「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(89ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a test creation device capable of reducing work burden in creation of a test for verification on a logic circuit for improvement of development efficiency.例文帳に追加

論理回路の検証のためのテストを作成する際の作業量を軽減することができ、ひいては開発効率を向上させることができるテスト作成装置を提供する。 - 特許庁

This IEEE1394 serial bus tester that checks the operation of various communication facilities based on a 1394 communication protocol in equipment connected to the IEEE1394 serial bus is made to be switched between a service mode for preparing and testing a test command and a test sequence for test object equipment and a test mode for performing tests for the test object equipment according to the generated test command and test sequence.例文帳に追加

ＩＥＥＥ１３９４シリアルバスに接続される機器の１３９４通信プロトコルに基づく各種通信機能の動作をチェックするＩＥＥＥ１３９４シリアルバステスタであって、検査対象機器に対する検査コマンドおよび検査シーケンスの作成とテストを行う保守モードと、作成された検査コマンドおよび検査シーケンスに従って検査対象機器に対する検査を実行する検査モードに切り換えられるようにしたもの。 - 特許庁

In a device for performing constituent concentration measurement of an object of analysis by utilizing transmitted light or reflected light from a chromatography test piece, code information on the test piece recorded with respect to the test piece is read by utilizing movement of relative positional relation between irradiating light to the test piece and the test piece, as well as by using transmitted light or reflected light from the test piece.例文帳に追加

クロマトグラフィー試験片からの透過光もしくは反射光を利用して分析対象物の成分濃度測定を行う装置に、前記クロマトグラフィー試験片への照射光と前記クロマトグラフィー試験片との相対的な位置関係の移動、及び前記クロマトグラフィー試験片からの透過光もしくは反射光を利用して、試験片に関して記録された試験片上のコード情報を読み取る。 - 特許庁

An illumination source 120 of the optical test apparatus 100 provides an optical test signal to an image sensor 10 through a probe card 110.例文帳に追加

光学テスト装置１００の照明ソース１２０は光学テスト信号をプローブカード１１０を通じてイメージセンサ１０に提供する。 - 特許庁

To remarkably improve test efficiency by speedily and accurately specifying a cause of an abnormality within a system, in an installation test.例文帳に追加

設置試験に際しシステム内の異常原因を迅速にかつ的確に特定できるようにし、これにより試験効率を大幅に高める。 - 特許庁

To provide a multi probe card unit, a probe test device including the same, their manufacturing methods and a method of using the probe test device.例文帳に追加

マルチプローブカードユニット、それを備えたプローブ検査装置、それらの製造方法、及びプローブ検査装置を利用する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test circuit for testing a synchronous memory circuit 3 which is operated with a high clock frequency and which is capable of adjusting test latency.例文帳に追加

高クロック周波数で動作する、テストレイテンシーが調節可能な、同期メモリ回路３をテストするためのテスト回路を提供する。 - 特許庁

To reduce an NW load and operational load of an OAM test by grouping logical networks and selecting a test target from each group.例文帳に追加

論理ネットワークをグルーピングし、グループ毎に試験対象を選択し、ＯＡＭ試験に関わるＮＷ負荷、および運用負荷を低減する。 - 特許庁

A test information transmission means 1a transmits test information top first clients 3-1, 3-2 arranged on the side of testees.例文帳に追加

試験情報送信手段１ａは、被試験者側に配置された第１のクライアント３−１，３−２に対して試験情報を送信する。 - 特許庁

Based on reproduced signals of the plural test recording operations at the outer peripheral side test area, the appropriate recording power value at this linear speed is obtained.例文帳に追加

該外周側テスト領域での複数回のテスト記録の再生信号に基づき、該線速度における適正な記録パワー値を求める。 - 特許庁

This system enables testing of communications equipment by using a modified test pattern which is more serviceable than standard test pattern.例文帳に追加

標準のテスト・パターンと比較して修正され、それよりも活用的なテスト・パターンを使用して通信機器をテストすることが可能である。 - 特許庁

To reduce the man-hours for a probe inspection and a burn-in test of a semiconductor integrated circuit to facilitate probe inspection and the burn-in test result management.例文帳に追加

半導体集積回路のプローブ検査とバーンイン試験の工数を削減し、プローブ検査とバーンイン試験の結果を管理しやすくする。 - 特許庁

To provide a life testing apparatus for portable terminals with sliding mechanism having high accuracy of a life test and inexpensively performing the test.例文帳に追加

寿命試験の精度が高く、しかも試験が安価に実施できる摺動機構付き携帯端末の寿命試験装置の提供。 - 特許庁

To provide a testing device for a signal protection system which can improve a test efficiency at a test of the signal protection system.例文帳に追加

信号保安システムの試験において試験効率を向上させることができる信号保安システムの試験装置を得ることである。 - 特許庁

A test data confirmation section 210 determines which reception antennas 11-13 is out of order from a reception signal related to the test data S8.例文帳に追加

テストデータ確認部２１０は、テストデータＳ８に関する受信信号からどの受信アンテナ１１〜１３が故障しているかを判断する。 - 特許庁

In this read test, the test data are being written on the data track 113b prior to be written on the tracks 113a, 113c of its both sides.例文帳に追加

このリード・テストにおいて、データ・トラック１１３ｂには、両側トラック１１３ａ、１１３ｃよりも前にテスト・データがライトされている。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can perform test by adjusting a propagation time being different for every transmission line of a test tool.例文帳に追加

テスト治具の伝送線路ごとに異なる伝播時間を調整して試験を行なうことが可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

The semiconductor test device is equipped with a control means 79 which is used to test the operation of a measured semiconductor element (DUT) 40.例文帳に追加

半導体試験装置は、被測定半導体素子（ＤＵＴ）４０の動作を試験するために用いられる制御手段７９を備える。 - 特許庁

Then, the control computer 20 can display the test scheduled input screen for inputting the schedule of a test on the monitor 30.例文帳に追加

そして、制御コンピュータ２０は、テストのスケジュールを入力させるためのテストスケジュール入力画面を、モニタ３０に表示することができる。 - 特許庁

DEVICE FOR GENERATION OF TEST DATA, METHOD FOR GENERATING TEST DATA AND STORAGE MEDIUM WHICH STORES PROGRAM TO HAVE COMPUTER TO PROCESS ON THE SYSTEM例文帳に追加

テストデータ生成装置、テストデータ生成方法及びそのシステムでの処理をコンピュータに行なわせるためのプログラムを格納した記憶媒体 - 特許庁

To provide a semiconductor device, an electronic device, and a connection test method of the semiconductor device, performing easily a connection test between SoC and a memory.例文帳に追加

ＳｏＣとメモリの接続試験を容易に行う半導体装置、電子機器及び半導体装置の接続試験方法を提供する。 - 特許庁

In this test tube carrying device abutment parts 14 abutting on the test tube are installed to the lower end of holding finger body parts 12 rotatably around rotary shafts 13.例文帳に追加

試験管に当接する当接部１４を、把持指本体部１２の下端に、回転軸１３回りに回転可能に取り付ける。 - 特許庁

To obtain a test program collating device which can check a test program by appropriate inspection standards and contributes to the quality assurance of a product.例文帳に追加

適切な検査規格によるテストプログラムであることを確認でき、製品の品質保証に資するテストプログラム照合装置を得る。 - 特許庁

Therefore, the test program for testing a simple body of the first memory chip can be utilized as a test program for the semiconductor device after assembly.例文帳に追加

このため、第１メモリチップ単体を試験する試験プログラムを、半導体装置の組み立て後の試験プログラムとして流用できる。 - 特許庁

To reduce detection errors in a test image caused by deformation of a test image conveying medium, while considering also other than detection accuracy.例文帳に追加

試験画像搬送媒体の変形に起因して発生する試験画像の検知誤差を抑えつつ、検知精度以外の要素を加味する。 - 特許庁

In an ultrafine hardness measuring device 100, hardness against a test piece of steel is measured at multiple points by an ultrafine hardness test.例文帳に追加

超微小硬さ測定装置１００が、鋼材の試験片に対して超微小硬さ試験により硬さの多点測定を行う。 - 特許庁

By properly setting initial setting values of the sections 12 and 17, a performance test is made faster and deterioration in the test is prevented.例文帳に追加

読出部と書込部の初期設定値を適正にすることにより、性能試験の高速化、試験精度の劣化を防止することができる。 - 特許庁

A test data generation means 53 generates test alarm data for testing the operation of the information processing means 51 in accordance with user's operation.例文帳に追加

テストデータ生成手段５３は、ユーザの操作に従って、情報処理手段５１の動作をテストするためのテスト用アラームデータを生成する。 - 特許庁

When the treatment procedure of the flow recipe and the treatment conditions for test are contradictory to each other in mecha-run, the conditions for test have priorities.例文帳に追加

当該メカランにおいて、フローレシピの処理手順とテスト用処理条件とが相反する場合は、テスト用処理条件が優先する。 - 特許庁

Address signals TA0-TA9 for test being independent respectively are inputted to each DRAM 11-14, and a test of each DRAM 11-14 is performed.例文帳に追加

各ＤＲＡＭ１１〜１４に対しそれぞれ独立の試験用アドレス信号TA0〜TA9を入力し、各ＤＲＡＭ１１〜１４の試験を実施する。 - 特許庁

To prevent personal data from being distributed in a test data generation system that uses a computer for preparing test data on the basis of practical personal data.例文帳に追加

実際の個人データに基きテストデータを作成するコンピュータを利用したテストデータ生成システムにおいて、個人データの分散を防ぐ。 - 特許庁

An image of the test chart 29 spatially focused by the test lens 12 is captured by an imaging part 20 within a predetermined frame range.例文帳に追加

被検レンズ１２によって空中結像されたテストチャート２９の像を、撮像部２０によって所定のフレーム範囲で撮像する。 - 特許庁

The test terminal is disposed on an unnecessary portion of the semiconductor wafer 10, and when testing the semiconductor wafer 10, a tester 20 is connected to the test terminal 14.例文帳に追加

テスト端子１４は、半導体ウェハ１０の不要部に設けられ、半導体ウェハ１０のテスト時においてテスタ２０が接続される。 - 特許庁

To obtain a photographing condition and to set it without test exposure to a test object and independently of a method for radioscopic control.例文帳に追加

被検体に対しテスト曝射を行うことなく、また、透視制御の方法に依存することなく撮影条件を求めて設定する。 - 特許庁

Test data is recorded on the test area (PCA) of the optical disk 100 by variously varying the record power and then reproduced by a signal processing part 16.例文帳に追加

記録パワーを種々変化させて光ディスク１００のテストエリア（ＰＣＡ）にテストデータを記録し、信号処理部１６で再生する。 - 特許庁

To provide a mobile communication terminal test device and mobile communication terminal test method capable of displaying EVM for each slot.例文帳に追加

ＥＶＭをスロットごとに表示することができる移動通信端末試験装置及び移動通信端末試験方法を提供する。 - 特許庁

The method of generating the test data includes a first plane data generating step, a second plane data generating step, and a test layout data generating step.例文帳に追加

テストデータ生成方法は、第１平面データ生成工程と第２平面データ生成工程とテストレイアウトデータ生成工程とを備える。 - 特許庁

To provide a test method and a test device capable of efficiently determining whether a tested machine performs the desired operation or not.例文帳に追加

被試験機が所望の動作をしているか否かを効率的に判定することができる試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a short-circuit tool for a test plug capable of easily and rapidly measuring a current, and to provide a short-circuit structure for the test plug.例文帳に追加

容易かつ迅速に電流測定を行うことができるテストプラグ用短絡具及びテストプラグの短絡構造を提供すること。 - 特許庁

To enable a tilt test and a telescopic test of a steering assembly to be carried out quickly and correctly without the need for any tooling-change process.例文帳に追加

ステアリングアッセンブリーのチルト試験とテレスコピック試験とを、段替え工程を介することなく、迅速かつ正確に行うことを可能とする。 - 特許庁

To realize an IC tester capable of correctly test even supplying or drawing current to/from the test object.例文帳に追加

被試験対象に電流供給または吸引しても、正確に試験を行うことができるＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁

To provide a power supply plug having heat resistance and shock resistance capable of passing a tracking test and a drop test.例文帳に追加

トラッキング試験及び落下試験の両方に合格可能な耐熱性能及び耐衝撃性能を備えた電源プラグを提供する。 - 特許庁

To manage a plurality of hardware test module versions, software components, and tester operating system (TOS) versions in a modular test system.例文帳に追加

モジュール式試験システムにおいて、複数のハードウェア試験モジュールバージョン、ソフトウェアコンポーネント、及びテスタオペレーティングシステム（ＴＯＳ）バージョンを管理する。 - 特許庁

Before storing system information in a disk 18, test write is executed to a dedicated test cylinder to inspect the state of each head.例文帳に追加

ディスク１８にシステム情報を保存する前に、テスト専用シリンダに対して試験的にライトを実施し、各ヘッドの状態を検査する。 - 特許庁

To realize shortening of testing time in a burn-in acceleration test in a burn-in test method by shortening the burn-in time.例文帳に追加

本発明は、バーンインテスト方法に関し、バーンイン時間の短縮を図り、バーンイン加速試験の試験時間の短縮を実現するものである。 - 特許庁