「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(92ページ目) - Weblio英語例文検索

A DRAM 1 of a packet, system operated with an operation frequency of several hundreds MHz is provided with a burn-in mode in which a memory test is performed with an operation frequency of several tens MHZ at the time of a burn-in test.例文帳に追加

数百ＭＨＺの動作周波数で動作するパケット方式のＤＲＡＭ１は、バーンインテスト時には数十ＭＨｚの動作周波数でメモリテストを行うバーンインモードを備えている。 - 特許庁

The equipment management server 600 compares a fetched image signal with a predetermined logical value of the test image and performs an arithmetic operation of errors by every kind of density of patterns on the test image.例文帳に追加

機器管理サーバ６００は取り込まれた画像信号と予め定められたテスト画像の理論値を比較し、テスト画像上のパターンの各濃度毎に誤差の演算を行う。 - 特許庁

In the vision test chart, a plurality of circular or square indices comprising patterns of combination of two or more colors are placed on prescribed positions corresponding to test sites in the field of view.例文帳に追加

視覚検査用チャートにおいて、２種類以上の色を組み合わせた模様からなる円形または方形の視標を、視野における検査部位に対応した所定位置に複数配置する。 - 特許庁

A master station 1 transmits a test address to a slave station during an interim of transmission of control information and discriminates a fault of the slave station 2 on the basis of test acknowledgement data from the slave station 2.例文帳に追加

マスタ局１は制御情報の送信の合間にスレーブ局に対してテスト用アドレスを送信し、スレーブ局２からのテスト応答データに基づいてスレーブ局２の異常判定を行う。 - 特許庁

To provide a test unit for wireless base station that can prevent deterioration in the quality of a speech in operation associated with radio wave interference and can test confirmation of the operation of a function, corresponding to each sector of a transmitter-receiver.例文帳に追加

電波干渉にともなう運用中の通話品質の劣化を防止するとともに、送受信装置の各セクタに対応する機能の動作確認試験を可能とする。 - 特許庁

This method includes a step of performing a test in a domain and implementing a first subset of a domain of a plurality of circuits provided with a dynamic defect detection test pattern.例文帳に追加

１つの実施形態では、方法は、ドメイン内テストを実施して、動的欠陥検出テストパターンを実装する複数の回路のドメインの第１サブセットを実行する段階を含む。 - 特許庁

The variable delay circuit 20 changes the time of the master clock to the slave for adjusting the starting points of test cycles of the master and the slave to integer multiples of the test cycle.例文帳に追加

この可変遅延回路２０は、マスタクロックをスレイブに伝達するまでの時間を変化させ、マスタの試験周期開始時間とスレイブのそれとを試験周期の整数倍になるよう調整する。 - 特許庁

Thereby the result of determination and that of the endurance test of loading and unloading are correlated, and a highly reliable magnetic disk passing the endurance test of loading and unloading is obtained.例文帳に追加

これにより、ロード・アンロード耐久試験との相関をとれることができ、ロード・アンロード耐久試験にも合格することができる信頼性の高い磁気ディスクを得ることが可能となる。 - 特許庁

To easily conduct a test of the vibration state of an in-plant structure which required a long time from the installation of a device to the evaluation of a measurement and a test result in a short time.例文帳に追加

装置の設置から測定、試験結果の評価まで多大の時間を要していたプラント内構造物の振動状況の試験を容易に且つ短時間で実施できるようにする。 - 特許庁

To provide an inspection device and an inspection method of a semiconductor test program for automatically conducting inspection of plural conditional branches of a conditional branching instruction in the inspection of the semiconductor test program.例文帳に追加

半導体試験プログラムの検査において、条件分岐命令の複数の条件分岐の検査を自動で行う半導体試験プログラムの検査装置及び検査方法の提供。 - 特許庁

To provide a withstand voltage test method of power equipment dispensing with test equipment comprising a large-scale exclusive test power source or the like, capable of applying a variable voltage over a rated voltage, and having high defect detection accuracy.例文帳に追加

大規模な専用の試験電源等からなる試験設備が不要で、定格電圧以上の可変電圧を印加することができる欠陥検出精度が高い電力設備の耐電圧試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for setting of a tire test condition capable of determining whether or not tire performance satisfies a given level in a real car test by a laboratory test, not with a comparative evaluation between tires.例文帳に追加

タイヤ同士を比べる相対評価ではなく、実車試験においてタイヤ性能が所定のレベルを満たしているか否かをラボ試験で判定することが可能なタイヤ試験条件設定方法を提供する。 - 特許庁

When a calibration signal SC is valid, a test signal generation part 1 outputs a test signal ST, and a selection part 3 applies the test signal ST to a CDS circuit 4 instead of the pixel output signal of an image sensor 2.例文帳に追加

キャリブレーション信号ＳＣが有効のとき、テスト信号発生部１はテスト信号ＳＴを出力し、選択部３はイメージセンサ２の画素出力信号に代えてテスト信号ＳＴをＣＤＳ回路４に与える。 - 特許庁

A base frame part 2 stores either arbitrary test data having an arbitrary pattern or one of base frame data to be processed to produce a large amount of fixed test data in accordance with a test data output mode.例文帳に追加

ベースフレーム部２は、任意のパターンを有する任意試験データ、または処理されることによって大量の固定試験データが生成される１つのベースフレームデータのいずれかを試験データ出力モードに応じて格納する。 - 特許庁

An apparatus 1 for network band estimation receives through the network a test packet which a test packet transmitting terminal 2 has inserted a timestamp into and transmitted, estimates the loaded condition of the network from the state of the test packet delay.例文帳に追加

試験パケット送信端末２がタイムススタンプを挿入して送出した試験パケットをネットワークを介してネットワーク帯域推定装置１が受信し、試験パケットの遅延状態からネットワークの負荷状態を推定する。 - 特許庁

The printed-circuit board is attached to a test fixture which has a plurality of translator pins and translator plates coming into contact with the second surface of the printed-circuit board so as to send a test signal to an electronic test analyzer.例文帳に追加

プリント回路板は、テスト信号を電子テストアナライザに送るべくプリント回路板の第２の表面と接触するために複数のトランスレータピン及びトランスレータプレートをもつテスト固定具の上に取りつけられている。 - 特許庁

To provide a test clock circuit automatic insertion method capable of automatically inserting a test circuit capable of detecting a delay failure in an LSI after logic synthesis and reducing test facilitation design manhour.例文帳に追加

論理合成後のＬＳＩに遅延故障の検出が可能なテスト回路を自動挿入することができ、テスト容易化設計工数の低減化を図ることができるテストクロック回路自動挿入方法を提供する。 - 特許庁

The sliding surface 8S of the inner wall 8 is not damaged and the durability of the artificial hip joint 1 can be secured because the test is carried out by fitting the bone head for the test reset into the test cup 21.例文帳に追加

このように試験整復用骨頭を試験用カップ２１に嵌めて試験を行うから、内壁８の摺動面８Ｓを傷つけることがなく、人工股関節１の耐久性を確保することができる。 - 特許庁

To provide a test strip, especially a support for a lateral flow immunoassay test strip, and a device for performing assay by using the test strip, capable of improving easiness of use, organization, sanitary handling and disposal.例文帳に追加

試験ストリップ、特にラテラルフローイムノアッセイ試験ストリップのための支持体、並びに、使用、構築、衛生的な取り扱い及び廃棄の容易さの向上を可能にする、試験ストリップを使用してアッセイを行う装置を提供する。 - 特許庁

To provide a bearing testing device capable of performing a bearing performance test or a noise test of a low noise level in the tilted state at an optional angle, and performing the bearing performance test fit to an actual using condition.例文帳に追加

任意の角度に傾けられた状態で、軸受性能試験や低騒音レベルの騒音試験を可能として、実使用条件に合った軸受性能試験を行なうことができる軸受試験装置の提供。 - 特許庁

Since the self-test section has a plurality of test sequencers (31) corresponding to a plurality of test modes, the required area is reduced compared with the area normally required for a general purpose sequencer using a program system that requires memories for program storage.例文帳に追加

セルフテスト部は、複数のテストモードに対応する複数のテストシーケンサ（３１）を有するから、プログラム格納用のメモリを必要とするプログラム方式による汎用シーケンサよりも小面積化を実現することが容易である。 - 特許庁

To provide a test circuit and system that test one or more electric characteristics of a device to be tested by monitoring the device to be tested by applying a test signal to the device to be tested of an electric circuit, or the like.例文帳に追加

電子回路等の被試験装置に試験信号を印加して被試験装置を監視することにより、被試験装置の１つ又は複数の電気特性を試験する試験回路及びシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device and a semiconductor test method in which handling of data is made easy while test efficiency is improved by reducing quantity of data relayed between processes.例文帳に追加

工程間で引き継がれるデータの量を削減可能にすることで、そのデータの取り扱いを容易にするとともに試験効率の向上を図ることができる半導体試験装置及び半導体試験方法を提供する。 - 特許庁

When the user listens a plurality of these test listening pieces in test sequentially and selects the test listening piece that he thinks that it is suitable for an image of the question by pressing a selection button 104b on the screen, this selection information is transmitted to the server device.例文帳に追加

ユーザは、これらの複数の試聴曲を順次試聴して、前記質問のイメージに合うと思う試聴曲を画面上の選択ボタン１０４ｂで選択すると、この選択情報はサーバ装置に送信される。 - 特許庁

To provide an event type test system in which two or more pin unit groups mutually independently perform test operations and which independently generates a plurality of signals for indicating finishing of a test correspondingly to each pin unit group.例文帳に追加

テストシステム内で２以上のピンユニットグループがそれぞれ互いに独立してテスト動作を行い、テスト終了を示す信号を各ピンユニットグループに対応して複数個独立して発生するイベント型テストシステムを提供する。 - 特許庁

To provide a biaxial tension test device which gives tensile force to a thin tabular test piece to obtain experimental data on even stress-strain at the center part in the surface direction of a part to be measured of the test piece.例文帳に追加

薄肉板状の試験片に引張り力を付与し、試験片の被測定部の面方向中央部に均一な応力−ひずみの実験データを得ることができる二軸引張り試験装置を提供する - 特許庁

To provide a test apparatus which can give a constant test environment and can reduce affections to test results due to the differences in the kind of a marine organism and the growth stage of the marine organism, such as adult or larva.例文帳に追加

一定の試験環境を提供することにより、海生生物の種類や成体、幼生等の成長段階の違いよる試験結果への影響を低減することができる試験装置を提供すること。 - 特許庁

The circuit board 16 is placed on a test fixing device 18 with a large number of translator plates and translator pins which come into contact with the second surface of the circuit board 16 for transmitting a test signal to an electric test analyzer.例文帳に追加

該回路板は、試験信号を電気試験アナライザーに移すために、該回路板の第２の面に接触する多数のトランスレーター板７８及びトランスレーターピン８２を有する試験固定装置１８に載せられる。 - 特許庁

The optical pickup device is tested by evaluating a reproduction signal using at least two or more types of test disks of a first test disk with one recording layer and a second test disk with two recording layers.例文帳に追加

記録層が１層である第１のテストディスクと、記録層が２層である第２のテストディスクとの少なくとも２種類以上のテストディスクを用いた再生信号評価により光ピックアップ装置を検査するようにする。 - 特許庁

The BIST circuit 11 has a function in which the prescribed marker signal Ms having the same phase as the test result signal Ts is generated instead of the test result signal Ts prior to generation of the test result signal Ts.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路１１は、テスト結果信号Ｔｓの生成に先立って、テスト結果信号Ｔｓの代わりにテスト結果信号Ｔｓと同一の位相を有する所定のマーカ信号Ｍｓを生成する機能を有する。 - 特許庁

To provide a photoreceptor deterioration acceleration test device capable of efficiently performing a life test (or deterioration test) in a short time while satisfying a necessary photoreceptor passing current condition in accordance with the diameter of a photoreceptor.例文帳に追加

感光体の径に応じ、必要とする感光体通過電流条件を満たしながら、短時間で効率的に寿命試験（あるいは劣化試験）などを行うことが可能な感光体劣化加速試験装置を提供する。 - 特許庁

To make it easy to test the operation of a plant monitor and control system by providing operation test environment wherein the confirmation, operation, etc., of input and output can be performed without designing and manufacturing a special process for the test.例文帳に追加

プラント監視・制御システムの運用試験に関して、試験のための特別な処理を設計・製作せずに、入出力の確認運転などが可能な運用試験環境を提供し、運用試験を容易にする。 - 特許庁

Considering response for a failure test that data 0, 1 during a test response are replaced by using logical variables indicating the presence of failures, the final state of the means for processing a test response TRA1 is indicated by using the logical variables.例文帳に追加

故障の有無を表す論理変数を用いてテスト応答中のデータ０、１を置換した故障テスト応答を考え、テスト応答処理手段ＴＲＡ１の最終状態をその論理変数を用いて表す。 - 特許庁

To provide an evaluation method for a gas sensor capable of carrying out a durability test, using an environmental tester, and a durability test device for the gas sensor capable of carrying out the durability test.例文帳に追加

環境試験器を用いて耐久試験を適切に行うことが可能なガスセンサの評価方法、及び、このような耐久試験を行うことが可能なガスセンサの耐久試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

This subject interior position detecting system is provided with a test capsule 2 incorporating a permanent magnet and a position detector 3 detecting the position of the test capsule 2 based on the strength of a constant magnetic field generated by the permanent magnet incorporated in the test capsule 2.例文帳に追加

永久磁石が内蔵されたテストカプセル２と、テストカプセル２に内蔵された永久磁石から生じる定磁場の強度に基づいてテストカプセル２の位置を検出する位置検出装置３とを備える。 - 特許庁

To provide a test diagnostic method for a computer system for starting test diagnosis even in a status that the normal operation of an input/output port is not sufficiently secured without using any input/output port for the transfer of a test diagnostic program.例文帳に追加

試験診断プログラムの転送に入出力ポートを使わず、入出力ポートの正常動作が十分に保証されない状態でも試験診断を開始できるコンピュータシステムの試験診断方法を提供する。 - 特許庁

The test pipe 23 is provided with a normally closed test valve 25 and a pressure gauge 26, and the end of the test pipe 23 is connected to a drainpipe 20 connected to a drain of the automatic drain valve 22.例文帳に追加

テスト配管２３には、常時は閉じられた試験弁２５(テスト弁)と圧力計２６とが設けられ、テスト配管２３の端部は、自動排水弁２２の排水口に接続された排水管２０に接続されている。 - 特許庁

To surely perform transfer to sample grip parts, grip operations of a test sample, and removal and disposal of a rupture test sample after test without large space, and automate material testing with simple construction and at small costs.例文帳に追加

簡単な構成で且つ低コストで試験サンプルのサンプル把持部への移送，把持作業及び試験後の破断試験サンプルの除去及び廃棄を場所を取らず確実に行うことができ、材料試験の自動化を図る。 - 特許庁

Both ends of a test piece TP are gripped by gripping devices 31, 32, and the gripping devices 31, 32 are moved in the length direction of the test piece TP by lifting cylinders 33, 34, to thereby apply a tension to the test piece TP.例文帳に追加

試験片ＴＰの両端部を把持装置３１，３２により把持するとともに、昇降シリンダ３３、３４により試験片ＴＰの長さ方向に把持装置３１，３２を移動して試験片ＴＰに張力を付与する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus which can perform a test with high precision, without causing decreases in testing accuracy, even when performing a test of a DUT having different clock delays for each application of a test signal.例文帳に追加

試験信号を印加する度にクロック遅延が異なるＤＵＴを試験する場合であっても、試験精度の低下を招くことなく高い精度で試験を行うことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device having a plurality of replaceable test modules that supply test signals to devices to be tested is emulated to verify a testing environment without use of the real items such as the devices to be tested and the test modules.例文帳に追加

試験信号を被試験デバイスにそれぞれ供給する交換可能な複数の試験モジュールを備える試験装置をエミュレートし、被試験デバイスや試験モジュール等の実物を用いることなく試験環境を検証する。 - 特許庁

A function definition 4 is a file which defines a test function of software 300 and includes test items to be executed predetermined for each item type and typical data effective for confirming execution results of the test items concerned.例文帳に追加

機能定義４は、ソフトウェア３００のテストの機能を定義するファイルであって、項目タイプ毎に予め定められた実施すべきテスト項目及び当該テスト項目の実施結果の確認に有効な典型データを含む。 - 特許庁

To prevent a test wire from being broken during dry etching and to prevent a test error by shortening a process time by forming source and drain electrodes of molybdenum and forming the test wire of a gate substance.例文帳に追加

ソース及びドレイン電極をモリブデンで形成して工程時間を短縮し、テスト配線をゲート物質で形成することにより、乾式エッチングの間テスト配線が断線されないようにしてテスト誤りを防止する。 - 特許庁

The system is provided with: a test capsule 2 with a built-in permanent magnet; and a position detector 3 for detecting the position of the test capsule 2 based on the strength of a static magnetic field from the permanent magnet built in the test capsule 2.例文帳に追加

永久磁石が内蔵されたテストカプセル２と、テストカプセル２に内蔵された永久磁石から生じる静磁場の強度に基づいてテストカプセル２の位置を検出する位置検出装置３とを備える。 - 特許庁

By changing the number of bits (data compression rate) for distributing the first and second test data TWD 1 and 2, a data compression test to the parity memory block PMB can be carried out without increasing the number of test terminals.例文帳に追加

第１および第２試験データＴＷＤ１−２を分配するビット数（データの圧縮率）を変えることで、試験端子の数を増やすことなく、パリティメモリブロックＰＭＢに対するデータ圧縮試験を実施できる。 - 特許庁