した試験対象物のリバウンドを防止して、確実なシングルインパクト試験を可能とし、同時に繰返し試験の自動化も可能とする。 - 特許庁

A common control section 15 arranged in the abnormal call processing monitor 1 reads out a test procedure from a flash memory FM storing the test procedure of call processing in an exchange, performs call processing test through the line connecting section 11 according to that test procedure and informs the test results through the line connecting section 12.例文帳に追加

呼処理異常監視装置１に構成された共通制御部１５が、交換機における呼処理の試験手順が格納されたフラッシュメモリＦＭから試験手順を読み込みむとともに、該試験手順に従い、回線接続部１１を介して呼処理の試験を行い、その試験の結果を、回線接続部１２を介して通知する。 - 特許庁

In a test support portion 240, a test cell highlight portion 242 highlights a combination information cell associated with the next test case to be executed, during execution of the status transition test, and a test result history, an error replication procedure, and progress circumstances or the like are displayed on a display portion.例文帳に追加

テスト支援部２４０では、状態遷移テストの実行中、次にテストが実行されるべきテストケースに対応付けられている組み合わせ情報用セルがテストセル強調表示部２４２によって強調表示され、テスト結果の履歴、エラーの再現手順、進捗状況などの表示部への表示が行われる。 - 特許庁

A virtual test is performed in a planning level, and the pertinent number of test items is displayed for each level sub-divided into 5 levels as virtual test situations and reliability degrees as the test result, and detail items and identification numbers or the like are displayed especially for the test items whose reliability is low ranging from the level 0 to the level 2.例文帳に追加

企画段階で仮想試験を行い、その結果として、仮想試験状況と信頼度として５段階に細分化された各レベル毎に該当する試験項目数が表示され、特にレベル０〜２までの信頼性の低い試験項目については詳細な項目及び識別番号などが表示される。 - 特許庁

In order to test a memory 105 operated by a first clock CK1, this circuit is provided with a first test pattern generation section 101 operated by a second clock CK2 to generate test data, and a second test pattern generation section 102 operated by a third clock CK3 which is the inverted clock of the second clock CK2 to generate test data.例文帳に追加

第１のクロックＣＫ１で動作するメモリ１０５をテストするために、第２のクロックＣＫ２で動作し、テストデータを生成する第１のテストパターン生成部１０１と、第２のクロックＣＫ２の反転クロックである第３のクロックＣＫ３で動作し、テストデータを生成する第２のテストパターン生成部１０２とを設ける。 - 特許庁

When a test execution part 68 detects a test execution operation by differently pushing an alarm stop switch 20 in a normal monitoring state, the test execution part 68 outputs a prescribed point in a fire alarm sound of a prescribed pattern, such as a sweep alarm sound to be subjected to acoustic pressure measurement test, as a test sound from a speaker 56.例文帳に追加

試験実行部６８は、通常監視状態における警報停止スイッチ２０の押分け等による試験実行操作を検知した場合、所定パターンの火災警報音の内の音圧測定の対象となるスイープ警報音などの所定箇所をスピーカ５６から試験音として出力させる。 - 特許庁

The test system 1 includes: a test device 2; a tested device 3 connected to the test device 2 by a data communication line 5 and a power supply line 6, where a test program runs with power supplied from the test device 2; and a detection means 4 detecting operation current of the tested device 3.例文帳に追加

本発明の試験システム１は、試験装置２と、試験装置２とデータ通信線５及び電源供給線６によって接続されており、試験装置２からの電源の供給によって試験プログラムが稼働する被試験装置３と、被試験装置３の稼働電流を検出する検出手段４と、を備える。 - 特許庁

To standardize the bonding strength test of a bonding wire while enhancing reliability.例文帳に追加

ボンディングワイヤの接合強度試験の標準化を図り、信頼性を向上する。 - 特許庁

TEST SYSTEM FOR DETERMINING PERFORMANCE OF AIR BAG INHIBITING SYSTEM SENSOR AND METHOD THEREFOR例文帳に追加

エアバッグ抑制システムセンサの性能を決定する試験システムおよびその方法 - 特許庁

To provide a ferroelectric memory which enables speed up and simplification of a test.例文帳に追加

テストの高速化及び簡易化が図れる強誘電体メモリを提供する。 - 特許庁

The rotation of the test rod 9 is automatically performed by a rotation drive unit 11.例文帳に追加

試験ロッド９の回転は回転駆動装置１１により自動的に行う。 - 特許庁

A memory-test-disabling flag is provided for each of DIMM 101 to 106 to be tested.例文帳に追加

テスト対象の各ＤＩＭＭ１０１〜１０６毎にメモリテスト不可フラグを持つ。 - 特許庁

Besides, a DC level of a driver in the same test pin is used as a determination level.例文帳に追加

また、判定レベルとして、同じテストピン内のドライバのＤＣレベルを用いた。 - 特許庁

A test piece 2 is mounted on a mounting mechanism 5 to abut on a side surface of the rotor 3.例文帳に追加

試験片２を取付機構５に取り付け、ロータ３側面に当接する。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST ITEMS OF SEMICONDUCTOR WAFERS AND ITS SYSTEM例文帳に追加

半導体ウエーハの電気的特性テスト項目の評価方法およびそのシステム - 特許庁